集成电路封装连续检测装置

1.本技术涉及集成电路检测技术领域，特别涉及集成电路封装连续检测装置。


背景技术：

2.本部分的陈述仅仅是提供了与本技术相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。
3.现有的集成电路板检测大多依赖人工检测，检测时间长，效率低下还容易出错，浪费人力资源。学校实验室采用了一些检测设备来辅助检测，但这些设备还存在较大的问题，比如：待检测电路板大多水平放置，检测探头置于电路板上方检测，但一些电路板的待检测插槽或插针置并不是竖直朝上，而是设置于电路板侧面，而且一块电路板上存在多种大小不同的元件容易对待检测插槽或插针进行遮挡，不利于探针行进检测，检测设备的应用面较窄；同时，一块电路板通常需要多组检测探头检测，每完成一个检测步骤都需要更换检测探头，浪费时间，降低了效率；一些自动化程度较高的检测设备还存在电路板的上料、输送、下料部件，但电路板水平放置容易造成背面焊点与输送部位摩擦，使待检测电路板或检测设备损坏，若利用夹持设备夹持电路板又存在夹持设备循环往复移动难以供电通讯的问题。
4.为此，需要研发一种能够多角度、高效率的对电路板进行连续检测的检测设备。


技术实现要素：

5.本技术为了解决上述问题提出了集成电路封装连续检测装置，能够多角度、高效率的对电路板进行连续检测。
6.本技术提供了集成电路封装连续检测装置，包括基座，所述基座包括检测部以及对称设置于检测部两侧的贮料部，基座顶部开设有主滑槽，所述主滑槽内设置有若干夹持机构，所述检测部的前后侧分别设置有控制台和检测机构，其上方设置有旋转驱动机构；所述基座内腔相对于主滑槽一侧设置有电导轨，两个贮料部内腔对应主滑槽另一侧分别设置有上电机构，所述上电机构包括若干动电触头，所述夹持机构包括滑设于主滑槽内的阶梯滑块和旋转设置于阶梯滑块顶部的夹持台，所述阶梯滑块上设置有与动电触头活动连接的连接插座，所述电导轨的安装滑块上设置有与阶梯滑块活动连接的吸附机构；所述控制台通过上电机构与夹持机构可通断电连接，电路板竖向夹持于夹持台，旋转驱动机构用于驱动电路板旋转，检测机构用于对电路板进行检测。
7.优选地，所述阶梯滑块的顶部旋转设置有转动柱，所述夹持台连接于转动柱顶部，阶梯滑块靠近所述电导轨的一侧端面开设有与吸附机构适配的吸附槽；所述控制台包括控制器和触控屏，所述控制器与触控屏、夹持机构、检测机构、电导轨、上电机构、吸附机构电连接。
8.优选地，所述上电机构包括固接于贮料部内壁的固定基板，所述固定基板靠近主滑槽的一侧均匀垂设有若干个第二伸缩机构，所述动电触头设置于第二伸缩机构的伸缩轴
末端，动电触头之间的间隔与阶梯滑块的长度相等；所述吸附机构包括垂设于电导轨的安装滑块靠近主滑槽一侧端面的第一伸缩机构，所述第一伸缩机构的伸缩轴末端设置有吸附头，所述吸附头与吸附槽活动连接。
9.优选地，所述夹持台包括设置于转动柱顶部的支撑块，所述支撑块顶部前后两侧分别开设有夹持滑槽，所述夹持滑槽内滑动设置有两个移动块，所述支撑块内腔的左右侧壁间设置有滑动轨，两个移动块滑动套设于滑动轨上，所述滑动轨上套设有拉紧弹簧，所述拉紧弹簧的两端分别连接于两个移动块相对的端面，两个移动块相对的端面上分别设置有电磁铁。
10.优选地，所述支撑块中部开设有触发滑槽，所述触发滑槽内滑动设置有触发滑块，所述触发滑块的顶部开设有与电路板适配的第一插槽，触发滑槽侧壁设置有第二光检区，所述第二光检区包括由上至下设置于触发滑槽相对侧壁的两组光电对射式传感器，触发滑块底部连接有限位弹簧，所述限位弹簧的一端连接于触发滑块，另一端连接于触发滑槽底部。
11.优选地，两个贮料部顶部分别设置有第一光检区，所述第一光检区包括均匀设置于主滑槽两侧的若干组光电对射式传感器，第一组光电对射式传感器设置于主滑槽末端两侧，相邻的光电对射式传感器之间间隔等于阶梯滑块的长度。
12.优选地，所述检测部的后侧端面连接有c形支架，所述检测机构连接于c形支架的竖臂上，所述旋转驱动机构设置于c形支架顶部；所述检测机构包括连接于c形支架的固定座，所述固定座前部设置有横向电导轨，所述横向电导轨的滑块前部设置有竖向电导轨，所述竖向电导轨的滑块前部垂设有主伸缩机构，所述主伸缩机构的伸缩轴末端设置有探头模组，所述探头模组包括安装座、绕安装座中轴线环形分布的若干组次级伸缩机构，所述次级伸缩机构的末端设置有检测探头；所述旋转驱动机构包块连接于c形支架顶部的升降机构，所述升降机构的升降部底部设置有旋转电机，所述旋转电机的输出轴末端设置有压持头，所述压持头底部开设有与电路板适配的第二插槽。
13.优选地，两个贮料部顶部分别设置有校正机构，所述校正机构包括对称设置于主滑槽两侧的固定支架，所述固定支架顶部设置有第三伸缩机构，两个第三伸缩机构相对设置且其伸缩轴末端连接有压条。
14.优选地，所述连续检测装置的检测方法为：
15.初始时，所有夹持机构置于同一侧贮料部，远离检测部的最远端夹持机构与主滑槽末端紧贴设置，其余夹持机构依次紧贴设置，上电机构的动电触头与各个阶梯滑块的连接插座连接，夹持机构的移动块处于夹紧状态；
16.s1；控制器控制各个夹持机构竖向夹持电路板；
17.s2：控制器控制电导轨带动吸附机构移动至最靠近检测部的夹持机构处，控制所述吸附机构与阶梯滑块连接，控制对应上电机构的动电触头与相应阶梯滑块脱离，电导轨带动相应夹持机构运动至检测位；
18.s3：控制器控制旋转驱动机构将电路板压持，然后控制器根据预设程序驱动旋转驱动机构带动电路板旋转至各个预设角度，然后选取检测机构中的各个检测探头对电路板进行检测，控制器与检测探头通讯记录检测结果，检测完成后，控制器驱动检测机构复位，驱动旋转驱动机构带动电路板回复初始位置，最后驱动旋转驱动机构复位；
19.s4：控制器控制电导轨带动相应夹持机构运动至另一贮料部的相应位置，控制第一光检区夹持机构进行到位检测，检测完成后控制上电机构的对应动电触头与相应阶梯滑块连接，吸附机构与相应阶梯滑块脱离，控制夹取机构释放电路板；
20.s5：循环进行s2-s4直至全部夹持机构移动至另一贮料部，跳转到步骤s1。
21.优选地，所述步骤s1中，控制器控制各个夹持机构竖向夹持电路板的步骤为：
22.用户手持电路板压持触发滑块，所述触发滑块向下移动直至触发第二光检区的第一组光电对射式传感器，所述光电对射式向控制器报警，控制器控制电磁铁上电，两个电磁铁磁极相反产生斥力，带动移动块克服拉紧弹簧的拉力打开，将电路板的底部两端分别置于两组移动块之间并继续下移，带动触发滑块向下移动触发第二光检区的第二组光电对射式传感器，控制器控制电磁铁失电，移动块在拉紧弹簧的拉力作用下夹紧；
23.所述步骤s4中，所述到位检测的具体步骤为：
24.第一光检区第一光电对射式传感器检测相应夹持机构是否与主滑槽末端侧壁贴紧，第一光检区的其余光电对射式传感器检测相邻夹持机构否贴紧，若是，则控制器判断相应夹持机构到位，若否，则控制电导轨继续移动直至相应夹持机构到位。
25.与现有技术相比，本技术的有益效果为：
26.(1)本技术通过夹持机构竖向夹持电路板，克服了电路板水平放置输送时摩擦造成电路板或检测设备损坏的问题，并通过电导轨、吸附机构实现了夹持机构的往复移动，可以连续对电路板进行检测，节省了检测时间，提高了劳动效率。
27.(2)本技术通过上电机构实现了控制器和夹持机构的可通断电连接，通过夹持台实现了失电夹紧、上电张开的功能，在满足夹持电路板的基本功能的同时克服了难以接线以对夹持机构通讯和上电的问题。
28.(3)本技术通过旋转驱动机构和可旋转的夹持台实现了电路板的灵活转动，并通过包括多种探头的检测机构在各个角度位置对电路板进行检测，同时也避免了更换检测探头的时间浪费，提高了劳动效率。
29.(4)本技术通过第一光检区实现了夹持机构的到位检测，防止上电机构的动电触头无法准确与夹持机构的连接插座匹配的问题，通过第二光检区和触发滑块实现了夹持机构的触发夹持，提高了电路板的上料速度。
附图说明
30.构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。
31.图1是本技术一种实施例的整体结构示意图一，
32.图2是本技术一种实施例的整体结构示意图二，
33.图3是本技术一种实施例的局部放大示意图，
34.图4是本技术一种实施例的基座内腔结构示意图，
35.图5是本技术一种实施例的夹持机构后视图，
36.图6是本技术一种实施例的夹持机构前视图，
37.图7是本技术一种实施例的贮料部剖视图，
38.图8是本技术一种实施例的夹持台剖视图，
39.图9是本技术一种实施例的方法流程图。
40.图中：
41.1、检测部，2、贮料部，3、控制台，4、夹持机构，5、旋转驱动机构，6、检测机构，7、校正机构，8、第一光检区，9、电导轨，10、第一伸缩机构,11、吸附头，12、固定基板，13、第二伸缩机构，14、动电触头，41、阶梯滑块，42、转动柱，43、夹持台，51、升降机构，52、旋转电机，53、压持头，61、固定座，62、横向电导轨，63、竖向电导轨，64、主伸缩机构，65、探头模组，71、固定支架，72、第三伸缩机构，73、压条，91、安装滑块，100、主滑槽，101、c形支架，102、l形支架，200、电路板，301、触控屏，431、移动块，432、触发滑块，433、支撑块，434、电磁铁，435、滑动轨，436、拉紧弹簧，437、限位弹簧，438、第二光检区。
具体实施方式：
42.下面结合附图与实施例对本技术作进一步说明。
43.需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本公开的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
44.在本公开中，术语如“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“侧”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，只是为了便于叙述本公开各部件或元件结构关系而确定的关系词，并非特指本公开中任一部件或元件，不能理解为对本公开的限制。
45.实施例1
46.如图1至图8所示，本技术提供了集成电路封装连续检测装置，包括基座，所述基座包括检测部1以及对称设置于检测部1两侧的贮料部2，检测部1顶部开设有主滑槽100，主滑槽100的两端延伸至两侧贮料部2，所述主滑槽100内设置有若干夹持机构4，所述检测部1的前后侧分别设置有控制台3和检测机构6，其上方设置有旋转驱动机构5。
47.所述基座内腔相对于主滑槽100一侧设置有电导轨9，两个贮料部2内腔对应主滑槽100的另一侧分别设置有上电机构，所述上电机构包括若干动电触头14，所述夹持机构4包括滑设于主滑槽100内的阶梯滑块41和旋转设置于阶梯滑块41顶部的夹持台43，所述阶梯滑块41上设置有与动电触头14活动连接的连接插座412，所述电导轨9的安装滑块91上设置有与阶梯滑块41活动连接的吸附机构。
48.所述控制台3通过上电机构与夹持机构4可通断电连接，夹持台43用于竖向夹持电路板200，电导轨9和吸附机构用于带动各个夹持架构4在两个贮料部2之间往复运动以输送电路板200，旋转驱动机构5用于驱动电路板200旋转，检测机构6用于配合旋转驱动机构5从各个角度位置对电路板200进行检测。
49.所述控制台3包括控制器和触控屏301，所述控制器与触控屏301、夹持机构4、检测机构6、电导轨9、上电机构、吸附机构电连接，所述控制台3通过l形支架固定于检测部前侧端面。
50.具体地，所述阶梯滑块41的顶部旋转设置有转动柱42，所述夹持台43连接于转动柱42顶部，阶梯滑块41靠近所述电导轨9的一侧端面开设有与吸附机构适配的吸附槽411，
所述上电机构包括固接于贮料部2内壁的固定基板12，所述固定基板12靠近主滑槽100的一侧沿主滑槽延伸方向均匀垂设有若干个第二伸缩机构13，所述动电触头14设置于第二伸缩机构13的伸缩轴末端，动电触头14之间的间隔与阶梯滑块41的长度相等，阶梯滑块41的长度指其沿主滑槽100延伸方向的尺寸。
51.初始时，所有夹持机构4处于同一侧贮料部2，远离检测部1的最远端夹持机构4与主滑槽100末端紧贴设置，其余夹持机构4依次紧贴设置，所述第二伸缩机构13的伸缩轴朝向主滑槽100方向且伸缩轴末端的动电触头14的位置与各个夹持机构4的连接插座412相对应，当使用本技术夹持电路板200上料时，第二伸缩机构13伸缩轴运动带动动电触头14与相应连接插座412连接，实现夹持机构4的上电以及与控制器的通讯。
52.所述吸附机构包括垂设于电导轨9的安装滑块91靠近主滑槽100一侧端面的第一伸缩机构10，所述第一伸缩机构10的伸缩轴朝向主滑槽100且其末端设置有吸附头11，所述吸附头11与吸附槽411活动连接。
53.当输送电路板200时，电导轨9带动安装滑块91移动至相应夹持机构4的位置，使吸附头11与吸附槽411对齐，第一伸缩机构10的伸缩轴运动带动吸附头11插入吸附槽411使第一伸缩机构10与夹持机构4连接，电导轨9带动安装滑块91移动进而带动夹持机构移动。
54.为保证连接的稳定性，防止吸附头11与吸附槽411产生相对运动，所述吸附头11和吸附槽411为相互适配的多边形结构，优选地，在所述吸附头11的前部末端设置电磁吸附机构或负压吸附机构以保证连接的稳定性，所述电磁吸附机构或负压吸附机构与控制器电连接，当使用电磁吸附机构时，在所述吸附槽411内设置永磁铁。
55.所述夹持台43包括设置于转动柱42顶部的支撑块433，所述支撑块433顶部前后两侧分别开设有夹持滑槽，所述夹持滑槽沿左右方向延伸，所述夹持滑槽内滑动设置有两个移动块431，所述支撑块433内腔的左右侧壁间设置有滑动轨435，两个移动块431滑动套设于滑动轨435上，所述滑动轨435上套设有拉紧弹簧436，所述拉紧弹簧436的两端分别连接于两个移动块431相对的端面，两个移动块431相对的端面上分别设置有电磁铁434。
56.为了便于安装拉紧弹簧436和电磁铁434，两个移动块431相对端面的下部开设有拉紧槽，所述滑动轨435贯穿两个移动块431的拉紧槽，所述拉紧弹簧436的两端分别连接于两个拉紧槽侧壁，电磁铁434设置于拉紧槽侧壁，当电磁铁434失电时，在拉紧弹簧436的作用下，两个移动块431的上部贴紧，当电磁铁434上电时，两个电磁铁434产生斥力，带动两个移动块431克服拉紧弹簧436的拉力背向运动，使两个移动块431处于“张开”状态。
57.优选地，所述支撑块433中部开设有触发滑槽，所述触发滑槽内滑动设置有触发滑块432，所述触发滑块432的顶部开设有与电路板200适配的第一插槽，触发滑槽侧壁设置有第二光检区438，所述第二光检区438包括由上至下设置于触发滑槽相对侧壁的两组光电对射式传感器，触发滑块432底部连接有限位弹簧437，所述限位弹簧437的一端连接于触发滑块432，另一端连接于触发滑槽底部。
58.所述第二光检区438与控制器电气连接，触发滑块432向下移动依次触发两组光电对射式传感器，控制器根据光电对射式传感器的报警信号控制夹持机构4的移动块431的夹紧和张开。
59.所述第二光检区438和电磁铁434与控制器电连接，由于夹持台43转动连接于阶梯滑块41，为保证第二光检区438和电磁铁434与控制器的连接，可通过设置电滑环或在转动
柱42中心开孔方式连线，此俱为常规技术手段，此处不再赘述。
60.两个贮料部2顶部分别设置有第一光检区8，所述第一光检区8包括均匀设置于主滑槽100两侧的若干组光电对射式传感器，第一组光电对射式传感器设置于主滑槽100末端两侧，其余光电对射式传感器沿主滑槽100延伸方向依次设置，相邻的光电对射式传感器之间间隔等于阶梯滑块41的长度，所述第一光检区8用于检测各个夹持机构4是否到位，具体地，第一组光电对射式传感器检测相应夹持机构4是否与主滑槽100末端侧壁贴紧，其余光电对射式传感器检测相邻夹持机构4否贴紧，第一光检区8与控制器电连接。
61.所述检测部1的后侧端面连接有c形支架101，所述检测机构6连接于c形支架101的竖臂上，所述旋转驱动机构5设置于c形支架101顶部。
62.所述检测机构6包括连接于c形支架101的固定座61，所述固定座61前部设置有沿主滑槽100方向延伸的横向电导轨62，所述横向电导轨62的滑块前部设置有竖直延伸的竖向电导轨63，所述竖向电导轨63的滑块前部垂设有主伸缩机构64，所述主伸缩机构64的伸缩轴末端设置有探头模组65，所述探头模组65包括固接于伸缩轴末端的安装座、绕安装座中轴线环形分布的若干组次级伸缩机构，所述次级伸缩机构的末端设置有检测探头。
63.所述旋转驱动机构5包块连接于c形支架101顶部的升降机构51，所述升降机构51的升降部底部设置有旋转电机52，所述旋转电机52的输出轴末端设置有压持头53，所述压持头53底部开设有与电路板200适配的第二插槽。
64.所述电导轨9带动任一夹持机构4移动至检测位，所述检测位处于旋转驱动机构5的正下方，所述升降机构51带动压持头53向下移动直至将电路板200压持，电路板200顶部中心处插入压持头53底部的第二插槽，所述旋转电机52转动带动电路200板沿夹持机构4的转动柱42转动至各个预设角度；当所述电路200转动至任一预设角度后，所述横向电导轨62、竖向电导轨63带动所述主伸缩机构64、探头模组移动至相应位置，主伸缩机构64带动探头模组朝向电路板200移动相应预设距离p，相应的次级伸缩机构带动对应检测探头朝向电路板200伸缩以检测电路板的对应位置。
65.所述检测探头为不同规格的插针、插槽或其他检测组件，主伸缩机构64、次级伸缩机构组成的两级伸缩机构便于灵活节省伸缩行程，加快检测效率，所述预设距离p根据电路板200的不同而调整，主伸缩机构64带动探头模组朝向电路板200移动相应预设距离p后，使探头模组在不检测的复位状态下，即各个次级伸缩机构回缩至最短时，探头模组不干涉电路板200的转动，此时，只需要横向电导轨62、竖向电导轨63带动探头模组移动，使相应的检测探头对准电路板200的相应位置，次级伸缩机构伸缩再带动检测探头进行检测即可在各个角度对电路板200的不同位置进行检测，无需主伸缩机构64再伸缩耗时。
66.两个贮料部2顶部分别设置有校正机构7，所述校正机构7包括对称设置于主滑槽100两侧的固定支架71，所述固定支架71顶部设置有第三伸缩机构72，两个第三伸缩机构72相对设置且其伸缩轴末端连接有压条73，两个第三伸缩机构72相对设置指其伸缩方向相对。所述校正机构7用于校正电路板200在夹持机构4上的位置，当完成各个夹持机构4的夹持后，控制器控制相应贮料部2上的两个第三伸缩机构72同时朝向主滑槽伸长，带动压条73将电路板200的侧部压持，从而调整电路板200在夹持机构4上的位置。
67.本技术还提供了一种集成电路封装连续检测方法，具体步骤如下；
68.初始时，所有夹持机构4置于同一侧贮料部2，远离检测部1的最远端夹持机构4与
主滑槽100末端紧贴设置，其余夹持机构4依次紧贴设置，上电机构的动电触头14与各个阶梯滑块41的连接插座412连接，夹持机构4的移动块431处于夹紧状态；
69.s1；控制器控制各个夹持机构4竖向夹持电路板200；
70.s2：控制器控制电导轨9带动吸附机构移动至最靠近检测部1的夹持机构4处，控制所述吸附机构与阶梯滑块41连接，控制对应上电机构的动电触头14与相应阶梯滑块41脱离，电导轨9带动相应夹持机构4运动至预设的检测位；
71.s3：控制器控制旋转驱动机构5将电路板200压持，然后控制器根据预设程序驱动旋转驱动机构5带动电路板200旋转至各个预设角度，然后选取检测机构6中的各个检测探头对电路板200进行检测，控制器与检测探头通讯记录检测结果，检测完成后，控制器驱动检测机构6复位，驱动旋转驱动机构5带动电路板200回复初始位置，最后驱动旋转驱动机构5复位；
72.s4：控制器控制电导轨9带动相应夹持机构4运动至另一贮料部2的相应位置，控制第一光检区夹持机构4进行到位检测，检测完成后控制上电机构的对应动电触头14与相应阶梯滑块41连接，吸附机构与相应阶梯滑块41脱离，控制夹取机构释放电路板200；
73.s5：循环进行s2-s4直至全部夹持机构4移动至另一贮料部2，跳转到步骤s1。
74.所述步骤s1中，控制器控制各个夹持机构4竖向夹持电路板200的步骤为：
75.用户手持电路板200压持触发滑块432，所述触发滑块432向下移动直至触发第二光检区438的第一组光电对射式传感器，所述光电对射式向控制器报警，控制器控制电磁铁434上电，两个电磁铁434磁极相反产生斥力，带动移动块431克服拉紧弹簧436的拉力打开，将电路板200的底部两端分别置于两组移动块431之间并继续下移，带动触发滑块432向下移动触发第二光检区438的第二组光电对射式传感器，控制器控制电磁铁434失电，移动块431在拉紧弹簧436的拉力作用下夹紧。
76.所述步骤s1中，夹持完成后通过校正机构7对电路板200的位置进行校正。
77.所述步骤s4中，所述到位检测的具体步骤为：
78.第一光检区第一光电对射式传感器检测相应夹持机构4是否与主滑槽100末端侧壁贴紧，第一光检区的其余光电对射式传感器检测相邻夹持机构4否贴紧，若是，则控制器判断相应夹持机构4到位，若否，则控制电导轨9继续朝向远离检测机构6的方向微动，直至检测到相应夹持机构4到位。
79.本技术中各个夹持机构4在两侧贮料部2的停驻位置是固定的，到位检测是为了防止电动导轨的运动误差，防止动电触头14与连接插座412的连接失败，损坏动电触头14与连接插座412。
80.本技术通过步骤s1至步骤s5实现夹持机构4在两侧贮料部的往复转移，进而实现了电路板200的循环上料和下料。
81.所述控制器为计算机装置，所述第一伸缩机构、第二伸缩机构、第三伸缩机构、主伸缩机构、次级伸缩机构、升降机构为电缸。
82.实施例2：
83.作为一种优选地实施例，本实施例与上述实施例的不同在于，所述控制器包括图像识别模块，所述检测机构6的探头模组65的检测探头中包括高清ccd相机。
84.所述旋转驱动机构5带动电路板200旋转至各个预设角度，所述高清ccd相机从各
个角度采集电路板200的图片，上传至控制器的图像识别模块，所述图像识别模块通过图像识别算法识别电路板200上的各电路元件和其相对于电路板200的位置，从而防止元件漏焊或错焊。旋转驱动机构5带动电路板200旋转可有效防止由于各元件相互遮挡造成采集图像不全的问题。
85.所述高清ccd相机和图像识别模块还用于对电路板200的位置进行预校验，采集电路板200图片识别电路板200是否被夹持机构4正确夹持，防止电路板200上下颠倒或正反面颠倒夹持，造成检测探头和电路板200损坏。
86.以上仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
87.上述虽然结合附图对本技术的具体实施方式进行了描述，但并非对本技术保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本技术的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本技术的保护范围以内。