数字集成电路通用测试装置的制作方法

数字集成电路通用测试装置
【技术领域】
1.本实用新型属于测试领域，特别是指一种适用于多种不同型号规格数字集成电路的测试装置。


背景技术：

2.数字集成电路在进行功能和电性能参数测试时，其硬件连接是通过对其电源引脚加电，地引脚接地，其他数字引脚接不同的数字通道。然后测试软件对不同数字通道根据器件功能加不同的数字信号测试其功能和电性能。不同数字通道信号可通过软件控制可调换顺序，电源和地引脚的硬件连接确定后不可调换。数字集成电路型号多，引脚定义各不相同，并且电源和地的引脚位置不固定，因此每种型号器件都需要专门设计不同测试工装进行连接，夹具设计成本高，测试时需频繁更换测试夹具导致测试效率低。集成电路复杂度的提高，对所需的外部资源包括源表和测试表也越多，部分原有设备的资源无法满足测试需求。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种数字集成电路通用测试装置，用以实现对多种不同型号数字集成电路功能性能测试工作，具有拓展性，可以满足更多的测试需求，提高测试效率及降低测试装置设计和管理成本。
4.为实现上述目的，实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其中所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。
5.依据上述主要特征，所述连接接口设有二个，分别设于底板两侧。
6.依据上述主要特征，所述排针母座设有二个，分别设于底板的插座两侧。
7.依据上述主要特征，所述线带插针一端焊接于所述底板的电源接口或接地接口。
8.依据上述主要特征，所述底板上的电源接口设有多个。
9.与现有技术相比较，本实用新型具有以下技术效果：
10.1、通过电路走线引出排针母座，电源和地的连接通过线带插针连接，可满足不同引脚定义的多种型号数字集成电路测试连接要求；
11.2、引出的排针母座接口可连接电流电压源、电子负载等外部源表增加原有设备的资源，也可连接数字万用表、示波器的等外部测量表，以扩展设备测试能力；
12.3、通过排针母座和线带插针的连接方式，设计制造成本低，连接安全可靠，实用性好，通用性好，适用于大部分集成电路器件，具有很高的实用价值。
【附图说明】
13.图1为实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的结构示意图。
14.图2为图1所示的实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的电路走线示意图。
【具体实施方式】
15.请参阅图1所示，为实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的结构示意图。实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置包括一底板10，并且底板10中部设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座13，并且所述底板10两侧还设有用以与外部测试设备连接的第一连接接口120与第二连接接口121。另外，所述底板10在插座13侧边设有排针母座14。再者，所述底板10上还设有电源接口与接地接口16，并且实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针15。在本实施例中，底板10设有二个电源接口，分别为第一电源接口170与第二电源接口171。
16.请参阅图2所示，为图1所示的实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的电路走线示意图。所述插座13的各个引脚通过底板10上印刷线路分别与设于插座13两侧的排针母座14的接脚相连接，并且也与第一连接接口120与第二连接接口121的接脚连接。因图1与图2所示的结构是以双列直插封装的集成电路为例，因此插针母座14设有两个，同时两个插针母座14的接脚与第一连接接口120与第二连接接口121的接脚的连接方式也是按就近原则，如此将待测集成电路的引脚通过插座13与插针母座14连接至第一连接接口120与第二连接接口121，图2中的实施例仅使用了第一连接接口120与第二连接接口121的一排引脚，如果集成电路的管脚数目较多，则可使用第一连接接口120与第二连接接口121的另一排引脚。并且所述底板10的电源接口与接地接口16也与第一连接接口120与第二连接接口121固定的电源引脚与接地引脚连接。
17.在使用时，线带插针15的一端可通过焊接的方式与所述底板10的电源接口15或接地接口16，另一端的插针则根据不同型号的集成电路电源或地的引脚定义，插针插在集成电路电源或地引脚对应的排针母座14的对应插口上，以实现电源和地的硬件连接，如此令该测试装置适用于相同封装的多种数字集成电路。
18.在测试时，因插座13都连接了对应的与外部测试设备连接的第一连接接口120与第二连接接口121，只需将集成电路锁紧在插座13放置待测电路后确认引脚对应序号；之后根据待测的数字集成电路的产品手册，查看引脚定义图，查看相应的电源和地的引脚序号，并将电源和地的线带插针15插至相应的引脚序号的排针母座14上。如需外接源表或测试表，可连接至排针母座14相应的接脚上，连接完成，即可进行测试。对不同型号的数字集成电路测试时，按产品手册上的引脚定义图重新改变线带插针15的插接位置便可进行测试，无需更换夹具。
19.由上述可知，实施本实用新型的集成电路通用测试装置可以根据集成电路的引脚定义，使用线带插针15改变电源和地的物理连接，如有需求还可连接外部源表和测试表，从而适用于多型号数字集成电路的测试，使所述集成电路通用测试装置更具拓展性，满足更多的测试需求，降低集成电路通用测试装置的设计成本而且减少更换测试装置的频率，提高了测试效率。
20.与现有技术相比较，本实用新型具有以下技术效果：
21.1、通过电路走线引出排针母座，电源和地的连接通过线带插针连接，可满足不同引脚定义的多种型号数字集成电路测试连接要求；
22.2、引出的排针母座接口可连接电流电压源、电子负载等外部源表增加原有设备的资源，也可连接数字万用表、示波器的等外部测量表，以扩展设备测试能力；
23.3、通过排针母座和线带插针的连接方式，设计制造成本低，连接安全可靠，实用性好，通用性好，适用于大部分集成电路器件，具有很高的实用价值。
24.可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。


技术特征：
1.一种数字集成电路通用测试装置，包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其特征在于：所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。2.如权利要求1所述的数字集成电路通用测试装置，其特征在于：所述连接接口设有二个，分别设于底板两侧。3.如权利要求1所述的数字集成电路通用测试装置，其特征在于：所述排针母座设有二个，分别设于底板的插座两侧。4.如权利要求1所述的数字集成电路通用测试装置，其特征在于：所述线带插针一端焊接于所述底板的电源接口或接地接口。5.如权利要求1所述的数字集成电路通用测试装置，其特征在于：所述底板上的电源接口设有多个。

技术总结
本实用新型揭示了一种数字集成电路通用测试装置，所述数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其特征在于：所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。


技术研发人员：赖邵冕 张峰 郭嘉萍
受保护的技术使用者：中国航空无线电电子研究所
技术研发日：2021.10.25
技术公布日：2022/5/17