一种非接触式RTC晶振检测装置的制作方法

一种非接触式rtc晶振检测装置
技术领域
1.本发明涉及检测技术领域，具体是一种非接触式rtc晶振检测装置。


背景技术：

2.rtc为人们提供精确的实时时间，或者为电子系统提供精确的时间基准。目前rtc电路大多采用精度较高的晶体振荡器作为时钟源。rtc所使用的给的晶体振荡器需要根据实际情况进行负载匹配，否则将产生较大的时间误差，严重影响rtc的输出时间的准确性。
3.rtc晶振的负载匹配是系统性的调试操作，通过调整rtc电路与晶振之间连接的反馈电阻与负载电容的参数，使晶振输出信号的频率、幅值等参数达到目标精度。因此，施加在rtc系统上的外部因素（包括温度、湿度、与电路接触的测试探针等）将对rtc晶振的负载匹配精度造成较大影响。
4.为了尽量避免接触式探头杂散参数带来的影响，市面常见的时钟检测仪使用非接触式的感应探头获取rtc晶振振荡频率，并将获取到的频率信号与内部高精度时钟进行校验，最终得到被测rtc晶振的频率误差。
5.由于使用了高精度时钟，并带有显示输出设备，这种时钟检测仪价格高昂且不便于携带，并不能满足所有rtc晶振检测的应用场景。


技术实现要素：

6.本发明的目的在于提供一种非接触式rtc晶振检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
7.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种非接触式rtc晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集rtc晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号。
8.作为本发明的进一步技术方案：所述检测信号与数字示波器连接。
9.作为本发明的进一步技术方案：所述rtc晶振电路由芯片和晶振组成。
10.作为本发明的进一步技术方案：所述锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。
11.作为本发明的进一步技术方案：还包括用于给各个模块供电的内置电池。
12.与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明装置结构简单成本低，使用方法简单，可扩展性强，轻巧便携，可在狭小空间内使用。
附图说明
13.图1为本发明的整体方框图。
14.图2为检测原理图。
具体实施方式
15.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
16.请参照图1和2，一种非接触式rtc晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集rtc晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号，检测信号与数字示波器连接。rtc晶振电路由芯片和晶振组成。还包括用于给各个模块供电的内置电池，其输出信号端子与普通示波器相连。使用其测试时，将装置感应头靠近被测晶振，晶振工作产生的近场辐射信号经检测装置接收、选频、放大和倍频后输出至示波器。利用示波器接收和测量检测装置输出的信号，得到经固定倍数倍频后的rtc晶振工作频率，经简单的四则运算后即可得到晶振实际频率。
17.实施例2，在实施例1的基础上，锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。
18.对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
19.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。


技术特征：
1.一种非接触式rtc晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，其特征在于，所述近场探头采集rtc晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号。2.根据权利要求1所述的一种非接触式rtc晶振检测装置，其特征在于，所述检测信号与数字示波器连接。3.根据权利要求1所述的一种非接触式rtc晶振检测装置，其特征在于，所述rtc晶振电路由芯片和晶振组成。4.根据权利要求1所述的一种非接触式rtc晶振检测装置，其特征在于，所述锁相环倍频器通过有线或无线方式连接数字示波器。5.根据权利要求4所述的一种非接触式rtc晶振检测装置，其特征在于，还包括用于给各个模块供电的内置电池。

技术总结
本发明公开了一种非接触式RTC晶振检测装置，包括近场探头、初级选频网络、初级放大器、二级选频网络、二级放大器和锁相环倍频器，所述近场探头采集RTC晶振电路的信号并传输到初级选频网络的输入端，初级选频网络的输出端连接初级放大器的输入端，初级放大器的输出端连接二级选频网络的输入端，二级选频网络的输出端连接二级放大器的输入端，二级放大器的输出端连接锁相环倍频器的输入端，锁相环倍频器输出检测信号，本发明装置结构简单成本低，使用方法简单，可扩展性强，轻巧便携，可在狭小空间内使用。内使用。内使用。


技术研发人员：张敏 崔焕 赵宁宁 管巫浩
受保护的技术使用者：北京神州安付科技股份有限公司
技术研发日：2022.05.11
技术公布日：2022/6/10