一种光学多点触摸检测控制方法与流程

1.本发明涉及集成电路技术领域，具体涉及一种光学多点触摸检测控制方法。


背景技术：

2.在当今世界应用的电子产品中，触摸屏是一种新型输入设备，相比于传统的按键输入方法，触摸屏输入更加地人性化；以最直观、最便捷的人机交互，更大程度地满足用户的需求；所以触摸屏自然的输入方式很快就赢得了市场的认可。目前触摸屏的种类主要包括电容式,电阻式,光学式等。电容式和电阻式触摸屏在中小尺寸屏上得到广泛的应用，在大屏和超大屏上很难实现。主要问题是造价成本太高，目前技术也没有达到市场需求。而光学触摸屏恰好弥补了上述缺点，所以光学触摸屏在大屏和超大屏得到了广泛应用。
3.如图2所示，目前在市面上比较常用的光学触摸控制采用分立元器件控制，图左为led曝光控制，ctr0控制p0，周期性曝光；图右为pd采样控制，ctr1控制p1，曝光电压是否输出，r0为bjt的b极钳位，当pd有强光照射时，产生电流，bjt初步放大电流输出。用这种电路来进行如下两种常规的光学触摸控制方法：
4.1.单点式光学触摸控制；
5.如图3所示，led
x1
～led
xn
与led
y1
～led
ym
组成x轴和y轴发光阵列，pd
x1
～pd
xn
与led
y1
～led
ym
组成x轴和y轴感光阵列，由于所用的led为激光，其发光与感光一一对应，根据屏的大小来调整n,m值的数量。分时逐次打开led曝光，同样分时逐次打开pd感光，所有的感光输出全部连在节点c，r1为c点到地的电阻，c点电压通过放大器amp放大给高速adc进行转换，转换结果送给高速cpu进行处理，根据所发出的时序和pd相对应的转换值进行判断，可以计算出屏上的那个位置的光线有被阻挡，从而得到该点有触摸。
6.该触摸控制方式只适用与单点触摸，如果是多点触摸将很容易出错，如图3的a，b两点同时触摸，通过光线矩阵交叉判断，同时会出现a’和b’另外两个点，(俗称a’和b’为鬼点)，由于a’和b’两点的出现，在cpu做判断时就容易出错，同样，如果有更多的点被触摸时，产生的鬼点会成几何倍数增加，那出错的概率更大。
7.2.多点式光学触摸控制：
8.如图4所示，同样led
x1
～led
xn
与led
y1
～led
ym
组成x轴和y轴发光阵列，pd
x1
～pd
xn
与led
y1
～led
ym
组成x轴和y轴感光阵列，由于所用led存在一定的发光角度，每颗led的发光都可以照到每一个pd感光模块上，这样整个光线矩阵为(n m)*(n m)，同样，根据触摸屏的实际大小调整n和m值，按照发光时序，将其中一个led曝光，此时所有的pd都会感光，如果所有pd输出的节点都连到一起，而adc模块每次只能采样一个pd的输出，所以该led需要重复曝光(n m)次，逐次将所有的pd输出进行转换，所有采样完后进行下一个led曝光，再逐次采样所有的pd输出进行转换。
9.由于光线矩阵为(n m)*(n m)条，这样完全可以解决多点触摸的鬼点问题，但每一帧换算adc转换需进行(n m)*(n m)次，由于转换的次数成几何倍数增加，这样adc采样和转换需要极高的速度。假设(n m)＝256，这样完成一帧的转换需要65536次，为了实现多点触
摸不丢点的效果，我们需要至少50hz的速度进行换算，即每帧的时间为20ms，这样平均到每个单一采用和转换的时间只有300ns，在这么短的时间里，adc是无法完成采样和转换的，此时需要多路adc进行采样转换(如图四有所示两路adc采样转换)。再次假设我们采用6路adc进行转换，这样单一采用和转换的时间接近2us，基本可以满足adc转换，但此时一次led曝光时间也不到2us，考虑到pd的光电转换能量，这样需要led的发光电流加大到1a以上，同时还需增大pd的感光单元的面积，才能达到多点触摸的效果。
10.综上所述，这两种方案存在以下问题：
11.1.发光和感光单元采取分立元器件控制，从而使得器件成本较高，加工复杂；同时需要较多的控制信号，使得pcb布板难度变大。
12.2.单点触摸控制方法无法实现多点触摸，使得应用存在缺陷；多点触摸控制方案需要多个adc进行采样转换，而且led曝光电流巨大，增加系统的功耗和硬件成本。
13.3.pd所有输出都在pcb上连在一起，信号线跨距很大，而且该线为模拟信号线，非常容易受干扰。
14.4.led曝光时间adc采样转换很短，很容易受系统的随机噪声干扰，在多点计算时容易出现不灵敏或误触发。


技术实现要素：

15.针对现有技术中的缺陷，本发明实施例提供一种光学多点触摸检测控制方法，从而解决了器件成本高，pcb布板复杂，系统功耗较大，容易受干扰等居多问题。
16.为实现上述目的，本发明实施例提供了一种光学多点触摸检测控制方法，所述方法包括：
17.定义控制触摸屏的级联芯片；所述级联芯片包括多个依次串行级联的芯片，每个芯片内部集成多个交错分布的led和pd采样点；所述led和pd采样点的数量与触摸屏大小相匹配；
18.选定led的发光角度及pd采样点的接收角度，使得选定的led在曝光时其对应的pd采样点能够接收到曝光，在对所有led进行逐次曝光后，经由能够接收到曝光的pd采样点进行采样及adc转换，并将adc转换的结果数据通过级联方式发送至cpu；
19.cpu将adc转换的结果数据与预先采集的pd采样点的本底数据进行对比，根据对比获得的变化量确定触摸屏的触摸情况。
20.优选的，所述采集pd采样点的本底数据包括：cpu发起帧同步指令后，所有led关闭，随后所有pd采样点进行采样及adc转换，将转换后的无曝光数据送给cpu保存，作为pd采样点的本底数据。
21.进一步地，所述cpu发起帧同步指令之前还包括：
22.根据cpu发起的地址配置指令进行芯片地址配置，使得每颗芯片获得对应的芯片地址；
23.根据cpu发起的读写指令配置芯片内部寄存器，控制芯片内部寄存器读写参数符合屏检测要求。
24.进一步地，所述根据cpu发起的地址配置指令进行芯片地址配置，使得每颗芯片获得对应的芯片地址包括：
25.为每个芯片配置一个相应的地址，所述芯片中设有数据输入端di和数据输出端do；
26.在无功能指令下，芯片经由do输出di接收的数据，当接收cpu发起的指令时，do输出指令相对应的数据，待相应数据输出完成后，继续输出di接收的数据；
27.当第一芯片收到cpu发起的地址配置指令及起始地址时，将接收的起始地址加1再从第一芯片的数据输出端do1输出，当cpu发出两个相同的地址，第一芯片确认收到两个相同的地址后，将收到的地址加1作为第一芯片的芯片地址，传输给第二芯片；
28.所述第二芯片的数据输入端di2依次收到地址配置指令，起始地址，地址1，地址1；
29.通过所述第二芯片的do2依次送出地址配置指令，起始地址，地址1，地址2，然后再送出地址2；当连续接收到两次地址2，第二芯片锁定为地址2，以此类推，直到最后一颗芯片n的数据输入端din依次收到地址配置指令，地址0，地址1，地址2，地址3...地址(n-1)，地址(n-1)；
30.将连续两次收到的地址(n-1)，芯片n锁定为地址n，通过芯片n的数据输出端don依次输出地址配置指令，再是地址0，地址1，地址2，地址3...地址(n-1)，地址n，地址n；当cpu接收到两次地址n时，完成n个芯片的地址配置；其中，n为芯片的总量。
31.进一步地，所述配置芯片内部寄存器包括：定义写指令为(指令部分 ic地址 写控制位 芯片内部地址 配置内容)；定义读指令组成为(指令部分 ic地址 读控制位 芯片内部地址)；
32.所述内部寄存器内容包括：曝光首地址、曝光时间、曝光电流、采样首地址、采样结束地址、采样时间、adc转换时间。
33.优选的，所述对所有led进行逐次曝光包括：
34.发送led曝光及串行移位指令，依据预先配置的曝光首地址，对所有led进行逐次曝光：
35.以首地址ic的led1开始曝光，待led1的曝光时间达到预先配置的时间时，led1曝光关闭；
36.再次发送led曝光及串行移位指令，led2开始曝光，待曝光时间达到预先配置的时间时，led2曝光关闭，依此类推，直到最后一个led曝光时间达到预先配置的时间为止。
37.优选的，所述经由能够接收到曝光的pd采样点进行采样及adc转换包括：
38.在每个led曝光结束后，通过指定的芯片对相应的pd进行采样及adc转换，待adc转换完成后读取led曝光后每个pd采样点对应的adc转换数据。
39.优选的，所述将adc转换的结果数据通过级联方式发送至cpu包括：
40.当第一芯片的数据输入端di1接收到读取adc结果数据指令时，通过第一芯片的数据输出端do1将所有pd采样转换的数据按顺序送出，第二芯片待第一芯片数据送完后，随即将第二芯片的数据送出，后续的芯片依次级联，芯片n接收完芯片(n-1)的数据后将数据随后送出至cpu，cpu根据接收到的数据顺序，获取每一个pd采样点的adc转换结果。
41.优选的，所述cpu将adc转换的结果数据与预先采集的pd采样点的本底数据进行对比，根据对比获得的变化量确定触摸屏的触摸情况包括：
42.基于pd采样点的本底数据与led曝光后每个pd采样点对应的adc转换结果数据的一致性，判断周围环境是否发生变化，若两者不一致，则表示触摸屏周围环境发生变化；
43.确定触摸屏周围环境发生变化时，根据pd采样点的本底数据与adc转换的结果数据之间的差值调整芯片内部寄存器配置参数；并通过比较所述差值与预设范围阈值之间的大小，判断触摸屏是否有触摸发生；若所述差值小于预设范围阈值时，则表示该pd采样点对应的光线被遮挡，根据遮挡的光线图确定触摸屏被触摸位置。
44.进一步地，假设选定的触摸屏为256个led和pd点，则通过下式确定pd采样点的本底数据与adc转换的结果数据之间的差值：
[0045][0046]
式中，v01～v0
256
表示不曝光时得到的adc数据；v11～v1
256
表示第一led曝光时得到的adc数据；vd11～vd1
256
表示将led1曝光得到的图像数据与无曝光的图像数据对应进行相减得到数据。
[0047]
与最接近的现有技术相比，本发明的有益效果在于：
[0048]
本发明提供的光学多点触摸检测控制方法是一种集成电路解决方案，将一颗芯片集成多个led控制及多个pd采样，用串行级联的方式将多颗芯片级联，这样极大的减少系统的元器件，芯片可以根据屏的大小多个级联，可以适应不同大小的屏；
[0049]
仅需几根信号线就可以控制每个led的曝光和pd采样及adc转换，led曝光控制及pd采样adc转换在芯片内部处理，极大的减小外围器件；同时将转换的adc结果数据送给cpu进行处理，这样pcb布线简单，加工及组装方便；信号线均为数字线，送出的结果为数字信号，cpu处理容易而且不容易受干扰，从而降低系统功耗，使得触摸效果更加理想。
[0050]
每个芯片内部均集成adc，可以并行进行数据转换，减小曝光电流及系统功耗；且芯片内部集成功能寄存器，可配置适应不同环境触摸检测。
[0051]
本发明的提出有效解决了采用常规的单点式光学触摸控制或者多点式光学触摸控制导致的器件成本高、pcb布板复杂、系统功耗较大、容易受干扰等居多难题。
附图说明
[0052]
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
[0053]
图1是本发明提供的一种光学多点触摸检测控制方法流程图；
[0054]
图2是背景技术提供的分立元器件控制示意图；
[0055]
图3是背景技术提供的单点式光学触摸控制示意图；
[0056]
图4是背景技术提供的多点式光学触摸控制示意图；
[0057]
图5是本发明提供的芯片内部功能模块原理图；
[0058]
图6是本发明提供的芯片外围电路结构示意图；
[0059]
图7是本发明提供的光学触摸屏光路示意图；
[0060]
图8是本发明提供的芯片地址获取时序图；
[0061]
图9是本发明提供的led逐次曝光控制示意图；
[0062]
图10是本发明提供的pd转换数据传输控制示意图；
[0063]
图11是本发明提供的cpu系统控制芯片及触摸检测流程图。
[0064]
图12是本发明提供的pd转换数据示意图；
[0065]
图13是本发明提供的多点触摸光学遮挡示意图。
具体实施方式
[0066]
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本发明的保护范围。
[0067]
需要注意的是，除非另有说明，本技术使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域技术人员所理解的通常意义。
[0068]
实施例1：请参考图1，是本发明实施例1提供的一种光学多点触摸检测控制方法，如图1所示，该方法可以包括以下步骤：
[0069]
s101定义控制触摸屏的级联芯片；如图7所示，所述级联芯片包括多个依次串行级联的芯片，如图6所示，每个芯片内部集成多个交错分布的led和pd采样点；led和pd采样点的数量与触摸屏大小相匹配；
[0070]
此外，芯片内部还集成了信号放大器、adc和功能寄存器；如图5所示，该图阐述芯片内部的功能模块框图及pad脚位功能。其中，cki为时钟输入，di[j:1]为数据输入，可以根据速度的需求配置di位宽，这样主机(cpu)通过cki和di来配置芯片内部的功能寄存器和控制指令；芯片内部时序控制了控制led曝光时序以将pd的采样转换时序；同时也可以读取adc转换的结果数据及内部功能寄存器内容；
[0071]
s102选定led的发光角度及pd采样点的接收角度，使得选定的led在曝光时其对应的pd采样点能够接收到曝光，在对所有led进行逐次曝光后，经由能够接收到曝光的pd采样点进行采样及adc转换，并将adc转换的结果数据通过级联方式发送至cpu；
[0072]
s103 cpu将adc转换的结果数据与预先采集的pd采样点的本底数据进行对比，根据对比获得的变化量确定触摸屏的触摸情况。
[0073]
步骤s103中预先采集的pd采样点的本底数据可以在步骤s101完成后进行，具体包括：cpu发起帧同步指令后，所有led关闭，随后所有pd采样点进行采样及adc转换，将转换后的无曝光数据送给cpu保存，作为pd采样点的本底数据。
[0074]
所述cpu发起帧同步指令之前还包括：
[0075]
1、根据cpu发起的地址配置指令进行芯片地址配置，使得每颗芯片获得对应的芯片地址；
[0076]
2、根据cpu发起的读写指令配置芯片内部寄存器，控制芯片内部寄存器读写参数符合屏检测要求。
[0077]
其中，根据cpu发起的地址配置指令进行芯片地址配置，使得每颗芯片获得对应的芯片地址包括：
[0078]
为每个芯片配置一个相应的地址，所述芯片中设有数据输入端di和数据输出端do；
[0079]
在无功能指令下，芯片经由do输出di接收的数据，当接收cpu发起的指令时，do输出指令相对应的数据，待相应数据输出完成后，继续输出di接收的数据；
[0080]
当第一芯片收到cpu发起的地址配置指令及起始地址时，将接收的起始地址加1再从第一芯片的数据输出端do1输出，当cpu发出两个相同的地址，第一芯片确认收到两个相同的地址后，将收到的地址加1作为第一芯片的芯片地址，传输给第二芯片；
[0081]
所述第二芯片的数据输入端di2依次收到地址配置指令，起始地址，地址1，地址1；
[0082]
通过所述第二芯片的do2依次送出地址配置指令，起始地址，地址1，地址2，然后再送出地址2；当连续接收到两次地址2，第二芯片锁定为地址2，以此类推，直到最后一颗芯片n的数据输入端din依次收到地址配置指令，地址0，地址1，地址2，地址3...地址(n-1)，地址(n-1)；
[0083]
将连续两次收到的地址(n-1)，芯片n锁定为地址n，通过芯片n的数据输出端don依次输出地址配置指令，再是地址0，地址1，地址2，地址3...地址(n-1)，地址n，地址n；当cpu接收到两次地址n时，完成n个芯片的地址配置；其中，n为芯片的总量。
[0084]
其中，配置芯片内部寄存器包括：定义写指令为(指令部分 ic地址 写控制位 芯片内部地址 配置内容)；定义读指令组成为(指令部分 ic地址 读控制位 芯片内部地址)；
[0085]
所述内部寄存器内容包括：曝光首地址、曝光时间、曝光电流、采样首地址、采样结束地址、采样时间、adc转换时间。
[0086]
步骤s102中，对所有led进行逐次曝光包括：
[0087]
发送led曝光及串行移位指令，依据预先配置的曝光首地址，对所有led进行逐次曝光：
[0088]
以首地址ic的led1开始曝光，待led1的曝光时间达到预先配置的时间时，led1曝光关闭；
[0089]
再次发送led曝光及串行移位指令，led2开始曝光，待曝光时间达到预先配置的时间时，led2曝光关闭，依此类推，直到最后一个led曝光时间达到预先配置的时间为止。
[0090]
步骤s102中，经由能够接收到曝光的pd采样点进行采样及adc转换包括：
[0091]
在每个led曝光结束后，通过指定的芯片对相应的pd进行采样及adc转换，待adc转换完成后读取led曝光后每个pd采样点对应的adc转换数据。
[0092]
步骤s102中，将adc转换的结果数据通过级联方式发送至cpu包括：
[0093]
当第一芯片的数据输入端di1接收到读取adc结果数据指令时，通过第一芯片的数据输出端do1将所有pd采样转换的数据按顺序送出，第二芯片待第一芯片数据送完后，随即将第二芯片的数据送出，后续的芯片依次级联，芯片n接收完芯片(n-1)的数据后将数据随后送出至cpu，cpu根据接收到的数据顺序，获取每一个pd采样点的adc转换结果。
[0094]
步骤s103中，cpu将adc转换的结果数据与预先采集的pd采样点的本底数据进行对比，根据对比获得的变化量确定触摸屏的触摸情况包括：
[0095]
基于pd采样点的本底数据与led曝光后每个pd采样点对应的adc转换结果数据的一致性，判断周围环境是否发生变化，若两者不一致，则表示触摸屏周围环境发生变化；
[0096]
确定触摸屏周围环境发生变化时，根据pd采样点的本底数据与adc转换的结果数
据之间的差值调整芯片内部寄存器配置参数；并通过比较所述差值与预设范围阈值之间的大小，判断触摸屏是否有触摸发生；若所述差值小于预设范围阈值时，则表示该pd采样点对应的光线被遮挡，根据遮挡的光线图确定触摸屏被触摸位置。
[0097]
设选定的触摸屏为256个led和pd点，则通过下式确定pd采样点的本底数据与adc转换的结果数据之间的差值：
[0098][0099]
式中，v01～v0
256
表示不曝光时得到的adc数据；v11～v1
256
表示第一led曝光时得到的adc数据；vd11～vd1
256
表示将led1曝光得到的图像数据与无曝光的图像数据对应进行相减得到数据。
[0100]
实施例2：本发明实施例2提供的光学多点触摸检测控制方法，具体操作流程如下所示：
[0101]
1.芯片可接收指令：芯片地址配置，芯片内部控制寄存器读写，led曝光及串行移位并pd采样转换，读adc结果数据，帧同步。
[0102]
芯片地址配置：由于整个屏是由多颗芯片级联控制，所以每个芯片需配置一个相应的的地址，芯片在平时do直接输出di接收的数据(相当于buf)，当在功能指令下，do输出相对应的数据，待所需要输出的数据完成后又回到输出di的数据。如图8所示，由cpu发起地址配置指令及起始地址(一般情况下起始地址为0)，第一颗芯片收到地址配置指令和起始地址时，芯片将得到的地址加1再从do1输出，cpu发出两个相同的地址，芯片1确认收到两个相同的地址后，在收到的地址加1为该芯片的芯片地址，同样第一颗芯片也会发出两个地址加1的数据给到下一颗芯片。我们再来看芯片2，由于cpu在发地址配置指令和起始地址时芯片1的di1直接送到do1，此时我看在芯片2来看，di2先收到地址配置指令，再收起始地址0，再收到地址1，然后又收到地址1。do2也是先送出地址配置指令，再送出地址0，再送出地址1，再送出地址2，然后再送出地址2，与芯片1一样，当连续接收到两次地址1，此时芯片锁定为地址2，以此类推，到最后一颗芯片n，din先收到地址配置指令，再是地址0，地址1，地址2，地址3.。。。地址(n-1)，地址(n-1)，连续两次收到地址(n-1)，所以芯片n锁定地址n，而don输出地址配置指令，再是地址0，地址1，地址2，地址3.。。。地址(n-1)，地址n，地址n，don是送回给cpu，当cpu接收到两次地址n时，就知道整个屏上有n颗芯片级联，此时整个芯片地址配置完毕，每颗芯片都得到了自己对应的地址。
[0103]
芯片内部控制寄存器读写：其写指令组成为(指令部分 ic地址 写控制位 芯片内部地址 配置内容)；其读指令组成为(指令部分 ic地址 读控制位 芯片内部地址)；根据应用的需要，内部寄存器主要内容如下：曝光首地址，曝光时间，曝光电流，采样首地址，采样结束地址，采样时间，adc转换时间等。当cpu送出的ic地址为0时，将是全局配置，所有ic都会被读或写。
[0104]
帧同步：当芯片启动开始检测时或所有led曝光完毕时发起帧同步指令，这样可以使每颗芯片回到上一次的配置下，从而不需要重新再配置一遍。帧同步指令后，所有led关闭，随后所有pd都会进行采样adc转换，再将转换数据送给cpu保存，而这次得到的数据为无曝光数据(即为pd本底数据)。
[0105]
led曝光及串行移位并pd采样转换：在配置完曝光首地址后，发送led曝光及串行移位指令，如图9所示，首地址ic的led1开始曝光，待曝光时间达到所配置的时间时，led1曝光关闭，再次发送led曝光及串行移位指令，同样led2开始曝光，待曝光时间达到所配置的时间时，led2曝光关闭，依此类推，每个led逐次曝光及达到曝光时间关闭，这样可以将所以的led进行逐次曝光。
[0106]
读adc结果数据：在每个led曝光结束后，指定的芯片均会对相应的pd进行采样及adc转换，如图10所示，待adc转换完成后，cpu会发起读adc结果数据指令，当芯片1的di1接收到读adc结果数据指令，随后do1将所有pd采样转换的数据按顺序送出，芯片2待芯片1数据送完后，紧跟着将芯片2的数据送出，后续的芯片依次级联，芯片n当就收完芯片(n-1)的数据后一样将数据随后送出，最后数据送给cpu，cpu根据接收到的数据顺序就知道每一个pd的adc转换结果。
[0107]
2.系统控制时序：如图11所示，cpu先发起地址配置指令，使得每颗芯片获得自己对应的芯片地址；然后配置芯片内部寄存器，使其相对应参数符合屏检测要求；再发帧同步指令，读取所有pd的本底数据；再发送led曝光及串行移位指令，随后读取每个led曝光后pd的结果，依次曝光并读取结果数据，直到所有led曝光完毕，cpu也读取到所有数据。cpu实时分析数据看环境是否发送变化，如果有变化调整芯片内部寄存器配置。这样周而复始检测屏是否有触摸发生。
[0108]
3.触摸检测：当cpu发起帧同步并读取所有pd的转换数据，得到所有pd的本底数据，如图12所示，每个pd得到相应的adc转换数据；同样，每个led曝光也会得到每个pd得到相应的adc转换数据；假设我们选定的光学触摸屏为256个led和pd点(即2y*k＝256)，不曝光时得到的adc数据为v01～v0
256
；第一个led曝光时得到的adc数据为v11～v1
256
；依次类推，第256个led曝光时得到的adc数据为v2561～v256
256
；
[0109][0110]
如公式
①
，我们将led1曝光得到的图像数据与无曝光的图像数据对应进行相减得到vd11～vd1
256
数据。根据led的发光角度和屏上pd的分布(如图7所示)，每个led光线所能照射的pd为有效数据，其他数据无需参与运算，当光线被挡时其vd1对应的值会很小或为0，此时我们设定一个阈值vd
th
，当需计算的点的vd1n《vd
th
时，该光线已被遮挡，同样，每一个led曝光后都会得到相应pd的adc转换数据；其对应点与本底进行相减来判断其中的光线是否被遮挡。由于整个屏上的光线较密，一个触摸点会导致多条光线被遮挡，如图13所示，a，b点被触摸时，其对应的多条光线被遮挡。根据屏上的光线图，cpu内部计算就能准确的定位
其相应的位置。
[0111]
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。