一种光学耦合控制方法、装置及计算机可读存储介质与流程

技术特征：
1.一种光学耦合控制方法，应用于自动化光学耦合设备，其特征在于，所述自动化光学耦合设备的不同检测点分别设置有多个视觉识别装置，所述光学耦合控制方法包括：实时获取所述自动化光学耦合设备所执行的当前加工工序；基于所述当前加工工序对应触发所述多个视觉识别装置中的目标视觉识别装置；对视觉识别图像进行特征分析，确定所述当前加工工序的加工状态；在所述加工状态为加工异常时，输出加工异常提示。2.根据权利要求1所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述多个视觉识别装置包括：与光器件正面相对设置的第一视觉识别装置、与所述光器件背面相对设置的第二视觉识别装置、与pcb板侧面相对设置的第三视觉识别装置、与所述pcb板正面相对设置的第四视觉识别装置以及设置于真空吸取移动装置之上的第五视觉识别装置。3.根据权利要求1所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述确定所述当前加工工序的加工状态的步骤之后，还包括：在所述加工状态为加工异常时，根据特征分析数据获取相应的加工修正参数；根据所述加工修正参数控制所述自动化光学耦合设备继续执行所述当前加工工序。4.根据权利要求1所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述确定所述当前加工工序的加工状态的步骤之后，还包括：在所述加工状态为加工异常时，获取所述当前加工工序的关联加工工序；根据所述当前加工工序对应的特征分析数据，确定对应于所述关联加工工序的加工补偿参数；基于所述加工补偿参数对所述关联加工工序的默认加工参数进行调整，得到实际加工参数；根据所述实际加工参数控制所述自动化光学耦合设备执行所述关联加工工序。5.根据权利要求1所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述在所述加工状态为加工异常时，输出加工异常提示的步骤，包括：在所述加工状态为加工异常时，统计历史时间周期内所述当前加工工序的异常次数；若所述异常次数超出预设次数阈值，则基于特征分析数据定位设备异常原因；结合所述设备异常原因输出加工异常提示。6.根据权利要求1至5中任意一项所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述基于所述当前加工工序对应触发所述多个视觉识别装置中的目标视觉识别装置的步骤，包括：获取所述自动化光学耦合设备所要求的加工精度指标；根据所述加工精度指标，从所述当前加工工序关联的多个使用优先级不同的视觉识别装置中相应确定目标视觉识别装置；触发所述目标视觉识别装置。7.根据权利要求6所述的光学耦合控制方法，其特征在于，所述根据所述加工精度指标，从所述当前加工工序关联的多个使用优先级不同的视觉识别装置中相应确定目标视觉识别装置的步骤，包括：将所述加工精度指标与预设指标阈值进行比较；在所述加工精度指标小于或等于所述指标阈值时，从所述当前加工工序关联的多个使用优先级不同的视觉识别装置中，获取主用视觉识别装置作为目标视觉识别装置；
在所述加工精度指标大于所述指标阈值时，从所述当前加工工序关联的多个使用优先级不同的视觉识别装置中，同时获取主用视觉识别装置以及辅助视觉识别装置作为目标视觉识别装置。8.一种光学耦合控制装置，应用于自动化光学耦合设备，其特征在于，所述自动化光学耦合设备的不同检测点分别设置有多个视觉识别装置，所述光学耦合控制装置包括：获取模块，用于实时获取所述自动化光学耦合设备所执行的当前加工工序；触发模块，用于基于所述当前加工工序对应触发所述多个视觉识别装置中的目标视觉识别装置；确定模块，用于对视觉识别图像进行特征分析，确定所述当前加工工序的加工状态；提示模块，用于在所述加工状态为加工异常时，输出加工异常提示。9.一种电子装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及总线；所述总线用于实现所述存储器、处理器之间的连接通信；所述处理器用于执行存储在所述存储器上的计算机程序；所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1至7中任意一项所述方法中的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至7中的任意一项所述方法中的步骤。

技术总结
本申请提供了一种光学耦合控制方法、装置及计算机可读存储介质，该方法包括：实时获取自动化光学耦合设备所执行的当前加工工序；基于当前加工工序对应触发多个视觉识别装置中的目标视觉识别装置；对视觉识别图像进行特征分析，确定当前加工工序的加工状态；在加工状态为加工异常时，输出加工异常提示。通过本申请方案的实施，采用多个检测点结合机器视觉实现动态监控与反馈，能够全面识别不同加工工序的耦合异常情况，有效提升了自动化光学耦合设备的耦合精度，并降低了产品不良率。并降低了产品不良率。并降低了产品不良率。


技术研发人员：陈纪辉 彭寒勤 黄君彬 杨勇 付全飞 童小琴
受保护的技术使用者：深圳市埃尔法光电科技有限公司
技术研发日：2022.02.28
技术公布日：2022/7/1