一种过欠压检测电路的制作方法

1.本发明涉及集成电路领域，特别是涉及一种过欠压检测电路。


背景技术：

2.对于电源系统而言，当某一点的电压过高或过低时都需要进行电压保护。现有一种电压检测方案如图1所示，其通过两个独立的引脚来对电源芯片进行电压检测，其中一个引脚用来检测过压，另一个引脚用来检测欠压；这种方法的优点是被测电压的过压保护点和欠压保护点都可以调节，同时两者相互独立、互不影响；其缺点是外围检测电路稍复杂，同时还需要两个引脚去判断，在芯片本身引脚不够时需要对其功能进行取舍，或者需要更换更多引脚的封装，而这必将导致芯片成本的增加。
3.而现有另一种电压检测方案如图2所示，其将图1中的两个引脚合在一起，通过一个引脚来检测电压；其中被测电压的过压保护点被测电压的欠压保护点式中：r1为设定的第一电阻，r2为设定的第二电阻，ovp为芯片内部的过压基准，uvp为芯片内部的欠压基准。该方案中，通过调节r1和r2的阻值来调节u1
ovp
和u1
uvp
，但无论怎么改变r1和r2的阻值，u1
ovp
和u1
uvp
的比例都是固定的，无法调节；而在不同的应用场合，对u1
ovp
和u1
uvp
都有不同的要求，上述方案虽然外围检测电路简单，但由于u1
ovp
和u1
uvp
的比例固定，两者只能同时调节，无法只调节其中一个，从而导致应用受限。


技术实现要素：

4.鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种过欠压检测电路，用于解决现有检测电路因u1
ovp
和u1
uvp
的比例固定而导致应用受限的问题。
5.为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：
6.一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；
7.电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；
8.电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。
9.可选地，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源接入所述电压检测引脚。
10.可选地，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源的电流输入端连接于所述电压检测引脚，所述电流源的电流输出端接地。
11.可选地，所述电流支路包括：一供流电阻，所述供流电阻的一端接入预设电压，所
述供流电阻的另一端连接于所述电压检测引脚。
12.可选地，所述电阻支路包括：第一检测电阻和第二检测电阻，所述第一检测电阻的一端接入被测电压，所述第一检测电阻的另一端连接于所述第二检测电阻的一端及所述电压检测引脚，所述第二检测电阻的另一端接地。
13.可选地，所述待检测芯片包括：过压比较器、欠压比较器及逻辑控制器，其中，
14.所述过压比较器的第一输入端连接于所述电压检测引脚，其第二输入端接入过压基准，其输出端连接于所述逻辑控制器，用于对所述电压检测引脚处的电压和所述过压基准进行比较，并输出比较结果；
15.所述欠压比较器的第一输入端连接于所述电压检测引脚，其第二输入端接入欠压基准，其输出端连接于所述逻辑控制器，用于对所述电压检测引脚处的电压和所述欠压基准进行比较，并输出比较结果；
16.所述逻辑控制器用于根据所述过压比较器及所述欠压比较器输出的比较结果判断所述待检测芯片是否处于过压状态或欠压状态。
17.可选地，所述待检测芯片包括电源芯片。
18.如上所述，本发明的一种过欠压检测电路，通过增设电流支路，以在待检测芯片内部的电压检测引脚处增加或减少一个不为零的电流，以此实现仅通过一个芯片引脚即可达到设定过压保护点和欠压保护点的目的，同时还可调节两者的比例，避免电路应用受限。
附图说明
19.图1显示为现有的一种过欠压检测电路的示意图。
20.图2显示为现有的另一种过欠压检测电路的示意图。
21.图3显示为本发明实施例一所述过欠压检测电路的示意图。
22.图4显示为本发明实施例二所述过欠压检测电路的示意图。
23.图5显示为本发明实施例三所述过欠压检测电路的示意图。
24.元件标号说明
25.100
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
待测试芯片
26.101
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
过压比较器
27.102
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
欠压比较器
28.103
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
逻辑控制器
29.200
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
电流支路
30.300
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
电阻支路
具体实施方式
31.以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。
32.请参阅图3至图5。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，虽图示中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数
目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的形态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局形态也可能更为复杂。
33.实施例一
34.如图3所示，本实施例提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：
35.一待检测芯片100，所述待检测芯片100具有一电压检测引脚det；
36.电流支路200，设于所述待检测芯片100的内部并与所述电压检测引脚det连接，用于在所述电压检测引脚det处提供一不为零的电流；
37.电阻支路300，设于所述待检测芯片100的外部并与所述电压检测引脚det连接，用于在所述电流支路200的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片100的过压保护和欠压保护。
38.作为示例，所述待检测芯片100为现有任一种需要进行过压保护和欠压保护的电路芯片；可选地，本示例中，所述待检测芯片100为电源芯片。
39.作为示例，如图3所示，所述待检测芯片100包括：过压比较器101、欠压比较器102及逻辑控制器103，其中，
40.所述过压比较器101的第一输入端连接于所述电压检测引脚det，其第二输入端接入过压基准ovp，其输出端连接于所述逻辑控制器103，用于对所述电压检测引脚det处的电压和所述过压基准ovp进行比较，并输出比较结果；
41.所述欠压比较器102的第一输入端连接于所述电压检测引脚det，其第二输入端接入欠压基准uvp，其输出端连接于所述逻辑控制器103，用于对所述电压检测引脚det处的电压和所述欠压基准uvp进行比较，并输出比较结果；
42.所述逻辑控制器103用于根据所述过压比较器101及所述欠压比较器102输出的比较结果判断所述待检测芯片100是否处于过压状态或欠压状态，从而实现对所述待检测芯片100的过压保护和欠压保护。
43.本示例中，所述过压比较器101的第一输入端为反相输入端，所述过压比较器101的第二输入端为同相输入端；实际应用中，当所述待检测芯片100发生过压时，所述电压检测引脚det处的电压逐渐升高至所述过压基准ovp，此时所述过压比较器101的输出发生翻转，即由高电平变为低电平，所述逻辑控制器103则根据所述过压比较器101的输出判断所述待检测芯片100处于过压状态，从而控制相关电路对所述待检测芯片100进行过压保护。所述欠压比较器102的第一输入端为同相输入端，所述欠压比较器102的第二输入端为反相输入端；实际应用中，当所述待检测芯片100发生欠压时，所述电压检测引脚det处的电压逐渐降低至所述欠压基准uvp，此时所述欠压比较器102的输出发生翻转，即由高电平变为低电平，所述逻辑控制器103则根据所述欠压比较器102的输出判断所述待检测芯片100处于欠压状态，从而控制相关电路对所述待检测芯片100进行欠压保护。
44.作为示例，如图3所示，所述电流支路200包括：一电流源i1，所述电流源i1接入所述电压检测引脚det，用以实现在所述电压检测引脚det处增加一个不为零的电流i1。需要注意的是，所述电流源i1的大小可根据实际需要进行设定，本示例对其大小不做限定。
45.作为示例，如图3所示，所述电阻支路300包括：第一检测电阻r1和第二检测电阻r2，所述第一检测电阻r1的一端接入被测电压u1，所述第一检测电阻r1的另一端连接于所述第二检测电阻r2的一端及所述电压检测引脚det，所述第二检测电阻r2的另一端接地。
46.如图3所示，本实施例所述过欠压检测电路通过在待检测芯片内部的电压检测引脚处增设一不受r1和r2影响的电流分量后，其过压保护点欠压保护点此时过压保护点和欠压保护点的比例为：可见，由于i1的存在，r1和r2的改变不但可以调节u1
ovp
和u1
uvp
的值，更可以调节二者的比例。
47.实施例二
48.如图4所示，本实施例所述过欠压检测电路与实施例一的区别在于，本实施例所述电流支路200包括：一电流源i1，所述电流源i1的电流输入端连接于所述电压检测引脚det，所述电流源i1的电流输出端接地，用以实现在所述电压检测引脚det处减少一个不为零的电流i1。需要注意的是，所述电流源i1的大小可根据实际需要进行设定，本示例对其大小不做限定。
49.如图4所示，本实施例所述过欠压检测电路通过在待检测芯片内部的电压检测引脚处增设一不受r1和r2影响的电流分量后，其过压保护点欠压保护点此时过压保护点和欠压保护点的比例为：可见，由于i1的存在，r1和r2的改变不但可以调节u1
ovp
和u1
uvp
的值，更可以调节二者的比例。
50.实施例三
51.如图5所示，本实施例所述过欠压检测电路与实施例一的区别在于，本实施例所述电流支路200包括：一供流电阻r3，所述供流电阻r3的一端接入预设电压u2，所述供流电阻r3的另一端连接于所述电压检测引脚det，用以实现在所述电压检测引脚det处增加一个不为零的电流u2/r3。需要注意的是，所述预设电压u2及所述供流电阻r3可根据实际需要进行设定，本示例对其大小不做限定。
52.如图5所示，本实施例所述过欠压检测电路通过在待检测芯片内部的电压检测引脚处增设一不受r1和r2影响的电流分量(即u2/r3)后，其过压保护点欠压保护点此时过压保护点和欠压保护点的比例为：
可见，由于u2/r3的存在，r1和r2的改变不但可以调节u1
ovp
和u1
uvp
的值，更可以调节二者的比例。
53.综上所述，本发明的一种过欠压检测电路，通过增设电流支路，以在待检测芯片内部的电压检测引脚处增加或减少一个不为零的电流，以此实现仅通过一个芯片引脚即可达到设定过压保护点和欠压保护点的目的，同时还可调节两者的比例，避免电路应用受限。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
54.上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。