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一种可调尺寸检验通止规的制作方法

2022-07-05 23:33:23 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,包括底板(1)、水平支撑板(2)和两个锁紧型测微头(3),底板(1)上固定有竖直支柱(4),竖直支柱(4)穿过水平支撑板(2)且二者通过调节螺丝(5)固定连接,水平支撑板(2)还开有用于穿置两个锁紧型测微头(3)的长圆孔(6),锁紧型测微头(3)的测头(7)朝下插入长圆孔(6)中,锁紧型测微头(3)的锁紧结构(8)位于水平支撑板(2)上方且与长圆孔(6)的上边缘相卡接,位于水平支撑板(2)之下的锁紧型测微头(3)的安装套上固连有防止锁紧型测微头(3)整体上下位移的固定螺母(9)。2.根据权利要求1所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,调节螺丝(5)沿水平方向从左侧旋入水平支撑板(2)中,且调节螺丝(5)的端部抵紧竖直支柱(4)。3.根据权利要求2所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,竖直支柱(4)为四棱柱,调节螺丝(5)的内端与竖直支柱(4)的其中一个侧面相抵接。4.根据权利要求1至3任一项所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,锁紧型测微头(3)的锁紧结构(8)包括固定套筒以及与固定套筒相连的锁紧螺丝或轴心锁。5.根据权利要求4所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,底板(1)、竖直支柱(4)和水平支撑板(2)均采用不导磁材料制成。6.根据权利要求5所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,底板(1)的平面度小于等于0.0005mm。7.根据权利要求6所述的一种可调尺寸检验通止规,其特征在于,锁紧型测微头(3)为千分尺。

技术总结
本实用新型属于尺寸检测辅助工装,涉及一种可调尺寸检验通止规,解决了背景技术中的技术问题,其包括底板、水平支撑板和两个锁紧型测微头,底板上固定有竖直支柱,竖直支柱穿过水平支撑板且二者通过调节螺丝固定连接,水平支撑板还开有用于穿置两个锁紧型测微头的长圆孔,锁紧型测微头的测头朝下插入长圆孔中,锁紧型测微头的锁紧结构位于水平支撑板上方且与长圆孔的上边缘相卡接,位于水平支撑板之下的锁紧型测微头的安装套上固连有防止锁紧型测微头整体上下位移的固定螺母。采用本实用新型所述通止规后,不需要每件测量时调整卡尺或千分尺,节约了调整尺子和读数的时间,避免了由于人员读数错误导致的重复测量,提高了检测效率。测效率。测效率。


技术研发人员:张锋锐 吕进
受保护的技术使用者:山西汇镪磁性材料制作有限公司
技术研发日:2022.03.21
技术公布日:2022/7/4
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