一种目标剂量率的确定方法、装置及计算机可读存储介与流程

1.本技术涉及核辐射监测技术领域，尤其涉及一种目标剂量率的确定方法、装置及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.核辐射检测仪又称辐射检测仪，其核心部件是传感器，主要用于将各种需要检测的物理、化学等变量信息转变成可测量的电信号，再传给芯片进行计算得出辐射剂量值。核辐射检测仪剂量仪采用一支盖革-弥勒计数管来测定辐射，当每一次射线通过该gm管并引起电离时便使该gm管产生一次检测电流脉冲，每个脉冲被电子管电路检测并记录为一个计数，该剂量仪的显示值为在你所选定的模式下的计数值。由于放射性的随机特性，故由剂量仪所检测到的计数值各分钟有变化，当取一段平均时间内的读数则较为正确，当所取的时间间隔越长则平均数越准。
3.由于核辐射检测仪采用芯片得到计数值的剂量值，芯片会受到电流、电压等其他因素的影响从而剂量值的准确性，导致剂量值不准确。


技术实现要素：

4.本技术实施例的目的在于提供一种目标剂量率的确定方法、装置及可读存储介质，以解决剂量值不准确的问题。具体技术方案如下：
5.第一方面，提供了一种目标剂量率的确定方法，所述方法包括：
6.获取目标计数率，其中，所述目标计数率为核辐射监测设备检测到的待测点处的平均计数率；
7.确定所述目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围，其中，所述分段函数用于指示不同计数率对应的剂量率，所述剂量率为所述核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量，所述目标计数率范围包括端点处的最小计数率和最大计数率；
8.确定所述目标计数率范围在所述分段函数中的目标修正系数，其中，所述目标修正系数是通过所述最大计数率对应的最大剂量率、所述最小计数率对应的最小剂量率以及所述目标计数率范围得到的；
9.根据所述目标修正系数、所述最小计数率、所述最小剂量率和所述目标计数率，确定所述目标计数率对应的目标剂量率。
10.可选地，所述根据所述目标修正系数、所述最小计数率、所述最小剂量率和所述目标计数率，确定所述目标计数率对应的目标剂量率包括：
11.确定所述目标计数率和所述最小计数率之间的计数率差值；
12.将所述目标修正系数和所述计数率差值的乘积，作为所述计数率差值对应的剂量率高度，其中，所述剂量率高度用于指示所述计数率差值在所述分段函数中对应的纵坐标高度差值；
13.将所述剂量率高度与所述最小剂量率的和值，作为所述目标计数率对应的目标剂
量率。
14.可选地，所述目标剂量率的计算公式为：
15.f(x)＝(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)*(x-x1) f(x1)，
16.其中，f(x)为目标剂量率，x1为最小计数率，f(x1)为最小剂量率，x2为最大计数率，f(x2)为最大剂量率，x为目标计数率，(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)为目标修正系数。
17.可选地，确定所述目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围之前，所述方法还包括：
18.获取样本刻度点，其中，所述样本刻度点包括样本计数率和所述样本计数率对应的样本剂量率；
19.将所述样本刻度点按照预设顺序插入样本函数中，其中，所述样本函数包括至少一个已有刻度点，所述已有刻度点包括已有计数率和已有剂量率，所述预设顺序为所述样本计数率和所述已有计数率按照大小进行排列的顺序；
20.确定所述样本计数率的邻接计数率，其中，所述邻接计数率为所述样本计数率在所述样本函数中相邻的至少一个计数率；
21.根据所述样本计数率和所述邻接计数率，更新所述样本函数中的已有刻度点；
22.在所述样本计数率的数量达到预设数量阈值的情况下，按照更新后的已有刻度点确定所述分段函数。
23.可选地，所述根据所述样本计数率和所述邻接计数率，更新所述样本函数中的已有刻度点包括：
24.确定所述样本计数率的样本刻度系数和邻接计数率的邻接刻度系数，其中，刻度系数是根据剂量率和对应的计数率的商值得到的，所述邻接计数率对应邻接剂量率，所述邻接计数率和所述邻接剂量率构成邻接刻度点；
25.根据所述样本计数率、所述邻接计数率之间的大小关系，和所述样本刻度系数、所述邻接刻度系数之间的大小关系，确定所述样本刻度点是否满足预设条件，其中，所述预设条件为计数率越大则刻度系数越大；
26.在所述样本刻度点满足所述预设条件的情况下，根据所述样本刻度系数和所述邻接刻度系数是否满足计数偏差条件,更新所述样本函数中的已有刻度点。
27.可选地，所述根据所述样本刻度系数和所述邻接刻度系数是否满足计数偏差条件,更新所述样本函数中的已有刻度点包括：
28.确定样本刻度系数和所述邻接刻度系数之间的刻度系数差值；
29.将所述刻度系数差值和所述邻接刻度系数的商值作为计数偏差率；
30.在所述计数偏差率位于异常范围内的情况下，保留所述样本刻度点，并删除所述邻接刻度点；
31.在所述计数偏差率超出异常范围内的情况下，保留所述样本刻度点和所述邻接刻度点。
32.可选地，确定所述样本刻度点是否满足预设条件之后，所述方法还包括：
33.在所述样本刻度点不满足所述预设条件的情况下，保留所述样本刻度点，并删除所述邻接刻度点。
34.可选地，所述第一邻接计数率包括第一邻接计数率和第二邻接计数率，其中，所述
第一邻接计数率小于所述第二邻接计数率，在所述样本刻度点不满足所述预设条件的情况下，删除所述邻接刻度点包括：
35.在所述第一邻接计数率对应的刻度系数大于所述样本刻度系数的情况下，删除所述第一邻接计数率和所述第一邻接计数率对应的第一子邻接剂量率；
36.在所述第二邻接计数率对应的刻度系数小于所述样本刻度系数的情况下，删除所述第二邻接计数率和所述第二邻接计数率对应的第二子邻接剂量率。
37.第二方面，提供了一种目标剂量率的确定装置，所述装置包括：
38.获取模块，用于获取目标计数率，其中，所述目标计数率为核辐射监测设备检测到的待测点处的平均计数率；
39.确定模块，用于确定所述目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围，其中，所述分段函数用于指示不同计数率对应的剂量率，所述剂量率为所述核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量，所述目标计数率范围包括端点处的最小计数率和最大计数率；
40.确定模块，用于确定所述目标计数率范围在所述分段函数中的目标修正系数，其中，所述目标修正系数是通过所述最大计数率对应的最大剂量率、所述最小计数率对应的最小剂量率以及所述目标计数率范围得到的；
41.第三确定模块，用于根据所述目标修正系数、所述最小计数率、所述最小剂量率和所述目标计数率，确定所述目标计数率对应的目标剂量率。
42.第三方面，提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
43.存储器，用于存放计算机程序；
44.处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现任一所述的目标剂量率的确定方法步骤。
45.第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现任一所述的目标剂量率的确定方法步骤。
46.本技术实施例有益效果：
47.在本技术中，核辐射监测设备将目标计数率输入分段函数，确定目标计数率所在的目标计数率范围，然后确定目标计数率范围在分段函数中的目标修正系数，根据目标计数率、最小计数率之间的计数率差值，通过目标修正系数得到该计数率差值对应的剂量率高度，剂量率高度与最小剂量率的和值即为目标计数率对应的目标剂量率。本技术通过分段函数确定目标剂量率，避免有其他因素影响目标剂量率，提高目标剂量率的准确性。
48.当然，实施本技术的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上的所有优点。
附图说明
49.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
50.图1为本技术实施例提供的一种目标剂量率的确定方法硬件环境示意图；
51.图2为本技术实施例提供的一种目标剂量率的确定的方法流程图；
52.图3为本技术实施例提供的一种目标剂量率的确定装置的结构示意图。
具体实施方式
53.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
54.在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本技术的说明，其本身并没有特定的意义。因此，“模块”与“部件”可以混合地使用。
55.为了解决背景技术中提及的问题，根据本技术实施例的一方面，提供了一种目标剂量率的确定方法的实施例。
56.可选地，在本技术实施例中，上述目标剂量率的确定方法可以应用于如图1所示的由核辐射监测设备101和服务器103所构成的硬件环境中。如图1所示，服务器103通过网络与核辐射监测设备101进行连接，可用于为终端或终端上安装的客户端提供服务，可在服务器上或独立于服务器设置数据库105，用于为服务器103提供数据存储服务，上述网络包括但不限于：广域网、城域网或局域网。
57.本技术实施例中的一种目标剂量率的确定方法可以由核辐射监测设备101来执行，用于提高目标计数率对应的目标剂量率的准确性。
58.下面将结合具体实施方式，对本技术实施例提供的一种目标剂量率的确定方法进行详细的说明，如图2所示，具体步骤如下：
59.步骤201：获取目标计数率。
60.其中，目标计数率为核辐射监测设备检测到的待测点处的平均计数率。
61.在本技术实施例中，待测点会不断发射放射性粒子，核辐射监测设备用于检测待测点处的平均计数率，即目标计数率。服务器获取核辐射监测设备的目标计数率。其中，计数率的单位cps。核辐射检测设备可以为核辐射检测仪。
62.步骤202：确定目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围。
63.其中，分段函数用于指示不同计数率对应的剂量率，剂量率为核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量，目标计数率范围包括端点处的最小计数率和最大计数率。
64.在本技术实施例中，分段函数包括多段一次函数，分段函数中每两个刻度点构成一段一次函数，刻度点包括位于x轴的计数率和位于y轴的剂量率，剂量率为核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量。
65.分段函数中每两个计数率构成一个计数率范围，服务器获取到目标计数率后，确定目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围，目标计数率范围包括两个端点，该两个端点分别为目标计数率范围的最小计数率和最大计数率。其中，剂量率的单位usv/h。
66.步骤203：确定目标计数率范围在分段函数中的目标修正系数。
67.其中，目标修正系数是通过最大计数率对应的最大剂量率、最小计数率对应的最小剂量率以及目标计数率范围得到的。
68.在分段函数中，最大计数率对应最大剂量率，最小计数率对应最小剂量率，服务器
确定最大剂量率和最小剂量率的剂量率差值，然后确定最大计数率和最小计数率的计数率差值，将剂量率差值与计数率差值的商值作为目标修正系数，目标修正系数实质为目标计数率范围在分段函数中对应的斜率。
69.步骤204：根据目标修正系数、最小计数率、最小剂量率和目标计数率，确定目标计数率对应的目标剂量率。
70.服务器确定目标计数率和最小计数率之间的计数率差值，然后将目标修正系数和计数率差值的乘积，作为计数率差值对应的剂量率高度，其中，剂量率高度用于指示计数率差值在分段函数中对应的纵坐标高度差值，最后将剂量率高度与最小剂量率的和值，作为目标计数率对应的目标剂量率。
71.目标剂量率的计算公式为：
72.f(x)＝(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)*(x-x1) f(x1)，
73.其中，f(x)为目标剂量率，x1为最小计数率，f(x1)为最小剂量率，x2为最大计数率，f(x2)为最大剂量率，x为目标计数率，(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)为目标修正系数。
74.在本技术中，核辐射监测设备将目标计数率输入分段函数，确定目标计数率所在的目标计数率范围，然后确定目标计数率范围在分段函数中的目标修正系数，根据目标计数率、最小计数率之间的计数率差值，通过目标修正系数得到该计数率差值对应的剂量率高度，剂量率高度与最小剂量率的和值即为目标计数率对应的目标剂量率。本技术通过分段函数确定目标剂量率，避免有其他因素影响目标剂量率，提高目标剂量率的准确性。
75.作为一种可选地实施方式，确定目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围之前，通过以下方式得到分段函数，该方法包括：获取样本刻度点，其中，样本刻度点包括样本计数率和样本计数率对应的样本剂量率；将样本刻度点按照预设顺序插入样本函数中，其中，样本函数包括至少一个已有刻度点，已有刻度点包括已有计数率和已有剂量率，预设顺序为样本计数率和已有计数率按照大小进行排列的顺序；确定样本计数率的邻接计数率，其中，邻接计数率为样本计数率在样本函数中相邻的至少一个计数率；根据样本计数率和邻接计数率，更新样本函数中的已有刻度点；在样本计数率的数量达到预设数量阈值的情况下，按照更新后的已有刻度点确定分段函数。
76.在本技术实施例中，核辐射监测设备中存在一个二维的样本函数，样本函数中包括至少一个已有刻度点，已有刻度点包括已有计数率和已有剂量率，若该已有刻度点的数量为一个，则该已有刻度点为样本函数的原点(0，0)，若该已有刻度点的数量为多个，则该已有刻度点还包括除原点之外的其他刻度点。
77.核辐射监测设备获取样本刻度点，样本刻度点包括样本计数率和样本计数率对应的样本剂量率。核辐射监测设备按照样本计数率和已有计数率大小排列的顺序，将样本刻度点插入样本函数中，从而得到样本计数率的邻接计数率，邻接计数率的数量为至少一个，邻接计数率可以是小于样本计数率的一个邻接计数率，也可以是大于样本计数率的一个邻接计数率，还可以为样本计数率两侧的两个邻接计数率。核辐射监测设备根据样本计数率和邻接计数率更新样本函数中的已有刻度点，从而得到更新后的样本函数，当获取到的样本计数率的数量达到预设数量阈值时，核辐射监测设备按照更新后的已有刻度点确定分段函数。示例性地，预设数阈值为10，本技术对预设数量阈值不做具体限制。
78.在本技术中，核辐射监测设备根据样本计数率和邻接计数率更新样本函数中的已
有刻度点，从而得到更新后的样本函数，即分段函数，这样保证分段函数中存在的刻度点都是正确的，采用这样的分段函数可以提高目标剂量率的准确度。
79.作为一种可选的实施方式，根据样本计数率和邻接计数率，更新样本函数中的已有刻度点包括：确定样本计数率的样本刻度系数和邻接计数率的邻接刻度系数，其中，刻度系数是根据剂量率和对应的计数率的商值得到的，邻接计数率对应邻接剂量率，邻接计数率和邻接剂量率构成邻接刻度点；根据样本计数率、邻接计数率之间的大小关系，和样本刻度系数、邻接刻度系数之间的大小关系，确定样本刻度点是否满足预设条件，其中，预设条件为计数率越大则刻度系数越大；在样本刻度点满足预设条件的情况下，根据样本刻度系数和邻接刻度系数是否满足计数偏差条件,更新样本函数中的已有刻度点。
80.在本技术实施例中，样本计数率和已有计数率按照大小顺序排列后，样本计数率的邻接计数率为邻接计数率，邻接计数率对应邻接剂量率，邻接计数率和邻接剂量率构成邻接刻度点，邻接计数率的数量为一个或两个。
81.剂量率和对应的计数率的商值为该剂量率对应的刻度系数，那么样本计数率的样本刻度系数的得到公式为：样本刻度系数＝样本剂量率/样本计数率，邻接计数率的邻接刻度系数的得到公式为：邻接刻度系数＝邻接剂量率/邻接计数率。
82.核辐射监测设备判断样本刻度点是否满足预设条件，预设条件为计数率越大则刻度系数越大。即，若邻接计数率的数量为一个且邻接计数率小于样本计数率，那么邻接刻度系数也应该小于样本刻度系数；若邻接计数率的数量为两个，那么小于样本计数率的邻接计数率的邻接刻度系数也应该小于样本刻度系数，大于样本计数率的邻接计数率的邻接刻度系数也应该大于样本刻度系数。
83.核辐射监测设备先确定样本计数率和邻接计数率之间的大小关系，然后确定样本刻度系数和邻接刻度系数是否也满足上述大小关系，若否，则认为样本刻度点不满足预设条件；若是，则认为样本刻度点满足预设条件。
84.若样本刻度点不满足预设条件，则保留样本刻度点，并删除邻接刻度点。具体的，若样本刻度点不满足预设条件，则认为是新纳入的样本刻度点是正确的而之前存在的邻接刻度点是错误的，因此核辐射监测设备保留样本刻度点并删除邻接刻度点。
85.若样本刻度点满足预设条件，则继续确定样本刻度系数和邻接刻度系数是否满足计数偏差条件。若不满足计数偏差条件，则保留样本刻度点，并删除邻接刻度点；若满足计数偏差条件，则保留样本刻度点和邻接刻度点。
86.作为一种可选的实施方式，确定样本刻度系数和邻接刻度系数不满足计数偏差条件，删除邻接刻度点包括：确定样本刻度系数和邻接刻度系数之间的刻度系数差值；将刻度系数差值和邻接刻度系数的商值作为计数偏差率；在计数偏差率位于异常范围内的情况下，保留样本刻度点，并删除邻接刻度点；在计数偏差率超出异常范围内的情况下，保留样本刻度点和邻接刻度点。
87.核辐射监测设备确定计数偏差率，计数偏差率的计算公式为:
88.(样本刻度系数-邻接刻度系数)/邻接刻度系数。
89.核辐射监测设备若确定计数偏差率位于异常范围内，则保留样本刻度点，并删除邻接刻度点；计数偏差率超出异常范围内，则保留样本刻度点和邻接刻度点。
90.示例性地，异常范围n为-1％～1％，若-1％
≤n≤
1％,则保留样本刻度点，并删除邻
接刻度点；若n＞1％或n＜1％,则保留样本刻度点和邻接刻度点。
91.在本技术中，不仅通过样本刻度系数和邻接刻度系数的大小关系判断样本刻度点是否满足预设条件，还通过计数偏差率确定是否删除邻接刻度点，本技术通过预设条件和计数偏差率完成邻接刻度点的删除或保留，最大程度提高了样本函数中已有刻度点的正确性，从而保证了分段函数的准确性，也提高了目标剂量率的准确度。
92.作为一种可选的实施方式，邻接计数率的数量为两个，分别包括第一邻接计数率和第二邻接计数率，其中，第一邻接计数率小于第二邻接计数率，在样本刻度点不满足预设条件的情况下，删除邻接刻度点包括：若第一邻接计数率对应的刻度系数大于样本刻度系数，删除第一邻接计数率和第一邻接计数率对应的第一邻接剂量率；若在第二邻接计数率对应的刻度系数小于样本刻度系数，删除第二邻接计数率和第二邻接计数率对应的第二邻接剂量率。
93.可选的，本技术实施例还提供了一种目标剂量率的确定方法的处理流程图，具体步骤如下。
94.步骤1：获取样本刻度点，样本刻度点包括样本计数率cps
样
和样本剂量率，确定样本计数率的样本刻度系数k
样
。
95.步骤2：将样本刻度点按照cps由小到大的顺序插入样本函数中。
96.步骤3：确定样本计数率的邻接计数率cps
邻
，和邻接计数率的邻接刻度系数k
邻
。
97.步骤4：根据cps
邻
与cps
样
之间的大小关系，和k
邻
与k
样
之间的大小关系，确定样本刻度点是否满足预设条件，若满足，则执行步骤5，若不满足，则执行步骤8。
98.步骤5：若cps
邻
《cps
样
，且k
邻
《k
样
，以及cps
邻
》cps
样
，且k
邻
》k
样
，则保留样本刻度点和邻接刻度点。
99.步骤6：确定样本计数率的计数偏差率n＝(k
样-k
邻
)/k
邻
。
100.步骤7：若-1％≤n≤1％,则保留样本刻度点并删除邻接刻度点；若n＞1％或n＜1％,则保留样本刻度点和邻接刻度点。
101.步骤8：若cps
邻
《cps
样
，且k
邻
》k
样
，或cps
邻
》cps
样
，且k
邻
《k
样
，则保留样本刻度点，删除邻接刻度点。
102.基于相同的技术构思，本技术实施例还提供了一种目标剂量率的确定装置，如图3所示，该装置包括：
103.获取模块301，用于获取目标计数率，其中，目标计数率为核辐射监测设备检测到的待测点处的平均计数率；
104.确定模块302，用于确定目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围，其中，分段函数用于指示不同计数率对应的剂量率，剂量率为核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量，目标计数率范围包括端点处的最小计数率和最大计数率；
105.确定模块303，用于确定目标计数率范围在分段函数中的目标修正系数，其中，目标修正系数是通过最大计数率对应的最大剂量率、最小计数率对应的最小剂量率以及目标计数率范围得到的；
106.第三确定模块304，用于根据目标修正系数、最小计数率、最小剂量率和目标计数率，确定目标计数率对应的目标剂量率。
107.可选地，第三确定模块304用于：
108.确定目标计数率和最小计数率之间的计数率差值；
109.将目标修正系数和计数率差值的乘积，作为计数率差值对应的剂量率高度，其中，剂量率高度用于指示计数率差值在分段函数中对应的纵坐标高度差值；
110.将剂量率高度与最小剂量率的和值，作为目标计数率对应的目标剂量率。
111.可选地，目标剂量率的计算公式为：
112.f(x)＝(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)*(x-x1) f(x1)，
113.其中，f(x)为目标剂量率，x1为最小计数率，f(x1)为最小剂量率，x2为最大计数率，f(x2)为最大剂量率，x为目标计数率，(f(x2)-f(x1))/(x2-x1)为目标修正系数。
114.可选地，该装置还用于：
115.获取样本刻度点，其中，样本刻度点包括样本计数率和样本计数率对应的样本剂量率；
116.将样本刻度点按照预设顺序插入样本函数中，其中，样本函数包括至少一个已有刻度点，已有刻度点包括已有计数率和已有剂量率，预设顺序为样本计数率和已有计数率按照大小进行排列的顺序；
117.确定样本计数率的邻接计数率，其中，邻接计数率为样本计数率在样本函数中相邻的至少一个计数率；
118.根据样本计数率和邻接计数率，更新样本函数中的已有刻度点；
119.在样本计数率的数量达到预设数量阈值的情况下，按照更新后的已有刻度点确定分段函数。
120.可选地，该装置还用于:
121.根据样本计数率和邻接计数率，更新样本函数中的已有刻度点包括：
122.确定样本计数率的样本刻度系数和邻接计数率的邻接刻度系数，其中，刻度系数是根据剂量率和对应的计数率的商值得到的，邻接计数率对应邻接剂量率，邻接计数率和邻接剂量率构成邻接刻度点；
123.根据样本计数率、邻接计数率之间的大小关系，和样本刻度系数、邻接刻度系数之间的大小关系，确定样本刻度点是否满足预设条件，其中，预设条件为计数率越大则刻度系数越大；
124.在样本刻度点满足预设条件的情况下，根据样本刻度系数和邻接刻度系数是否满足计数偏差条件,更新样本函数中的已有刻度点。
125.可选地，该装置还用于:
126.根据样本刻度系数和邻接刻度系数是否满足计数偏差条件,更新样本函数中的已有刻度点包括：
127.确定样本刻度系数和邻接刻度系数之间的刻度系数差值；
128.将刻度系数差值和邻接刻度系数的商值作为计数偏差率；
129.在计数偏差率位于异常范围内的情况下，保留样本刻度点，并删除邻接刻度点；
130.在计数偏差率超出异常范围内的情况下，保留样本刻度点和邻接刻度点。
131.可选地，该装置还用于:
132.在样本刻度点不满足预设条件的情况下，保留样本刻度点，并删除邻接刻度点。
133.可选地，该装置还用于:
134.第一邻接计数率包括第一邻接计数率和第二邻接计数率，其中，第一邻接计数率小于第二邻接计数率，在样本刻度点不满足预设条件的情况下，删除邻接刻度点包括：
135.在第一邻接计数率对应的刻度系数大于样本刻度系数的情况下，删除第一邻接计数率和第一邻接计数率对应的第一子邻接剂量率；
136.在第二邻接计数率对应的刻度系数小于样本刻度系数的情况下，删除第二邻接计数率和第二邻接计数率对应的第二子邻接剂量率。
137.根据本技术实施例的又一方面还提供了一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读存储介质。
138.可选地，在本技术实施例中，计算机可读存储介质被设置为存储用于所述处理器执行上述方法的程序代码；
139.以上所述仅是本技术的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本技术。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本技术将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。