一种支撑Pin损伤检测方法、装置、设备及介质与流程

一种支撑pin损伤检测方法、装置、设备及介质
技术领域
1.本技术涉及芯片测量技术领域，尤其涉及一种支撑pin损伤检测方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.目前，针对连接器类pin的损伤件检测都是依据支撑pin的高度检测，然而，现有的利用镜头自动对焦检测pin高的方法，前提必须为镜头可保证移动到pin点位，这就使一些镜头与pin点位无交互的设备无法进行检测，应用范围小、检测精度低。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测方法、装置、设备及介质，用以解决现有技术存在的，在测量支撑pin高度时，由于依赖移动镜头测距导致的应用范围小、检测精度低的问题。
4.本技术实施例提供的技术方案如下：
5.一方面，本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测方法，应用于检测设备，检测设备包括激光测距仪，激光测距仪包括发射部件、接收部件，发送部件的基准点与所述接收部件的基准点的距离为预设值，该支撑pin损伤检测方法包括：
6.通过发射部件发射光线扫描支撑pin，支撑pin位于发送部件和接收部件之间的一侧，发射部件发射的光线通过支撑pin反射，由接收部件接收；确定接收部件接收到的光线与接收部件的基准点之间的水平偏移量；
7.基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，垂直距离用于指示激光测距仪与支撑pin的检测距离；基于激光测距仪与支撑pin的检测距离判断支撑pin是否发生损伤。
8.在一种可能实施的方式中，在通过发射部件发射光线扫描支撑pin之前，还包括：
9.基于检测设备的信号灯，确定支撑pin对应的设备中无玻璃基板。
10.在一种可能实施的方式中，基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，包括：基于如下公式确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离：hn＝f
×
(l x)/2
×
l
11.其中，hn表征发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离；f表征接收部件的滤镜焦距；x表征预设值；l表征水平偏移量。
12.在一种可能实施的方式中，基于如下公式判断支撑pin是否发生损伤：
[0013][0014]
其中，hn表征激光测距仪与支撑pin的检测距离；h0表征激光测距仪与支撑pin的预设基准距离；p表征预设检测阈值；
[0015]
当检测距离与预设基准距离的差值，小于预设检测阈值时，确定支撑pin无损伤；
[0016]
当检测距离与预设基准距离的差值，大于或等于预设检测阈值时，确定支撑pin损伤。
[0017]
在一种可能实施的方式中，当检测设备检测出支撑pin出现损伤时，向与检测设备连接的软件发送报警信息。
[0018]
另一方面，本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测装置，应用于检测设备，检测设备包括激光测距仪，激光测距仪包括发射部件、接收部件，发送部件的基准点与所述接收部件的基准点的距离为预设值，该支撑pin损伤检测装置包括：
[0019]
第一检测单元，用于通过发射部件发射光线扫描支撑pin，支撑pin位于发送部件和接收部件之间的一侧，发射部件发射的光线通过支撑pin反射，由接收部件接收；确定接收部件接收到的光线与接收部件的基准点之间的水平偏移量；
[0020]
计算单元，基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，垂直距离用于指示激光测距仪与支撑pin的检测距离，发送部件的基准点与接收部件的基准点的距离为预设值；
[0021]
第二检测单元，基于激光测距仪与支撑pin的检测距离判断支撑pin是否发生损伤。
[0022]
在一种可能的实施方式中，支撑pin损伤检测装置，还包括：
[0023]
报警单元，用于当检测设备检测出支撑pin出现损伤时，向与检测设备连接的软件发送报警信息。
[0024]
在一种可能的实施方式中，在通过发射部件发射光线扫描所述支撑pin之前，第一检测单元，具体用于：
[0025]
基于检测设备的信号灯，确定支撑pin对应的设备中无玻璃基板。
[0026]
在一种可能的实施方式中，基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离时，计算单元，具体用于：
[0027]
基于如下公式确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离：
[0028]hn
＝f
×
(l x)/2
×
l
[0029]
其中，hn表征所述发送部件的基准点与所述接收部件的基准点的连线与所述支撑pin的垂直距离；f表征所述接收部件的滤镜焦距；x表征所述预设值；l表征所述水平偏移量。
[0030]
在一种可能的实施方式中，基于激光测距仪与支撑pin的距离判断支撑pin是否发生损伤时，第二检测单元，具体用于：
[0031]
基于如下公式判断支撑pin是否发生损伤：
[0032][0033]
其中，hn表征激光测距仪与支撑pin的检测距离；h0表征激光测距仪与支撑pin的预设基准距离；p表征预设检测阈值；
[0034]
其中，当检测距离与预设基准距离的差值，小于预设检测阈值时，确定支撑pin无损伤；当检测距离与预设基准距离的差值，大于或等于预设检测阈值时，支撑pin损伤。
[0035]
另一方面，本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测设备，包括：存储器、处理器和存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。
[0036]
另一方面，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令被处理器执行时实现本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。
[0037]
本技术实施例的有益效果如下：
[0038]
本技术实施例中，通过使用激光测距的方法获得发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，再基于发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离判断支撑pin是否发生损伤。这样，无需依赖移动镜头即可实现测量支撑pin高度，并完成对支撑pin损伤检测，应用范围广，检测精度高。
[0039]
本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地可以从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0040]
此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0041]
图1为本技术实施例中支撑pin损伤检测方法概括流程示意图；
[0042]
图2为本技术实施例中支撑pin损伤检测方法的总体框架示意图；
[0043]
图3为本技术实施例中支撑pin损伤检测方法的具体流程示意图；
[0044]
图4为本技术实施例中通过spii plus采用激光测距实现光学设备中支撑pin的损伤检测方法的具体流程示意图；
[0045]
图5为本技术实施例中支撑pin损伤检测装置的功能结构示意图；
[0046]
图6为本技术实施例中支撑pin损伤检测设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0047]
为了使本技术的目的、技术方案及有益效果更加清楚明白，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，并不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0048]
为便于本领域技术人员更好地理解本技术，下面先对本技术涉及的技术用语进行简单介绍。
[0049]
1、软件，一种用于硬件初始化/运动的控制测试软件，可以是但不限于中央接口装置(computer interface unit，ciu)、可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)、spii plus自动化测试框架等。
[0050]
2、智能设备，是具有计算处理能力的设备、器械或者机器，包括但不限于：光学设备、电学设备；例如，智能手机、智能手环、智能眼镜、电动窗帘、扫地机器人、智能摄像机等。
[0051]
在介绍了本技术涉及的技术用语后，接下来，对本技术实施例的应用场景和设计思想进行简单介绍。
[0052]
目前的支撑pin的检测损伤方法，大多数都是通过镜头对焦来获取支撑pin的实际高度，然后再基于支撑pin的实际高度判断支撑pin是否出现损伤，然而，在一些镜头与pin点位无交互的设备中，无法通过镜头对焦的方法获取支撑pin高度，即无法实现对支撑pin的损伤检测。
[0053]
为此，本技术实施例中，参阅图1所示，通过使用激光测距的方法获得发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，再基于发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离判断支撑pin是否发生损伤。这样，无需依赖移动镜头即可实现测量支撑pin高度，不仅可以实现在镜头与pin点位无交互的设备中进行支撑pin损伤的检测，而且检测到的支撑pin高非常精准，能够准确地完成对支撑pin损伤检测，应用范围广，检测精度高。
[0054]
在介绍了本技术实施例的应用场景和设计思想之后，下面对本技术实施例提供的技术方案进行详细说明。
[0055]
本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测方法，应用于检测设备，其中，检测设备包括激光测距仪，激光测距仪包括发射部件a、接收部件c，发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的距离为预设值x，参阅图2、图3所示，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法的概况流程如下：
[0056]
步骤301：通过发射部件a发射光线扫描支撑pin b。其中，支撑pin b位于发送部件a和接收部件c之间的一侧，发射部件a发射的光线通过支撑pin b反射，由接收部件c接收。
[0057]
在本技术实施例中，为了实现检测光路的完整映射及采集，支撑pin b位于发送部件a和接收部件c的一侧，通过发射部件a发射光线扫描支撑pin b表面上各个检测点的点位坐标，使各个反射光线通过各自对应的坐标点位反射后，由接收部件c接收。在本技术实施例中，该发射部件a可以为红外发射器，接收部件c可以为检测器(charge coupled device，ccd)。
[0058]
在具体实施时，通过红外发射器发射光线分别扫描支撑pin表面上的各个检测点的坐标点位，使各个反射光线通过各自对应坐标点位反射后，由ccd检测器接收各个反射光线，以此实现各个坐标点位的反射线收集。
[0059]
在一些实施例中，通过发射部件a发射光线扫描支撑pin之前，还包括：基于检测设备的信号灯，确定支撑pin对应的设备中无玻璃基板。
[0060]
在具体实施时，为了确保每次支撑pin b损伤检测的精准度，可以通过检测设备连接的软件进行支撑pin损伤仿真模拟，基于检测设备的信号灯，使设置的测距仪的时间步长满足下述预设条件(1)，从而避免因检测光路被干扰、支撑pin b下降等情况的发生，导致检测结果不准确。
[0061]
预设条件(1)：确保在预设的时间节点对设备中的支撑pin进行损伤检测时，智能设备的内部无玻璃基板在进行测试。
[0062]
首先，在检测设备连接的软件支撑pin损伤界面中执行仿真接口调用操作，调用仿真接口对该支撑pin进行仿真实验，其次，通过检测设备连接的软件记录仿真实验数据，其中，仿真实验数据包括检测设备的ready to load信号灯亮起时的时间节点，最后，基于仿
真实验数据确定并设置激光测距仪的时间步长及各个时间检测节点，控制激光测距仪在对应的时间检测节点执行测距操作。
[0063]
步骤302：确定接收部件c接收到的光线与接收部件的基准点c01之间的水平偏移量l。
[0064]
在具体实施时，通过发射部件a发射光线分别扫描支撑pin b表面上各个监测点的坐标点位，接收部件c接收各个由发射部件a发射的经过各对应坐标点位反射的光线后，分别获取接收部件c接收到的各个光线与接收部件的基准点c01之间对应的多个水平偏移量[l1、l2、l3……
lm]。
[0065]
步骤303：基于水平偏移量l、预设值x以及几何关系，确定发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的连线与支撑pin b的垂直距离，垂直距离用于指示激光测距仪与支撑pin b的检测距离hn。
[0066]
在具体实施时，为了保证支撑pin损伤检测的精准度，可以基于接收部件c接收的各个由发射部件a发射的经过各对应坐标点位反射的光线后，接收部件c接收到的各个光线与接收部件的基准点c01之间对应的多个水平偏移量[l1、l2、l3……
lm]、发送部件的基准点101与接收部件的基准点c01的距离以及检测光路，水平偏移量l，发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的连线距离，接收部件的滤镜焦距f，激光测距仪与支撑pin b的距离hn之间形成的相似三角形几何关系，结合下述公式(1)，分别确定发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的连线与支撑pin b表面上各检测点对应的多个垂直距离[h1、h2、h3、
……hm
]。
[0067]hn
＝f
×
(l x)/2
×
l
……
公式(1)
[0068]
其中hm＝[h1、h2、h3、
……hm
],l＝[l1、l2、l3……
lm],hn表征发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的连线与支撑pin的垂直距离hn，f表征接收部件的滤镜焦距；x表征发送部件的基准点a01与接收部件的基准点c01的距离；l表征接收部件接收到的光线与接收部件的基准点之间的水平偏移量。
[0069]
在本技术实施例中，为了便于计算和数据的统计，可以将发送部件的基准点a01设为发送部件的中心点。同样的，将接收部件的基准点c01设为接收部件的中心点也可利于计算及数据的统计，再此不在赘述。
[0070]
步骤304：基于激光测距仪与支撑pin b的检测距离判断支撑pin b是否发生损伤。
[0071]
在具体实施时，首先，确定预设检测阈值、激光测距仪与支撑pin的预设基准距离；然后，基于激光测距仪与支撑pin的多个检测距离，结合下述公式(2)，判断支撑pin b是否发生损伤。当上述多个检测距离与预设基准距离的差值，均小于预设检测阈值时，则判断支撑pin b没有损伤；当上述多个检测距离与预设基准距离的差值中，存在大于或等于预设检测阈值的差值时，则判断支撑pin b损伤。
[0072][0073]
其中，hn＝[h1、h2、h3、
……hm
],hn表征激光测距仪与支撑pin b的检测距离；h0表征激光测距仪与支撑pin的预设基准距离；p表征预设检测阈值。
[0074]
在本技术实施例中，当检测设备检测出支撑pin b出现损伤时，会向与检测设备连
接的软件发送报警信息。
[0075]
在具体实施时，当与检测设备连接的软件接收到检测设备发送的报警信息后，会将软件端表征激光测距仪的标识信号灯设置为红色，并发出警报提醒用户更换支撑pin b。
[0076]
值得一提的是，本技术实施例中，为了实现在镜头与pin点位无交互的设备中对支撑pin损伤的精准检测，通过使用激光测距的方法获得发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin上各个离散点对应的垂直距离，并基于发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin各个离散点的垂直距离和预设基准距离之间的偏差向量同预设检测阈值的大小关系判断支撑pin是否发生损伤，应用范围广、检测精度高。
[0077]
下面采用“通过spii plus采用激光测距实现光学设备中支撑pin的损伤检测”为具体应用场景，对本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法作进一步详细说明，参阅图4所示，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法应用于检测设备，其中，检测设备包括激光测距仪，激光测距仪包括发射部件、接收部件，发送部件的基准点与接收部件的基准点的距离为预设值，具体流程如下：
[0078]
步骤401：通过spii plus设置激光测距仪的时间步长。
[0079]
在具体实施时，spii plus可以响应于支撑pin损伤检测触发操作，显示支撑pin损伤检测界面，并基于在支撑pin损伤检测界面中执行的用户操作，获得满足上述预设条件(1)的时间步长及各个时间检测节点。具体的，spii plus可以采用但不限于以下方式：
[0080]
第一种方式：spii plus基于在spii plus的支撑pin损伤界面中执行的输入操作，获得输入的时间步长为测距仪的时间步长，并基于输入的时间步长，确定支撑pin损伤预检测的时间节点。
[0081]
第二种方式：spii plus基于在spii plus的支撑pin损伤界面中执行的仿真接口调用操作，调用仿真接口对该支撑pin进行仿真实验，得到测距仪的时间步长及各个时间检测节点。
[0082]
步骤402：spii plus接收激光测距仪发送的测试请求，确定ready to load信号亮起后，向激光测距仪发送测距指令。
[0083]
在具体实施时，spii plus接收并读取测距仪发送的测试请求，并基于光学设备的工作状态，控制检测设备发出相应的指示信号。
[0084]
实际应用中，当spii plus检测出光学设备宕机或光学设备内有玻璃基板在进行测试时，spii plus将start possible/run信号灯设置为熄灭状态，此时，spii plus结束测距任务，并重新调整测距仪的时间步长，使设置的时间步长满足上述预设条件(1)后，向激光测距仪发送测试指令，并执行上述步骤302-304。
[0085]
实际应用中，当spii plus检测出光学设备上游有进片需求时，spii plus同时将start possible/run信号灯、discharge request信号灯设置为亮起状态，此时，spii plus结束测距任务，并重新调整测距仪的时间步长，使设置的时间步长满足上述预设条件(1)后，向激光测距仪发送测试指令，并执行上述步骤302-304。
[0086]
实际应用中，当spii plus检测出discharge request信号灯为熄灭状态、start possible/run信号灯为亮起状态，且光学设备机台内部有玻璃基板存在时，spii plus将load信号灯设置为亮起状态，此时，spii plus结束测距任务，并重新调整激光测距仪的时间步长，使设置的时间步长满足上述预设条件(1)后，向激光测距仪发送测试指令，并执行
上述步骤302-304。
[0087]
实际应用中，当spii plus检测出discharge request信号灯为熄灭状态、start possible/run信号灯为亮起状态，且光学设备机台内部无玻璃基板存在时，spii plus将ready to load信号灯设置为亮起状态，并向激光测距仪测距仪发送测试指令。
[0088]
步骤403：激光测距仪接收spii plus发送的测距指令，通过红外发射器发射光线扫描支撑pin上各个检测点的坐标点位。
[0089]
在具体实施时，为了映射完整的检测光路，将支撑pin设置于红外发射器和ccd检测器之间的一侧，通过支撑pin上各个检测点将红外发射器发射的光线反射到ccd检测器，以此实现检测光路的完整映射。
[0090]
步骤404：激光测距仪确定ccd检测器接收到的各个光线与ccd检测器的基准点之间的多个水平偏移量。
[0091]
步骤405:检测设备基于上述多个水平偏移量，结合上述公式(1)确定红外发射器的基准点与ccd检测器的基准点的连线与支撑pin上各检测点的多个垂直距离。
[0092]
步骤406：检测设备基于红外发射器的基准点与ccd检测器的基准点的连线与支撑pin上各检测点的多个垂直距离，结合上述公式(2)判断支撑pin是否发生损伤。
[0093]
步骤407：当检测设备检测出支撑pin发生损伤时，保存测试数据，并将报警信息发送给spii plus。
[0094]
步骤408：spii plus收到报警信息，将spii plus端表征激光测距仪的标识信号灯设置为红色，并发出警报。
[0095]
步骤409：当检测设备检测出支撑pin未发生损伤时，spii plus将spii plus端表征激光测距仪的标识信号灯设置为绿色。
[0096]
步骤410：当表征激光测距仪的标识信号灯为绿色时，基于获取的预设步长及时间节点，执行步骤402-步骤406。
[0097]
基于上述实施例，本技术实施例提供了一种支撑pin损伤检测装置，应用于检测设备，检测设备包括激光测距仪，激光测距仪包括发射部件、接收部件，发送部件的基准点与所述接收部件的基准点的距离为预设值，参阅图5所示，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测装置500至少包括：
[0098]
第一检测单元501，用于通过发射部件发射光线扫描支撑pin，支撑pin位于发送部件和接收部件之间的一侧，发射部件发射的光线通过支撑pin反射，由接收部件接收；确定接收部件接收到的光线与接收部件的基准点之间的水平偏移量。
[0099]
计算单元502，基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离，垂直距离用于指示激光测距仪与支撑pin的检测距离，发送部件的基准点与接收部件的基准点的距离为预设值。
[0100]
第二检测单元503，基于激光测距仪与支撑pin的检测距离判断支撑pin是否发生损伤。
[0101]
在一种可能的实施方式中，支撑pin损伤检测装置，还包括：
[0102]
报警单元504，用于当检测设备检测出支撑pin出现损伤时，向与检测设备连接的软件发出报警信息。
[0103]
在一种可能的实施方式中，在通过发射部件发射光线扫描所述支撑pin之前，第一
检测单元501，具体用于：
[0104]
基于检测设备的设备信号灯，确定支撑pin对应的设备中无玻璃基板
[0105]
在一种可能的实施方式中，基于水平偏移量、预设值以及几何关系，确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离时，计算单元502，具体用于：
[0106]
基于如下公式确定发送部件的基准点与接收部件的基准点的连线与支撑pin的垂直距离：
[0107]hn
＝f
×
(l x)/2
×
l
[0108]
其中，hn表征所述发送部件的基准点与所述接收部件的基准点的连线与所述支撑pin的垂直距离；f表征所述接收部件的滤镜焦距；x表征所述预设值；l表征所述水平偏移量。
[0109]
在一种可能的实施方式中，基于激光测距仪与支撑pin的检测距离判断支撑pin是否发生损伤时，第二检测单元503，具体用于：
[0110]
基于如下公式判断支撑pin是否发生损伤：
[0111][0112]
其中，hn表征激光测距仪与支撑pin的检测距离；h0表征激光测距仪与支撑pin的预设基准距离；p表征预设检测阈值；
[0113]
当检测距离与预设基准距离的差值小于预设检测阈值时，确定支撑pin无损伤；
[0114]
当检测距离与预设基准距离大于或等于预设检测阈值时，确定支撑pin损伤。
[0115]
需要说明的是，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测装置500解决技术问题的原理与本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法相似，因此，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测装置500的实施可以参见本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法的实施，重复之处不再赘述。
[0116]
在介绍了本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法和装置之后，接下来，对本技术实施例提供的支撑pin损伤检测设备进行简单介绍。
[0117]
参阅图6所示，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测设备600至少包括：处理器601、存储器602和存储在存储器602上并可在处理器601上运行的计算机程序，处理器601执行计算机程序时实现本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。
[0118]
需要说明的是，图6所示的支撑pin损伤检测设备600仅仅是一个示例，不应对本技术实施例的功能和使用范围带来任何限制。
[0119]
本技术实施例提供的支撑pin损伤检测设备600还可以包括连接不同组件(包括处理器601和存储器602)的总线603。其中，总线603表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线、外围总线、局域总线等。
[0120]
存储器602可以包括易失性存储器形式的可读介质，例如随机存储器(random access memory，ram)6021和/或高速缓存存储器6022，还可以进一步包括只读存储器(read only memory，rom)6023。
[0121]
存储器602还可以包括具有一组(至少一个)程序模块6024的程序工具6025，程序模块6024包括但不限于：操作子系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数
据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
[0122]
支撑pin损伤检测设备600也可以与一个或多个外部设备604(例如键盘、遥控器等)通信，还可以与一个或者多个使得用户能与支撑pin损伤检测设备600交互的设备通信(例如手机、电脑等)，和/或，与使得支撑pin损伤检测设备600与一个或多个其它支撑pin损伤检测设备600进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等)通信。这种通信可以通过输入/输出(input/output，i/o)接口605进行。并且，支撑pin损伤检测设备600还可以通过网络适配器606与一个或者多个网络(例如局域网(local area network，lan)，广域网(wide area network，wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图6所示，网络适配器606通过总线603与支撑pin损伤检测设备600的其它模块通信。应当理解，尽管图6中未示出，可以结合支撑pin损伤检测设备600使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理器、外部磁盘驱动阵列、磁盘阵列(redundant arrays of independent disks，raid)子系统、磁带驱动器以及数据备份存储子系统等。
[0123]
下面对本技术实施例提供的计算机可读存储介质进行介绍。本技术实施例提供的计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令被处理器执行时实现本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。具体地，该可执行程序可以内置或者安装在支撑pin损伤检测设备600中，这样，支撑pin损伤检测设备600就可以通过执行内置或者安装的可执行程序实现本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。
[0124]
此外，本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法还可以实现为一种程序产品，该程序产品包括程序代码，当该程序产品可以在支撑pin损伤检测设备600上运行时，该程序代码用于使支撑pin损伤检测设备600执行本技术实施例提供的支撑pin损伤检测方法。
[0125]
本技术实施例提供的程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合，其中，可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质，而可读存储介质可以是但不限于是电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合，具体地，可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、ram、rom、可擦式可编程只读存储器(erasable programmable read only memory，eprom)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(compact disc read-only memory，cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
[0126]
本技术实施例提供的程序产品可以采用cd-rom并包括程序代码，还可以在计算设备上运行。然而，本技术实施例提供的程序产品不限于此，在本技术实施例中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
[0127]
应当注意，尽管在上文详细描述中提及了装置的若干单元或子单元，但是这种划分仅仅是示例性的并非强制性的。实际上，根据本技术的实施方式，上文描述的两个或更多单元的特征和功能可以在一个单元中具体化。反之，上文描述的一个单元的特征和功能可以进一步划分为由多个单元来具体化。
[0128]
此外，尽管在附图中以特定顺序描述了本技术方法的操作，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些操作，或是必须执行全部所示的操作才能实现期望的结果。附加地或备选地，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，和/或将一个步骤分解为多个步骤执行。
[0129]
尽管已描述了本技术的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本技术范围的所有变更和修改。
[0130]
显然，本领域的技术人员可以对本技术实施例进行各种改动和变型而不脱离本技术实施例的精神和范围。这样，倘若本技术实施例的这些修改和变型属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本技术也意图包含这些改动和变型在内。