体模以及荧光检测装置的制作方法

本发明涉及取得荧光的装置的试验。

背景技术

以往，已知含有荧光色素的荧光体模(phantom)(参照专利文献1的摘要)。另外，还已知荧光测定装置的校正(参照专利文献2～5)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-96920号公报

专利文献2：日本特表2009-540327号公报

专利文献3：日本特开2007-212478号公报

专利文献4：日本特开2016-29401号公报

专利文献5：日本特开2011-17721号公报

技术实现要素：

发明要解决的课题

然而，根据上述那样的现有技术，荧光体模的荧光色素会经年劣化。

因此，本发明的课题在于，在对取得荧光的装置进行试验时，不易受到经年劣化的影响。

用于解决课题的手段

本发明所涉及的体模构成为，具备：电信号输出部，其接受激励光，并输出与该激励光的强度对应的电信号；以及响应光产生部，其接受所述电信号，并产生与所述电信号对应的响应光，所述响应光的波长与荧光体接受所述激励光而产生的荧光的波长相等。

根据如上述那样构成的体模，电信号输出部接受激励光，输出与该激励光的强度对应的电信号。响应光产生部接受所述电信号，产生与所述电信号对应的响应光。所述响应光的波长与荧光体接受所述激励光而产生的荧光的波长相等。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述电信号输出部具有光传感器，所述响应光产生部具有电子电路元件。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述光传感器是光电二极管，所述电子电路元件是LED。

另外，在本发明的体模也可以构成为，所述电信号是电流信号，所述响应光产生部具有：电压转换部，其将所述电信号转换为电压信号；以及驱动部，其根据所述电压信号来驱动所述电子电路元件。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述电信号是电压信号，所述响应光产生部具有基于所述电压信号来驱动所述电子电路元件的驱动部。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述电信号是数字信号，所述体模具有基于所述数字信号来驱动所述电子电路元件的驱动部。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部具有：白色光源，其产生白色光；以及滤光器，其接受所述白色光，使预定波长的光透过，并作为所述响应光而输出。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部具有：光源，其产生预定波长的光；以及减光部，其接受所述预定波长的光并使其衰减，作为所述响应光而输出。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部具有：光源，其产生预定波长的光；以及光圈部，其接受所述预定波长的光，进行缩小，并作为所述响应光而输出。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部具有：光源，其产生预定波长的光；以及扩散部，其接受所述预定波长的光并使其扩散，作为所述响应光而输出。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部在基于所述电信号判定为所述激励光的强度超过预定的强度的情况下，产生所述响应光。

此外，本发明的体模也可以构成为，具备判定光产生部，该判定光产生部在基于所述电信号判定为所述激励光的强度超过预定的强度的情况下，产生与所述响应光不同的判定光。

另外，本发明的体模也可以构成为，所述响应光产生部基于所述荧光的强度与所述激励光的强度之比，变更所述响应光的强度。

此外，本发明的体模也可以构成为，所述体模具备基于所述电信号输出所述激励光的强度的激励光强度输出部。

本发明的荧光检测装置射出激励光，检测荧光体接受所述激励光而产生的荧光，构成为具备强度校正部，该强度校正部根据从本发明的体模接受的所述激励光的强度，校正所述激励光的强度。

附图说明

图1是表示第一实施方式的体模1的结构的图。

图2是表示第一实施方式的变形例1的体模1的结构的图。

图3是表示第一实施方式的变形例2的体模1的结构的图。

图4是表示第二实施方式的体模1的结构的图。

图5是表示第三实施方式的体模1的结构的图。

图6是表示第四实施方式的体模1的结构的图。

图7是表示第五实施方式的体模1的结构的图。

图8是表示第六实施方式的体模1的结构的图。

图9是表示第七实施方式的体模1的结构的图。

图10是表示第八实施方式的体模1的结构的图。

图11是表示第八实施方式的变形例的体模1的结构的图。

图12是表示第九实施方式的体模1的结构的图。

图13是表示第九实施方式的变形例的体模1的结构的图。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

第一实施方式

图1是表示第一实施方式的体模1的结构的图。第一实施方式的体模1从荧光检测装置8接受激励光。

荧光检测装置8向荧光体射出激励光。荧光体中存在荧光物质。荧光体若接受激励光，则产生荧光。荧光检测装置8从荧光体接受荧光并进行检测。荧光体例如为前哨淋巴结(Sentinel lymph node)。荧光物质例如为ICG(Indocyanine green，吲哚菁绿)，除此之外，还可以考虑荧光素或氨基乙酰丙酸盐。当然，荧光体和荧光物质也可以考虑其他各种公知的荧光体和荧光物质。

另外，由荧光物质决定激励光的波长和荧光的波长。例如，在荧光物质为ICG的情况下，激励光的波长为785nm，荧光的波长为805nm附近。例如，在荧光物质为荧光素的情况下，激励光的波长为494nm，荧光的波长为521nm附近。例如，在荧光物质为氨基乙酰丙酸盐的情况下，激励光的波长为400～410nm，荧光的波长为635nm附近。

当体模1从荧光检测装置8接受激励光时，产生与荧光的波长相等的响应光。通过观察荧光检测装置8接收到响应光时的动作，能够进行荧光检测装置8的试验。

例如，若荧光检测装置8向体模1射出了激励光的情况下的动作与荧光检测装置8向荧光体射出了激励光的情况相同，则能够判断为荧光检测装置8正常地动作。例如，若即使荧光检测装置8向体模1射出激励光也无法检测出响应光，则可知荧光检测装置8的激励光的射出功能或响应光的检测功能存在问题。

第一实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。

电信号输出部2接收激励光，输出与激励光的强度对应的电信号。电信号输出部2具有光衰减板22、光传感器24。光衰减板22使激励光衰减并提供给光传感器24。光传感器24经由光衰减板22接收激励光，并将激励光转换为电信号。其中，电信号是电流信号I。光传感器24例如是光电二极管。另外，也可以在光衰减板22与光传感器24之间配置带通滤光器(例如，荧光物质为荧光素或氨基乙酰丙酸盐的情况)。但是，也应考虑因激励光的强度而不需要光衰减板22的情况。

响应光产生部4接收电信号，产生与电信号对应的响应光。其中，响应光的波长与荧光的波长相等。响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46。电压转换部42将电信号(电流信号I)转换为电压信号V。驱动电路44基于电压信号V驱动电子电路元件46。电子电路元件46经由驱动电路44接收电压信号V，并将电压信号V转换为响应光。电子电路元件46例如是LED。

接着，对第一实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，并通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44提供给电子电路元件46。电子电路元件46射出响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第一实施方式，电信号输出部2以及响应光产生部4是使用了电信号的电子电路，因此与荧光色素(例如ICG)相比，不易受到经年劣化的影响。因此，根据第一实施方式，在对荧光检测装置8进行试验时，能够不易受到经年劣化的影响。

此外，在第一实施方式中，考虑以下那样的变形例。

变形例1

图2是表示第一实施方式的变形例1的体模1的结构的图。第一实施方式的变形例1将第一实施方式的光传感器24和电压转换部42置换为光传感器(电压输出)25和放大电路43。

光传感器(电压输出)25经由光衰减板22接收激励光，并将激励光转换为电信号。其中，电信号是电压信号V1。放大电路43将电压信号V1放大为电压信号V2。另外，驱动电路44根据电压信号V2对电子电路元件46进行驱动。在此，由于电压信号V2是基于电压信号V1的信号，因此驱动电路44基于电压信号V1来驱动电子电路元件46。

变形例2

图3是表示第一实施方式的变形例2的体模1的结构的图。第一实施方式的变形例2将第一实施方式的光传感器24替换为光传感器(数字输出)26。并且，第一实施方式的变形例2的体模1的响应光产生部4具有FPGA41、DAC(数模转换器)45、电子电路元件46。

光传感器(数字输出)26经由光衰减板22接收激励光，并将激励光转换为电信号。其中，电信号是数字信号。FPGA41以及DAC45基于数字信号来驱动电子电路元件46，起到与第一实施方式的驱动电路44相同的功能。FPGA41从光传感器(数字输出)26接收数字信号，输出相当于对第一实施方式的驱动电路44的输出进行数字转换而得到的信号。DAC45将FPGA41的输出(数字)转换为模拟，使其与第一实施方式的驱动电路44的输出相同，并提供给电子电路元件46。

第二实施方式

第二实施方式的体模1在具备白色光源47和带通滤光器48这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图4是表示第二实施方式的体模1的结构的图。第二实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第二实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、白色光源47、带通滤光器48。电压转换部42以及驱动电路44与第一实施方式相同，因此省略说明。白色光源47产生白色光。带通滤光器48接收白色光，使预定波长的光透过，作为响应光而输出。其中，预定的波长与荧光的波长相同。

接着，对第二实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，并通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44提供给白色光源47。从白色光源47射出白色光，通过带通滤光器48取出预定波长的光，成为响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第二实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，即使没有产生与荧光的波长相等的波长的光的光源(例如LED)，通过具备使与荧光的波长相等的波长的光透过的带通滤光器48，也能够从白色光中取出与荧光的波长相等的波长的光而生成响应光。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)以及变形例2(参照图3)中，同样也能够代替电子电路元件46而具备白色光源47以及带通滤光器48。

第三实施方式

第三实施方式的体模1在具备减光板(减光部)49a这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图5是表示第三实施方式的体模1的结构的图。第三实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第三实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46、减光板(减光部)49a。电压转换部42、驱动电路44以及电子电路元件46与第一实施方式相同，因此省略说明。其中，电子电路元件46是产生预定波长的光的光源。另外，预定的波长与荧光的波长相等。减光板(减光部)49a接受预定波长的光，使其衰减，作为响应光而输出。

接着，对第三实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，并通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44被提供给电子电路元件46。从电子电路元件46射出预定波长的光，通过减光板49a衰减，而成为响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第三实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，由于利用减光板49a使响应光衰减，因此能够进行设想了对荧光的输出小的荧光体使用荧光检测装置8的情况的试验。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)以及变形例2(参照图3)中，也同样能够在电子电路元件46的前方具备减光板(减光部)49a。

第四实施方式

第四实施方式的体模1在具备光圈部49b这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图6是表示第四实施方式的体模1的结构的图。第四实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第四实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46、光圈部49b。电压转换部42、驱动电路44以及电子电路元件46与第一实施方式相同，因此省略说明。其中，电子电路元件46是产生预定波长的光的光源。另外，预定的波长与荧光的波长相等。光圈部49b接收预定波长的光，进行缩小，作为响应光而输出。另外，光圈部49b例如是针孔或狭缝。

接着，对第四实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，并通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44提供给电子电路元件46。从电子电路元件46射出预定波长的光，通过光圈部49b被缩小，成为响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第四实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，由于利用光圈部49b来缩小响应光，因此能够进行设想了对较小的荧光体使用荧光检测装置8的情况的试验。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)以及变形例2(参照图3)中，同样也能够在电子电路元件46的前方具备光圈部49b。

第五实施方式

第五实施方式的体模1在具备扩散板(扩散部)49c这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图7是表示第五实施方式的体模1的结构的图。第五实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第五实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46、扩散板(扩散部)49c。电压转换部42、驱动电路44以及电子电路元件46与第一实施方式相同，因此省略说明。其中，电子电路元件46是产生预定波长的光的光源。另外，预定的波长与荧光的波长相等。扩散板49c接收预定波长的光，使其扩散，作为响应光而输出。

接着，对第五实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，并通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44被提供给电子电路元件46。从电子电路元件46射出预定波长的光，通过扩散板49c扩散，而成为响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第五实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，通过扩散板49c使响应光扩散，因此能够进行设想了对较大的荧光体使用荧光检测装置8的情况的试验。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)以及变形例2(参照图3)中，同样也能够在电子电路元件46的前方具备扩散板49c。

第六实施方式

第六实施方式的体模1在具备阈值记录部40a、比较器40b这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图8是表示第六实施方式的体模1的结构的图。第六实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第六实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46、阈值记录部40a、比较器40b。电压转换部42、驱动电路44以及电子电路元件46与第一实施方式相同，因此省略说明。

阈值记录部40a将激励光的强度为预定强度时的电压信号V的值记录为阈值。例如，在预定的强度为10mW时，在电压转换部42输出的电压信号V为1V的情况下，记录1V作为阈值。

比较器40b将电压转换部42输出的电压信号V与阈值记录部40a记录的阈值进行比较。并且，比较器40b在电压信号V超过阈值的情况下，将驱动信号V3提供给驱动电路44。另外，比较器40b在电压信号V小于阈值的情况下，不向驱动电路44提供信号。因此，在比较器40b基于电信号(电压信号V)判定为激励光的强度超过预定的强度的情况下(即，电压信号V超过阈值的情况下)，驱动信号V3被提供给驱动电路44，因此产生响应光。

另外，比较器40b配置在电压转换部42与驱动电路44之间。更详细而言，将比较器40b的输出端子与驱动电路44的输入端子连接，将比较器40b的输入端子与电压转换部42的输出端子以及阈值记录部40a连接。

接着，对第六实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V。电压信号V被提供给比较器40b，判定是否超过阈值。

如果判定为电压信号V超过阈值，则驱动信号V3经由驱动电路44被提供给电子电路元件46。电子电路元件46射出响应光。荧光检测装置8检测响应光。

另一方面，如果判定为电压信号V不超过阈值，则不对驱动电路44提供驱动信号V3，因此电子电路元件46不会射出响应光。

根据第六实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，在激励光的强度不足的情况下，不检测响应光，因此能够容易地判定激励光的强度不足。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)中，同样也能够具备阈值记录部40a以及比较器40b。在该情况下，比较器40b配置在放大电路43与驱动电路44之间。更详细而言，将比较器40b的输出端子与驱动电路44的输入端子连接，将比较器40b的输入端子与放大电路43的输出端子以及阈值记录部40a连接。阈值记录部40a将激励光的强度为预定的强度时的电压信号V2的值记录为阈值。

另外，在第一实施方式的变形例2(参照图3)中，也能够实现与第六实施方式同样的功能。在该情况下，在FPGA41中，将激励光的强度为预定的强度时的电信号(数字信号)的值记录为阈值。并且，FPGA41判定电信号(数字信号)是否超过阈值，若超过，则将电信号(数字信号)发送至DAC45，若未超过，则不将信号发送至DAC45。

第七实施方式

第七实施方式的体模1在具备判定光产生部5这一点上与第六实施方式的体模1不同。

图9是表示第七实施方式的体模1的结构的图。第七实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4、判定光产生部5。以下，对与第六实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第七实施方式的荧光检测装置8、电信号输出部2以及响应光产生部4与第六实施方式相同，因此省略说明。

判定光产生部5具有比较器50b、驱动电路54、电子电路元件56。

比较器50b将电压转换部42输出的电压信号V与阈值记录部40a记录的阈值进行比较。并且，比较器50b在电压信号V超过阈值的情况下，将驱动信号V4提供给驱动电路54。另外，比较器40b在电压信号V小于阈值的情况下，不向驱动电路54提供信号。

另外，比较器50b配置在电压转换部42与驱动电路54之间。更详细而言，将比较器50b的输出端子与驱动电路54的输入端子连接，将比较器50b的输入端子与电压转换部42的输出端子以及阈值记录部40a连接。

驱动电路54基于驱动信号V4驱动电子电路元件56。

电子电路元件56经由驱动电路54接收驱动信号V4，并将驱动信号V4转换为判定光。电子电路元件56例如是LED。

在比较器50b基于电信号(电压信号V)判定为激励光的强度超过预定的强度的情况下(即，电压信号V超过阈值的情况下)，将驱动信号V4提供给驱动电路54，因此电子电路元件56产生判定光。判定光是与响应光不同的光。

接着，对第七实施方式的动作进行说明。但是，省略与第六实施方式的动作相同的部分的说明。

将从电压转换部42输出的电压信号V提供给比较器50b，判定是否超过阈值。

如果判定为电压信号V超过阈值，则经由驱动电路54将驱动信号V4提供给电子电路元件56。电子电路元件56射出判定光。

另一方面，如果判定为电压信号V不超过阈值，则不对驱动电路54提供驱动信号V4，因此电子电路元件56不会射出判定光。

根据第七实施方式，起到与第六实施方式相同的效果。而且，在激励光的强度不足的情况下不射出判定光，因此能够容易地判定激励光的强度不足。

此外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)中，同样也能够具备阈值记录部40a、比较器50b、驱动电路54以及电子电路元件56。在该情况下，比较器50b配置在放大电路43与驱动电路54之间。更详细而言，将比较器50b的输出端子与驱动电路54的输入端子连接，将比较器50b的输入端子与放大电路43的输出端子以及阈值记录部40a连接。阈值记录部40a将激励光的强度为预定的强度时的电压信号V2的值记录为阈值。

另外，在第一实施方式的变形例2(参照图3)中，也能够实现与第七实施方式相同的功能。在该情况下，具备电子电路元件56，并且，在FPGA41中，将激励光的强度为预定的强度时的电信号(数字信号)的值记录为阈值。并且，FPGA41判定电信号(数字信号)是否超过阈值，若超过，则将电信号(数字信号)发送至判定光用DAC(配置于FPGA41与电子电路元件56之间，将FPGA41的数字输出转换为模拟并提供给电子电路元件56)，若未超过，则不将信号发送至判定光用DAC。

第八实施方式

第八实施方式的体模1在具备可变电阻42a这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图10是表示第八实施方式的体模1的结构的图。第八实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第八实施方式的荧光检测装置8和电信号输出部2与第一实施方式相同，因此省略说明。

响应光产生部4具有电压转换部42、可变电阻42a、驱动电路(驱动部)44、电子电路元件46。驱动电路44以及电子电路元件46与第一实施方式相同，因此省略说明。

电压转换部42与第一实施方式相同，例如是运算放大器，在输入侧的一端反转电信号(电流信号I)的正负而接受，输入侧的另一端接地。电压转换部42的输入侧的一端与输出侧通过可变电阻42a连接。通过使可变电阻42a的电阻变化，能够使电压信号V的值变化，进而能够变更响应光的强度。可变电阻42a的电阻基于荧光体所产生的荧光的强度与激励光的强度之比(即，灵敏度)来变更。因此，响应光的强度基于灵敏度而变更。

接着，对第八实施方式的动作进行说明。

体模1的电信号输出部2从荧光检测装置8接收激励光。激励光经由光衰减板22被提供给光传感器24，通过光传感器24转换为电信号(电流信号I)。电流信号I被提供给响应光产生部4。电流信号I通过电压转换部42转换为电压信号V，并经由驱动电路44被提供给电子电路元件46。其中，通过基于灵敏度使可变电阻42a的电阻变化，而能够使电压信号V的值(进一步，响应光的强度)变化。电子电路元件46射出响应光。荧光检测装置8检测响应光。

根据第八实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，通过基于荧光体的灵敏度使可变电阻42a的电阻变化，能够变更响应光的强度，因此能够进行设想了对各种灵敏度的荧光体使用荧光检测装置8的情况的试验。

此外，在第八实施方式中，考虑以下那样的变形例。

图11是表示第八实施方式的变形例的体模1的结构的图。第八实施方式的变形例不具备第八实施方式的可变电阻42a，将第八实施方式的驱动电路44置换为可变型驱动电路44a。可变型驱动电路44a能够基于荧光体的灵敏度使提供给电子电路元件46的驱动电压变化，由此能够使响应光的强度变化。

此外，将第八实施方式及其变形例的光传感器24以及电压转换部42置换为光传感器(电压输出)25以及放大电路43(参照第一实施方式的变形例1以及图2)也起到同样的效果。

此外，在第一实施方式的变形例2(参照图3)中，也能够实现与第八实施方式相同的功能。在该情况下，FPGA41基于荧光体的灵敏度使对于DAC45的输出变化。

第九实施方式

第九实施方式的体模1在具备激励光强度输出部6这一点上与第一实施方式的体模1不同。

图12是表示第九实施方式的体模1的结构的图。第九实施方式的体模1具备电信号输出部2、响应光产生部4、激励光强度输出部6。以下，对与第一实施方式相同的部分标注相同的符号并省略说明。

第九实施方式的电信号输出部2以及响应光产生部4与第一实施方式相同，因此省略说明。然而，也可以将驱动电路44置换为可变型驱动电路44a(参照第八实施方式的变形例以及图11)。

激励光强度输出部6基于电信号输出激励光的强度。激励光强度输出部6具有ADC(模数转换器)62、FPGA64。ADC62将电压转换部42输出的电压信号V(模拟)转换为数字。FPGA64接收ADC62的输出，输出激励光的强度。

荧光检测装置8与第一实施方式相同，但具有目标值记录部82、强度校正部84、激励光源86。目标值记录部82记录激励光的输出目标值(例如10mW)。强度校正部84根据从激励光强度输出部6的FPGA64接收到的激励光的强度，对激励光的强度进行校正。具体而言，强度校正部84从目标值记录部82接收目标值(例如10mW)，从激励光强度输出部6的FPGA64接收激励光的强度(例如9mW)。强度校正部84将(目标值)×(目标值)/(激励光的强度)(＝10×10/9＝11.1mW)作为新的目标值而提供给激励光源86，由此校正激励光的强度。激励光源86与从强度校正部84提供的新的目标值相匹配地输出激励光。

接着，对第九实施方式的动作进行说明。但是，省略与第一实施方式的动作相同的部分的说明。

假设激励光的输出本来应该为10mW(目标值)，但只输出9mW。电压转换部42输出的电压信号V通过ADC62转换为数字，并提供给FPGA64。FPGA64将激励光的强度(9mW)提供给荧光检测装置8的强度校正部84。

于是，可知激励光的输出为目标值的9mW/10mW＝0.9倍。因此，可知如果将目标值10mW设为1/0.9＝1.11倍，则激励光的输出正好成为10mW。因此，强度校正部84将(目标值)×(目标值)/(激励光的强度)(＝10×10/9＝11.1mW)作为新的目标值而提供给激励光源86，由此校正激励光的强度。激励光源86与从强度校正部84提供的新的目标值11.1mW相匹配地输出激励光。于是，激励光的输出为11.1mW×0.9＝10mW。

根据第九实施方式，起到与第一实施方式相同的效果。而且，通过激励光强度输出部6的输出，能够自动地校正荧光检测装置8的激励光的输出。

另外，在第一实施方式的变形例1(参照图2)中，同样也能够将激励光强度输出部6与放大电路43的输出连接。

此外，在第九实施方式中，考虑以下那样的变形例。

图13是表示第九实施方式的变形例的体模1的结构的图。荧光检测装置8与第九实施方式相同。体模1与第一实施方式的变形例1(参照图2)的体模相同。但是，将体模1的FPGA41的输出提供给强度校正部84。FPGA41相当于第九实施方式的激励光强度输出部6。

符号说明

1 体模

2 电信号输出部

22 光衰减板

24 光传感器

25 光传感器(电压输出)

4 响应光产生部

40a 阈值记录部

40b 比较器

41 FPGA

42 电压转换部

42a 可变电阻

43 放大电路

44 驱动电路(驱动部)

44a 可变型驱动电路

45 DAC(数模转换器)

46 电子电路元件

47 白色光源

48 带通滤光器

49a 减光板(减光部)

49b 光圈部

49c 扩散板(扩散部)

5 判定光产生部

50b 比较器

54 驱动电路

56 电子电路元件

6 激励光强度输出部

62 ADC(模数转换器)

64 FPGA

8 荧光检测装置

82 目标值记录部

84 强度校正部

86 激励光源

I 电流信号

V、V1、V2 电压信号

V3、V4 驱动信号。