电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器与流程

1.本技术涉及耐久性测试技术领域，具体而言，涉及一种电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器。


背景技术：

2.对于电磁类控制器件，需要按照国家规定的标准进行耐久性认证检测，以证明该类器件在长期的接通、分断工作的额定工况下，该类器件的功能正常，未出现触点持续性电弧、触点磨损引起的着火、控制失效等安全问题。
3.现有的技术中，对此类器件的测试控制是一个被测器件对应一组负载的模式，在整个测试周期内，负载仅被一个测试器件占用，如图1所示。按照目前标准测试程序，测试时长短则几十小时，长则数天。若需要测试多个器件时，通常采用逐个依次测试的方案，或者同时采用多套负载进行测试，测试效率低下，设备利用率低。
4.针对相关技术中对电磁类器件的耐久性测试效率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现要素：

5.本技术的主要目的在于提供一种电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器，以解决相关技术中对电磁类器件的耐久性测试效率较低的问题。
6.为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种电磁类器件的测试系统，所述测试系统中包括多个测试通道，每个测试通道用于放置被测器件，多个被测器件与负载连接，所述测试系统包括：控制器，用于根据测试信息和预设驱动时序控制对多个目标被测器件进行驱动测试，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件。
7.进一步地，所述测试系统还包括：触点故障检测回路，与每个被测器件连接，用于检测每个被测器件的触点状态。
8.进一步地，所述测试系统还包括：故障提醒装置，用于在所述触点故障检测回路检测到所述目标被测器件触点粘连失效的情况下，触发故障报警提醒。
9.进一步地，所述控制器还用于在接收所述故障报警提醒之后，控制对所述目标被测器件所在的测试通道进行断开或锁死。
10.进一步地，所述控制器上还设置有显示界面，用于显示所述控制器接收到的用户输入的测试信息。
11.进一步地，所述显示界面还用于显示所述多个目标被测器件的驱动测试过程中的测试数据。
12.进一步地，每个测试通道上还设置有辅助断开装置，用于控制每个测试通道的接通与关断。
13.为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种电磁类器件的测试方法，
其特征在于，所述测试方法应用于上述任意一项所述的所述测试系统，所述测试方法包括：获取所述控制器接收到的所述测试信息，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件；所述控制器基于所述测试信息，按照测试通道的次序对所述目标测试通道进行故障状态判断；若判断出所述目标测试通道正常，则对所述目标测试通道进行驱动；在对所述目标测试通道驱动完成后，检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态；若所述目标被测器件的触点状态正常，则继续执行对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，直到所有目标测试通道驱动测试完成。
14.进一步地，所述方法还包括：若判断出所述目标测试通道故障，对所述目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试。
15.进一步地，所述方法还包括：若检测到所述目标被测器件触点粘连失效，控制对所述目标测试通道进行断开或锁死。
16.进一步地，所述方法还包括：若判断出所述目标测试通道故障或者检测到所述目标被测器件触点粘连失效，触发报警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置。
17.进一步地，检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态包括：通过触点故障检测回路检测所述目标被测器件上目标器件两端的电压值；若所述电压值大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点粘连失效；若所述电压值不大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点状态正常。
18.为了实现上述目的，根据本技术的一个方面，提供了一种测试仪器，所述测试仪器中包括上述任意一项所述的所述测试系统，或者所述测试仪器运行时执行上述任意一项所述测试方法。
19.通过本技术提供的电磁类器件的测试系统，所述测试系统中包括多个测试通道，每个测试通道用于放置被测器件，多个被测器件与负载连接，该测试系统包括：控制器，用于根据测试信息和预设驱动时序控制对多个目标被测器件进行驱动测试，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件，解决了相关技术中对电磁类器件的耐久性测试效率较低的问题。由于测试系统中包括多个测试通道，可同时控制多个被测器件同时进行同负载回路的耐久性测试，提高了该类器件测试效率和配套设备的利用率，同时也极大降低了测试时间和成本。
附图说明
20.构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
21.图1是现有技术中的电磁类器件的测试系统的示意图。
22.图2是现有技术中的电磁类器件的测试过程中的驱动时序图。
23.图3是根据本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统的示意图。
24.图4是根据本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统的驱动时序图。
25.图5是根据本技术实施例提供的电磁类器件的测试的示意图。
26.图6是根据本技术实施例提供的触点故障检测回路的电路图。
27.图7是根据本技术实施例提供的被测器件和辅助断开装置的控制时序图。
28.图8是根据本技术实施例提供的显示界面显示测试过程数据的示意图。
29.图9是根据本技术实施例提供的显示界面显示测试失败结果的示意图。
30.图10是根据本技术实施例提供的可选的电磁类器件的测试系统的示意图。
31.图11是根据本技术实施例提供的电磁类器件的测试方法的示意图。
32.图12是根据本技术实施例提供的可选的电磁类器件的测试方法的示意图。
具体实施方式
33.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
34.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
35.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
36.通常，被测器件的一个测试循环周期内的开通时间和关断时间是固定的，在被测器件关断的时间内，负载处于空置状态。例如，在对继电器测试时，在一个测试周期内，1秒开通，9s关断，在此关断期内，负载空置，因此导致测试效率较低，如图2所示。为了解决测试效率较低的技术问题，根据本技术的实施例，提供了一种电磁类器件的测试系统。
37.如图3所示，测试系统中包括多个测试通道，每个测试通道用于放置被测器件，多个被测器件与负载连接，图3中的k1(辅助断开装置)和rly1(被测器件)组成一个测试通道。k2(辅助断开装置)和rly2(被测器件)组成一个测试通道，图3中有n个测试通道，n个测试通道与负载连接。测试系统包括：控制器，用于根据测试信息和预设驱动时序控制对多个目标被测器件进行驱动测试，其中，测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件，其中，多个目标测试通道是待进行测试的通道，是多个测试通道中的一部分或者全部，目标测试通道是多个目标测试通道中的其中之一。例如，测试系统中包括20个测试通道，上述的多个目标测试通道是20个测试通道中的8个测试通道。上述的目标测试通道是8个测试通道中的其中一个。
38.需要说明的是，上述的测试频率和测试次数可以是通过控制器接收到外部输入得到的，也即，测试者直接输入的。上述的测试频率和测试次数也可以是通过控制器的显示界面上首先显示出预设的测试频率和测试次数，由测试者对其进行选择或者编辑得到的。通过这种方式能够非常的直观和快速地确定被测器件的测试频率和测试次数，同时也提升测试者的操作体验。
39.例如，确定目标被测器件的测试频率为开通1秒，关断9秒，10秒为一测试周期，在此情况下，多个目标测试通道可以为8通道，测试次数为50000次。另外，各个目标被测器件的驱动时序错位设置，由于被测器件的触点动作需要一段时间，且存在被测器件的金属动触点的回弹抖动，因此，在本技术中可以设置被测器件在状态切换时的时延，避免了出现两个被测器件同时导通的情况。因此，控制器的时间计时器在前一个驱动信号停止后，内部延时一段时间后，再触发下一个被测器件的信号驱动，预设驱动时序的时序图，例如，如图4所示。通过上述测试系统，能够在10秒内逐一对8通道上放置的目标被测器件进行驱动测试，当第一个目标被测器件的开通测试、控制处于关断后，第二个目标被测器件启动开通触发，进行第二个目标被测器件的开通测试；当第二个目标被测器件的开通测试、控制处于关断后，第三个目标被测器件启动开通触发，进行第三个目标被测器件的开通测试，依次类推，从而保证控制逻辑不重叠。在整个测试过程中，每次保证只开通一个目标被测器件，从而保证测试的有效性。通过有效的利用被测器件关断期内的负载，提升了测试的效率。
40.当测试过程中，如果其中一个被测器件发生触点的粘连，那么会引起两个被测器件同时开通的情况(如图5所示，rly1粘连故障，rly2控制开通，则会引起rly1和rly2同时开通)，这样就会引起负载电流的分流，导致测试不能满足额定负载，而导致验证结果不充分、不能符合测试规定要求的情况。为了避免由于一个被测器件的触点粘连引起其他被测器件测试失效的情况，可选地，在本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统中，该测试系统还包括：触点故障检测回路，与每个被测器件连接，用于检测每个被测器件的触点状态。
41.触点故障检测回路的电路图，可以如图6所示，上述电路对于交直流电路均通用。当控制被测器件的驱动信号停止后，对r3(被测器件上的电阻)的电压进行检测，并和电源电压采样的信号进行比较，可以确定出触点是否粘连。也即，通过本技术实施例提供的触点故障检测回路可以快速的检测每个被测器件的触点状态，以便测试者及时获知每个被测器件的触点状态。
42.可选地，在本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统中，该测试系统还包括：故障提醒装置，用于在触点故障检测回路检测到目标被测器件触点粘连失效的情况下，触发故障报警提醒，然后控制器控制对目标被测器件所在的测试通道进行断开或锁死。
43.在上述方案中，在触点故障检测回路检测到目标被测器件触点粘连失效的情况下，触发故障报警提醒，以便及时提醒测试者目标被测器件触点粘连失效。然后控制器控制对目标被测器件所在的测试通道进行断开或锁死，及时的断开或锁死故障的被测器件所在的测试通道，保证使用同一负载的其他被测器件的影响降低到最低的程度，避免全部被测器件的测试失败。
44.可选地，在本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统中，每个测试通道上还设置有辅助断开装置，用于控制每个测试通道的接通与关断。被测器件和辅助断开装置的控制时序，如图7所示，以rly1为例，根据测试要求，设定开通的驱动时序，rl y1与其他被测器件的驱动时序错位，以避免有两个回路同时开通，rly1串联回路的触点故障切除电路器件k1的控制驱动要先于rly1的驱动之前触发，并持续处于导通状态，当rly1的触点检测在rly1的驱动停止后t3的时段内检测到rly1仍处于接通状态，即判断为rly1的触点失效，则在rly2驱动触发之前，将k1驱动断开，并将该状态锁死，避免对其它被测器件的影响。
45.可选地，在本技术实施例提供的电磁类器件的测试系统中，控制器上还设置有显
示界面，用于显示控制器接收到的用户输入的测试信息，还用于显示多个目标被测器件的驱动测试过程中的测试数据，如图8所示。
46.各个被测器件驱动测试成功后，测试次数加一，如果各个被测器件驱动测试后发生被测器件故障，测试次数保持不变，触发告警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置，如图9所示。
47.通过将如图8和图9在显示界面上对测试过程数据进行显示以及将测试失败结果进行显示，例如，y0(测试通道)中的被测器件故障，y0完成驱动测试的次数(已测试次数)为567890次，在测试失败结果中记录下y0测试在567890次。测试者可以直观的通过显示界面获知测试过程数据和测试失败结果，准确的掌握被测器件的测试情况。
48.本技术提供的可选的电磁类器件的测试系统的示意图，如图10所示，测试者可以采用设定选择模块进行参数设定，自由选择测试通道数量、测试频率和测试次数，并根据选择结果，自动匹配可以同回路测试的测试控制回路，并显示提醒。在显示模块，可以将测试者设定的参数，选择的测试通道数量、测试频率和测试次数进行显示，以及在后续测试过程中的测试过程数据和/或测试失败结果等也可以进行显示，以便测试者直观的能够获知这些数据信息。第一采样电路模块采集测试电源的电压，第二采样电路模块采集被测器件的触点两端电压，基于第一采样电路模块和第二采样电路模块即可确定被测器件是否存在触头粘连失效。控制器中的控制电路模块发出控制信号至被测试器件驱动电路模块，以对被测器件进行驱动测试。若发现触头粘连等故障，触点故障短路电路驱动电路模块可以立即断开或锁死该被测器件所在的通道，以降低对整个测试的影响。在测试系统的同一个电压回路、同一个负载条件下，可以同时测试多个同型号或不同型号、相同负载条件的产品。也可以同时分开测试不同负载的情况，扩展了测试平台的能力，极大的提高了负载利用率和测试的效率。进一步地，为了保证测试的有效性，检测每个回路被测器件的状态，发现触头粘连等故障可以立即断开该被测器件所在的通道、报警提醒并记录完成驱动测试的次数，避免对其它并行测试、使用同一负载的器件测试结果的影响。
49.图11是根据本技术实施例的电磁类器件的测试方法的流程图。如图11示，该方法包括以下步骤：
50.步骤s1101，获取控制器接收到的测试信息，其中，测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件。
51.需要说明的是，多个目标测试通道是待进行测试的通道，是多个测试通道中的一部分或者全部，目标测试通道是多个目标测试通道中的其中之一。例如，测试系统中包括20个测试通道，上述的多个目标测试通道是20个测试通道中的8个测试通道。上述的目标测试通道是8个测试通道中的其中一个。
52.步骤s1102，控制器基于测试信息，按照测试通道的次序对目标测试通道进行故障状态判断。
53.例如，需要对8个测试通道进行驱动测试，按照测试通道的次序首先对其中的第一测试通道(对应上述的目标测试通道)进行故障状态判断，具体地，例如，判断第一测试通道上是否出现辅助开关出现故障等情况。
54.步骤s1103，若判断出目标测试通道正常，则对目标测试通道进行驱动。
55.例如，第一测试通道上辅助开关正常，并未出现故障，判断第一测试通道正常，对
第一测试通道进行驱动。
56.步骤s1104，在对目标测试通道驱动完成后，检测目标测试通道上目标被测器件的触点状态。
57.例如，测试信号中，测试频率为开通1秒，关断9秒，10秒为一测试周期。在对第一测试通道驱动开通1秒后，检测第一测试通道上被测器件的触点状态。
58.步骤s1105，若目标被测器件的触点状态正常，则继续执行对与目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，直到所有目标测试通道驱动测试完成。
59.例如，第一测试通道上被测器件的触点状态正常，对第二测试通道(与第一测试通道相邻的下一测试通道)进行驱动测试，直到第八测试通道驱动测试完成。与现有技术(整个测试周期内，负载仅被一个测试器件占用)相比，通过上述步骤可以实现同时对8个测试通道中的被测器件的同时测试，测试效率提高了8倍。
60.因此，通过上述步骤s1101-s1105，可以实现控制多个被测器件同时进行同负载回路的耐久性测试，提高了该类器件测试效率和配套设备的利用率，同时也极大降低了测试时间和成本。
61.可选地，本技术实施例的电磁类器件的测试方法中，该方法还包括：若判断出目标测试通道故障，对目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试。
62.上述的目标测试通道出现故障，故障原因可以是目标测试通道中设置的辅助开关出现故障。在这种情况下，对目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，避免因为目标测试通道的故障，对其它测试通道进行驱动测试的影响。
63.可选地，本技术实施例的电磁类器件的测试方法中，该方法还包括：若检测到目标被测器件触点粘连失效，控制对目标测试通道进行断开或锁死。
64.例如，若检测到第一测试通道中的被测器件触点粘连失效，控制对第一测试通道进行断开或锁死，避免了出现两个被测器件同时导通的情况，及时减小对其他被测器件的影响。
65.为了，让测试者可以直观的获知测试过程数据和测试失败结果，准确的掌握被测器件的测试情况，可选地，本技术实施例的电磁类器件的测试方法中，该方法还包括：若判断出目标测试通道故障或者检测到目标被测器件触点粘连失效，触发报警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置。
66.在上述方案中，各个被测器件驱动测试成功后，测试次数加一，如果各个被测器件驱动测试后发生被测器件故障或者目标被测器件触点粘连失效，测试次数保持不变，同时触发告警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置，通过对测试过程数据进行显示以及将测试失败结果进行显示，例如，y0(测试通道)中的被测器件故障，y0完成驱动测试的次数(已测试次数)为567890次，在测试失败结果中记录下y0测试在567890次。测试者可以直观的通过显示界面获知测试过程数据和测试失败结果，准确的掌握被测器件的测试情况。
67.可选地，本技术实施例的电磁类器件的测试方法中，检测目标测试通道中的被测器件的触点状态包括：通过触点故障检测回路检测目标被测器件上目标器件两端的电压
值；若电压值大于预设电压值，则确定目标被测器件的触点粘连失效；若电压值不大于预设电压值，则确定目标被测器件的触点状态正常。
68.在上述方案中，预设电压值可以为电源电压采用的电压值，也即报警设定的下限电压值，若目标被测器件上目标器件两端的电压值大于电源电压采用的电压值，则确定目标被测器件的触点粘连失效，若目标被测器件上目标器件两端的电压值不大于电源电压采用的电压值，则确定目标被测器件的触点状态正常。通过上述方法可以准确快速的确定目标被测器件触点粘连失效还是触点状态正常，以便一旦发现目标被测器件触点粘连失效，则对目标被测器件所在的测试通道进行断开或锁死，避免因为目标被测器件触点粘连失效，出现两个被测器件同时导通的情况，及时减小对其他被测器件的影响。
69.如图12所示，图12中为可选的一种电磁类器件的测试方法的示意图，测试方法的步骤可以如下：在测试方法开始时，测试者可以在显示界面选择测试频率，选择测试次数，在测试系统接收到测试频率和测试次数后，系统提示可同回路测试通道，也即，可以同时测试的测试通道。然后测试系统开始自检，检测是否存在故障通道，若存在故障通道，则进行提示。在测试系统自检完成后，若测试系统没有问题，测试系统判断测试者选择通道配置是否和系统提示的测试通道是否匹配，若不匹配，则进行提示。若匹配，则依据预设驱动时序对第一测试通道进行故障状态判断，比如，第一测试通道上的辅助断开装置是否存在故障，若第一测试通道存在故障，则跳转至第二测试通道进行故障状态判断。若第一测试通道正常，则对第一测试通道进行驱动测试，在驱动测试完成后，检测第一测试通道上被测器件的触点状态，若被测器件的触点粘连失效，则进行通道故障报警，对第一测试通道进行断开或锁死。继续对第二测试通道进行故障状态判断
……
，在各个被测器件驱动测试成功后，测试次数加一，如果各个被测器件驱动测试后发生被测器件故障或者目标被测器件触点粘连失效，测试次数保持不变，触发告警提醒，在显示界面上将测试完成次数写入测试失败结果中对应通道显示位置。继续对各个被测器件执行下一测试周期的驱动测试，直到测试次数完成后，停止测试。
70.本发明实施例提供了一种计算机可读的存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现所述电磁类器件的测试方法。
71.本发明实施例提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行所述电磁类器件的测试方法。
72.本发明实施例提供了一种测试仪器，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现以下步骤：获取所述控制器接收到的所述测试信息，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件；所述控制器基于所述测试信息，按照测试通道的次序对所述目标测试通道进行故障状态判断；若判断出所述目标测试通道正常，则对所述目标测试通道进行驱动；在对所述目标测试通道驱动完成后，检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态；若所述目标被测器件的触点状态正常，则继续执行对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，直到所有目标测试通道驱动测试完成。
73.处理器执行程序时还实现以下步骤：若判断出所述目标测试通道故障，对所述目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱
动测试。
74.处理器执行程序时还实现以下步骤：若检测到所述目标被测器件触点粘连失效，控制对所述目标测试通道进行断开或锁死。
75.处理器执行程序时还实现以下步骤：若判断出所述目标测试通道故障或者检测到所述目标被测器件触点粘连失效，触发报警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置。
76.处理器执行程序时还实现以下步骤：检测所述目标测试通道中的被测器件的触点状态包括：通过触点故障检测回路检测所述目标被测器件上目标器件两端的电压值；若所述电压值大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点粘连失效；若所述电压值不大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点状态正常。
77.本技术还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：获取所述控制器接收到的所述测试信息，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件；所述控制器基于所述测试信息，按照测试通道的次序对所述目标测试通道进行故障状态判断；若判断出所述目标测试通道正常，则对所述目标测试通道进行驱动；在对所述目标测试通道驱动完成后，检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态；若所述目标被测器件的触点状态正常，则继续执行对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，直到所有目标测试通道驱动测试完成。
78.当在数据处理设备上执行时，还适于执行初始化有如下方法步骤的程序：若判断出所述目标测试通道故障，对所述目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试。
79.当在数据处理设备上执行时，还适于执行初始化有如下方法步骤的程序：若检测到所述目标被测器件触点粘连失效，控制对所述目标测试通道进行断开或锁死。
80.当在数据处理设备上执行时，还适于执行初始化有如下方法步骤的程序：若判断出所述目标测试通道故障或者检测到所述目标被测器件触点粘连失效，触发报警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置。
81.当在数据处理设备上执行时，还适于执行初始化有如下方法步骤的程序：检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态包括：通过触点故障检测回路检测所述目标被测器件上目标器件两端的电压值；若所述电压值大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点粘连失效；若所述电压值不大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点状态正常。
82.本领域内的技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
83.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序
指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
84.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
85.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
86.在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。
87.存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flash ram)。存储器是计算机可读介质的示例。
88.计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
89.还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
90.本领域技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
91.以上仅为本技术的实施例而已，并不用于限制本技术。对于本领域技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的权利要求范围之内。