一种循环冗余校验的计算方法和装置与流程

技术特征：
1.一种循环冗余校验的计算方法，其特征在于包括如下步骤：(1)根据循环冗余校验的生成多项式g(x)构造系数矩阵f；(2)求出f
n
再取模2，所得到的矩阵为crc系数矩阵a；(3)判断输入数据的宽度m与生成多项式的次数n的大小关系，当n≥m时，对f
n
取模2，从crc系数矩阵a的前m列得到data系数矩阵b；当(x－1)n<m≤xn时，对f
n
、f
2n
、f
3n
…
f
xn
分别取模2，取f
xn
的后m－(x－1)n列，拼接在{f
(x－1)n
，
…
，f
3n
，f
2n
，f
n
}矩阵前，得到data系数矩阵b；其中，x为正整数且x≥2；(4)根据如下循环冗余校验的计算公式，获得crc计算结果crc
out
：其中，a为crc系数矩阵，b为data系数矩阵，为逻辑异或运算，crc
in
为上一次的crc计算结果，data
in
是待校验的输入数据。2.如权利要求1所述的循环冗余校验的计算方法，其特征在于：所述步骤(1)中，根据生成多项式g(x)构造系数矩阵f：其中，g’为生成多项式g(x)对应的多项式矩阵，e为单位矩阵。3.如权利要求1所述的循环冗余校验的计算方法，其特征在于：所述步骤(4)中，crc
in
为数字电路中crc
out
延时一周期的输出结果。4.如权利要求1所述的循环冗余校验的计算方法，其特征在于：所述步骤(4)中，二进制乘法用
‘
&’实现，模2运算用按位异或
‘
^’实现。5.一种循环冗余校验的计算装置，其特征在于包括处理器和存储器，所述处理器读取所述存储器中的计算机程序，用于执行以下操作：(1)根据循环冗余校验的生成多项式g(x)构造系数矩阵f；(2)求出f
n
再取模2，所得到的矩阵为crc系数矩阵a；(3)判断输入数据的宽度m与生成多项式的次数n的大小关系，当n≥m时，对f
n
取模2，从crc系数矩阵a的前m列得到data系数矩阵b；当(x－1)n<m≤xn时，对f
n
、f
2n
、f
3n
…
f
xn
分别取模2，取f
xn
的后m－(x－1)n列，拼接在{f
(x－1)n
，
…
，f
3n
，f
2n
，f
n
}矩阵前，得到data系数矩阵b；其中，x为正整数且x≥2；(4)根据如下循环冗余校验的计算公式，获得crc计算结果crc
out
：其中，a为crc系数矩阵，b为data系数矩阵，为逻辑异或运算，crc
in
为上一次的crc计算结果，data
in
是待校验的输入数据。6.如权利要求5所述的循环冗余校验的计算装置，其特征在于：所述步骤(1)中，根据生成多项式g(x)构造系数矩阵f：其中，g’为生成多项式g(x)对应的多项式矩阵，e为单位矩阵。
7.如权利要求5所述的循环冗余校验的计算装置，其特征在于：所述步骤(4)中，crc
in
为数字电路中crc
out
延时一周期的输出结果。8.如权利要求5所述的循环冗余校验的计算装置，其特征在于：所述步骤(4)中，二进制乘法用
‘
&’实现，模2运算用按位异或
‘
^’实现。

技术总结
本发明公开了一种循环冗余校验的计算方法和装置。该计算方法包括如下的步骤：(1)根据循环冗余校验的生成多项式G(x)构造系数矩阵F；(2)求出F


技术研发人员：梁伟杰 何代明 杨磊 李成武 贾莹莹
受保护的技术使用者：天津兆讯电子技术有限公司
技术研发日：2021.11.03
技术公布日：2022/2/28