一种能够上下扫描无损成像装置的制作方法

1.本实用新型涉及一种基于辐射成像原理的能够上下扫描无损成像装置。


背景技术：

2.由射线源和探测器组成的辐射成像系统能够对被检物的断面进行成像，而为了对整个被检物进行成像，则需使被检物沿断面垂直方向运动，实现对被检物各断面的扫描，最终得到被检物的整体成像。因射线源的射线必须精确对准探测器的入射窗口，才能保证辐射成形系统可靠工作，因而人们往往将射线源和探测器固定设置，并采用可升降的载物台，以实现被检物与工作射线的相对运动。由于受多种因素的影响，可升降载物台的升降行程通常比较小，如300mm，由此造成被检物的大小受到限制，制约了这类无损成像装置的应用。


技术实现要素：

3.针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种能够上下大行程扫描的无损成像装置。
4.为实现上述目的，本实用新型技术方案如下：
5.一种能够上下扫描无损成像装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座和探测器，另一立柱上设置有射线源安装座和射线源，两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和射线源安装座上均固定有与所述垂直滑轨相配的滑块和与所述丝杆相配的螺母，并由所述丝杆驱动可上下滑动安装在各自所在立柱上，所述丝杆由电机驱动旋转，所述探测器安装座和射线源安装座与各自所在所述立柱之间均设置有光栅尺，并通过光栅尺与所述电机相配合对所述探测器安装座和射线源安装座的上下位置进行精确控制，以使探测器和射线源在上下移动过程中始终保持精确对准，光栅尺中的光栅标尺平行垂直滑轨设置在所述立柱上，光栅尺中的光读头分别设置在所述探测器安装座上和射线源安装座上。
6.进一步，所述射线源为γ射线源或x光机，所述探测器为线阵探测器或面阵探测器。
7.进一步，所述立柱垂直设置。
8.进一步，所述基座上表面为水平平面。
9.进一步，所述垂直滑轨和所述丝杆延伸所述立柱的全长，所述电机位于所述丝杆的上端。
10.进一步，所述探测器安装座和所述射线源安装座的上下均设置有覆盖所述垂直滑轨和所述丝杆的柔性伸缩罩。
11.进一步，所述载物台能够沿其垂直轴旋转。
12.本实用新型通过使探测器和射线源沿立柱上下移动，既大大增加了辐射成像系统垂直方向的工作行程，又避免采用结构复杂的载物台，在使检测装置结构简洁的前提下，扩
大了被检物的尺寸范围，方便了大尺寸被检物的辐射成像。
附图说明
13.图1为本实用新型整体结构示意图；
14.图2为立柱上滑动配合结构示意图；
15.图3为滑块和滑轨断面配合结构示意图。
16.图中：1.基座，2.载物台，3.左立柱，4.右立柱，5.探测器安装座，6.射线源安装座，7.γ射线源，8.线阵探测器，9.电机，10.丝杆，11.滑轨，12.滑块，13.螺母，14.光读头，15.光栅标尺，16.柔性伸缩罩。
具体实施方式
17.为清楚地说明本实用新型的技术方案，下面结合实施例及其附图做详细说明。
18.图1-图3所示为本实用新型的一个优选实施例。
19.如图中所示，该实施例中的能够上下扫描无损成像装置，包括基座1，设置在基座1上的左立柱3、右立柱4，位于左立柱3和右立柱4之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台2，其中，左立柱3上设置有γ射线源安装座5，γ射线源安装座5上安装有γ射线源7，右立柱4上设置有探测器安装座6，探测器安装座6上安装有线阵探测器8，左立柱3和右立柱4上均设置有垂直滑轨11、丝杆10、光栅标尺15，γ射线源安装座5和探测器安装座6上均固定有与垂直滑轨11相配的滑块12、与丝杆10相配的螺母13和与光栅标尺15组成光栅尺的光读头14，左立柱3和右立柱4的上端均设置有电机9，该电机9与丝杆10的上端相连并驱动丝杆10转动。
20.另外，基座1的上表面为水平平面，左立柱3和右立柱4均垂直安装在基座1上。
21.为了使γ射线源安装座5和探测器安装座6有尽可能大的可移动行程，滑轨11和丝杆10沿左右立柱的全长设置。
22.为了防尘和保护滑轨11、丝杆10，左立柱3和右立柱4上均设置有覆盖滑轨11和丝杆10的柔性伸缩罩16。
23.为了丰富辐射成像的方式，提高无损检测的能力，还可采用能够绕其垂直轴旋转的载物台2。
24.上述无损检测装置工作时，由γ射线源7和线阵探测器8组成的辐射成像系统在完成对被检测物某个断面的扫描成像后，利用电机9驱动γ射线源7和线阵探测器8上移(或下移)，再对被检测物的下一断面进行扫描成像，直至完成对被检测物垂直方向各断面的扫描成像，实现对整个被检测的无损检测。
25.由于γ射线源7和线阵探测器8的移动采用光栅尺进行检测，移动距离的检测精度可以达到微米级，因而能够精确地控制γ射线源7和线阵探测器8的移动距离，从而保证各扫描断面的精确衔接，保证辐射成像的质量。
26.在采用可转动的载物台2的情况下，还能够进一步使由γ射线源7和线阵探测器8组成的辐射成像系统实现对被检测物各断面360度全周向的扫描成像，从而实现对被检测物的立体辐射成像，进一步提高对被检测物的分辨能力，提高无损检测装置的检测能力。
27.当然，上述实施例中的γ射线源7也可以是x光机，线阵探测器8也可以是面阵探测
器，即：也可以由x光机和线阵探测器组成其中的辐射成像系统，或者，由γ射线源和面阵探测器组成其中的辐射成像系统，或者，由x光机和面阵探测器组成其中的辐射成像系统。
28.因采用x光机和面阵探测器的各种实施方式本领域技术人员根据上述说明即可实施，故，在此不再以实施例的形式一一描述。
29.最后需要指出的是，除了上述实施例之外，本实用新型所保护的技术方案还可以有本领域技术人员能够做出的多种其它具体实施方式，上述实施例只是用于说明而不限定本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座和探测器，另一立柱上设置有射线源安装座和射线源，两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和射线源安装座上均固定有与所述垂直滑轨相配的滑块和与所述丝杆相配的螺母，并由所述丝杆驱动可上下滑动安装在各自所在立柱上，所述丝杆由电机驱动旋转，所述探测器安装座和射线源安装座与各自所在所述立柱之间均设置有光栅尺，并通过光栅尺与所述电机相配合对所述探测器安装座和射线源安装座的上下位置进行精确控制，以使探测器和射线源在上下移动过程中始终保持精确对准，光栅尺中的光栅标尺平行垂直滑轨设置在所述立柱上，光栅尺中的光读头分别设置在所述探测器安装座上和射线源安装座上。2.如权利要求1所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述射线源为γ射线源或x光机，所述探测器为探测器或面阵探测器。3.如权利要求1所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述立柱垂直设置。4.如权利要求3所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述基座上表面为水平平面。5.如权利要求4所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述垂直滑轨和所述丝杆延伸所述立柱的全长，所述电机位于所述丝杆的上端。6.如权利要求4所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述探测器安装座和所述射线源安装座的上下均设置有覆盖所述垂直滑轨和所述丝杆的柔性伸缩罩。7.如权利要求4所述的能够上下扫描无损成像装置，其特征在于，所述载物台能够沿其垂直轴旋转。

技术总结
本实用新型公开了一种能够上下扫描无损成像装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座和探测器，另一立柱上设置有射线源安装座和射线源，两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和射线源安装座上均固定有与所述垂直滑轨相配的滑块和与所述丝杆相配的螺母，并由所述丝杆驱动可上下滑动安装在各自所在立柱上，所述丝杆由电机驱动旋转，所述探测器安装座和射线源安装座与各自所在所述立柱之间均设置有光栅尺。本实用新型通过使探测器和射线源沿立柱上下移动，既大大增加了辐射成像系统垂直方向的工作行程，又避免采用结构复杂的载物台，在使检测装置结构简洁的前提下，方便了大尺寸被检物的辐射成像。方便了大尺寸被检物的辐射成像。方便了大尺寸被检物的辐射成像。


技术研发人员：李建
受保护的技术使用者：华清核测科技（苏州）有限公司
技术研发日：2021.12.28
技术公布日：2022/7/8