SMT首件测试方法、装置、计算机设备与流程

smt首件测试方法、装置、计算机设备
技术领域
1.本发明涉及表面贴装测试技术领域，尤其涉及smt首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质。


背景技术：

2.在表面贴装制造领域的制程简而言之就是将smd元件用机器粘贴于pcb(印刷电路板)上，再流入高温回焊炉进行焊接。量产前一般都需要先少量贴几块产品(称为首件)，在焊接前检查贴片元件的正确性。包括：电阻电容电感等chip元件的测量值是否和bom(物料清单)相符合、有方向元件的方向是否方向正确、元件丝印是否正确等。
3.目前的方法一般是由检验人员按照bom顺序，在首件上逐一找到对应的元件位置，用lcr仪器测量该元件，看lcr仪器上的读数是否和bom上的规格值范围一致，这样的测试，不但速度慢，而且有可能出错。基于此，有必要改变由检验人员按照bom顺序在首件上逐一测试元件的方法，提高smt首件测试的效率，减少出错率。


技术实现要素：

4.为解决现有存在的技术问题，本发明实施例提供了smt首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质。
5.为达到上述目的，本发明实施例的技术方案是这样实现的：
6.本发明实施例提供了一种smt首件测试方法，所述方法包括：
7.在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件；
8.在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；
9.根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。
10.优选的，所述在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，并，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径，包括：
11.在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的坐标母区域；
12.根据所述待测试元件的坐标母区域，沿y轴将所述坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域；
13.确定各个所述坐标子区域内的起始点，计算得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离；
14.按照各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离的递增排序，得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件的检查项列表；
15.沿y轴方向将各个所述坐标子区域内的检查项列表按顺序排列得到测试列表，根据所述测试列表，确定所述待测试元件的测试路径。
16.优选的，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：
17.响应于所述待测试元件为测量类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试。
18.优选的，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：
19.响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印的方向；
20.响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试。
21.优选的，所述在元件数据文档中区分出待测试元件，包括：
22.根据正则表达式计算策略在元件数据文档中区分出所述测量类元件或所述目视类元件。
23.优选的，所述方法还包括：
24.在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，将所述待测试元件的坐标转换为像素坐标；
25.根据所述待测试元件的像素坐标，将所述待测试元件叠加分布到丝印图上；
26.将叠加分布有所述待测试元件的所述丝印图显示在屏幕上。
27.优选的，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，还包括：
28.根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试并记录下所述待测试元件的测试结果；
29.根据所述待测试元件的测试结果，输出所述待测试元件的测试文档。
30.本发明实施例还提供了一种smt首件测试装置，包括：
31.第一确定模块，用于在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围；
32.第二确定模块，用于在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；
33.测试模块，用于根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。
34.本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，其中所述处理器用于运行所述计算机程序时，实现所述的smt首件测试方法。
35.本发明实施例还提供了一种计算机存储介质，存储有可执行程序，所述可执行程序被处理器执行时，实现所述的smt首件测试方法。
36.上述实施例所提供的smt首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质，计算机设备根据导入的待测试的smt首件的元件数据文档对待测试的元件进行测试路径的规
划，然后工作人员在计算机设备的路径指示下对待测试元件按照测试路径进行测试，与现有技术相比，本实施例采用计算机设备对测试路径进行规划并对工作人员的测试提供路径指示，使得工作人员使用lcr仪器测试smt首件上的元件时不容易出错，而且工作人员的测试在计算机设备的辅助下，提高了工作人员的测试效率。
附图说明
37.图1为本发明一实施例所提供的测试方法的流程示意图。
38.图2为本发明一实施例所提供的元件数据文档的部分示意图。
39.图3为本发明一实施例中坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域的测试方法的示意图。
40.图4为本发明一实施中输出的检查和测试记录的pdf档的示意图。
41.图5为本发明一实施例所提供的smt首件测试装置的模块示意图。
42.图6为本发明一实施例所提供的计算机设备的示意图。
具体实施方式
43.以下结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
44.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
45.本发明实施例中提供的一种smt首件测试方法，属于表面贴装测试技术领域，应用场景可以为：smt首件测试等场景中。可以理解的是，现有技术中，目前的方法一般是由检验人员按照bom顺序，在首件上逐一找到对应的元件位置，用lcr仪器测量该元件，看lcr仪器上的读数是否和bom上的规格值范围一致，这样的测试，不但速度慢，而且有可能出错。
46.基于此，如何提高smt首件测试的效率，减少出错率成为了亟需解决的技术问题。
47.需要指出的是，该smt首件测试由计算机设备执行。需要说明的是，这里的计算机设备是指任何具有计算处理功能的设备，包括但不限于固定终端设备或者移动终端设备。该固定终端设备可以包括但不限于台式电脑或者计算机设备等，该移动终端设备可以包括但不限于手机、平板电脑、穿戴式设备或者笔记本电脑等。
48.以下结合附图及具体实施例对本发明技术方案做进一步的详细阐述。
49.参考图1，本发明实施例提供了一种smt首件测试方法，所述方法包括以下步骤：
50.步骤s11：在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件；
51.步骤s12：在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；
52.步骤s13：根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。
53.在一些实施例中，所述步骤11，即所述元件数据文档为计算机设备预先存储的，所述元件数据文档包括元件的类型、规格型号、坐标、基准值和误差率等列项信息。
54.在一些实施例中，所述步骤11，即预先存储在计算机设备内的所述元件数据文档可以使用金蝶云erp导入。
55.可以理解的是，从金蝶云erp导入元件数据文档具有比从其它文本导入元件数据文档拥有更多的优势，它最大限度地简化了导入的操作步骤，避免了元件数据文档中的bom的文本格式不统一时需另先做整理之缺陷，其中，元件数据文档为bom(元件物料清单，其包括元件的类型、规格型号、基准值和误差率等列项信息)和坐标文档(元件的坐标列项信息和空贴的坐标列项信息)的结合文档，可以参考图2。
56.在一些实施例中，所述步骤11，即确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件的测量合格范围主要为元件基准值的上下限。
57.在一些实施例中，所述步骤s13，即根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，具体的，当计算机设备规划好测试路径后，工作人员在计算机设备的路径指示下对待测试元件按照测试路径进行测试，其中，工作人员使用的测试设备可以为lcr仪器。
58.示例性的，在上述实施例中，计算机设备根据导入的待测试的smt首件的元件数据文档对待测试的元件进行测试路径的规划，然后工作人员在计算机设备的路径指示下对待测试元件按照测试路径进行测试，与现有技术相比，本实施例采用计算机设备对测试路径进行规划并对工作人员的测试提供路径指示，使得工作人员使用lcr仪器测试smt首件上的元件时不容易出错，而且工作人员的测试在计算机设备的辅助下，提高了工作人员的测试效率。
59.在一些实施例中，所述在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径，包括：
60.在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的坐标母区域；
61.根据所述待测试元件的坐标母区域，沿y轴将所述坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域；
62.确定各个所述坐标子区域内的起始点，计算得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离；
63.按照各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离的递增排序，得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件的检查项列表；
64.沿y轴方向将各个所述坐标子区域内的检查项列表按顺序排列得到测试列表，根据所述测试列表，确定所述待测试元件的测试路径。
65.示例性的，在上述确定所述待测试元件的测试路径的过程中，具体原理如下：所述待测试元件的坐标母区域即为包括所有待测试元件的一个矩形区域，然后沿y轴将所述坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域range(1)、range(2)...，参考图3，其中，间隔优选为2.5mm，然后，在子区域range(1)中，将子区域range(1)内所有元件的x坐标的集合记为range(1)_x，将子区域range(1)内所有元件的y坐标的集合记为range(1)_y，之后定义一个起始点start(x，y)，其中x值取range(1)_x中的最小值，y值取range(1)_y中的最大值，然后计算出子区域range(1)内所有元件与起始点的距离，然后按与所述起始点的距离的递增排序，得到子区域range(1)内所有元件检查项列表，就得到了子区域range(1)内所有元件
的测试路径，按照上述原理依次得到其他子区域的测试路径，即为母区域内的所述待测试元件的测试路径。
66.在一些实施例中，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：
67.响应于所述待测试元件为测量类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试，其中，测试各个所述待测试元件过程中，语音播报各个所述待测试元件的坐标，且，测试完成后语音播报各个所述待测试元件的测试结果。
68.需要说明的是，在工作人员对各个元件进行测试时，本实施例采用根据待测试元件的测试路径，在元件数据文档中会自动指向下一个待测量元件，其中，元件数据文档和指向的标识都会在计算机的屏幕上显示出来，同时能够切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数以适合下一个待测试的元件，自动完成测试仪器档位切换和参数调整，不再需要人工去切换测试仪器档位和调整测试仪器的参数，并且能够对测试完成的元件的结果进行语音播报，不必人工查看测试结果，节省了测试的时间，提高了测试的效率。经过实施，检查时间缩短为原来的10％-50％，元件越多节约时间越多。
69.在一些实施例中，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，包括：
70.响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印和方向；
71.响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试，其中，测试各个所述待测试元件过程中，语音播报各个所述待测试元件的坐标，且，测试完成后语音播报各个所述待测试元件的测试结果。
72.在一些实施例中，所述判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印和方向包括：
73.根据历史记录库判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印和方向。
74.需要说明的是，在上述实施例中，历史记录为历来的测试记录，将把方向检查和丝印检查也纳入了检查事项，使得元件的测试更加全面。具体的，在元件数据文档中指向一个待测量元件时，元件数据文档和指向的标识都会在计算机的屏幕上显示出来，工作人员需要输入这个元件表面的丝印(没有丝印的要输入
“‑”
)，计算机设备会调用正确的历史记录作对比，丝印不相同时会提示操作者确认，如果操作者确认正确，那么现在这个丝印会作为一个新的丝印加入到历史记录库中方便以后对比，同时，在测试目视类元件时，元件有方向的需要输入方向(没有方向输入
“‑”
)，计算机设备会调用历史记录作对比给出判断。
75.在一些实施例中，所述在元件数据文档中区分出待测试元件，包括：
76.根据正则表达式计算策略在元件数据文档中区分出所述测量类元件或所述目视类元件。
77.示例性的，在区分所述测量类元件或所述目视类元件时，利用正则表达式区分出所述测量类元件，并针对所述测量类元件给出测量合格范围，正则表达式的主要特征表达式为匹配容值表达式、匹配电感量表达式、匹配电阻值表达式、匹配误差值表达式和匹配耐
压值表达式，在bom中能匹配上述特征表达式的元件归为测量类，坐标文档中有而bom中没有的元件归为空贴类(也就是在元件数据文档中只有坐标列项信息的就是空贴类，因为空贴没有类型、规格型号、基准值和误差率等列项信息)，其它的元件归为目视类。具体的，正则表达式可参考如下表：
[0078][0079]
在一些实施例中，所述方法还包括：
[0080]
在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，将所述待测试元件的坐标转换为像素坐标；
[0081]
根据所述待测试元件的像素坐标，将所述待测试元件叠加分布到丝印图上；
[0082]
将叠加分布有所述待测试元件的丝印图显示在计算机设备的屏幕上。
[0083]
示例性的，将待测试元件叠加分布到丝印图上并且在计算机设备的屏幕上显示，有利于工作人员直观的看到待测试元件的分布位置，提高测试效率准确度。
[0084]
优选的，所述根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试，还包括：
[0085]
根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试并记录下所述待测试元件的测试结果；
[0086]
根据所述待测试元件的测试结果，输出所述待测试元件的测试文档。
[0087]
具体的，所有检查和测试项目完成后，输出本次的检查和测试记录的pdf档，此档会自动以“日期时间 料号 机型名 线体”命名并存档，参考图4。
[0088]
如图5所示，本发明实施例还提供了一种smt首件测试装置，包括第一确定模块51、第二确定模块52和测试模块53，其中，所述第一确定模块51用于在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围；所述第二确定模块52用于在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；所述测试模块53用于根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试。
[0089]
在一些实施例中，所述第一确定模块51，具体用于：
[0090]
在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件；
[0091]
在一些实施例中，所述第一确定模块51，还用于：
[0092]
根据正则表达式计算策略在元件数据文档中区分出所述测量类元件或所述目视类元件。
[0093]
所述第二确定模块52，用于：
[0094]
在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径；
[0095]
所述第二确定模块52，还用于：
[0096]
根据所述目标农业用地的图像信息，确定所述目标农业用地的所述凹坑和/或斜坡等地形地貌的轮廓及所述轮廓的各个顶点的坐标信息。
[0097]
在一些实施例中，所述第二确定模块23，具体用于：
[0098]
在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的坐标母区域；
[0099]
根据所述待测试元件的坐标母区域，沿y轴将所述坐标母区域均匀间隔划分为若干个坐标子区域；
[0100]
确定各个所述坐标子区域内的起始点，计算得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离；
[0101]
按照各个所述坐标子区域内的所述待测试元件坐标与所述起始点的距离的递增排序，得到各个所述坐标子区域内的所述待测试元件的检查项列表；
[0102]
沿y轴方向将各个所述坐标子区域内的检查项列表按顺序排列得到测试列表，根据所述测试列表，确定所述待测试元件的测试路径。
[0103]
所述测试模块53，用于：
[0104]
根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试；
[0105]
所述测试模块53，还用于：
[0106]
响应于所述待测试元件为测量类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试，其中，测试各个所述待测试元件过程中，语音播报各个所述待测试元件的坐标，且，测试完成后语音播报各个所述待测试元件的测试结果；
[0107]
所述测试模块53，还用于：
[0108]
响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，判断所述测试路径上的各个所述待测试元件表面丝印和方向；
[0109]
响应于所述待测试元件为目视类元件，根据所述待测试元件的测试路径上的所述待测试元件的变换，切换测试仪器的挡位以及调整测试仪器的参数，按照所述测试路径依次对所述待测试元件进行测试，其中，测试各个所述待测试元件过程中，语音播报各个所述待测试元件的坐标，且，测试完成后语音播报各个所述待测试元件的测试结果；
[0110]
所述测试模块53，还用于：
[0111]
根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试并记录下所述待测试元件的测试结果；
[0112]
根据所述待测试元件的测试结果，输出所述待测试元件的测试文档。
[0113]
这里需要指出的是：以上面积测量装置装置项的描述，与上述农业用地的面积测量方法项描述是类似的，同方法的有益效果描述，不做赘述。对于本发明面积测量装置实施
例中未披露的技术细节，请参照本发明农业用地的面积测量方法实施例的描述。
[0114]
所述smt首件测试装置还包括显示模块54，用于：
[0115]
在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，将所述待测试元件的坐标转换为像素坐标；
[0116]
根据所述待测试元件的像素坐标，将所述待测试元件叠加分布到丝印图上。
[0117]
如图6所示，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括处理器61和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器62，其中所述处理器用于运行所述计算机程序时，实现应用于所述的smt首件测试方法。
[0118]
在一些实施例中，本发明实施例中的存储器62可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory，rom)、可编程只读存储器(programmable rom，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable prom，eprom)、电可擦除可编程只读存储器(electrically eprom，eeprom)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory，ram)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的ram可用，例如静态随机存取存储器(static ram，sram)、动态随机存取存储器(dynamic ram，dram)、同步动态随机存取存储器(synchronous dram，sdram)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rate sdram，ddrsdram)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced sdram，esdram)、同步连接动态随机存取存储器(synchlink dram，sldram)和直接内存总线随机存取存储器(direct rambus ram，drram)。本文描述的系统和方法的存储器62旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
[0119]
而处理器61可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器61中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器61可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器62，处理器61读取存储器62中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
[0120]
在一些实施例中，本文描述的这些实施例可以用硬件、软件、固件、中间件、微码或其组合来实现。对于硬件实现，处理单元可以实现在一个或多个专用集成电路(application specific integrated circuits，asic)、数字信号处理器(digital signal processing，dsp)、数字信号处理设备(dsp device，dspd)、可编程逻辑设备(programmable logic device，pld)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)、通用处理器、控制器、微控制器、微处理器、用于执行本技术所述功能的其它电子单元或其组合中。
[0121]
对于软件实现，可通过执行本文所述功能的模块(例如过程、函数等)来实现本文所述的技术。软件代码可存储在存储器中并通过处理器执行。存储器可以在处理器中或在
处理器外部实现。
[0122]
本发明又一实施例提供了一种计算机存储介质，该计算机可读存储介质存储有可执行程序，所述可执行程序被处理器61执行时，可实现应用于所述smt首件测试方法的步骤。例如，如图1所示的方法中的一个或多个。
[0123]
在一些实施例中，所述计算机存储介质可以包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0124]
需要说明的是：本发明实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。
[0125]
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。