测试校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质与流程

1.本发明实施例涉及成像设备测试技术，尤指一种测试校准方法、装置、设备及存储介质。


背景技术：

2.随着相机、摄像机等成像设备分辨率需求不断提高，保证图像质量成为了每个成像设备生产商必须要做的步骤。为了检测成像设备的图像清晰度与分辨率，在对成像设备进行测试的过程中，可以使用光学测试图chart对成像设备的图像清晰度与分辨率等进行检测。
3.测试chart是检测图像清晰度与分辨率的重要图像质量因子，例如，在图像分辨率以及调焦测试中，使用测试chart进行测试需要满足chart图中心与待测设备镜头光轴中心在一条直线上的要求。
4.为满足上述要求，目前主要采用激光校准方案，即借助激光笔或其他激光装置手动校准待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐，确认对齐后开始实际测试，再根据人工观察效果不断调整距离与方向。该激光校准方案，由于是手动校准待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐，无法保证待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐的准确性，从而会影响后续测试效果。


技术实现要素：

5.有鉴于此，本发明实施例提供了一种测试校准方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，所述方法包括：
6.在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；
7.根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；
8.根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；
9.当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；
10.其中，所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像；所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。
11.本发明实施例还提供了一种测试校准装置，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，其特征在于，所述装置包括：
12.第一确定单元，设置为在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；
13.第二确定单元，设置为根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；
14.判断单元，设置为根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；
15.第三确定单元，设置为当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；
16.其中，所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像；所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述待测设备镜头光轴中心与所述测试图中心在一条直线上。
17.本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述测试校准方法。
18.本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有信息处理程序，所述信息处理程序被处理器执行时实现上述测试校准方法。
19.本发明实施例提供的技术方案，能够保证待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐的准确性，提升后续测试效果。
20.本技术的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。
附图说明
21.附图用来提供对本技术技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术的技术方案，并不构成对本技术技术方案的限制。
22.图1为相关技术中chart图测试的校准示意图；
23.图2为相关技术中激光校准方案的校准示意图；
24.图3为本发明一实施例提供的一种测试校准方法的流程示意图；
25.图4为本发明一实施例提供的第一图像中心点的示意图；
26.图5为本发明一实施例提供的第一图像中心点坐标的示意图；
27.图6为本发明一实施例提供的在chart上设定定位块的示意图；
28.图7为本发明一实施例提供的第二图像中心点的示意图；
29.图8为本发明一实施例提供的第一图像中心点和第二图像中心点的显示示意图；
30.图9为本发明一实施例提供的在chart上设定定位块的示意图；
31.图10为本发明另一实施例提供的一种测试校准方法的流程示意图；
32.图11a为本发明一实施例提供的一种chart图原图示意图；
33.图11b为本发明一实施例提供的对chart图原图进行roi设置后的示意图；
34.图11c为本发明一实施例提供的对预处理后的图像进行二值化处理后的二值化图像的示意图；
35.图11d为本发明一实施例提供的对二值化图像进行特征筛选识别出定位块的示意图；
36.图11e为本发明一实施例提供的对利用最小外接矩形算法对识别出的每个定位块进行修正后的示意图；
37.图11f为本发明一实施例提供的对对修正后的每个定位块进行距运算得到每个定
位块的图像特征的示意图；
38.图12为本发明一实施例提供的一种测试系统结构示意图；
39.图13为本发明另一实施例提供的一种测试校准方法的流程示意图；
40.图14为本发明一实施例提供的一种测试校准装置的流程示意图；
41.图15为本发明一实施例提供的一种电子设备的流程示意图。
具体实施方式
42.本技术描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本技术所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。
43.本技术包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本技术已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本技术中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。
44.此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本技术实施例的精神和范围内。
45.图1为相关技术中chart图测试的校准示意图，如图1所示，在使用chart图进行测试时，需满足chart图中心与待测设备镜头光轴中心在一条直线上的要求。例如图1中虚线所示，即为chart图中心与待测设备镜头光轴中心之间对齐后的连接线。
46.另外，在图像分辨率以及调焦测试中，使用chart图测试还需要满足chart图全部内容充满成像设备成像全屏的要求。例如图1右侧所示，在显示器(即成像设备)中，chart图全部内容充满显示屏画面全屏，且不能超出或者小于画面全屏。
47.图2为相关技术中激光校准方案的校准示意图，如图2所示，可以借助激光笔手动校准待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐，确认对齐后开始实际测试，再根据人工观察效果不断调整距离与方向。当然也可以借助除了激光笔之外的其他激光装置。在激光校准方案中，由于是手动校准待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐，无法保证待测设备镜头光轴中心与chart图中心对齐的准确性，从而会影响后续测试效果。
48.进一步地，当需要更换测试机种或chart图，需要再次手动校准，校准时间长步骤繁琐，导致测试效率较低效。还有，整个校准过程以及测试结果都没有管控，无任何数据可
分析以至于没有途径进行问题定位、追溯与优化等。
49.为此，本发明一实施例提供了一种测试校准方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，如图3所示，该方法包括：
50.步骤301，在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像；
51.在一示例性实施例中，所述确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置，包括：
52.根据所述第一图像在长度方向上的第一分辨率值对应的第一点数值，确定所述第一点数值的一半数值对应的行坐标；
53.根据所述第一图像在宽度方向上的第二分辨率值对应的第二点数值，确定所述第二点数值的一半数值对应的列坐标；
54.将所述行坐标和所述列坐标所表示的位置作为所述第一位置。
55.在一示例性实施例中，在确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置之前，该方法还包括：
56.控制待测设备镜头对所述测试图进行拍摄后得到图像；
57.将该图像进行二值化处理，得到二值化图像；
58.将该二值化图像作为第一图像，显示在所述成像设备上。
59.例如图4和图5所示，图4中图像中对角线的相较点即为第一图像的中心点1，该中心点1与chart图内容与位置无关。该中心点1的位置坐标可以基于图像分辨率大小获取，即读取图像分辨率大小，行列均一半即为该点坐标，例如图5所示，中心点1位置坐标为(row/2，column/2)。
60.需要说明地是，本实施例中，还可以采用其他方式，只要能够实现确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置就可以，对此并不限制。
61.步骤302，根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像；
62.其中，测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏是指测试图充满待测设备成像面全屏，即待测设备成像画面要把整个测试图包含进去，且不能超出或小于成像画面。
63.在一示例性实施例中，所述根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在所述成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置，包括：
64.确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置；
65.根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置。
66.在一示例性实施例中，所述确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置，包括：
67.确定每个定位块的图像特征；
68.根据每个定位块的图像特征，计算该定位块中心点所在的位置。
69.在一示例性实施例中，所述至少两个定位块中的每一个定位块的中心点位于以预定角度穿过所述测试图中心的直线上；所述至少两个定位块中的任意两个定位块各自的中心点分别位于通过所述测试图中心的不同直线上；
70.所述根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置，包括：
71.针对每一个定位块，以其对应的预设角度穿过定位块中心点形成一条直线；
72.确定形成的全部直线的相交点；
73.根据所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置计算所述相交点所在的位置；
74.将所述相交点所在的位置作为所述第二位置。
75.在一示例性实施例中，所述确定每个定位块的图像特征，包括：
76.在所述第二图像的边缘位置设置包含该定位块在内的感兴趣区域roi；
77.对所述roi进行图像预处理；
78.对于预处理后的图像进行二值化处理得到二值化图像；
79.根据预先设定的图像特征阈值，在所述二值化图像中识别得到每个定位块；
80.利用最小外接矩形算法分别对每个定位块进行修正，并对修正后的每个定位块进行矩运算得到每个定位块的图像特征。
81.在一示例性实施例中，所述至少两个定位块中的一个定位块位于所述测试chart图长边框的中心位置，另一个定位块位于所述测试chart图短边框的中心位置；或者，所述至少两个定位块中的一个定位块位于所述测试chart图长边框或者宽边框的中心位置，另一个定位块位于所述测试chart图的任一个顶点；或者所述至少两个定位块中的一个定位块位于所述测试chart图一个长边框的顶点，另一个定位块位于所述测试chart图的所述一个长边框的另一个顶点；或者所述至少两个定位块中的一个定位块位于所述测试chart图一个短边框的顶点，另一个定位块位于所述测试chart图的所述一个宽边框的另一个顶点。
82.需要说明地是，上述定位块的位置仅为示例性说明，定位块的位置只要满足如下要求即可，并不对此进行限制：每一个定位块的中心点位于以预定角度穿过所述测试图中心的直线上；任意两个定位块各自的中心点分别位于通过所述测试图中心的不同直线上。例如，在chart图上设定定位块时，记录每个定位块的图像特征和预定角度，以便后续根据该图像特征识别该定位块，以及找到该定位块对应的预定角度，从而根据该定位角度确定以该预设角度穿过定位块中心点形成的直线。
83.在一示例性实施例中，对定位块的形状没有特殊要求，例如可以为正方形、矩形、扇形、半圆形、圆形等等形状，只要满足如下要求即可：每一个定位块的中心点位于以预定角度穿过所述测试图中心的直线上；任意两个定位块各自的中心点分别位于通过所述测试图中心的不同直线上。
84.例如，图6所示的四种方案，在其中任一种方案中，预先在测试chart图中增加两个定位块(即图中的黑色矩形块)，该定位块形状为矩形，两个定位块中心点垂直于chart图边框作直线相交，相交点既是chart图中心。
85.例如，图7所示，chart图设定有2个定位块(即图中的黑色矩形块)，分别位于长短边框中心，将两个定位块中心点分别与长短边框垂直作直线，两个直线相交的相交点的位置即为chart图中心点2的位置，该位置是chart图纸的中心点。该中心点2不会随着整幅图像变化而变化，是固定不变的，始终在chart图最中心的位置。
86.步骤303，根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；
87.在一示例性实施例中，所述根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合，包括：
88.判断所述第一位置的坐标和所述第二位置的坐标是否重合；
89.当重合时，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点重合；
90.当不重合时，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点不重合。
91.其中，当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点重合时，校准结束；当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点不重合时，执行步骤304：
92.步骤304，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。
93.在一示例性实施例中，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数，包括：
94.在图像坐标系中，根据所述第一位置的坐标和所述第二位置的坐标，计算将第一位置移动到第二位置所需要移动的方向参数和距离参数；
95.将所述方向参数和距离参数作为校准参数。
96.在一示例性实施例中，该方法还包括：
97.根据所述校准参数校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。
98.例如，图8所示，在整个测试过程，第一图像中心点(即图中的中心点1)和第二图像中心点(即图中的中心点2)都会在成像设备上实时显示，方便操作员直观校准待测设备镜头的位置。例如，通过在图像坐标系中比较两个中心点位置，根据比较得到的位置信息进行方向与位置调整，最终使两个中心点重合，达到光轴对齐的目的，整个测试过程两个中心点位置都会实时显示，方便操作员直观校准位置。
99.又例如，可以在成像设备上显示提示信息，该提示信息可以为校准参数，提示操作员根据校准参数，校准待测设备镜头的位置。又例如，可以有电子设备直接根据校准参数自动校准待测设备镜头的位置，无需人工参与，进一步提升了测试效率。
100.其中，当第一图像中心点和第二图像中心点重合时，结束校准。
101.需要说明地是，上述步骤301、302之间没有固定的先后顺序，可以先执行步骤301再执行步骤302，也可以先执行步骤302再执行步骤301，对此并不作限制。当然，在执行该方法之前，需要已经将待测设备和chart图已经放置在测试环境中。
102.本实施例提供的技术方案，能够自动确定校准参数，能够方便校准待测设备的位置，以使得待测设备镜头光轴中心与所述测试图中心在一条直线上，从而保证待测设备镜头光轴中心与测试chart图中心对齐的准确性，而且提升了测试效率。
103.在本发明的另一实施例中，在上述实施例的基础上，所述至少两个定位块中的至少一个定位块的至少一个边框与所述测试图的长边框和/或短边框重合。
104.在一示例性实施例中，在确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置之前，该方法还包括：
105.根据所述至少一个定位块，判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏；
106.当所述测试图全部内容充满成像设备成像全屏时，再确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置。
107.在一示例性实施例中，所述判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏，包括：
108.确定所述至少一个定位块中每个定位块的图像特征；
109.根据每个定位块的图像特征以及预先设定的图像特征阈值，判断在所述成像设备上显示的该定位块是否完整；
110.当该定位块显示完整且位于所述第二图像的边缘位置时，确定所述测试图的全部内容充满所述成像设备成像全屏。
111.其中，该定位块位于所述第二图像的边缘位置，是指该定位块在测试图中与测试图边框重合的边框与第二图像的一个边框重合。
112.其中，可以预先设定和保存每个定位块的图像特征阈值，该图像特征包括定位块的轮廓特征、面积特征等，该图像特征阈值包括轮廓特征阈值、面积特征阈值等。例如，当一个定位块的轮廓特征大于等于轮廓特征阈值时，表示显示完整，和/或，当一个定位块的面积特征大于等于面积特征阈值时，表示显示完整。
113.在一示例性实施例中，所述确定每个定位块的图像特征，包括：
114.在所述第二图像的边缘位置设置包含该定位块在内的感兴趣区域roi；
115.对所述roi进行图像预处理；
116.对于预处理后的图像进行二值化处理得到二值化图像；
117.根据预先设定的图像特征阈值，在所述二值化图像中识别得到每个定位块；
118.利用最小外接矩形算法分别对每个定位块进行修正，并对修正后的每个定位块进行矩运算得到每个定位块的图像特征。
119.其中，所述roi不仅需要设置在图像的边缘位置，还需要包含完整的定位块。
120.本实施例提供的技术方案，通过预先设定在chart图上的定位块，可以自动检测测试图的全部内容是否充满成像设备成像全屏，无需人工参与，进一步提升了测试效率。
121.在本发明的另一实施例中，以预先在测试chart图设定2个定位块为例，对测试校准方法进行详细说明。
122.在本实施例中，以图9所示，在测试chart图的长宽边框的中心各设定一个矩形定位块，且每个定位块的一个边框分别与chart图的长边框和段边框重合。
123.本实施例中，预先为每个定位块设定图像特征阈值和预设角度，其中，该图像特征阈值用于判断在成像设备上显示的该定位块的显示是否完整且位于边缘位置以及用于在第二图像上识别出定位块。该预设角度用于在确定第二图像中心所在的第二位置时，以该预设角度通过该定位块中心形成一条直线。本实施例中，位于长边框的定位块的预设角度为与长边框成90度，即垂直于长边框；位于短边框的定位块的预设角度为与短边框成90度，即垂直于短边框。
124.本实施例提供的测试校准方法，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，如图10所示，该方法包括：
125.步骤1001，根据成像设备上显示的测试图上的定位块，判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏；
126.在一示例性实施例中，所述判断测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏，包括：
127.确定每个定位块的图像特征；
128.根据每个定位块的图像特征以及预先设定的图像特征阈值，判断在所述成像设备上显示的该定位块是否完整；
129.当该定位块显示完整且位于所述第二图像的边缘位置时，确定所述测试图的全部内容充满所述成像设备成像全屏。
130.当所述测试图全部内容充满成像设备成像全屏时，将在成像设备上显示的所述测试图作为第二图像，并执行步骤1002，当判断所述测试图全部内容没有充满成像设备成像全屏时，执行步骤1007：
131.步骤1002控制待测设备镜头对测试图进行拍摄后得到图像；将该图像进行二值化处理，得到二值化图像；将该二值化图像作为第一图像，显示在所述成像设备上；
132.步骤1003，根据所述第一图像的分辨率大小确定所述第一图像中心点所在的第一位置；
133.在一示例性实施例中，所述根据所述第一图像的分辨率大小确定所述第一图像中心点所在的第一位置，包括：
134.根据所述第一图像在长度方向上的第一分辨率值对应的第一点数值，确定所述第一点数值的一半数值对应的行坐标；
135.根据所述第一图像在宽度方向上的第二分辨率值对应的第二点数值，确定所述第二点数值的一半数值对应的列坐标；
136.将所述行坐标和所述列坐标所表示的位置作为所述第一位置。
137.步骤1004，根据成像设备上显示的第二图像上的两个定位块，确定第二图像中心点所在的第二位置；
138.在一示例性实施例中，根据成像设备上显示的第二图像上的两个定位块，确定第二图像中心点所在的第二位置，包括：
139.确定每个定位块的图像特征；
140.根据每个定位块的图像特征，计算该定位块中心点所在的位置；
141.针对每一个定位块，根据预设角度通过该定位块中心点形成一条直线；
142.确定形成的两条直线的相交点；
143.根据每个定位块中心点所在的位置计算所述相交点所在的位置；
144.将所述相交点所在的位置作为所述第二位置。
145.在一示例性实施例中，确定每个定位块的图像特征；包括：
146.在所述第二图像的边缘位置设置包含该定位块在内的感兴趣区域roi(region of interest)；
147.对所述roi进行图像预处理；
148.对于预处理后的图像进行二值化处理得到二值化图像；
149.根据预先设定的图像特征阈值，在所述二值化图像中识别得到每个定位块；
150.利用最小外接矩形算法分别对每个定位块进行修正，并对修正后的每个定位块进行矩运算得到每个定位块的图像特征。
151.其中，预处理包括图像滤波等，例如过滤掉不需要分析的颗粒图像部分。
152.步骤1005，根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述
第二图像中心点是否重合；
153.当其中，当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点重合时，校准结束；当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点不重合时，执行步骤1006：
154.步骤1006，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上；
155.步骤1007，调整所述成像设备的显示参数，重新显示chart图，并转回步骤1001。
156.本发明实施例提供的技术方案，能够自动判断测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏，以及自动确定校准参数，以便校准待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。该方案不仅能够保证待测设备镜头光轴中心与测试chart图中心对齐的准确性，而且无需人工参与，大大提升了测试效率。
157.在本发明的另一实施例中，在上述实施例的基础上，所述确定每个定位块的图像特征的具体过程包括：
158.1、在测试chart图包含每个定位块的区域设置roi(region of interest)，感兴趣区域)；例如图11a中的第一个图为在成像设备上显示的测试chart图的原图，图11b为roi设置后的图；
159.2、对设置的每个roi进行图像预处理；
160.其中，预处理包括图像滤波等，例如过滤掉不需要分析的颗粒图像部分。
161.3、对于预处理后的图像进行二值化处理得到二值化图像；
162.例如图11c为二值化处理后得到的二值化图像；
163.4、特征筛选，即根据预先设定的图像特征阈值，在二值化图像中识别出每个定位块的；例如图11d、
164.5、利用最小外接矩形算法对识别出的每个定位块进行修正；
165.例如图11e。
166.其中，也可以利用现有技术中的其他图形修正算法，并不局限于最小外接矩形算法。
167.6、对修正后的每个定位块进行距运算得到每个定位块的图像特征。
168.例如图11f所示。
169.其中，每个定位块的特征包括轮廓、面积等特征。
170.其中，也可以利用现有技术中的其他特征识别算法，并不局限于距运算。
171.在本发明的另一实施例中，如图12所示，提供了一种测试系统架构示意图，该测试系统包括：
172.计算机与成像设备：设置为控制整个测试系统，记录测试数据、图像处理与分析，确认测试chart图实时位置。
173.电源:设置为给待测设备上电，使其可以正常工作。
174.测试图：本实施例中为图像质量测试标准卡。其也可以是其他任一种测试图。
175.待测设备：为待进行图像质量测试的设备。
176.本实施例中，预先在测试图的长宽边框的中心各设定一个矩形定位块，且每个定位块的一个边框分别与chart图的长边框和段边框重合。
177.本实施例中，预先为每个定位块设定图像特征阈值和预设角度，其中，该图像特征
阈值用于判断在成像设备(即图中显示器)上显示的该定位块的显示是否完整且位于边缘位置以及用于在第二图像上识别出定位块。该预设角度用于在确定第二图像中心所在的第二位置时，以该预设角度通过该定位块中心形成一条直线。本实施例中，位于长边框的定位块的预设角度为与长边框成90度，即垂直于长边框；位于短边框的定位块的预设角度为与短边框成90度，即垂直于短边框。
178.所述计算机(即电子设备)中预先安装有测试客户端软件，在测试开始后，该客户端软件与待测设备建立通信连接，并在成像设备上显示所述测试图。
179.基于图12所示的测试系统，本实施例提供的测试校准方法，如图13所示，包括：
180.步骤1301，客户端软件确定成像设备上显示的测试图上的每个定位块的图像特征；根据每个定位块的图像特征以及预先设定的图像特征阈值，判断在所述成像设备上显示的该定位块是否完整；
181.当两个定位块都显示完整时，确定所述测试图全部内容充满成像设备成像全屏时，将在成像设备上显示的所述测试图作为第二图像，并执行步骤1302，当两个定位块中的任一显示不完整时，判断所述测试图全部内容没有充满成像设备成像全屏时，执行步骤1307：
182.步骤1302，所述客户端软件控制待测设备镜头对测试图进行拍摄后得到图像；将该图像进行二值化处理，得到二值化图像；将该二值化图像作为第一图像，显示在所述成像设备上；
183.步骤1303，所述客户端软件根据所述第一图像的分辨率大小确定所述第一图像中心点所在的第一位置；
184.步骤1304，所述客户端软件根据所述成像设备上显示的第二图像上的两个定位块中每个定位块的图像特征，根据每个定位块的图像特征，计算该定位块中心点所在的位置；针对每一个定位块，根据预设角度通过该定位块中心点形成一条直线；确定形成的两条直线的相交点；根据每个定位块中心点所在的位置计算所述相交点所在的位置；将所述相交点所在的位置作为所述第二位置；
185.其中，1304中的确定每个定位块的图像特征的步骤可以直接利用步骤1301中确定每个定位块的图像特征的计算结果，以减少计算量，提升效率。
186.步骤1305，所述客户端软件根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；
187.当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点重合时，校准结束；当所述第一图像中心点和所述第二图像中心点不重合时，执行步骤1306：
188.步骤1306，所述客户端软件根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上；
189.步骤1307，所述客户端软件调整所述成像设备的显示参数，重新显示chart图，并转回步骤1301。
190.在本发明的另一实施例中，在上一实施例的基础上，在步骤1306之后，该方法还可以包括：
191.步骤1308，所述客户端软件根据所述校准参数校准所述待测设备镜头的位置，以
使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。
192.在一示例性实施例中，所述校准参数包括：在图像坐标系中将第一位置移动到第二位置所需要移动的方向参数和距离参数。
193.本实施例的方案，自动校准待测设备镜头的位置，无需人工参与，进一步提升了测试效率。
194.在本发明的另一实施例中，基于图12所示的测试系统，计算机记录整个测试校准的过程数据，例如，包括过程图片与文字记录，以便于后续对测试进行回溯、定位、优化等操作。
195.在发明的一实施例还提供了一种测试校准装置，应用于电子设备，所述电子设备包括成像设备，如图14所示，所述装置包括：
196.第一确定单元，设置为在所述成像设备中，确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；
197.第二确定单元，设置为根据测试图上预先设定的至少两个定位块，确定在成像设备上显示的第二图像中心点所在的第二位置；
198.判断单元，设置为根据所述第一位置和所述第二位置，判断所述第一图像中心点和所述第二图像中心点是否重合；
199.第三确定单元，设置为当不重合时，根据所述第一位置和所述第二位置确定校准参数；
200.其中，所述第一图像为所述待测设备镜头拍摄所述测试图得到的图像；所述第二图像为所述测试图全部内容充满所述成像设备成像全屏形成的图像；所述校准参数用于校准所述待测设备镜头的位置，以使得所述测试图中心在所述待测设备镜头光轴上。
201.在一示例性实施例中，所述第二确定单元，具体设置为确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置；
202.根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置。
203.在一示例性实施例中，所述确定所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置，包括：
204.确定每个定位块的图像特征；
205.根据每个定位块的图像特征，计算该定位块中心点所在的位置。
206.在一示例性实施例中，所述至少两个定位块中的每一个定位块的中心点位于以预定角度穿过所述测试图中心的直线上；所述至少两个定位块中的任意两个定位块各自的中心点分别位于通过所述测试图中心的不同直线上；
207.所述根据每个定位块中心点所在的位置，确定所述第二位置，包括：
208.针对每一个定位块，以其对应的预设角度穿过定位块中心点形成一条直线；
209.确定形成的全部直线的相交点；
210.根据所述至少两个定位块中每个定位块中心点所在的位置计算所述相交点所在的位置；
211.将所述相交点所在的位置作为所述第二位置。
212.在一示例性实施例中，所述第一确定单元，具体设置为根据所述第一图像在长度方向上的第一分辨率值对应的第一点数值，确定所述第一点数值的一半数值对应的行坐
标；
213.根据所述第一图像在宽度方向上的第二分辨率值对应的第二点数值，确定所述第二点数值的一半数值对应的列坐标；
214.将所述行坐标和所述列坐标所表示的位置作为所述第一位置。
215.在一示例性实施例中，所述至少两个定位块中的至少一个定位块的至少一个边框与所述测试图的长边框和/或短边框重合；该装置还包括:
216.第四确定单元，设置为在确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置之前，根据所述至少一个定位块，判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏；
217.当所述测试图全部内容充满成像设备成像全屏时，再确定待测设备镜头拍摄的第一图像中心点所在的第一位置；
218.其中，所述判断所述测试图全部内容是否充满成像设备成像全屏，包括：
219.确定所述至少一个定位块中每个定位块的图像特征；
220.根据每个定位块的图像特征以及预先设定的图像特征阈值，判断在所述成像设备上显示的该定位块是否完整；
221.当该定位块显示完整且位于所述第二图像的边缘位置时，确定所述测试图的全部内容充满所述成像设备成像全屏。
222.其中，所述确定每个定位块的图像特征，包括：
223.在所述第二图像的边缘位置设置包含该定位块在内的感兴趣区域roi；
224.对所述roi进行图像预处理；
225.对于预处理后的图像进行二值化处理得到二值化图像；
226.根据预先设定的图像特征阈值，在所述二值化图像中识别得到每个定位块；
227.利用最小外接矩形算法分别对每个定位块进行修正，并对修正后的每个定位块进行矩运算得到每个定位块的图像特征。
228.本实施例提供的技术方案，能够自动确定校准参数，能够方便校准待测设备的位置，以使得待测设备镜头光轴中心与所述测试图中心在一条直线上，从而保证待测设备镜头光轴中心与测试chart图中心对齐的准确性，而且提升了测试效率。
229.本发明一实施例还提供了一种电子设备，如图15所示，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述任一项所述测试校准方法。
230.本发明一实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有信息处理程序，所述信息处理程序被处理器执行时实现上述任一项所述测试校准方法。
231.本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时
性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。