1.本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对视觉检测用测试基板的改进。
背景技术：
2.为了保障整流桥等半导体产品的出厂质量能达到预定的质量标准，需要对此类半导体产品进行一系列的质量检验，包括外观、规格、性能参数试验、耐压试验、机械性能、盐雾试验与标志等。通常采用目视检测的手段对外观和标志的品质判断，为了提高检测效率和检测准确率，现在都是利用视觉检测来代替人工目测的。视觉检测是指通过机器视觉产品（图像摄取装置）将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字信号，图像系统对这些信号进行处理，得出检测结果。
3.而此类半导体体型较小，每一批次的生产数量又大，通常都是将若干个待检的半导体产品预先铺设在测试基板上，再将测试基板通过螺栓固定在视觉检测设备的工作台上以达到对准图像摄取装置的目的。但是用螺栓固定测试基板，存在拆卸耗时长，拆装测试基板的时间多过视觉检测的时间，大大的影响了视觉检测的效率。
技术实现要素：
4.本实用新型针对以上问题，提供了一种结构简单，能够满足快速更换测试基板，提高半导体产品视觉检测效率的快换型测试基台。
5.本实用新型的技术方案是：便于定位的快换型测试基台，包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；
6.在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。
7.所述定位块的横截面为方形、t字形或燕尾形。
8.所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度 。
9.所述定位块的轴向长度与所述测试基板的长度一致，所述插槽贯穿所述测试基板；
10.在所述定位块的径向侧面开设有至少一个定位孔，在所述测试基板对应所述定位孔的位置开设有贯穿孔；
11.所述定位孔和所述贯穿孔的孔径一致，所述定位孔和所述贯穿孔用于插销限位。
12.所述贯穿孔的任一端设有内螺纹，所述插销的头端设有与所述内螺纹适配的外螺纹。
13.本实用新型包括定位块和测试基板，将定位块固定安装在视觉检测设备的工作台上，用于定位测试基板的位置。每次进行检测时，只需要将测试基板上的插槽投入定位块，就可以把测试基板准确的放置在工作台上，使得图像摄取装置能全范围检测。
14.本实用新型在更换不同的测试基板时，只需要与定位块进行插拔就可以实现，无
需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板，又能提高视觉检测的工作效率。
附图说明
15.图1是本实用新型的立体示意图，
16.图2是本实用新型的结构示意图，
17.图3是本实用新型的另一实施例的结构示意图，
18.图4是图3中a-a的剖视图，
19.图5是本实用新型中测试基板的结构示意图，
20.图6是图5的左视图，
21.图7是本实用新型中定位块的结构示意图，
22.图8是图7的左视图。
23.图中1是测试基板，11是容置孔 ，12是插槽，13是贯穿孔，2是定位块，21是定位孔，22是安装孔。
具体实施方式
24.以下结合附图1-8进一步说明本实用新型，本实用新型包括测试基板1，测试基板1为方形，测试基板1的上表面设有若干规则的容置孔11，还包括一个定位块2，定位块2用于安装在视觉检测设备的工作台上；
25.在测试基板1的下底面还设有插槽12，插槽12与定位块2适配。
26.本实用新型包括定位块2和测试基板1，将定位块2固定安装在视觉检测设备的工作台上，用于定位测试基板1的位置；定位块2上设有安装孔22，安装孔22是台阶孔，便于沉头螺栓安装，不影响测试基板1正常插拔。每次进行检测时，只需要将测试基板1上的插槽12投入定位块2，就可以把测试基板1准确的放置在工作台上，使得图像摄取装置能全范围检测。
27.本实用新型在更换不同的测试基板1时，只需要与定位块2进行插拔就可以实现，无需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板1，又能提高视觉检测的工作效率。
28.定位块2的横截面为方形、t字形或燕尾形，可根据对定位精准度要求高低来选择定位块2的形状，定位要求低可选用方形块或t形块，定位要求高的可选用燕尾形。
29.定位块2的轴向长度小于测试基板1的长度 ，适配的插槽12有固定的深度，插槽12底部具有限位功能，可以准确定位。
30.定位块2的轴向长度与测试基板1的长度一致，插槽12贯穿测试基板1；
31.在定位块2的径向侧面开设有至少一个定位孔21，在测试基板1对应定位孔2的位置开设有贯穿孔13；
32.定位孔21和贯穿孔13的孔径一致，定位孔21和贯穿孔13用于插销限位；此时的插槽12不能限定测试基板1在定位块2上的位置，会在定位块2的轴向滑动；为了限定测试基板1的位置，当侧面开设的贯穿孔13和定位孔21吻合时，插入插销，以达到限位的目的。
33.贯穿孔13的任一端设有内螺纹，插销的头端设有与内螺纹适配的外螺纹，为了防止插销位移，将插销上的外螺纹旋入贯穿孔13的内螺纹，加以限制。
34.本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本
领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。
技术特征：
1.便于定位的快换型测试基台，包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，其特征在于，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。2.根据权利要求1所述的便于定位的快换型测试基台，其特征在于，所述定位块的横截面为方形、t字形或燕尾形。3.根据权利要求1所述的便于定位的快换型测试基台，其特征在于，所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度 。4.根据权利要求1所述的便于定位的快换型测试基台，其特征在于，所述定位块的轴向长度与所述测试基板的长度一致，所述插槽贯穿所述测试基板；在所述定位块的径向侧面开设有至少一个定位孔，在所述测试基板对应所述定位孔的位置开设有贯穿孔；所述定位孔和所述贯穿孔的孔径一致，所述定位孔和所述贯穿孔用于插销限位。5.根据权利要求4所述的便于定位的快换型测试基台，其特征在于，所述贯穿孔的任一端设有内螺纹，所述插销的头端设有与所述内螺纹适配的外螺纹。
技术总结
便于定位的快换型测试基台。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对视觉检测用测试基板的改进。包括测试基板，所述测试基板为方形，所述测试基板的上表面设有若干规则的容置孔，还包括一个定位块，所述定位块用于安装在视觉检测设备的工作台上；在所述测试基板的下底面还设有插槽，所述插槽与所述定位块适配。所述定位块的横截面为方形、T字形或燕尾形。所述定位块的轴向长度小于所述测试基板的长度。本实用新型在更换不同的测试基板时，只需要与定位块进行插拔就可以实现，无需拆卸螺栓，既能准确的定位测试基板，又能提高视觉检测的工作效率。率。率。
技术研发人员：武万鑫 王毅
受保护的技术使用者：扬州扬杰电子科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.09
技术公布日：2022/5/29
再多了解一些
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