1.本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对整流桥测试底座的改进。
背景技术：
2.整流桥在检测线上进行进行检测时，是将整流桥逐个送入测试底座中，对整流桥进行检测，等检测结束后，再通过测试底座上方的吸笔将已检测的整流桥吸出，移入后续的工位，再将新的待检整流桥送入测试底座。但是在使用过程中发现两个问题：1、吸笔吸取整流桥的成功率不能保证100%，这样就导致后续进来的待检整流桥重叠在已检完的整流桥上，形成叠料。一旦引发叠料，频繁发生叠料测试机就会报警，自动停机，大大降低了测试的效率；对整流桥本体也会造成一定的损伤，从而形成一些不必要的浪费；
3.2、整流桥的引脚形状不一，为了适用多种规格的整流桥，需要使用与整流桥适配的测试底座，导致测试底座需要频繁更换，降低工作效率。
技术实现要素：
4.本实用新型针对以上问题，提供了一种能够将已检完的整流桥顶出，避免发生叠料，且适用于多种型号整流桥，能够提高工作效率的通用型整流桥测试底座。
5.本实用新型的技术方案是：通用型整流桥测试底座，包括一个底板和若干个侧挡板，所述底板的上表面和所述侧挡板的下底面通过榫卯结构连接；
6.所述底板的下底面设有若干个螺纹孔，所述螺纹孔用于固定连接所述测试设备；
7.在所述底板的下底面中心设有一个台阶孔，所述台阶孔内设有一个顶针。
8.所述侧挡板的上端为屋脊型。
9.若干个所述侧挡板的长度各不相同。
10.所述顶针的驱动方式为气压驱动或液压驱动。
11.所述顶针的顶面设有橡胶层。
12.所述顶针的底部侧面设有至少一个环形槽。
13.本实用新型将传统的测试底座拆分为底板和侧挡板，底板可以直接固定在测试设备上，有助于底板的底面与测试设备密封连接，能够对顶针进行气压驱动或液压驱动，能够让顶针和吸笔配合，移运出已检完的整流桥，避免发生叠料的情况；且可以根据各个整流桥的外形，选择不同长度的可插拔的侧挡板，侧挡板之间的空隙可用于容纳整流桥的引脚，适用于多种整流桥，提高了整流桥的检测效率。
附图说明
14.图1是本实用新型的立体示意图，
15.图2是本实用新型的结构示意图，
16.图3是本实用新型的爆炸示意图，
17.图4是本实用新型中底板的俯视图，
18.图5是本实用新型中底板的仰视图，
19.图6是本实用新型中底板的剖视图，
20.图7是本实用新型中顶针的结构示意图，
21.图8是本实用新型中侧挡板的结构示意图，
22.图9是图8的左视图。
23.图中1是底板，11是榫眼，12是台阶孔，13是螺纹孔，2是侧挡板，21是榫头，3是顶针，31是环形槽。
具体实施方式
24.以下结合附图1-9进一步说明本实用新型，本实用新型包括一个底板1和若干个侧挡板2，底板1的上表面和侧挡板2的下底面通过榫卯结构连接，底板1的上表面设有若干个榫眼11，若干个榫眼11均布在底板1的上表面四周，侧挡板2的底面设有与榫眼11位置对应的榫头21；
25.底板1的下底面设有若干个螺纹孔13，螺纹孔13用于固定连接测试设备，这样就可以将底板1固定连接，无需更换，且有助于底板1与测试设备密封；
26.在底板1的下底面中心设有一个台阶孔12，台阶孔12内设有一个顶针3，顶针3用于将已检完的整流桥顶出，配合吸笔完成移运的工作。
27.本实用新型将传统的测试底座拆分为底板1和侧挡板2，底板1可以直接固定在测试设备上，有助于底板1的底面与测试设备密封连接，能够对顶针3进行气压驱动或液压驱动，能够让顶针1和吸笔配合，移运出已检完的整流桥，避免发生叠料的情况；且可以根据各个整流桥的外形，选择不同长度的可插拔的侧挡板2，侧挡板2之间的空隙可用于容纳整流桥的引脚，适用于多种整流桥，提高了整流桥的检测效率。
28.侧挡板2的上端为屋脊型，屋脊型的顶端具有导向作用，有利于整流桥落入测试底座内。
29.若干个侧挡板2的长度各不相同，相邻的侧挡板2之间的空隙用于容纳整流桥的引脚，可以根据不同整流桥的引脚位置选择不同长度的侧挡板2，调整间隙的位置和大小，适用于不同的整流桥。
30.顶针3的驱动方式为气压驱动或液压驱动，可根据测试设备的驱动方式选择合适的方法。
31.顶针3的顶面设有橡胶层，柔软的橡胶层能够避免顶出时对整流桥造成损伤。
32.顶针3的底部侧面设有至少一个环形槽，环形槽可用于安装密封圈，避免气流或液压油渗出。
33.本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。
技术特征：
1.通用型整流桥测试底座，包括一个底板和若干个侧挡板，其特征在于，所述底板的上表面和所述侧挡板的下底面通过榫卯结构连接；所述底板的下底面设有若干个螺纹孔，所述螺纹孔用于固定连接测试设备；在所述底板的下底面中心设有一个台阶孔，所述台阶孔内设有一个顶针。2.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座，其特征在于，所述侧挡板的上端为屋脊型。3.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座，其特征在于，若干个所述侧挡板的长度各不相同。4.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座，其特征在于，所述顶针的驱动方式为气压驱动或液压驱动。5.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座，其特征在于，所述顶针的顶面设有橡胶层。6.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座，其特征在于，所述顶针的底部侧面设有至少一个环形槽。
技术总结
通用型整流桥测试底座。涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及对整流桥测试底座的改进。包括一个底板和若干个侧挡板，所述底板的上表面和所述侧挡板的下底面通过榫卯结构连接；所述底板的下底面设有若干个螺纹孔，所述螺纹孔用于固定连接所述测试设备；在所述底板的下底面中心设有一个台阶孔，所述台阶孔内设有一个顶针。所述侧挡板的上端为屋脊型。若干个所述侧挡板的长度各不相同。所述顶针的驱动方式为气压驱动或液压驱动。所述顶针的顶面设有橡胶层。所述顶针的底部侧面设有至少一个环形槽。本实用新型适用于多种整流桥，提高了整流桥的检测效率。流桥的检测效率。流桥的检测效率。
技术研发人员：武万鑫 王毅
受保护的技术使用者：扬州扬杰电子科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.09
技术公布日：2022/5/29
再多了解一些
本文用于企业家、创业者技术爱好者查询，结果仅供参考。
