设备测试系统的制作方法

1.本公开涉及设备测试领域，具体涉及一种设备测试系统。


背景技术：

2.为了确保电子设备能够在实际应用场景中能够正常运行，通常需要提前对电子设备的多项模块的功能进行测试。目前电子设备通常需要采用专业人员手动对其模块的功能进行测试，这种测试方式的效率较低。


技术实现要素：

3.本公开提供了一种设备测试系统，设备测试系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；
4.每个测试治具与对应待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；
5.处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。
6.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括主机设备，至少一个待测模块包括网口，主机设备与网口电连接，处理器与网口电连接；
7.处理器用于通过网口向主机设备发送回送请求，基于主机设备针对回送请求的信息反馈情况生成网口的测试结果信息；
8.其中，回送请求用于指示主机设备向处理器反馈应答消息。
9.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括外设存储设备，至少一个待测模块包括存储接口，外设存储设备与存储接口电连接，处理器与存储接口电连接；
10.处理器用于通过存储接口向外设存储设备发送容量获取请求，基于外设存储设备针对容量获取请求的信息反馈情况生成存储接口的测试结果信息；
11.其中，容量获取请求用于指示外设存储设备向处理器反馈外设存储设备的存储容量。
12.在本公开实施例中，至少一个待测模块包括固态硬盘，至少一个测试治具包括处理器与固态硬盘之间的第一数据传输线；
13.处理器用于通过第一数据传输线向固态硬盘发送容量获取请求，基于固态硬盘针对容量获取请求的信息反馈情况生成固态硬盘的测试结果信息；其中，容量获取请求用于指示固态硬盘向处理器反馈固态硬盘的存储容量。
14.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第一信号线，至少一个待测模块包括通用输出接口和通用输入接口，通用输出接口通过第一信号线与通用输入接口电连接，处理器分别与通用输出接口和通用输入接口电连接；
15.处理器用于通过通用输出接口和第一信号线向通用输入接口发送第一电平信号，通过通用输入接口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成
通用输出接口和通用输入接口的测试结果信息。
16.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第二信号线，至少一个待测模块包括第一串口，第一串口的输出端口和输入端口通过第二信号线电连接；
17.处理器用于通过输出端口和第二信号线向输入接口发送第一电平信号，通过输入端口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成第一串口的测试结果信息。
18.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第三信号线，至少一个待测模块包括第二串口和韦根接口，第二串口通过第三信号线与韦根接口电连接，处理器分别与第二串口和韦根接口电连接；
19.处理器用于通过第二串口和韦根接口之中的一个发送第一测试信号，通过第二串口和韦根接口之中的另一个接收第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号的比较结果生成第二串口和韦根接口的测试结果信息；其中，第一测试信号通过第三信号线在第二串口和韦根接口之间进行传输。
20.在本公开实施例中，至少一个测试治具还包括协议转换模块；第二串口通过第三信号线和协议转换模块，与韦根接口电连接。
21.在本公开实施例中，至少一个待测模块包括加密芯片，至少一个测试治具包括处理器与加密芯片之间的第二数据传输线；
22.处理器用于通过第二数据传输线向加密芯片发送秘钥获取请求，基于加密芯片针对秘钥获取请求的信息反馈情况生成加密芯片的测试结果信息；其中，秘钥获取请求用于指示加密芯片向处理器反馈加密芯片中存储的秘钥。
23.在本公开实施例中，至少一个测试治具包括用电负载，至少一个待测模块包括继电器，继电器与用电负载电连接，处理器与继电器电连接；
24.处理器用于向继电器发送开关指令，使得继电器开始或停止向用电负载提供电能；处理器还用于基于用电负载的工作状态情况生成继电器的测试结果信息。
25.应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
26.本公开提供的技术方案带来的有益效果是：
27.在本公开的技术方案中，可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具，以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程，实现了待测设备的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。
附图说明
28.附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：
29.图1示出了本公开实施例提供的一种设备测试系统的示意图；
30.图2示出了本公开实施例提供的另一种设备测试系统的示意图。
31.附图标号的说明如下：
32.1-待测设备；
33.11-处理器；
34.12-待测模块；121-网口；122-存储接口；123-固态硬盘；
35.124-通用输出接口；125-通用输入接口；126-第一串口；
36.127-第二串口；128-韦根接口；129-加密芯片；120-继电器；
37.2-测试治具；
38.21-主机设备；22-外设存储设备；23-第一数据传输线；
39.24-第一信号线；25-第二信号线；26-第三信号线；
40.27-第二数据传输线；28-用电负载。
具体实施方式
41.以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
42.为了确保电子设备能够在实际应用场景中能够正常运行，通常需要提前对电子设备的多项模块的功能进行测试。目前电子设备通常需要采用专业人员手动对其模块的功能进行测试，例如，对于电子设备的网口，需要通过执行ping主机的ip，以人工判断的方式确定其是否能够正常通信；对于电子设备的存储盘，需要通过手动拷贝文件来测试其数据传输的工功能是否正常；对于电子设备的输入/输出接口，通过接入高电平并使得万用表进行电平测量来判断输入/输出接口的可用性。上述这种测试方式的效率较低，无法快速地完成对电子设备的测试工作。
43.本公开实施例提供的设备测试系统，旨在解决现有技术的如上技术问题中的至少一个。
44.图1示出了本公开实施例提供的一种设备测试系统的示意图，如图1所示，设备测试系统可以包括待测设备1和至少一个测试治具2，待测设备1包括处理器11和至少一个待测模块12。待测设备1是需要被测试其模块的功能是否正常的设备，待测设备1的处理器11能够基于预先配置的测试程序执行针对各待测模块12的测试流程。测试治具2属于治具下面的一个类别,专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等维度进行测试或试验的一种治具。
45.在本公开实施例中，每个测试治具2与对应待测模块12电连接以形成一个测试单元，处理器11与每个测试单元中的测试治具2和/或待测模块12电连接。这里，处理器11可以先与测试单元中的待测模块12电连接，通过待测模块12与测试单元中的测试治具2连接；或者，处理器11可以直接与测试单元中的测试治具2电连接；又或者，处理器11同时与测试单元中的测试治具2和待测模块12电连接。根据不用的连接情况，处理器11可以向测试单元的测试治具2和待测模块12中的至少一个发送测试信号，基于测试治具2和待测模块12中的至少一个针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。可以理解，如果反馈的信息与预期的数据一致，则确定待测模块12的功能正常；如果反馈的信息与预期的数据不一致，则确定待测模块12的功能非正常。
46.本公开实施例提供的设备测试系统，可以预先为每个待测模块12配置对应的测试治具2，以待测设备1自身的处理器11来自动执行针对各待测模块12的测试流程，实现了待测设备1的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。
47.图2示出了本公开实施例提供的另一种设备测试系统的示意图，如图2所示，待测设备1上的待测模块12可以包括网口121、存储接口122、固态硬盘123、通用输出接口124、通用输入接口125、第一串口126、第二串口127、韦根接口128、加密芯片129和继电器120之中的至少一项。测试治具2可以包括主机设备21、外设存储设备22、第一数据传输线23、第一信号线24、第二信号线25、第三信号线26、第二数据传输线27和用电负载28之中的至少一项。可以理解，待测设备1可以包含图2中的所有的待测模块12，也可以仅包括图2中部分的待测模块12，每个待测模块12配置对应的测试治具2。
48.可选地，测试治具2包括主机设备21，待测模块12包括网口121。主机设备21与网口121电连接，处理器11与网口121电连接。处理器11用于通过网口121向主机设备21发送回送请求，这里，回送请求用于指示主机设备21向处理器11反馈应答消息，应答消息是指主机设备21针对回送请求反馈的应答内容。处理器11通过网口12发送回送请求之后，处理器11可能会接收到主机设备21针对回送请求反馈的应答消息，处理器11也可能无法接收到主机设备21针对回送请求反馈的应答消息。处理器11基于主机设备21针对回送请求的信息反馈情况生成网口121的测试结果信息。在本公开实施例中，通过待测设备自身的处理器11来执行针对网口121的测试流程，减少了外设设备的配置数量，降低了测试成本。
49.具体地，处理器11以icmp协议，通过网口121向主机设备21发送回送请求。如果处理器11接收到主机设备21的应答消息，则判断网口121的功能是正常的；如果处理器11未接收到主机设备21的应答消息，则判断网口121的功能是非正常的。其中，回送请求可以包含待测设备的类型、代码字段、标识符和序号字段等，标识符和序号字段可以分别是16位的字段。
50.可选地，测试治具2包括外设存储设备22，待测模块12包括存储接口122。外设存储设备22与存储接口122电连接，处理器11与存储接口122电连接。处理器11用于通过存储接口122向外设存储设备22发送容量获取请求，这里，容量获取请求用于指示外设存储设备22向处理器11反馈外设存储设备22的存储容量。外设存储设备22接收到容量获取请求，会正常反馈自身的存储容量或无法反馈自身的存储容量。处理器11基于外设存储设备22针对容量获取请求的信息反馈情况生成存储接口122的测试结果信息。在本公开实施例中，通过待测设备自身的处理器11来执行针对存储接口122的测试流程，减少了外设设备的配置数量，降低了测试成本。
51.具体来说，处理器11可以通过相关的函数来生成容量获取请求，例如，可以通过ioctl函数生成容量获取请求，从而获取外设存储设备22的存储容量。如果外设存储设备22正常反馈自身的存储容量，使得处理器成功获取到外设存储设备22的存储容量，则可以确定存储接口122的功能是正常的；如果外设存储设备22无法反馈自身的存储容量，使得处理器未获取到外设存储设备22的存储容量，则可以确定存储接口122的功能是非正常的。在本公开实施例中，存储接口122可以是usb(universal serial bus，通用串行总线)接口，外设存储设备22可以是usb存储设备。
52.可选地，待测模块12包括固态硬盘123，测试治具2包括处理器11与固态硬盘123之间的第一数据传输线23。处理器11用于通过第一数据传输线23向固态硬盘123发送容量获取请求。这里，容量获取请求用于指示固态硬盘123向处理器11反馈固态硬盘123的存储容量。固态硬盘123接收到容量获取请求，会正常反馈自身的存储容量或无法反馈自身的存储
容量。处理器11基于固态硬盘123针对容量获取请求的信息反馈情况生成固态硬盘123的测试结果信息。在本公开实施例中，在无需配置外设设备的情况下，通过待测设备自身的处理器11来执行针对存储接口122的测试流程，显著地降低了测试成本。
53.具体来说，处理器11可以通过相关的函数来生成容量获取请求，例如，可以通过ioctl函数生成容量获取请求，从而获取固态硬盘123的存储容量。如果固态硬盘123正常反馈自身的存储容量，使得处理器11成功获取到固态硬盘123的存储容量，则可以确定固态硬盘123的功能是正常的；如果固态硬盘12无法反馈自身的存储容量，使得处理器未获取到固态硬盘123的存储容量，则可以确定存储接口122的功能是非正常的。在本公开实施例中，固态硬盘123可以是m.2存储盘。
54.可选地，测试治具2包括第一信号线24，至少一个待测模块12包括通用输出接口124和通用输入接口125。通用输出接口124通过第一信号线24与通用输入接口125电连接，处理器11分别与通用输出接口124和通用输入接口125电连接。处理器11用于通过通用输出接口124和第一信号线24向通用输入接口125发送第一电平信号，通过通用输入接口125接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成通用输出接口124和通用输入接口125的测试结果信息。在本公开实施例中，在无需配置外设设备的情况下，以待测设备自身的处理器11发送电平信号的方式完成通用输出接口124和通用输入接口125的测试过程，简化了测试系统的复杂度，实现了待测设备的自动化测试过程。
55.在本公开实施例中，为了便于理解和描述，本公开实施例将通用输出接口124输出的电平信号定义为第一电平信号，将通用输入接口125接收的电平信号定义为第二电平信号，处理器11用于通过通用输出接口124发送第一电平信号，使得通用输入接口125接收第一电平信号，之后通用输入接口125输出第二电平信号。可以理解，如果第一电平信号和第二电平信号一致，则可以确定通用输出接口124和通用输入接口125的功能是正常的；如果第一电平信号和第二电平信号不一致，则可以确定通用输出接口124和通用输入接口125的功能是非正常的。在本公开实施例中，固态硬盘123可以是m.2存储盘。
56.可选地，测试治具2包括第二信号线25，至少一个待测模块12包括第一串口126。第一串口126的输出端口和输入端口通过第二信号线25电连接。处理器11用于通过输出端口和第二信号线向输入接口发送第一电平信号，通过输入端口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成第一串口126的测试结果信息。在本公开实施例中，在无需配置外设设备的情况下，以待测设备自身的处理器11向第一串口126发送电平信号的方式完成对第一串口126的测试过程，简化了测试系统的复杂度，实现了待测设备的自动化测试过程。
57.在本公开实施例中，为了便于理解和描述，本公开实施例将第一串口126的输出端口输出的电平信号定义为第一电平信号，将第一串口126的输入端口接收的电平信号定义为第二电平信号，处理器11用于通过第一串口126的输出端口发送第一电平信号，使得第一串口126的输入端口接收第一电平信号，之后输入端口输出第二电平信号。可以理解，如果第一电平信号和第二电平信号一致，则可以确定第一串口126的功能是正常的；如果第一电平信号和第二电平信号不一致，则可以确定第一串口126的功能是非正常的。
58.可选地，测试治具2包括第三信号线26，至少一个待测模块12包括第二串口127和韦根接口128。第二串口127通过第三信号线26与韦根接口128电连接，处理器11分别与第二
串口127和韦根接口128电连接。处理器11用于通过第二串口127和韦根接口128之中的一个发送第一测试信号，可以理解，第一测试信号通过第三信号线26在第二串口127和韦根接口128之间进行传输。处理器11通过第二串口127和韦根接口128之中的另一个接收第二测试信号，基于第一测试信号和第二测试信号的比较结果生成第二串口127和韦根接口128的测试结果信息。在本公开实施例中，在无需配置外设设备的情况下，以待测设备自身的处理器11向第二串口127和韦根接口128发送测试信号的方式完成对第二串口127和韦根接口128的测试过程，简化了测试系统的复杂度，实现了待测设备的自动化测试过程。
59.在本公开实施例中，处理器11通过第二串口127发送第一测试信号，通过韦根接口128接收第二测试信号。如果第一测试信号和第二测试信号一致，则可以确定第二串口127和韦根接口128的功能是正常的；如果第一测试信号和第二测试信号不一致，则可以确定第二串口127和韦根接口128的功能是非正常的。此外，处理器11还可以通过韦根接口128发送第一测试信号，通过第二串口127接收第二测试信号。如果第一测试信号和第二测试信号一致，则可以确定第二串口127和韦根接口128的功能是正常的；如果第一测试信号和第二测试信号不一致，则可以确定第二串口127和韦根接口128的功能是非正常的。
60.可选地，测试治具2还包括协议转换模块。第二串口127通过第三信号线26和协议转换模块，与韦根接口128电连接。协议转换模块可以对第二串口127和韦根接口128之间的通信协议进行转换，确保第二串口127和韦根接口128之间能够正常传输信号。
61.可选地，待测模块12包括加密芯片129，至少一个测试治具2包括处理器11与加密芯片129之间的第二数据传输线27。加密芯片129是对内部集成了各类对称与非对称算法，自身具有极高安全等级，可以保证内部存储的密钥和信息数据不会被非法读取与篡改的一类安全芯片的统称。
62.处理器11用于通过第二数据传输线27向加密芯片129发送秘钥获取请求。这里，秘钥获取请求用于指示加密芯片129向处理器11反馈加密芯片129中存储的秘钥。加密芯片129接收到秘钥获取请求之后，可以正常反馈秘钥或无法反馈秘钥。处理器11基于加密芯片129针对秘钥获取请求的信息反馈情况生成加密芯片129的测试结果信息。在本公开实施例中，在无需配置外设设备的情况下，以待测设备自身的处理器11向加密芯片129请求秘钥的方式完成对加密芯片129的测试过程，简化了测试系统的复杂度，实现了待测设备的自动化测试过程。
63.具体来说，在正常情况下，加密芯片129在接收到秘钥获取请求时可以反馈其自身存储的秘钥，使得处理器11获取到秘钥。如果加密芯片129成功地向处理器11反馈了秘钥，则可以确定加密芯片129的功能是正常的；如果加密芯片129未能向处理器11反馈秘钥，则可以确定加密芯片129的功能是非正常的。
64.可选地，测试治具2包括用电负载28，至少一个待测模块12包括继电器120。继电器120与用电负载28电连接，处理器11与继电器120电连接。处理器11用于向继电器12发送开关指令，使得继电器120开始或停止向用电负载28提供电能；处理器11还用于基于用电负载28的工作状态情况继电器120的测试结果信息。这里，用电负载28可以任意一种基于电能进行工作的装置。如果继电器120开始向用电负载28提供电能，并且用电负载28处于工作状态，则可以确定用电负载28的功能是正常的。
65.上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明
白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。