测试装置的制作方法

1.本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种测试装置。


背景技术：

2.线路板是电子产品中的重要部件，线路板上集成、连接有多个电子元器件，以实现电子产品的各种功能。为了确保电子产品的良品率，在电子元器件与线路板组件连接后，通常会对各个电子元器件的电子电路进行测试，这种测试需要在测试装置上完成。
3.测试装置包括测试台和可移动的测试件，待测线路板固定于测试台上，测试件朝向线路板移动并与测线路板上的各个电子元器件的接电点抵接，以实现对电子元件的电子电路进行测试。目前，主流的方案为机械手带动测试件朝向待测线路板运动，但是，机械手的行程的精度难以控制，容易出现测试过程中测试件待测产品接触不良，测试数据一致性差的问题；或者是测试件过压待测产品造成不良率高的问题，影响测试质量。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的是提供一种测试装置，旨在提高测试装置的测试质量。
5.为实现上述目的，本发明提出的测试装置，包括：
6.测试台，所述测试台用于固定待测线路板；
7.测试机构，所述测试机构设于所述测试台的一侧，所述测试机构包括至少一对探测组件，所述探测组件与测试仪电性连接；
8.移动机构，所述移动机构与所述测试机构连接，并驱动所述测试机构朝向或远离所述测试台运动，以使所述探测组件与待测线路板弹性抵接；以及
9.限位件，所述限位件与所述测试机构连接，所述测试机构朝向所述测试台运动时，所述限位件与所述测试台抵接，以限制所述测试机构相对所述测试台移动的距离。
10.在发明的一实施例中，所述测试机构包括：
11.固定板，所述固定板与所述移动机构连接；
12.所述探测组件包括间隔设与所述固定板表面的第一探测件和第二探测件，所述第一探测件和所述第二探测件分别与所述测试仪电性连接；
13.所述第一探测件和/或所述第二探测件与所述固定板弹性连接；
14.所述限位件与所述固定板连接。
15.在发明的一实施例中，所述第一探测件为导电块，所述导电块包括依次连接且相互呈夹角设置的固定部、连接部以及压覆部；
16.所述固定部固定连接于所述固定板的表面，所述连接部凸设于所述固定部朝向所述测试台的一侧，所述压覆部凸设所述连接部远离所述固定部的一侧，所述压覆部用于与所述待测线路板的弹性元器件抵接。
17.在发明的一实施例中，所述测试机构还包括绝缘块，所述绝缘块通过螺钉固定于所述固定板的表面，并设于所述固定板和所述导电块之间。
18.在发明的一实施例中，导电块设有第一避让孔，所述绝缘块的部分螺钉显露于所述第一避让孔。
19.在发明的一实施例中，所述限位件通过所述绝缘块与所述固定板连接，所述限位件设有第二避让孔，所述绝缘块的部分螺钉显露于所述第二避让孔
20.在发明的一实施例中，所述测试机构还包括弹性移动组件，所述弹性移动组件设于所述固定板，所述第二探测件通过所述弹性移动组件与所述固定板弹性连接。
21.在发明的一实施例中，所述弹性移动组件包括：
22.滑轨，所述滑轨设于所述固定板表面，并沿所述测试机构和所述测试台的排布方向延伸设置；
23.滑块，所述滑块滑动设于所述滑轨，所述滑块用于固定所述第二探测件；
24.定位件，所述定位件设于所述滑轨远离所述测试台的一端，并所述滑块连接；以及
25.弹性件，所述弹性件的两端分别弹性抵接所述定位件和所述滑块，以使所述滑块驱动所述第二探测件运动。
26.在发明的一实施例中，所述第二探测件包括：
27.探针夹板，所述探针夹板与所述滑块固定；
28.探针压板，所述探针压板固定于所述探针夹板远离所述滑块的表面；以及
29.探测针，所述探测针夹持于所述探针夹板和所述探针压板之间，所述探测针远离所述探针夹板的一端用于与所述待测线路板抵接。
30.在发明的一实施例中，所述探针夹板、所述探针压板以及所述探测针均为导电材质，所述滑块为绝缘材质。
31.在发明的一实施例中，所述探针夹板设有第三避让孔，所述滑块的部分螺钉显露于所述第三避让孔。
32.在发明的一实施例中，所述测试装置还包括取料机构，所述取料机构设于所述移动机构连接，并位于所述测试机构的一侧。
33.在发明的一实施例中，测试装置还包括清洁机构，所述清洁机构可调节地设于所述测试台底部，所述清洁机构用于所述第一探测件和所述第二探测件。
34.在发明的一实施例中，所述清洁机构包括：
35.底座；
36.连接座，所述连接座与底座连接，并可相对所述底座活动设置；以及
37.清洁轮刷，所述清洁轮刷可转动地设于所述连接座。
38.本发明技术方案测试装置包括测试台、测试机构、移动机构以及限位件。测试台用于固定待测线路板，测试机构设于测试台的一侧，测试机构包括至少一对探测组件，探测组件与测试仪电性连接；移动机构与测试机构连接，并驱动测试机构朝向或远离测试台运动，以使探测组件与待测线路板弹性抵接；限位件与测试机构连接。测试时，移动机构带动测试机构朝向测试台运动的过程中，限位件与测试台的表面抵接，如此，可以限制测试机构相对以测试机构相对测试台移动的距离，以确保测试机构的移动精度，避免出现因测试机构相对测试台移动的距离不够而出现探测组件与待测元器件欠压的情况，保证设于测试机构的上探测组件能与待测线路板上的待测元器件有良好的接触。同时，由于探测组件与待测线路板弹性抵接，也能有效地避免探测组件与待测线路板上的待测元器件出现过过压的情
况，有效地对待测线路板进行保护，提升了测试的质量，降低了因欠压出现测试不准确的结果，也降低了因过压导致的不良品，提升了线路板的测试质量。
附图说明
39.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
40.图1为本发明测试装置一实施例的结构示意图；
41.图2为图1中测试装置的结构分解图；
42.图3为本发明测试机构的结构示意图；
43.图4为图3中a处的局部放大图；
44.图5为本发明测试装置第一测试件结构示意图；
45.图6为本发明测试装置中限位件的结构示意图。
46.附图标号说明：
[0047][0048][0049]
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0050]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0051]
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0052]
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0053]
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义为，包括三个并列的方案，以“a和/或b为例”，包括a方案，或b方案，或a和b同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
[0054]
本发明提出一种测试装置100。
[0055]
参照图1至图6，本发明测试装置100一实施例的测试装置100包括：
[0056]
测试台10，所述测试台10用于固定待测线路板；
[0057]
测试机构20，所述测试机构20设于所述测试台10的一侧，所述测试机构20包括至少一对探测组件23，所述探测组件23与测试仪电性连接；
[0058]
移动机构30，所述移动机构30与所述测试机构20连接，并驱动所述测试机构20朝向或远离所述测试台10运动，以使所述探测组件23与待测线路板弹性抵接；以及
[0059]
限位件40，所述限位件40与所述测试机构20连接，所述测试机构20朝向所述测试台10运动时，所述限位件40与所述测试台10抵接，以限制所述测试机构20相对所述测试台10移动的距离。
[0060]
本发明技术方案测试装置100包括测试台10、测试机构20、移动机构30以及限位件40。测试台10用于固定待测线路板(未图示)，测试机构20设于测试台10的一侧，测试机构20包括至少一对探测组件23，探测组件23与测试仪电性连接；移动机构30与测试机构20连接，并驱动测试机构20朝向或远离测试台10运动，以使探测组件23与待测线路板弹性抵接；限位件40与测试机构20连接。测试时，移动机构30带动测试机构20朝向测试台10运动的过程中，限位件40与测试台10的表面抵接，如此，可以限制测试机构20相对以测试机构20相对测试台10移动的距离，以确保测试机构20的移动精度，避免出现因测试机构20相对测试台10移动的距离不够而出现探测组件23与待测元器件欠压的情况，保证设于测试机构20的上探测组件23能与待测线路板上的待测元器件有良好的接触。同时，由于探测组件23与待测线
路板弹性抵接，也能有效地避免探测组件23与待测线路板上的待测元器件出现过过压的情况，有效地对待测线路板进行保护，提升了测试的质量，降低了因欠压出现测试不准确的结果，也降低了因过压导致的不良品，提升了线路板的测试质量。
[0061]
本发明的一实施例中，测试台10为待测线路板提供固定的载体，测试台10上设有测试线路板所必要的测试工装(未标示)，工装设有对应的测试电路、电源以及固定治具等。测试工装上可以是设有一个测试位(未标示)，一个测试位可固定一待测线路板，一探测组件23用于与一待测线路板抵接。当然，测试工装上也可以是设置有多个间隔设置的测试位，这样，以测试工装上可以固定多个待测线路板，测试机构20则设有与待测线路板数量对应的探测组件23，如此，可以提升测试效率。如图1所示，测试机构20上设有4组探测组件23，可以同时对4块线路板进行测试，以提升测试的效率。
[0062]
为了提升限位件40与测试工装之间限位的可靠性，还可以在正式的测试前，使用调试工装对限位件40的限位精度进行调试。可以理解地，调试工装与测试工装的外形一致，只是调试工装上未固定有待测的线路板。待调试完成后，将调试工装替换为测试工装，便可进入正式的测试工作。
[0063]
测试仪通过导线与探测组件23电性连接，以将测试结果通过测试仪的显示屏进行显示，便于测试人员快速地了解测试结果。当测试的数值出现异常时，测试仪可做出及时提示，以隔离测试不合格的产品。本发明实施例中，可以测试线路板上的电子元器件的通断以及电阻值，针对电路不通、阻值超限的不良品，能做及时的隔离处理，确保产品组装后的合格率。
[0064]
移动机构30可以是自由度较高的机械手，也可以是三轴或两轴等移动机构30等，只要能实现精确地驱动测试机构20朝向或远离测试台10移动的机构均可，在此不对移动机构30进行限定。
[0065]
限位件40可以呈块状结构，也可以是杆状等其他的结构，在此不对限位件40的形状进行限定。限位件40与测试机构20固定连接，并在测试机构20朝向测试台10运动的过程中与测试台10表面抵接限位，以限制测试机构20相对测试台10移动的距离，即可以确保测试机构20的移动到位，避免出现探测组件23与待测电子元器件欠压而导致不良的情况。限位件40的数量可以是有间隔设置的多个，以进一步提升测试机构20移动的精度。如1所示，大当测试机构20上设有4组探测组件23，限位件40的数量可以两个，两个限位件40可以设于固定板22的长度方向的两端。或者，两个限位件40可以分别对设于位于固定板22长度方向两端的探测组件23上，以提升限位的精度。
[0066]
参照图3，在发明的一实施例中，所述测试机构20包括：
[0067]
固定板22，所述固定板22与所述移动机构30连接；
[0068]
所述探测组件23包括间隔设与所述固定板22表面的第一探测件231和第二探测件24，所述第一探测件231和所述第二探测件24分别与所述测试仪电性连接；
[0069]
所述第一探测件231和/或所述第二探测件24与所述固定板22弹性连接；
[0070]
所述限位件40与所述固定板22连接。
[0071]
在本发明一实施例的技术方案中，固定板22与移动机构30可以是直接连接，也可是间接连接。例如，测试机构20还包括有调节板21，固定板22固定于调节板21的表面。移动机构30与调节板21固定连接。为了确保探测组件23固定的精度。在一实施例中，调节板21的
顶部还设有沿调节板21的长度方向延伸的调节孔211，调节板21通过螺栓等连接件穿过调节孔211与移动机构30连接，以便于调节机械手与调节板21的连接位置。可以理解地，调节板21的精度要求不高，可以采用塑料板、木材板等材质制成，这类材质还具有绝缘性，可以测试机构20与机械手之间有电路导通。
[0072]
固定板22大致为方形板，固定板22的材质不限定，也可以木材、塑料或金属材质等，只要固定板22的强度满足需求即可。
[0073]
在一实施例中，固定板22采用为金属材质，可以提升固定板22的精度和强度，当固定板22为金属材质时，固定板22具有导电性，若探测组件23直接与固定板22连接，则需要对固定板22进行绝缘处理。
[0074]
进一步，参照图3至图5，在发明的一实施例中，所述第一探测件231为导电块，所述导电块包括依次连接且相互呈夹角设置的固定部2311、连接部2313以及压覆部2315；
[0075]
所述固定部2311固定连接于所述固定板22的表面，所述连接部2313凸设于所述固定部2311朝向所述测试台10的一侧，所述压覆部2315凸设所述连接部2313远离所述固定部2311的一侧，所述压覆部2315用于与所述待测线路板的弹性元器件抵接。
[0076]
在本发明的一实施例中，当测试机构20朝向测试台10运动时，导电块待测线路板的弹性元器件抵接，此时，弹性元器件受压发生形，导电块呈块状设置，可以使得到导电块与弹性元器件的接触面较大，以确保导电块与弹性元器件接触的可靠性。可以理解地，导电块的固定部2311、连接部2313以及压覆部2315之间的夹角均为90度，如此，既能实现导电块固定部2311与固定板22，又能实现压覆部2315能凸出在固定板22的外侧与待测元器件抵接。固定部2311、连接部2313以及压覆部2315为一体结构，以提升导电块的结构强度，同时也能减少零件的数量，降低装配的难度。可以理解地，当固定板22为金属材质时，此时，导电块直接与固定板22固定连接，会使得测试电路与固定板22连通，影响测试的效果，此时，导电块和固定板22之间需要设置一绝缘块25。绝缘块25可以有效地将固定板22和测试电路隔断，提升测试地准确性。
[0077]
进一步，在一实施例中，所述绝缘块25通过螺钉固定于所述固定板22的表面，并设于所述固定板22和所述导电块之间。导电块也通过螺钉与绝缘块25固定连接，以提升导电块固定的可靠性。绝缘块25可以由塑料材质制成，长时间使用后，螺钉与塑料材质容易出现松动。导电块设有第一避让孔2311a，所述绝缘块25的部分螺钉显露于所述第一避让孔2311a。如此，可以在不拆除导电块的情况下，通过第一避让孔2311a实现对绝缘块25的螺钉进行紧固操作，以提升绝缘块25与固定板22之间连接的可靠性。这样既能实现对绝缘块25进行紧固，不拆除导电块，也减小了因拆装导电块而造成的误差，确保了多次测试的一致性。
[0078]
参照图1，在发明的一实施例中，所述限位件40通过所述绝缘块25与所述固定板22连接，所述限位件40设有第二避让孔41，所述绝缘块25的部分螺钉显露于所述第二避让孔41。
[0079]
在本发明的一实施例中，限位件40也可以固定在绝缘块25表面，如此，限位件40和导电块固定于同一个部件上，以降低因多个部件组件产生的误差，进一步提升限位块的限位精度。此时，在本发明的一实施例中，可以在限位件40设有第二避让孔41，第二避让孔41的作用与第一避让孔2311a的作用一样，都是为了在不拆除限位件40的情况下实现对绝缘
件的螺钉进行紧固，如此，可以确保限位件40位置的精度，提升前后测试数据的一致性。
[0080]
参照图3，在发明的一实施例中，所述测试机构20还包括弹性移动组件26，所述弹性移动组件26设于所述固定板22，所述第二探测件24通过所述弹性移动组件26与所述固定板22弹性连接。
[0081]
在本发明一实施例的技术方案中，弹性移动组件26包括滑轨261、滑块262、定位件263以及弹性件265，滑轨261通过螺钉固定安装在固定板22的表面，并且滑轨261的延伸方向为竖直方向，即改方向也是测试机构20和测试台10的排布方向；滑块262滑动设于滑轨261，滑块262用于固定第二探测件24；定位件263设于滑轨261远离测试台10的一端，并滑块262连接；定位件263包括有定位板和连接杆，定位板固定在固定板22上，并位于滑轨261的端部设置。连接杆的一端连接于定位板的表面，另一端与滑块262连接。弹性件265可以是弹簧、弹性胶体等，弹性件265套设于连接杆表面，使得弹性件265的两端分别弹性抵接定位板和滑块262，以使滑块262驱动第二探测件24运动。如此，第二探测件24与待测的元器件抵接时，由于弹性件265的设置，在弹性件265的作用下，能确保第二探测件24与待测的元器件进行可靠地抵接，或者，在第二探测件24与待测的元器件要出现过压情况下，还能使得弹性件265被压缩，以避免将待测元器件压坏，避免因过压而导致不良品的出现。
[0082]
具体地，参照图3和图4，在发明的一实施例中，所述第二探测件24包括：
[0083]
探针夹板241，所述探针夹板241与所述滑块262固定；
[0084]
探针压板243，所述探针压板243固定于所述探针夹板241远离所述滑块262的表面；以及
[0085]
探测针245，所述探测针245夹持于所述探针夹板241和所述探针压板243之间，所述探测针245远离所述探针夹板241的一端用于与所述待测线路板抵接。
[0086]
在本发明一实施例的技术方案中，探针夹板241与滑块262通过螺钉固定连接，以提升探针夹板241与滑块262固定的可靠性，同样，探针压板243与探针夹板241也通过螺钉固定连接，以提升探针压板243与探针夹板241固定的牢固性。探针夹板241和探针压板243相对的表面均设于与探测针245的形状相适配的定位槽，以提升探测针245固定的可靠性。在发明的一实施例中，所述探针夹板241、所述探针压板243以及所述探测针245均为导电材质，所述滑块262为绝缘材质。由于探测针245的体积小，不方便接线，因此通过将探针夹板241和探针压板243均设置为导电材质，以提升与测试仪接线的方便性。由于探针夹板241为导电材质，为了提升测试精度，因此，将滑块262设置为绝缘材质，以有效地隔绝测试电路。同样，可以在探针夹板241设有第三避让孔，所述滑块262的部分螺钉显露于所述第三避让孔。这样，可以在不拆除探针夹板241的情况下通过第三避让孔实现对滑块262上的螺丝进行紧固处理，以提升滑块262连接的可靠性。
[0087]
探针夹板241的横截面大致呈z形结构，可以使得探针夹板241形成有避让空间，为第一探测件231的安装提供空间。
[0088]
进一步，参照图1和图2，在发明的一实施例中，所述测试装置100还包括取料机构50，所述取料机构50设于所述移动机构30连接，并位于所述测试机构20的一侧。
[0089]
在本发明一实施例的技术方案中，取料机构50包括有安装板51、平行开闭型气爪53、取料夹爪55、气缸57、检测器59组成。气缸57安装板51与移动机构30连接，气缸57设于安装板51上，气缸57驱动平行开闭型气爪53运动，以使得取料夹爪55加紧或释放检测不合格
的线路板。检测器59设于取料夹爪55上，以检测是否夹紧线路板，提升取料机构50的可靠性。
[0090]
进一步，参照图1和图2，在发明的一实施例中，测试装置100还包括清洁机构60，所述清洁机构60可调节地设于所述测试台10底部，所述清洁机构60用于所述第一探测件231和所述第二探测件24。
[0091]
在本发明一实施例的技术方案中，清洁机构60包括底座61、连接座63，以及清洁轮刷65，所述连接座63与底座61连接，并可相对所述底座61活动设置，所述清洁轮刷65可转动地设于所述连接座63。底座61为清洁机构60的安装提供载体，连接座63与底座61固定连接，连接座63上设有弧形槽，通过调节件穿过弧形槽，以调节连接座63与底座61的相对位置。清洁轮刷65通过电机67驱动。当需要对第一探测件231和第二探测件24进行清洁时，通过移动机构30带动测试机构20移动，以将第一探测件231或第二探测件24分别移动至与清洁轮刷65接触的位置，电机67驱动清洁轮刷65以实现对第一探测件231或第二探测件24进行清洁，以提升第一探测件231或第二探测件24的导通性能。
[0092]
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。