一种触点类通联的卡类产品批量测试工装的制作方法

1.本实用新型涉及存储卡测试工装技术领域，尤其涉及一种触点类通联的卡类产品批量测试工装。


背景技术：

2.microsd卡是一种极细小的快闪存储器卡，其格式源自sandisk创造，原本这种记忆卡称为t-flash，及后改称为trans flash;而重新命名为micro sd的原因是因为被sd协会(sda)采立。另一些被sda采立的记忆卡包括mini sd和sd卡。其主要应用于移动电话，但因它的体积微小和储存容量的不断提高，己经使用于gps设备、便携式音乐播放器和一些快闪存储器盘中。nm存储卡是华为自创的一种超微型存储卡，与tf卡相比，nm卡的体积减小了45%。它的形状大小和nano sim卡完全相同，可以与nano sim卡共享卡槽。tf卡和nm卡出厂前需要进行测试读写速度、读写次数等参数，测试时需要将tf卡或nm卡放在工装上进行固定。
3.传统的tf和nm卡测试工装在使用过程中存在一些弊端，如：
4.1.传统的tf卡和nm卡测试工装通常是在托盘上来回移动来测试各个tf卡或nm卡质量，测试完成后再换新的托盘，效率较低。
5.2.由于tf卡和nm卡自重较轻，很容易偏离其卡槽，传统的tf卡和nm卡测试工装在测试过程中很容易将卡压坏。
6.在申请号为cn201820015886.0的实用新型专利申请文件中提出了一种tf卡测试座，包括基座、设置在基座上的测试线路板、测试探针、tf卡放置槽以及下压机构和设置在tf卡放置槽两侧的tf卡压杆，测试探针连接测试线路板，tf卡放置槽水平设置，测试探针设置在所述tf卡放置槽下方，测试探针的针头伸入tf卡放置槽内；每个tf卡压杆均包括伸入tf卡放置槽内的压紧端和铰接在下压机构上的铰接端，每个tf卡压杆上均开设有从tf卡压杆的中部延伸至压紧端附近的限位长孔，基座上位于tf卡放置槽的两侧均设置有限位轴，两个限位轴一一对应地穿设在两个限位长孔内；基座和下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构。但该测试座主要用于解决现有的tf卡测试座结构复杂，一旦出现部件损坏时，不方便进行更换或者维护的问题，并不能解决tf卡和nm卡自重较轻，很容易偏离其卡槽的问题。


技术实现要素：

7.本实用新型的目的在于提供一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。
8.为解决上述技术问题，本实用新型提出一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，其包括：测试台、按压装置和托盘，其中，所述测试台水平放置；所述按压装置固定于所述测试台上；所述托盘放置于所述测试台上，并设置于所述按压装置正下方，所述托盘上分布有凹陷的卡槽，用于放置tf卡或nm卡。
9.更进一步的，所述测试台由底座和针板组成，所述针板设置于所述底座上。
10.更进一步的，所述针板上对应于托盘每一个卡槽的位置处均分布有顶针。
11.更进一步的，所述按压装置包括支座、压板安装板、推杆、弹簧、手柄和导杆，其中，所述支座和导杆一端设置于测试台上，所述压板安装板为e型板，所述压板安装板外侧两臂长于中间一臂，所述导杆穿过压板安装板外侧两臂并将其固定，所述导杆中间一臂与推杆垂直连接，所述推杆上半部分镶嵌于弹簧中，所述弹簧上端连接固定在支座上的手柄。
12.更进一步的，所述按压装置还包括压板，所述压板设置于压板安装板底部。
13.更进一步的，所述压板的底部分布有压块和导向块，其中，压块的中心位置安装有弹簧顶针。
14.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
15.1.本实用新型通过在针板上对应于所托盘的每一个卡槽的位置处都分布有顶针，可以一次性测试整个托盘上的存储卡，节省了时间。
16.2.本实用新型通过在压板上增加弹簧顶针和导向块，不但能使压块和存储卡在测试完成后更容易分离，也能将偏离卡槽位置的存储卡引导进正确位置，从而避免卡被压坏。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
18.图1为本实用新型的总装图；
19.图2为本实用新型的测试台结构示意图；
20.图3为本实用新型的托盘结构示意图；
21.图4为本实用新型的针板结构示意图；
22.图5为本实用新型的按压装置结构示意图；
23.图6为本实用新型的压板结构示意图。
24.图1-6中：1-测试台；101-底座；102-针板；2-按压装置；201-支座；202-压板安装板；203-压板；204-推杆；205-弹簧；206-手柄；207-导杆；3-托盘。
25.本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
26.应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
27.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
28.需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后
……
）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如
果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
29.另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。
30.为便于理解，特提出以下实施例：
31.实施例1：
32.如图1所示，一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，其包括：测试台1、按压装置2和托盘3，其中，所述测试台1水平放置；所述按压装置2固定于所述测试台1上；所述托盘3放置于所述测试台1上，并设置于所述按压装置2正下方，所述托盘3上分布有凹陷的卡槽，用于放置tf卡或nm卡。
33.需要注意的是，如图3所示，所述托盘3有两种结构，都分布有凹陷的卡槽，根据所检测的卡的种类不同凹槽的大小不同，用于放置tf卡或nm卡。
34.如图2所示，在本实施例中，所述测试台1由底座101和针板102组成，所述针板102设置于所述底座101上。
35.如图4所示，在本实施例中，所述针板102上对应于托盘3每一个卡槽的位置处均分布有顶针，可与存储卡的引脚接触，从而将信号传输给测试电路。
36.如图5所示，在本实施例中，所述按压装置2包括支座201、压板安装板202、推杆204、弹簧205、手柄206和导杆207，其中，所述支座201和导杆207一端设置于测试台1上，所述压板安装板202为e型板，所述压板安装板202外侧两臂长于中间一臂，所述导杆207穿过压板安装板202外侧两臂并将其固定，所述导杆207中间一臂与推杆204垂直连接，所述推杆204上半部分镶嵌于弹簧205中，所述弹簧上端连接固定在支座201上的手柄206。
37.在本实施例中，所述按压装置2还包括压板203，所述压板203设置于压板安装板202底部。
38.如图6所示，在本实施例中，所述压板203的底部分布有压块和导向块，其中，压块的中心位置安装有弹簧顶针；
39.具体的说，所述压板203的底部分布有压块和导向块，其中压块用于压紧存储卡，使其与所述针板的顶针完全接触；
40.压块的中心位置安装有弹簧顶针，在测试完成需要抬起所述压板时，可使中心压块和存储卡更容易分离。其中导向块的顶部为斜面，沿压块四周分布，能够在按压过程中将偏离卡槽的存储卡引导进正确位置，从而避免卡被压坏。
41.具体的，一种触点类通联的卡类产品批量测试工装包括测试台1、按压装置2和托盘3。测试台1由底座101和针板102组成。按压装置2由支座201、压板安装板202、压板203、推杆204、弹簧205、手柄206和导杆207组成。托盘3有两种结构，都分布有凹陷的卡槽，根据所检测的卡的种类不同凹槽的大小不同，用于放置tf卡或nm卡。针板上对应于托盘每一个卡槽的位置处都分布有顶针，可与存储卡的引脚接触，从而将信号传输给测试电路。压板203的底部分布有压块和导向块。其中压块用于压紧存储卡，使其与针板的顶针完全接触。压块的中心位置安装有弹簧顶针，在测试完成需要抬起所述压板时，可使中心压块和存储卡更容易分离。其中导向块的顶部为斜面，沿压块四周分布，能够在按压过程中将偏离卡槽的存储卡引导进正确位置，从而避免卡被压坏。
42.工作原理：当需要检测tf卡时，操作人员先将布满tf卡的托盘3放置在针板102上，再向下扳动手柄206使得压板203向下移动，按压过程中，压块压紧卡槽中的tf卡时，压块上的弹簧顶针被压缩至压块内，压紧后再进行测试。在这一过程中，压板上的导向块可迫使偏离卡槽位置的tf卡向卡槽内移动，从而避免tf卡被压坏。测试完成后，向上扳动手柄206使压板203向上移动，压块上的弹簧顶针弹出，使tf卡和压块快速分离。在压板203抬到最高位置后松开手柄206，由于弹簧205的作用，压板203将保持在最高位置。最后，取出托盘3。当需要检测nm卡时，只需将用于放tf卡的托盘3更换为用于放nm卡的托盘3，再重复上述步骤即可。
43.本文揭露的结构、功能和连接形式，可以通过其它方式实现。例如，以上所描述的实施例仅是示意性的，例如多个组件可以结合或者集成于另一个组件；另外，在本文各个实施例中的各功能组件可以集成在一个功能组件中，也可以是各个功能组件单独物理存在，也可以或以上功能组件集成为一个功能组件。
44.以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。