功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统与流程

1.本发明涉及功耗测试技术领域，尤其涉及一种功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统。


背景技术：

2.目前，随着电子技术的发展，人们越来越多的使用电子设备，然而在生产过程中，需要对电子设备的功耗进行测试，传统功耗测试方法，需要手动搭建硬件测试环境、操作繁琐、使用条件苛刻，测试电子设备的功耗需要测试电子设备的电压，需要使用万用表测量电路上的分压电压，需要人工进行繁琐的操作。


技术实现要素：

3.本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明提出一种功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，能够节省人工成本，操作简单，效率高，实现低成本精准功耗自动化测试。
4.为实现上述目的，本发明实施例的第一方面提出了一种功耗测试方法，应用于测试装置，所述测试装置包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，所述电源分配电路用于给不同模块供电，所述电源分配电路与所述采样电路和所述采样控制电路连接，所述采样电路由传感器和采样电阻组成，用于采集数据，所述采样电路与所述待测系统负载连接，所述采样控制电路用于对传感器进行配置和控制，所述采样控制电路与所述待测系统负载连接，所述方法包括：
5.初始化所述传感器；
6.对所述传感器的参数进行配置；
7.设置周期性采样程序；
8.根据所述采样程序对所述待测系统负载进行采样，获取第一数据；
9.将所述第一数据存储到内存；
10.将所述第一数据发送至终端设备，以使得所述终端设备根据所述第一数据，绘制图表。
11.在本发明的一些实施例中，所述对所述传感器的参数进行配置，包括：
12.根据所述采样电路，设置采样控制开关；
13.根据所述采样电路，设置采样通道；
14.根据所述采样电路，设置采样率；
15.根据所述采样电路，设置采样时间。
16.在本发明的一些实施例中，所述设置周期性采样程序，包括：
17.创建工作线程；
18.根据所述工作线程对所述采样电路电压进行周期性的采样，获得所述第一数据。
19.在本发明的一些实施例中，所述将所述第一数据发送至终端设备，以使得所述终
端设备根据所述第一数据，绘制图表，包括：
20.将所述第一数据和所述采样电阻阻值发送至终端设备；
21.以使得终端设备根据所述第一数据和所述采样电阻阻值得到第二数据；
22.从而使得终端设备根据所述第二数据绘制图表；
23.最后使得终端设备根据所述图表分析和验证所述第一数据。
24.为实现上述目的，本发明实施例的第二方面提出了一种功耗测试方法，应用于终端设备，所述终端设备与测试装置连接，所述方法包括：
25.接收来自所述测试装置发送的第一数据和采样电阻阻值；
26.根据所述第一数据和所述采样电阻阻值得到第二数据；
27.根据所述第二数据绘制图表；
28.根据所述图表分析和验证所述第一数据。
29.在本发明的一些实施例中，所述第一数据包括采样电阻瞬时分压和待测电路瞬时电压，所述第二数据包括待测电路瞬时电流、待测电路瞬时功率和待测电路平均功率，所述根据所述第一数据和所述采样电阻阻值得到第二数据，所述方法包括：
30.所述待测电路瞬时电流等于所述采样电阻瞬时分压除以所述采样电阻阻值；
31.所述待测电路瞬时功率等于所述待测电路瞬时电压乘以所述待测电路瞬时电流；
32.所述待测电路平均功率等于所述待测电路瞬时功率的累加求平均值。
33.在本发明的一些实施例中，所述根据所述第二数据绘制图表，包括：
34.以采样时间作为横坐标，以所述瞬时电流作为纵坐标绘制图表；
35.以采样时间作为横坐标，以所述瞬时功率作为纵坐标绘制图表；
36.以采样时间作为横坐标，以所述平均功率作为纵坐标绘制图表。
37.为实现上述目的，本发明实施例的第三方面提出了一种功耗测试装置，包括：
38.传感器初始化模块，用于初始化传感器；
39.传感器参数配置模块，用于对所述传感器的参数进行配置；
40.采样程序模块，用于设置周期性采样程序；
41.第一数据获取模块，用于根据所述采样程序对待测设备进行采样，获取第一数据；
42.第一数据存储模块，用于将所述第一数据存储到内存；
43.图表绘制模块，用于将所述第一数据发送至终端设备，以使得所述终端设备根据所述第一数据，绘制图表。
44.为实现上述目的，本发明实施例的第四方面提出了一种电子设备，包括：
45.至少一个存储器；
46.至少一个处理器；
47.至少一个程序；
48.所述程序被存储在存储器中，处理器执行所述至少一个程序以实现本发明如上述第一方面所述的功耗测试方法。
49.为实现上述目的，本发明的第五方面提出了一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如上述第一方面所述的功耗测试方法。
50.为实现上述目的，本发明的第六方面提出了一种功耗测试系统，所述功耗测试系
统包括：测试装置和终端设备，执行如上述第一、二方面所述的功耗测试方法。
51.本发明实施例提出的功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，功耗测试方法应用于测试装置包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，电源分配电路用于给不同模块供电，采样电路由传感器和采样电阻组成，用于采集数据，采样控制电路用于对传感器进行配置和控制；首先初始化传感器，对传感器的参数进行配置，设置周期性采样程序，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据，将第一数据存储到内存，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表。现有技术对于电子设备的功耗测试需要复杂繁琐的操作。而本技术能够节省人工成本，操作简单，效率高，实现低成本精准功耗自动化测试。
附图说明
52.附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
53.图1是本发明一个实施例提供的功耗测试方法的硬件框架图；
54.图2是本发明一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
55.图3是本发明图2中步骤s120的一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
56.图4是本发明图2中步骤s130的又一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
57.图5是本发明图2中步骤s160的又一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
58.图6是本发明另一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
59.图7是本发明图6中步骤s520的一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
60.图8是本发明图6中步骤s530的一个实施例提供的功耗测试方法流程图；
61.图9是本发明实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
62.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
63.在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
64.在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系，也不必用于描述特定的顺序或先后次序。
65.本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
66.本发明实施例提供一种功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，具体通过如下实施例进行说明，首先描述本发明实施例中的功耗测试方法，应用于测试装置包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，电源分配电路用于给不同模块供电，采样电路由传感器和采样电阻组成，用于采集数据，采样控制电路用于对传感器进行配置和控制；首先初始化传感器，对传感器的参数进行配置，设置周期性采样程序，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据，将第一数据存储到内存，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表。现有技术对于电子设备的功耗测试需要复杂繁琐的操作。而本技术能够节省人工成本，操作简单，效率高，实现低成本精准功耗自动化测试。
67.下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
68.如图1所示，图1是本发明一个实施例提供的功耗测试方法的硬件框架图。在图1的示例中，该硬件框架包括待测系统负载101、采样电路102、电源分配电路103和采样控制电路104。
69.其中，电源分配电路103对给采样电路102和采样控制电路104分配不同的电压，电源分配电路103与采样电路102和采样控制电路104连接，待测系统负载101负责发送控制指令到采样控制电路104，使得采样控制电路104可以对采样电路102的采样行为进行控制，采样控制电路104与待测系统负载101连接，采样电路102由传感器和采样电阻组成，用于采集数据，采样电路102与待测系统负载101连接。
70.在一些实施例中，待测系统负载101可以为片上系统芯片负载，还可以包括但不限于包括数字信号处理器(dsp)、专用集成电路(asic)、现场可编程门阵列(fpga)或者其他可编程逻辑器件。
71.在一些实施例中，电源分配电路可以给多个不同的模块供应不同的电压，电源分配电路输出多路供电，而采样电路负责采样电源分配电路供应给多个不同模块的功耗。具体的，在soc芯片中，有不同的模块单元，比如adc模块、dac模块和uart模块等等，电源分配电路会给adc模块、dac模块和uart模块供应不同的电压，同时多个采样电路会分别对应采样adc模块、dac模块和uart模块的功耗情况。通过本发明以上步骤的实施例提供的功耗测试方法可以同时测试不同模块的功耗数据。
72.图2是本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，应用于测试装置，图2中的方法可以包括但不限于包括步骤s110至步骤s160。
73.步骤s110，初始化传感器；
74.步骤s120，对传感器的参数进行配置；
75.步骤s130，设置周期性采样程序；
76.步骤s140，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据；
77.步骤s150，将第一数据存储到内存；
78.步骤s160，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表。
79.基于图1的硬件框架结构，在一些实施例的步骤s110中，初始化传感器，测试装置启动，功耗测试方法先对传感器进行初始化。在一些实施例的步骤s120中，对传感器的参数进行配置，使用脚本工具对传感器的参数进行配置，使得测试装置处于一种待测试的场景。
在一些实施例的步骤s130中，设置周期性采样程序，具体的，创建一个工作线程对采样电路进行周期性的采样，采样的周期可以按照测试的需求进行设置，可以包括但不限于包括每秒采样五十次，每秒采样一次。在一些实施例中，使用定时器加软件中断的方式对采样电路进行周期性的采样。在一些实施例的步骤s140中，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据，根据步骤s130中设置的采样程序对待测系统负载进行周期性的采样。在一些实施例的步骤s150中，将第一数据存储到内存，经过上述步骤采样电路对待测系统负载采样的第一数据会实时存储到内存空间中。在一些实施例的步骤s160中，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表，进行数据的分析验证。
80.通过本发明以上步骤的实施例提供的功耗测试方法，可以解决功耗测试复杂问题,使用程序化的方式对数据进行采样，先是对应传感器参数进行设置，在设置一个周期性的采样程序，用于执行周期性的数据采样，将采集到的数据进行存储，并根据第一数据绘制图表，有利于数据分析。解决了现有技术方案测试功耗复杂，低效的问题，通过本发明实施例可以能够节省人工成本，操作简单，效率高，实现低成本精准功耗自动化测试。
81.请查阅图3，本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，步骤s120可以包括但不限于包括步骤s210至步骤s240；
82.步骤s210，根据采样电路，设置采样控制开关；
83.步骤s220，根据采样电路，设置采样通道；
84.步骤s230，根据采样电路，设置采样率；
85.步骤s240，根据采样电路，设置采样时间。
86.具体地，在一些实施例的步骤s210中，根据采样电路，设置采样控制开关，打开采样控制开关，进入待测场景；在一些实施例的步骤s220中，根据采样电路，设置采样通道，根据采样的场景的需求进行设置采样通道的数量，开启关闭采样通道，具体的，可以包括但不限于包括设置5个采样通道，关闭第4采样通道，其他的采样通道是打开状态。这使得测试装置可以同时抓取多路功耗数据，在一些实施例的步骤s230中，根据采样电路，设置采样率，根据采样的场景需求设置采样率。在一些实施例的步骤s240中，根据采样电路，设置采样时间，根据采样的场景需求设置采样时间，可以包括但不限于包括采样一小时。
87.通过本发明以上步骤的实施例提供的功耗测试方法，用户可以按照需求设定传感器的参数，例如设定采样控制开关、采样通道、采样率和采样时间。
88.请查阅图4，本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，步骤s130可以包括但不限于包括步骤s310至s320；
89.步骤s310，创建工作线程；
90.步骤s320，根据工作线程对采样电路电压进行周期性的采样，获得第一数据。
91.具体地，在一些实施例的步骤s310中，创建工作线程；在一些实施例的步骤s320中，根据工作线程对采样电路电压进行周期性的采样，获得第一数据。获取的第一数据包括采样电阻瞬时分压和待测电路瞬时电压。使用程序工作线程的方式进行自动化的，周期性的采样，可以方便快捷的对功耗进行采样。在一些实施例中，可以在测试装置中设定定时器，同时使用软件中断的方式对采样电路进行周期性的采样。在一些实施例中，获取的第一数据还包括cpu负载及动态随机存取存储器的带宽数据。
92.通过本发明以上步骤的实施例提供的功耗测试方法，通过程序化的方法，使用工
作线程和定时器和软件中断的方法对待测系统负载进行周期性数据的采样。
93.请查阅图5，本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，步骤s160可以包括但不限于包括步骤s410至s440；
94.步骤s410，将第一数据和采样电阻阻值发送至本地终端设备；
95.步骤s420，以使的本地终端设备根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据；
96.步骤s430，从而使得本地终端设备根据第二数据绘制图表；
97.步骤s440，最后使得本地终端设备根据图表分析和验证第一数据。
98.具体地，在一些实施例的步骤s410中，将第一数据和采样电阻阻值发送至本地终端设备，测试装置将采样到的第一数据和在采样电路中的采样电阻阻值发送到本地终端设备，在一些实施例中，可以通过uart传输通道将第一数据发送给本地终端设备；在一些实施例中，将第一数据保存为文件，然后通过android debug bridge工具把文件拉取到本地终端设备进行分析；在一些实施例的步骤s420中，以使的本地终端设备根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据；测试装置将第一数据和采样电阻阻值发送给本地终端设备后，以使其可以根据第一数据和采样电阻阻值计算第二数据，在一些实施例的步骤s430中，从而使得本地终端设备根据第二数据绘制图表；在一些实施例的步骤s440中，最后使得本地终端设备根据图表分析和验证第一数据。
99.在一些实施例中，在测试装置中，采样电路采样第一数据，在测试装置中根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据，并将第二数据通过uart串口输出到本地终端设备中。
100.通过本发明以上步骤的实施例提供的功耗测试方法，测试装置将第一数据和采样电阻阻值发送给本地终端设备，以使得本地终端设备根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据，进而绘制出图表，最后使得在本地终端设备上根据图表分析和验证第一数据，通过采样的数据可以得出图表，从图表可以直观的，方便快捷的分析和验证采样的数据。
101.请查阅图6，本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，应用于本地终端设备，本地终端设备与测试装置连接，图6中的方法可以包括但不限于包括步骤s510至s540；
102.步骤s510，接收来自测试装置发送的第一数据和采样电阻阻值；
103.步骤s520，根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据；
104.步骤s530，根据第二数据绘制图表；
105.步骤s540，根据图表分析和验证第一数据。
106.具体地，在一些实施例的步骤s510中，本地终端设备接收来自测试装置发送的第一数据和采样电阻阻值；在一些实施例的步骤s520中，根据第一数据和采样电阻阻值得到第二数据；在一些实施例的步骤s530中，根据第二数据绘制图表；在一些实施例的步骤s540中，根据图表分析和验证第一数据。
107.请查阅图7，本发明实施例提供的功耗测试方法的一个可选的流程图，第一数据包括采样电阻瞬时分压和待测电路瞬时电压，第二数据包括待测电路瞬时电流、待测电路瞬时功率和待测电路平均功率，步骤s520可以包括但不限于包括步骤s610至s630；
108.步骤s610，待测电路瞬时电流等于采样电阻瞬时分压除以采样电阻阻值；
109.步骤s620，待测电路瞬时功率等于待测电路瞬时电压乘以待测电路瞬时电流；
110.步骤s630，待测电路平均功率等于待测电路瞬时功率的累加求平均值。
assistant，简称pda)、车载电脑等任意智能终端。
132.请参阅图9，图9示意了另一实施例的电子设备的硬件结构，电子设备包括：
133.处理器901，可以采用通用的cpu(centralprocessingunit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本发明实施例所提供的技术方案；
134.存储器902，可以采用rom(readonlymemory，只读存储器)、静态存储设备、动态存储设备或者ram(randomaccessmemory，随机存取存储器)等形式实现。存储器902可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器902中，并由处理器901来调用执行本公开实施例的功耗测试方法；
135.输入/输出接口903，用于实现信息输入及输出；
136.通信接口904，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如usb、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、wifi、蓝牙等)实现通信；
137.总线905，在设备的各个组件(例如处理器901、存储器902、输入/输出接口903和通信接口904)之间传输信息；
138.其中处理器901、存储器902、输入/输出接口903和通信接口904通过总线905实现彼此之间在设备内部的通信连接。
139.本公开实施例还提供了一种存储介质，该存储介质是计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令用于使计算机执行上述功耗测试方法。
140.存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
141.本发明实施例还提供了一种功耗测试系统，该功耗测试系统包括上述功耗测试方法。
142.本实施例的功耗测试系统的具体实施方式与上述功耗测试方法的具体实施方式基本一致，在此不再赘述。
143.本发明实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
144.本领域技术人员可以理解的是，图2至图8中示出的技术方案并不构成对本发明实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
145.以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
146.本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设
备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
147.本技术的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
148.应当理解，在本技术中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“a和/或b”可以表示：只存在a，只存在b以及同时存在a和b三种情况，其中a，b可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
149.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
150.所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
151.另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
152.所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，简称rom)、随机存取存储器(random access memory，简称ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
153.以上参照附图说明了本发明实施例的优选实施例，并非因此局限本发明实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本发明实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本发明实施例的权利范围之内。