面板检测方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及面板检测技术领域，更具体地涉及一种面板检测方法、一种面板检测装置、一种电子设备及一种存储介质。


背景技术：

2.玻璃上的柔性电路板技术(fpc on glass，简称fog)是柔性电路板(fpc)直接绑定在玻璃板上的技术，广泛适用于液晶显示、电致发光技术等各种显示产品。fog制程将柔性电路板的电极对准玻璃板上的玻璃电极(bump)，以各向异性导电膜(anisotropic conductive film，简称acf)作为接合的介质材料，通过一定时间的高温高压实现柔性电路板上的电极与玻璃板上的玻璃电极的连接和导通。类似地，柔性基板上的芯片技术(ic on film，简称cof)产品是将半导体芯片直接封装在柔性基板(film)上，然后再将柔性基板的电极接合到玻璃板上的玻璃电极而形成的芯片封装产品，其制程也与fog类似。面板检测技术可以用于检测诸如柔性电路板的电极或柔性基板的电极(柔性电路板的电极或柔性基板的电极都可以认为是面板的核心电极)与玻璃板上的玻璃电极的连接和导通质量，以用于根据一定的标准判断面板的质量。
3.粒子压痕是面板绑定过程中的一个很重要的检测指标。由于面板的电极材质是柔性的，在绑定过程中可能出现涨缩或者翘曲。并且每一个电极都可能出现压合偏移的情况，导致面板失效。
4.现有技术中，通常采用间接方式测量面板电极的压合偏移情况，以检测核心电极与玻璃电极是否连接和/或导通。这种方式受粒子随机分布等影响而存在一定漏检的风险，进而影响面板检测结果的准确性。进一步地，基于准确性较低的面板检测结果可能会增加后续工段中物料和工时的浪费，降低了面板产品的良率。


技术实现要素：

5.考虑到上述问题而提出了本发明。根据本发明一个方面，提供了一种面板检测方法，方法包括：
6.获取待检测面板的图像；
7.在待检测面板的图像中，针对待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对，执行如下检测步骤以确定待检测面板是否合格，其中，电极对中的玻璃电极和核心电极接合：
8.识别电极对中的玻璃电极和核心电极；
9.确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置；
10.根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
11.示例性地，确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置，包括：
12.确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标
数值，并确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值；
13.根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量，包括：
14.计算第一点的横坐标数值与第二点的横坐标数值之间的差值，以作为粒子横向偏移量。
15.示例性地，确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值，包括：
16.确定一者的左边缘和右边缘；
17.根据一者的左边缘和右边缘，确定一者的宽度；
18.根据一者的左边缘或右边缘的位置以及一者的宽度，确定一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值；并且
19.确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值，包括：
20.确定另一者的左边缘和右边缘；
21.根据另一者的左边缘和右边缘，确定另一者的宽度；
22.根据另一者的左边缘或右边缘的位置以及另一者的宽度，确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值。
23.示例性地，第一点和第二点中的一个点在对应的电极上不可见，第一点和第二点中的另一个点在对应的电极上可见；
24.对于该不可见的点所对应的电极，根据该电极的左边缘或右边缘的位置以及该电极的宽度，确定该电极的纵向中心线上的不可见的点的横坐标数值，包括：
25.确定该电极的左边缘或右边缘所在直线；
26.在所确定的直线上确定参考点，参考点的纵坐标数值等于可见的点的纵坐标值；
27.根据参考点的横坐标数值和该电极的宽度，确定该电极的纵向中心线上的不可见的点的横坐标数值。
28.示例性地，检测步骤遍历待检测面板的所有电极对来执行。
29.根据本发明另一方面，提供了一种面板检测装置，装置包括：
30.获取模块，用于获取待检测面板的图像；
31.检测模块，用于在待检测面板的图像中，针对待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对，执行如下检测操作以确定待检测面板是否合格，其中，电极对中的玻璃电极和核心电极接合：
32.识别电极对中的玻璃电极和核心电极，并对应确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置；
33.根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
34.示例性地，获取待检测面板的图像包括：
35.在相对设置的第一光源和第二光源同时垂直照射待检测面板的情况下，对待检测面板进行成像，以生成待检测面板的图像。
36.示例性地，其中第一光源和/或第二光源是发射平行光的点光源。
37.根据本发明又一方面，提供了一种电子设备，包括图像采集装置、处理器和存储器，其中，图像采集装置用于获取待检测面板的图像，存储器中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器运行时用于执行上述的面板检测方法。
38.根据本发明再一方面，提供了一种存储介质，在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行上述的面板检测方法。
39.根据上述技术方案，可以直接根据相接合的两个电极的横向中心位置间的距离偏差确定粒子横向偏移量以确定面板是否合格。该技术方案相对于传统的间接测量方式更简单易操作，且漏检风险更低。同时上述技术方案中的测量方式不受粒子分布不均匀的影响，提高了面板检测结果的准确性。基于准确的面板检测结果可以及时排出面板中的不合格物料，避免给后续工段带来物料和工时的浪费，提高了面板产品的良率
40.上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
41.通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
42.图1示出了根据本发明实施例的面板检测方法的示意性流程图；
43.图2示出了根据本发明实施例的针对待检测面板的电极对的检测步骤的示意性流程图；
44.图3示出了根据本发明实施例的面板检测系统的局部示意图；
45.图4示出了根据本发明实施例的待检测面板的图像的局部示意图；
46.图5示出了根据本发明实施例的待检测面板的一个电极对的简化示意图；
47.图6示出了根据本发明实施例的待检测面板的另一个电极对的简化示意图；
48.图7示出了根据本发明实施例的面板检测装置的示意图；
49.图8示出了根据本发明实施例的电子设备的示意图。
具体实施方式
50.为了使得本发明的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照附图详细描述根据本发明的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是本发明的全部实施例，应理解，本发明不受这里描述的示例实施例的限制。基于本发明中描述的本发明实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本发明的保护范围之内。
51.根据本发明的一个实施例，提供了一种面板检测方法。该面板检测方法通过直接确定待检测面板的玻璃电极和核心电极之间的偏移量来确定待检测面板是否合格。下面参考图1和图2来描述本发明实施例的面板检测方法100。如图1所示，面板检测方法100包括如
下步骤。
52.步骤s110，获取待检测面板的图像。
53.在一个具体的实施例中，待检测面板可以是基于fog技术的面板和基于cof技术的面板等。
54.待检测面板的图像可以是由如图3所示面板检测系统300中的图像采集装置直接采集到的原始图像，也可以是对原始图像进行预处理之后获得的图像。该预处理操作可以包括为了更清楚地进行面板检测的所有操作。例如，预处理操作可以包括滤波等去噪操作。该图像可以包含待检测面板中的全部或部分电极。
55.步骤s120，在待检测面板的图像中，针对待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对，执行如图2所示的检测步骤s121至s123以确定待检测面板是否合格。
56.可以理解，面板通常是包括芯片电路的核心部分绑定到玻璃基板上形成的。该玻璃基板上的电极称为玻璃电极。核心部分的电极称为核心电极。如前所述，待检测面板可以是基于fog技术的面板。对于这种情况，其核心电极是柔性电路板电极。待检测面板还可以是基于cof技术的面板。对于这种情况，其核心电极是封装了半导体芯片的柔性基板的电极。在一个待检测面板上，通常包括多个玻璃电极和多个核心电极。一个玻璃电极通常与一个核心电极例如通过acf接合在一起，由此，在待检测面板的图像中，玻璃电极和核心电极一一对应。可以认为彼此对应的玻璃电极和核心电极组成一个电极对。
57.图4示出了根据本发明一个实施例中的待检测面板的图像。图4所示的图像可以为由图3所示出的面板检测系统300采集到的待检测面板的图像。在待检测面板图像中包括多个由玻璃电极和核心电极组成的电极对，其中401为一个电极对中的核心电极，402为该电极对中的玻璃电极，403与404分别为另一个电极对中的核心电极和玻璃电极。由于核心电极和玻璃电极相接合，所以核心电极在接合区域内被玻璃电极所覆盖，在图4中未示出。
58.参考图4，玻璃电极和核心电极组成的电极对是横向排列的。而玻璃电极和核心电极在横向上的宽度较小。所以，在本技术的实施例中，关注玻璃电极和核心电极的横向偏移，其相对于玻璃电极和核心电极的纵向偏移对面板的质量影响更大。在该步骤s120中，可以直接检测电极对中的玻璃电极和核心电极之间的横向偏移，由于二者之间接合区域存在有效的acf粒子(可以理解为在接合区域acf粒子才会真正发挥其作用，通过二者的接合形成粒子压痕)，所以电极对中的电极之间的横向偏移能够一定程度上表示电极之间的acf粒子的横向偏移。而有效的acf粒子才能够提供良好的导电性，所以根据粒子横向偏移能够检测电极的导电性。
59.示例性地，对于一个电极对，如果该电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量超出特定偏移阈值，则认为对面板质量有负面影响，可以进而确定待检测面板不合格。反之，如果该电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量小于或等于特定偏移阈值，可以确定待检测面板合格。
60.如图2所示，步骤s120可以包括步骤s121至步骤s123。下面对步骤s121至步骤s123进行详细描述。
61.步骤s121，在待检测面板的图像中，识别电极对中的玻璃电极和核心电极。
62.如图4所示，玻璃电极在图像中灰度值较小，电极以外的背景区域在图像中灰度值较大，而核心电极在图像中灰度值居中。可以根据该灰度值规律，对待检测面板的图像进行
图像分割，从而识别电极对中的玻璃电极和核心电极。
63.又可选地，可以响应于用户的操作，在待检测面板的图像中识别电极对中的玻璃电极和核心电极。比如，可以响应于用户发起的鼠标事件或键盘事件，来确定玻璃电极和/或核心电极的边缘，从而识别玻璃电极和/或核心电极。例如，可以响应于用户利用鼠标拖拽图像上的光标的事件，根据光标拖拽的位置，确定玻璃电极和/或核心电极的边缘。当然，也可以根据其他操作中已经获取到的玻璃电极和核心电极的边界坐标来确定玻璃电极和/或核心电极的边缘，从而识别玻璃电极和/或核心电极。这里的其他操作可以是对面板的其他指标进行检测，而检测过程中需要用到玻璃电极和核心电极的边界坐标，这样会对玻璃电极和核心电极的边界坐标进行存储，从而可以用于本发明中玻璃电极和/或核心电极的识别。
64.步骤s122，确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置。
65.在通过步骤s122识别了玻璃电极和核心电极之后，其位置可以确定，进而可以分别确定其边缘，也即每个电极的左边缘和右边缘。横向中心位置是指电极上的左、右边缘的中心的位置。所有横向中心位置上的点构成电极的纵向中心线，该中心线大体是纵向延伸的。该横向中心位置可以表示电极在横向上的位置。
66.可以理解，在本技术中，对于上述步骤s121和步骤s122，玻璃电极和核心电极的识别顺序不做限定，可以以任意期望的顺序。
67.步骤s123，根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
68.示例性地，由步骤s122可以得到一个电极对中的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置。基于玻璃电极和核心电极的横向中心位置之间的偏差，即可确定二者之间的横向偏移量。该横向偏移量与相关的两个电极的宽度无关，而仅与电极在横向上的位置有关。该横向偏移量为0，则表示相关的两个电极在横向上是对准的，其接合区域是最大的。该横向偏移量越大，则相关的两个电极在横向上偏差越大，接合区域可能越小。由于接合区域分布着有效的acf粒子，因此求得的一个电极对中的玻璃电极和核心电极之间的横向偏移量在一定程度上表示该电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。如前所述，可以根据该粒子横向偏移量确定待检测面板是否合格。
69.示例性地，该检测步骤s120遍历待检测面板的所有电极对来执行。待检测面板中包含有多个电极对，可以一一确定出每个电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量，直至完成整个待检测面板中的所有电极对的检测，以确定待检测面板是否合格。例如，可以根据每个电极对的横向偏移量，确定所有电极对中横向偏移量均小于或等于偏移阈值的电极对的比例，当该比例超出比例阈值时，确定待检测面板合格。该比例例如90％至100％之间的任意值。
70.该技术方案中，根据所有电极对的粒子偏移量来确定待检测面板的质量，检测结果更加准确。
71.根据上述技术方案，可以直接根据相接合的两个电极的横向中心位置间的距离偏差确定粒子横向偏移量以确定面板是否合格。该技术方案相对于传统的间接测量方式更简单易操作，且漏检风险更低。同时上述技术方案中的测量方式不受粒子分布不均匀的影响，提高了面板检测结果的准确性。基于准确的面板检测结果可以及时排出面板中的不合格物
料，避免给后续工段带来物料和工时的浪费，提高了面板产品的良率。
72.示例性地，为了能清楚地对待检测面板成像，可以通过面板检测系统中的摄像头等图像采集装置，如dic相机，拍摄获取待检测面板的图像。在拍摄时，可以利用一个或多个光源照射待检测面板，以生成其图像。可选地，在相对设置的第一光源和第二光源同时垂直照射待检测面板的情况下，对待检测面板进行成像，以生成待检测面板的图像。该示例中，拍摄的光源包括第一光源和第二光源，且第一光源和第二光源所发出的光是相对的，并且同时垂直照射待检测面板。
73.图3示出了根据本发明一个实施例的面板检测系统300的局部的示意图。如图所示，第一光源310与第二光源320相对设置。第一光源310所发出的光由上而下垂直打到待检测面板330上，而第二光源320发出的光经过镜面反射由下而上垂直打到待检测面板330上。由此，图像采集装置中用于拍摄待检测面板的光路是准直的。
74.在上述方案中，利用两个光源同时垂直地照射待检测面板，能够获取更清晰的待检测面板的图像。特别是对于本技术的上述技术方案，由于需要分别识别玻璃电极和核心电极二者，所以采用上述获取待检测面板的图像的方式能够保证图像中的玻璃电极和核心电极不仅能够被顺利拍摄到，而且能够较清晰地成像。由此保证了待检测面板的检测质量。
75.示例性地，第一光源310和/或第二光源320是发射平行光的点光源。采用发射平行光的点光源所发出的光垂直照射到待检测面板上，有助于避免斜打光造成的物像重影，进一步提高待检测面板的图像的准确性。
76.示例性地，参考图5进一步阐述上述步骤s122和步骤s123。图5示出了一个实施例的通过步骤s121识别到的待检测面板中的一个电极对的简化图形，其中上面的矩形表示核心电极，下面的矩形表示玻璃电极。为了描述方案，示出了玻璃电极与核心电极相结合的区域，本领域技术人员可以理解，在面板的图像中，该部分仅示出为玻璃电极，核心电极是不可见的。
77.示例性地，在待检测面板的图像中，基于预先的定位标识，例如图像的左上角，建立直角坐标系。可以基于该直角坐标系确定玻璃电极和核心电极的横向中心位置。图5所示的电极对是横向排列的电极对之一，如图5所示，可以设定电极对的排列方向(横向)为直角坐标系的x轴的方向，进而确定与电极对的排列方向垂直的方向(纵向)为y轴的方向。
78.示例性地，玻璃电极和核心电极的横向中心位置可以通过玻璃电极和核心电极的纵向中心线来获取。具体地，步骤s122可以包括，确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值，以表示该一者的横向中心位置；并且，确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值，以表示该另一者的横向中心位置。可以理解，可以先针对玻璃电极执行上述操作，也可以先针对核心电极执行上述操作，对此可以不做限定。步骤s123根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量，可以包括：计算第一点的横坐标数值与第二点的横坐标数值之间的差值，以作为粒子横向偏移量。
79.如图5所示，玻璃电极的纵向中心线b为玻璃电极的沿纵向延伸的中心线，核心电极的纵向中心线a为核心电极的沿纵向延伸的中心线。在待检测面板的图像中，电极的纵向中心线的方向通常与所在电极的左、右边缘线的方向一致。且玻璃电极的纵向中心线与核心电极的纵向中心线平行。
80.示例性地，在图5示出的电极对中，在核心电极的纵向中心线a上取一点o，由于o点至核心电极左边缘的横向距离与o点至核心电极右边缘的横向距离相等，因此o点的位置可以代表该电极对中核心电极的横向中心位置。同理，在玻璃电极的纵向中心线b上取一点o1，o1的位置可以代表该电极对中玻璃电极的横向中心位置。
81.示例性地，由前述建立的直角坐标系，可以得到图5示出的电极对中核心电极的横向中心位置点o点的横坐标值xo和玻璃电极的横向中心点o1点的横坐标值x
o1
。计算xo与x
o1
的差值x
o-x
o1
。该差值x
o-x
o1
可以表示该电极对中玻璃电极和核心电极的横向中心位置之间的横向偏移量，在一定程度上表示该电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。如前所述，可以根据该粒子横向偏移量确定待检测面板是否合格。
82.可以理解，o点与o1点的横坐标值的差值可以是正或者负，代表电极对中粒子的偏移方向不同。例如，对于图5示出的电极对的玻璃电极和核心电极，差值x
o-x
o1
为负值，代表该电极对中的核心电极相对于玻璃电极向x轴的负向偏移。相反地，如果对于电极对的玻璃电极和核心电极，差值x
o-x
o1
为正值，则代表该电极对中的核心电极相对于玻璃电极向x轴的正向偏移。
83.通过上述技术方案，针对识别后的待检测面板的图像，通过求得每个电极对中核心电极的纵向中心线上的一点与玻璃电极的纵向中心线的一点的横坐标数值的差值，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。将两个电极之间的粒子横向偏移量最终转化为仅需求得两点之间的横坐标的差值。此种方法简单，运行成本低，且更能直观地反应面板检测的质量，提高面板检测的效率。
84.示例性地，前述确定识别出的玻璃电极和核心电极中的一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值，包括以下步骤：步骤s1221，确定该一者的左边缘和右边缘；步骤s1222，根据该一者的左边缘和右边缘，确定该一者的宽度；步骤s1223，根据该一者的左边缘或右边缘的位置以及该一者的宽度，确定该一者的纵向中心线上的第一点的横坐标数值。类似地，前述确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值，包括：步骤s1224，确定该另一者的左边缘和右边缘；步骤s1225，根据该另一者的左边缘和右边缘，确定该另一者的宽度；步骤s1226，根据该另一者的左边缘或右边缘的位置以及该另一者的宽度，确定识别出的玻璃电极和核心电极中的另一者的纵向中心线上的第二点的横坐标数值。
85.示例性地，再次参考图5，首先，可以确定玻璃电极的左边缘上的一点p，然后确定玻璃电极右边缘线上的另一点q。根据点p与点q的横坐标值可以计算玻璃电极的宽度m，且m＝|x
p-xq|。其中，x
p
为点p的横坐标数值，xq为点q的横坐标数值。根据点p或点q的横坐标值以及m，即可确定第一点o1的横坐标数值，例如，x
o1
＝x
p
m/2。可以理解，上述方案中，点p与点q的纵坐标可以相同，也可以不同。
86.类似地，可以参考上述获取玻璃电极纵向中心线上一点的方法确定图5所示的电极对中核心电极纵向中心线a上的一点o的横坐标数值xo。
87.上述技术方案中，通过确定电极的边缘，进而确定电极的宽度，最后基于边缘和宽度即可通过加载简单的数学运算确定电极的纵向中心线上的点的横坐标数值。方法直观、准确且流程简单，可操作性强，与传统的面板检测技术相比更简便，大大节约了检测的技术成本。
88.示例性地，在面板的制作过程中，由于产品需求的不同或者制作过程中的各向异性等原因，待检测面板的电极对在坐标系中的方向可以存在一定的差异性。图6示出了待检测面板中的另一个电极对的简化示意图。电极对的延伸方向并不都完全垂直于电极对的排列方向。为了保证面板检测的准确性，可以分别获取核心电极和玻璃电极的纵向中心线上的、具有同一纵坐标值的点的横坐标值，并通过计算两个点的横坐标值的差值来获取电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。可以理解，在一个电极对中，上述获取的同一纵坐标下的玻璃电极的纵向中心线上的点与核心电极的纵向中心线上的点中，在对应的电极上一者可见，而另一者不可见。参考图6，核心电极的纵向中心线上的点o2在该核心电极上是可见的，而玻璃电极的纵向中心线上的点o3位于该玻璃电极之外，其在该玻璃电极上是不可见的。可以理解，如果玻璃电极的纵向中心线上的点o5(未示出)在该玻璃电极上可见，由于在待检测面板的图像中玻璃电极遮住了核心电极，与该点o5纵坐标值相同的核心电极的纵向中心线上的点o4(未示出)在该核心电极上是不可见的。
89.示例性地，可以根据上述获取如图5所示的电极对中的核心电极的纵向中心线上一点的横坐标数值的方法，获取图6示出的电极对中的核心电极的纵向中心线上的点o2(x
o2
，y
o2
)。
90.示例性而非限制性地，对于玻璃电极的纵向中心线上的点o3，根据玻璃电极的左边缘或右边缘的位置以及该电极的宽度m1确定其纵向中心线上的与o2点纵坐标值相同的一点，可以包括以下步骤。确定玻璃电极的左边缘或右边缘所在直线。如图6所示，在该实施例中，确定玻璃电极的左边缘的所在直线l。在直线l上取一点p1作为参考点，该点p1的纵坐标值等于点o2的纵坐标值y
o2
。可以根据参考点p1的横坐标数值和玻璃电极的宽度m1，确定该电极的纵向中心线上的不可见的点o3的横坐标数值。可以过参考点p1作一条平行于x轴的直线，并在该直线上确定一点o3，其中p1点与o3点之间的距离等于m1/2，且点o3在p1的右侧，由此即可确定点o3的横坐标数值x
o3
。
91.进一步地，可以计算点o2与点o3的横坐标数值之间的差值x
o2-x
o3
，差值x
o2-x
o3
可以表示图6示出的电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
92.上述技术方案考虑到了电极对在待检测面板中的多种形态，确定电极对中同一纵坐标下的玻璃电极和核心电极的横向中心位置点，进一步确定核心电极与玻璃电极之间的粒子横向偏移量。该技术方案在保证面板检测质量的基础上，考虑到了面板制程的不稳定因素，适用性更强，使得面板检测更合理，进一步减少了物料的浪费。
93.根据本发明的另一方面，还提供了一种面板检测装置。图7示出了根据本发明实施例的面板检测装置700的示意性框图。如图7所示，该装置700包括获取模块710和检测模块720。其中，获取模块710用于获取待检测面板的图像；检测模块720用于在待检测面板的图像中，针对待检测面板的玻璃电极和核心电极组成的电极对，执行如下检测操作以确定待检测面板是否合格，其中，电极对中的玻璃电极和核心电极接合：识别电极对中的玻璃电极和核心电极，并对应确定识别出的玻璃电极和核心电极的横向中心位置；根据确定出的玻璃电极和核心电极各自的横向中心位置，确定电极对中的玻璃电极和核心电极之间的粒子横向偏移量。
94.根据本发明的又一方面，还提供了一种电子设备。图8示出了根据本发明实施例的电子设备800的示意性框图。如图8所示，该电子设备800包括图像采集装置810、处理器820
和存储器830。其中，图像采集装置810用于获取待检测面板的图像，存储器830中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器820运行时用于执行本发明实施例的面板检测方法。
95.根据本发明的再一方面，还提供了一种存储介质，在存储介质上存储了程序指令，程序指令在运行时用于执行本发明实施例的面板检测方法。所述存储介质例如可以包括平板电脑的存储部件、个人计算机的硬盘、只读存储器(rom)、可擦除可编程只读存储器(eprom)、便携式紧致盘只读存储器(cd-rom)、usb存储器、或者上述存储介质的任意组合。所述计算机可读存储介质可以是一个或多个计算机可读存储介质的任意组合。
96.本领域普通技术人员通过阅读上述有关面板检测方法的相关描述，可以理解上述面板检测装置、电子设备和存储介质的具体实现方案，为了简洁，在此不再赘述。
97.尽管这里已经参考附图描述了示例实施例，应理解上述示例实施例仅仅是示例性的，并且不意图将本发明的范围限制于此。本领域普通技术人员可以在其中进行各种改变和修改，而不偏离本发明的范围和精神。所有这些改变和修改意在被包括在所附权利要求所要求的本发明的范围之内。
98.本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
99.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个设备，或一些特征可以忽略，或不执行。
100.在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
101.类似地，应当理解，为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该本发明的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如相应的权利要求书所反映的那样，其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
102.本领域的技术人员可以理解，除了特征之间相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
103.此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的
范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
104.本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(dsp)来实现根据本发明实施例的面板检测装置中的一些模块的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。
105.应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
106.以上所述，仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。