像素电路及其驱动方法、显示面板与流程

1.本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种像素电路及其驱动方法、显示面板。。


背景技术：

2.有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)是20世纪中期发展起来的一种新型显示器件。oled 具有超轻薄、全固态、主动发光、响应速度快、高对比度、无视角限制、工作温度范围宽、低功耗、低成本、抗震能力强和可实现柔性显示等诸多优点，被誉为“梦幻显示器”。oled 显示器的优越性能和巨大的市场潜力,吸引全世界众多厂家和科研机构投入到 oled 器件的生产和研发中。
3.由于amoled（有源矩阵有机发光二极管）的发展，大尺寸oled显示屏通常采用tft（薄膜晶体管）来驱动阳极供电。而对于微型oled显示屏，则采用cmos电路来完成驱动的功能。但由于制程良率的限制，底层驱动电路会存在部分坏点，晶体管无法被关断，导致oled显示黑画面时有亮点的现象。尤其是针对一些特殊领域，高亮度的oled器件，由于更大的负载压力，其亮点现象更加严峻。
4.在现有的修复屏幕亮点的方案中，激光修复是最常见的一种方案。激光修复是采用高能量的激光脉冲扫描底层驱动电路或有机功能层，将该层完全气化，从而实现栅漏极或阴阳极直接短接，实现短路。该方法对激光能量的控制要求较高，过高的能量会导致热影响严重，气化产生的热应力会难以释放，引起薄膜缺陷。由于oled器件对封装层致密性有极高要求，该方法甚至容易引起封装层的损坏，导致不可逆转的破坏。过低的能量会导致少部分有机功能层残存，膜厚和成分的变化会引起电压变大，导致器件亮度异常增高，进一步加剧了亮点亮度。现有的激光修复工艺只能应用在大尺寸oled面板，对于微型oled器件，其像素尺寸达到微米级别，像素之间的间距更是可能小于1um，由于激光修复设备的加工精度、光斑大小、光学衍射等问题在这一尺度的影响越发明显，在实际生产中，隔离法的工艺以及前道工艺的稳定性是一个关键性的问题。进一步的，激光修复依赖于激光修复设备，成本较高。
5.因此，期望提供一种改进的像素电路，以解决上述问题。


技术实现要素：

6.鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种像素电路及其驱动方法、显示面板，从而提高亮点修复的良率、精确度和效率，并降低成本。
7.根据本发明的第一方面，提供一种像素电路，包括：驱动单元，连接在第一电源和第二电源之间；控制单元，连接至所述驱动单元，用于控制所述驱动单元的开关状态；发光单元，经由所述驱动单元连接至所述第一电源，所述发光单元的发光状态至少受控于所述驱动单元的开关状态；以及
熔丝，串联在所述第一电源和所述驱动单元形成的电路结构内，用于控制所述第一电源和所述发光单元之间的电流路径，其中，在修复模式中，配置流经所述熔丝的电流，使得所述熔丝被熔断，从而切断所述第一电源和所述发光单元之间的所述电流路径，使得所述发光单元停止发光。
8.可选的，在多个像素电路进入所述修复模式时，对于未发生故障的像素电路，所述控制单元控制所述驱动单元关断，所述第二电源与所述熔丝之间的电流路径被关断，对于发生故障的像素电路，所述控制单元控制所述驱动单元导通，所述第二电源与所述熔丝之间的电流路径被导通。
9.可选的，所述驱动单元包括串联的第一晶体管和第二晶体管，所述发光单元连接至所述第一晶体管和所述第二晶体管之间的串联节点，其中，在所述修复模式中所述第一晶体管的控制端接收所述控制单元提供的第一控制电压，所述第二晶体管的控制端接收所述控制单元提供的第二控制电压，对于所述未发生故障的像素电路，所述第一控制电压和所述第二控制电压中的至少一个为第一电平，以关断所述第一晶体管和所述第二晶体管中的至少一个，对于所述发生故障的像素电路，所述第一控制电压和所述第二控制电压均为第二电平，以导通所述第一晶体管和所述第二晶体管。
10.可选的，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为低电平电压，在所述修复模式中，所述控制单元配置所述第一控制电压和/或所述第二控制电压以控制流经所述第一晶体管和/或所述第二晶体管的电流，使得流经所述熔丝的电流大于/等于熔断电流。
11.可选的，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为低电平电压，所述像素电路还包括：开关单元，并联在所述驱动单元的两端，其开关状态至少受控于所述控制单元提供的第三控制电压，其中，在所述修复模式中，对于所述未发生故障的像素电路，所述控制单元配置所述第一控制电压和/或所述第二控制电压以关断所述第一晶体管和/或所述第二晶体管，并配置所述第三控制电压以关断所述开关单元，对于所述发生故障的像素电路，所述控制单元配置所述第三控制电压以导通所述开关单元，使得所述驱动单元短路，从而流经所述熔丝的电流大于/等于熔断电流。
12.可选的，还包括：检测单元，基于光学原理将所述多个像素电路划分为所述未发生故障的像素电路和所述发生故障的像素电路；以及处理单元，将各个所述发生故障的像素电路的坐标位置转换为用于控制所述控制单元的时序信号，其中，在所述修复模式中，所述控制单元基于所述时序信号控制所述驱动单元的开关状态。
13.可选的，在修复模式中，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为第一低电平电压；
在工作模式中，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为第二低电平电压，其中，所述第二低电平电压大于所述第一低电平电压，所述第一低电平电压与所述高电平电压之间的电压差使得流经所述熔丝的电流大于/等于所述熔丝的熔断电流，所述第二低电平电压与所述高电平电压之间的电压差使得流经所述熔丝的电流小于所述熔丝的熔断电流，且所述第二低电平电压小于所述发光单元的亮电压。
14.根据本发明的第二方面，提供一种像素电路的驱动方法，所述像素电路包括串联在第一电源和第二电源之间的熔丝和驱动单元、连接至所述驱动单元的控制单元和发光单元，所述驱动方法包括：在修复模式中，配置流经所述熔丝的电流，使得所述熔丝被熔断，从而切断所述第一电源和所述驱动单元之间的所述电流路径，使得所述发光单元停止发光。
15.可选的，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为低电平电压，在所述修复模式中，所述控制单元配置第一控制电压和/或第二控制电压以控制流经所述驱动单元内的第一晶体管和/或第二晶体管的电流，使得流经所述熔丝的电流大于/等于熔断电流；或所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为低电平电压，在所述修复模式中，配置第三控制电压以导通并联在所述驱动单元两端的开关单元，使得所述驱动单元短路，从而流经所述熔丝的电流大于/等于熔断电流；或在所述修复模式中，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为第一低电平电压；在工作模式中，所述第一电源为高电平电压，所述第二电源为第二低电平电压，其中，所述第二低电平电压大于所述第一低电平电压，所述第一低电平电压与所述高电平电压之间的电压差使得流经所述熔丝的电流大于/等于所述熔丝的熔断电流，所述第二低电平电压与所述高电平电压之间的电压差使得流经所述熔丝的电流小于所述熔丝的熔断电流，且所述第二低电平电压小于所述发光单元的亮电压。
16.根据本发明的第三方面，提供一种显示面板，包括多个如上所述的像素电路。
17.本发明提供的像素电路及其驱动方法、显示面板，通过控制流经熔丝的电流，利用熔丝对显示面板中发生故障的像素电路（即发生亮点缺陷的像素电路）进行断路处理，实现了精准、有效的电学式亮点修复，提高了亮点修复的效率，并降低了成本。
附图说明
18.通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：图1示出了根据本发明实施例的显示面板的示意图；图2示出了根据本发明实施例的像素电路的框图；图3示出了根据本发明实施例的像素电路的电路图；图4示出了根据本发明实施例的熔丝的结构图；图5示出了根据本发明实施例的第一电源和第二电源的电平波形图；图6示出了根据本发明实施例的像素电路的驱动方法的流程图。
具体实施方式
19.以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中，相同的元件采用类似的附
图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，在图中可能未示出某些公知的部分。
20.在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。
21.应理解，本技术实施例中的a与b连接/耦接，表示a与b可以串联连接或并联连接，或者a与b通过其他的器件，本技术实施例对此不作限定。
22.下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
23.图1示出了根据本发明实施例的显示面板的示意图。在图1中以有源矩阵有机发光二极体(active-matrix organic light emitting diode, amoled)为例，对本发明实施例的显示面板进行说明。应当理解，本发明对显示面板的类型不做限制，例如，显示面板还可以是硅基oled显示面板、microled显示面板、miniled显示面板、am miniled显示面板等。
24.如图1所示，amoled显示面板100在显示区域包括多个阵列式排布的像素电路110，在非显示区域包括伽马电压生成电路10、源极驱动电路120、栅极驱动电路130以及电源芯片140。源极驱动电路120根据伽马电压生成电路10提供的伽马电压vgma生成多个灰阶电压，并将多个灰阶电压经由源极线s1至sn发送至各列像素电路110；栅极驱动电路130经由栅极线g1至gm向各行像素电路110提供扫描信号；电源芯片140分别连接至各个像素电路110，并向各个像素电路110提供电源电压elvdd。
25.图2示出了根据本发明实施例的像素电路的框图。如图2所示，该像素电路110包括驱动单元111、控制单元112、发光单元113以及熔丝（efuse, fuse）r1。
26.驱动单元111连接在第一电源vdd和第二电源vds之间；控制单元112连接至驱动单元111，用于控制驱动单元111的开关状态；发光单元113经由驱动单元111连接至第一电源vdd，发光单元113的发光状态至少受控于驱动单元111的开关状态；熔丝r1串联在驱动单元111和第一电源vdd形成的电路结构内，用于控制第一电源vdd和发光单元113之间的电流路径。在该实施例中，熔丝r1连接在第一电源vdd和驱动单元111之间，在替代的实施例中，当驱动单元11内部包括多个电路元件时，熔丝r1也可以串联在该多个元件之间，以控制第一电源vdd到驱动单元111电流路径，从而进一步控制第一电源vdd到发光单元113之间的电流路径。
27.熔丝r1具有以下特性：当流经熔丝的电流小于熔断电流时，熔丝呈低阻态(low resistance state, lrs)；当流经熔丝的电流大于/等于熔断电流时，熔丝呈被熔断，与之串联的电路断路。
28.在像素电路110刚出厂时，熔丝r1处于低阻态。发光单元113的第一端经由驱动单元111连接至第一电源vdd，第二端连接至公共电源vcom，发光单元113两端的电压差大于发光单元113的亮电压，可以正常发光。
29.由于制程良率的限制，底层驱动电路会存在部分坏点，像素电路中的晶体管无法被关断，导致显示面板（可参见图1）显示黑画面时有亮点的现象，该现象常发生于显示面板的使用过程中。一旦显示面板发生了亮点缺陷，即可控制显示面板中发生亮点缺陷的像素电路110进入修复模式。
30.具体的，在一个示例中，在像素电路110的修复模式中，第一电源vdd为高电平电
压，第二电源vds为第一低电平电压，且第一电源vdd提供的高电平电压和第二电源vds提供的第一低电平电压之间的电压差使得流经熔丝r1的电流大于/等于熔丝r1的熔断电流，使得熔丝r1被熔断，从而关断第一电源vdd和驱动单元111之间的电流路径，使得发光单元113停止发光，这样就达到了亮点修复的目的。
31.在另一些示例中，在像素电路110的修复模式中，第一电源vdd为第一高电平电压，第二电源vds为低电平电压，且第一电源vdd提供的第一高电平电压和第二电源vds提供的低电平电压之间的电压差使得流经熔丝r1的电流大于/等于熔丝r1的熔断电流；在像素电路110的工作模式中，第一电源vdd为第二高电平电压，第二电源vds为低电平电压，且第一电源vdd提供的第二高电平电压和第二电源vds提供的低电平电压之间的电压差使得流经熔丝r1的电流小于熔丝r1的熔断电流，第二高电平电压作为像素电路110的正常工作电压，以避免将正常工作的像素电路中的熔丝熔断。
32.在又一些示例中，像素电路110的修复模式和工作模式中，第一电源vdd均为高电平电压，第二电源vds均为低电平电压，即，无需控制第一电源vdd和第二电源vds之间的电压差发生变化。在该示例中，为达到使发生故障的像素电路110断路的目的，有多种替代性的方案可以实施，以熔断熔丝r1。
33.例如，可以将第一电源vdd和第二电源vds进行短路，从而使得流经熔丝r1的电流非常大，以熔断熔丝r1。可选的，通过设置一个并联在驱动单元111两端的开关单元（未示出）来将第一电源vdd和第二电源vds进行短路，该开关单元例如受控于控制单元112提供的第三控制电压，对于发生故障的像素电路110，第三控制电压控制开关单元导通（呈低阻态，电阻接近于0）以将驱动单元111短路，从而熔丝r1会流经一个大电流，并且这个大电流不会流经驱动单元111，也不会损坏驱动单元111内的晶体管等元件。
34.又例如，可以利用控制单元112提供的第一控制电压和/或第二控制电压来控制流经第一晶体管和/或第二晶体管的电流，使得流经熔丝的电流大于/等于熔断电流。应理解，本发明不限于此，任何可以熔断像素电路110内的熔丝r1的方案，均可适用于本发明。
35.在另一些实施例中，对于部分像素电路110发生亮点缺点的显示面板，可以控制显示面板所包含的多个像素电路110均进入修复模式。在多个像素电路110进入修复模式时，对于未发生故障的像素电路110，控制单元112控制驱动单元111关断，第二电源vds与熔丝r1之间的电流路径被关断，从而流经熔丝r1的电流为0，熔丝r1仍是低阻态；对于发生故障的像素电路110，控制单元112控制驱动单元111导通，第二电源vds与熔丝r1之间的电流路径被导通，熔丝r1两端的电压达到使熔丝熔断的阈值电压，熔丝r1被熔断。
36.作为一个示例，像素电路110还包括检测单元114和处理单元115，检测单元114例如基于光学原理将显示面板中的多个像素电路110划分为未发生故障的像素电路110和发生故障的像素电路110，并将各个发生故障的像素电路110的坐标位置发送给处理单元115。例如，显示面板显示黑图案之后, 基于光学原理可以定位到发生亮点缺陷的坐标位置(x,y,z)，x为横坐标，y为纵坐标，z为（r/g/b）三个中的一个。在修复模式中，处理单元115将发生故障的像素电路110的坐标位置转换为用于控制控制单元112的时序信号，控制单元112基于表征发生故障的像素电路110的坐标位置的时序信号控制驱动单元111的开关状态，例如，控制单元112在接收到表征发生故障的像素电路110的坐标位置的时序信号之后，控制其驱动单元111导通，并将第一电源vdd设置为第一低电平电压，将第二电源vds设置为高电
平电压，使得熔丝r1被熔断。
37.在像素电路110的修复模式结束之后，即使去掉第一电源vdd和第二电源vds提供的反向偏压或者恢复至正向偏压，熔丝r1为熔断状态。即使像素电路110之后再进入正常的工作模式，熔丝r1仍可以维持在熔断状态，以避免亮点缺陷。例如，在工作模式中，第一电源vdd为第二高电平电压，第二电源vds为低电平电压，对于发生故障的像素电路110，熔丝r1维持在熔断状态；对于未发生故障的像素电路110，第二高电平电压和低电平电压之间的电压差使得流经熔丝r1的电流小于熔丝r1的熔断电流，从而熔丝r1维持在低阻态。
38.图3示出了根据本发明实施例的像素电路的电路图。该电路仅作为一个示例来对本技术实施例的像素电路进行详细说明，应理解，本发明不限于此，本发明的技术方案还适用于传统的2t1c、3t1c、4t1c、5t2c等各种形式的像素电路。
39.如图3所示，该像素电路110包括驱动单元111、控制单元112、发光单元113、熔丝r1、检测单元114以及处理单元115，其总体结构和基本原理可参见图2，在此不再赘述其相同之处。其中，驱动单元111、控制单元112、发光单元113、熔丝r1构成像素电路110中的基础像素结构，检测单元114和处理单元115可作为基础像素结构的外围电路，集成在显示面板的显示区域外围电路中，也可以集成于芯片中，本技术对其具体实现方式不做限制。
40.在该实施例中，驱动单元111包括串联的第一晶体管m1和第二晶体管m2，发光单元113为有机发光二极管oled。第一晶体管m1作为驱动晶体管，第二晶体管m2作为复位晶体管，有机发光二极管oled的阳极连接至第一晶体管m1和第二晶体管m2之间的串联节点，有机发光二极管oled的阴极连接至公共电源vcom。在替代的实施例中，熔丝r1可以连接在第一晶体管m1和第二晶体管m2之间，以控制第一电源vdd和驱动单元112之间的电流路径，即，控制了第一电源vdd与有机发光二极管oled之间的电流路径。
41.第一晶体管m1的控制端接收控制单元112提供的第一控制电压sw1，第二晶体管m2的控制端接收控制单元112提供的第二控制电压sw2。当第一控制电压sw1为第一电平时，第一晶体管m1关断，当第一控制电压sw1为第二电平时，第一晶体管m1导通，第二晶体管m2的导通特性与第一晶体管m1类似，在此不再赘述。
42.在该实施例中，第一晶体管m1和第二晶体管m2均为p型晶体管，则设置第一电平为高电平，第二电平为低电平。在替代的实施例中，第一晶体管m1和第二晶体管m2可以是n型晶体管，则设置第一电平为低电平，第二电平为高电平。
43.在修复模式中，对于未发生故障的像素电路110，控制单元112提供的第一控制电压sw1和第二控制电压sw2中的至少一个为第一电平，以关断第一晶体管m1和第二晶体管m2；对于发生故障的像素电路110，控制单元112提供的第一控制电压sw1和第二控制电压sw2均为第二电平，以导通第一晶体管m1和第二晶体管m2。
44.在修复模式中，显示面板显示黑图案之后, 检测单元114基于光学原理可以定位到发生亮点缺陷的坐标位置(x,y,z)，x为横坐标，y为纵坐标，z为（r/g/b）三个中的一个，处理单元115根据发生亮点缺陷的坐标位置生成用于控制控制单元112的时序信号。在修复模式中，控制单元112基于可以表征发生故障的像素电路110的坐标位置的时序信号控制驱动单元111的开关状态。例如，处理单元115利用坐标位置中的x和z控制控制单元112提供的第一控制电压sw1的电平，利用坐标位置中的y控制控制单元112提供的第一控制电压sw2的电平，因此，在控制单元112在接收到表征发生故障的像素电路110的坐标位置的时序信号之
后，可以提供第二电平的第一控制电压sw1和第二控制电压sw2，以控制其驱动单元111导通，并将第一电源vdd设置为低电平电压，将第二电源vds设置为高电平电压，使得熔丝r1被熔断。
45.作为一个示例，控制单元112例如包括一个开关管和一个存储电容（未示出）。在工作模式中，开关管的导通与关断受控于扫描信号；存储电容用于经开关管接收灰阶电压，并存储灰阶电压；第一晶体管m1用于在开关管的关断阶段内根据电源电压和被存储的灰阶电压向有机发光二极管oled提供驱动电压或驱动电流。
46.图4示出了根据本发明实施例的熔丝的结构图。应理解，可以采用任意其它结构、材料的熔丝来代替图4所示的熔丝，并应用到图2和3所示的像素电路中。
47.如图4所示，熔丝200包括第一结构层201、第二结构层202以及位于第一结构层201和第二结构层202之间的第三结构层203。该熔丝200作为图2和图3中提到的熔丝r1。
48.在一个实施例中，第一结构层201为介质层，第二结构层202为保护层，第三结构层为金属层203，该金属层即为熔丝本体结构层。
49.图5示出了根据本发明实施例的第一电源和第二电源的电平波形图，横坐标表示时间，纵坐标表示电压的相对大小。应理解，图5所示的第一电源和第二电源的电压大小、比例、维持时间等均为示例性的描述，图5所示的第一电源和第二电源对本发明实施例提供的第一电源和第二电源的具体参数不构成限制如图5所示，第一电源vdd保持在高电平电压v3，第二电源vds基于不同的模式选择在第一低电平电压v1和第二低电平电压v2之间切换，第一低电平电压v1小于第二低电平电压v2，且高电平电压v3与第一低电平电压v1之间的电压差使得流经熔丝的电流大于/等于熔丝的熔断电流，高电平电压v3与第二低电平电压v2之间的电压差使得流经熔丝的电流小于熔丝的熔断电流。
50.在像素电路的检测模式t1中，将第一电源vdd设置为高电平电压v3，将第二电源vds设置为第二低电平电压v2，使得熔丝呈低阻态，此时，发光单元经由驱动单元连接至第一电源并接收高电平电压v3，可以检测出哪些像素电路发生了亮点缺陷，并记录发生了亮点缺陷的像素电路的坐标位置。
51.在像素电路的修复模式t2中，将第一电源vdd设置为高电平电压v3，将第二电源vds设置为第一低电平电压v1，对于发生了亮点缺陷的像素电路，驱动单元导通，熔丝的两端分别接收高电平电压v3和第一低电平电压v1，从而使得熔丝被熔断；对于未发生亮点缺陷的像素电路，驱动单元关断，熔丝的一端悬空，另一端接收第一低电平电压v1，从而使得熔丝维持在低阻态。
52.在像素电路的工作模式t3中，将第一电源vdd设置为高电平电压v3，将第二电源vds设置为第二低电平电压v2，对于发生了亮点缺陷的像素电路，熔丝仍维持在熔断状态，第一电源vdd到发光单元的电流路径被切断，因此发光单元不发光；对于未发生亮点缺陷的像素电路，使得熔丝维持在低阻态，发光单元可以经由驱动电路接收驱动电压或者电流，因此可以正常发光。
53.本发明提供的像素电路具有如下优势：1）熔丝的结构简单、易于实现，在传统的像素电路的结构基础上，仅需在晶片增加一些结构层，因此，在不增加像素电路器件的前提下，可以实现精准的显示面板亮点修复；
2）相比于传统的激光修复方法，可以节省激光修复发方法中所需激光设备的高额成本；4)可以提高显示面板修复的效率，最多仅需一帧（大约16ms）可实现所有修复工作；5)不仅可以单显示面板修复，还可以多显示面板一起修复，多显示面板修复相比于单显示面板修复增加的成本只是控制电路，相对于多台激光设备微不足道；6)每个像素电路都可以被精确修复，可以提高显示面板修复的良率，理论上显示面板的修复良率是可达到100%；7)适用于oled大尺寸面板（柔性板，刚性板）、硅基oled 和microled 等各种使用有源选址驱动(active matrix, am)的面板中，适用范围广。
54.图6示出了根据本发明实施例的像素电路的驱动方法的流程图。
55.本发明实施例还提供了一种像素电路的驱动方法，像素电路包括串联在第一电源和第二电源之间的熔丝和驱动单元、连接至驱动单元的控制单元和发光单元，像素电路的具体结构可参见图2-4，在此不再赘述。该像素电路的驱动方法包括步骤s1-s3。
56.步骤s1：在检测模式中，配置第一电源、第二电源和控制单元，以检测发生故障的像素电路。此时，发光单元经由驱动单元连接至第一电源，控制单元控制显示面板中的所有像素电路应显示黑色，而发生故障的像素电路却会发光，因此该步骤可以检测出哪些像素电路发生了亮点缺陷，并记录发生了亮点缺陷的像素电路的坐标位置。
57.步骤s2：在修复模式中，配置流经熔丝的电流，使得熔丝被熔断，从而切断发光单元到第一电源的电流路径，使得发光单元停止发光。例如，将第一电源配置为高电平电压，将第二电源配置为第一低电平电压，使得熔丝被熔断。
58.在一些实施例中，在多个像素电路进入修复模式时，对于未发生故障的像素电路，利用控制单元控制驱动单元关断，第一电源与熔丝之间的电流路径被关断，对于发生故障的像素电路，利用控制单元控制驱动单元导通，第一电源与熔丝之间的电流路径被导通。
59.步骤s3：在工作模式中，配置第一电源、第二电源和控制单元，使得像素电路正常工作。
60.在一个示例中，检测模式、修复模式和工作模式中的第一电源均为高电平电压，第二电源为均低电平电压，在修复模式中，控制单元配置第一控制电压和/或第二控制电压以控制流经第一晶体管和/或第二晶体管的电流，使得流经熔丝的电流大于/等于熔断电流。
61.在另一个示例中，检测模式、修复模式和工作模式中的第一电源均为高电平电压，第二电源为均低电平电压，在修复模式中，配置第三控制电压以导通并联在驱动单元两端的开关单元，使得驱动单元短路，从而流经熔丝的电流大于/等于熔断电流。
62.在又一个示例中，在修复模式中，第一电源为高电平电压，第二电源为第一低电平电压；在工作模式中，第一电源为高电平电压，第二电源为第二低电平电压，其中，第二低电平电压大于第一低电平电压，第一低电平电压与高电平电压之间的电压差使得流经熔丝的电流大于/等于熔丝的熔断电流，第二低电平电压与高电平电压之间的电压差使得流经熔丝的电流小于熔丝的熔断电流，且第二低电平电压小于发光单元的亮电压。
63.应理解，步骤s1和s3为可选执行的步骤，在一些实施例中，可以单独执行步骤s2，例如，在已知显示面板中发生故障的像素电路的坐标位置的情况下，可以直接对发生故障
的像素电路执行步骤s2，以修复这些像素电路，使其由亮点变为暗点。
64.应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
65.依照本发明的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。