一种新型半导体单晶片应力检测仪的制作方法

技术特征：
1.一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：包括机体(1)和夹持装置(4)，所述机体(1)的表面设有圆片(2)，所述机体(1)的表面固装有检测器(3)，所述机体(1)的表面设有两个夹持装置(4)，且两个夹持装置(4)相对于机体(1)的中心点对称分布，所述夹持装置(4)包括支撑块(41)，所述支撑块(41)的侧壁和机体(1)侧壁固装，所述支撑块(41)的侧壁设有转杆(42)，所述转杆(42)远离支撑块(41)的一端固装有主夹块(43)，所述主夹块(43)的表面设有副夹块(44)，所述主夹块(43)和副夹块(44)彼此靠近的一端分别和圆片(2)两侧活动连接。2.根据权利要求1所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述转杆(42)侧壁靠近支撑块(41)的位置固装有转块(45)，所述转块(45)的表面和支撑块(41)内壁转动连接，所述转块(45)表面远离转杆(42)的一端固装有转把(46)。3.根据权利要求2所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述副夹块(44)表面靠近主夹块(43)的位置固装有滑块(47)，所述滑块(47)的外表面和主夹块(43)内壁滑动连接，所述副夹块(44)和主夹块(43)彼此靠近的一端固装有第一弹簧(48)。4.根据权利要求3所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述滑块(47)远离副夹块(44)的一端固装有挡块(49)，所述主夹块(43)的表面开设有滑孔，所述滑块(47)借助滑孔和主夹块(43)滑动连接。5.根据权利要求4所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述机体(1)的表面设有清理装置(5)，所述清理装置(5)包括两个移动块(51)，两个所述移动块(51)分别位于机体(1)的两侧，所述移动块(51)的内壁滑动连接有滑动块(52)，两个所述滑动块(52)彼此靠近的一端固装有清理垫(53)，所述清理垫(53)位于检测器(3)的侧壁。6.根据权利要求5所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述机体(1)侧壁靠近移动块(51)的位置固装有放置块(54)，所述放置块(54)的内壁和移动块(51)外表面滑动连接，所述移动块(51)的侧壁固装有矩形块(55)。7.根据权利要求6所述的一种新型半导体单晶片应力检测仪，其特征在于：所述滑动块(52)的侧壁固装有连接块(56)，所述连接块(56)和矩形块(55)彼此靠近的一端固装有第二弹簧(57)。

技术总结
本实用新型涉及应力检测仪技术领域，具体为一种新型半导体单晶片应力检测仪，包括机体和夹持装置，机体的表面设有圆片，机体的表面固装有检测器，机体的表面设有两个夹持装置，且两个夹持装置相对于机体的中心点对称分布，夹持装置包括支撑块，支撑块的侧壁和机体侧壁固装，支撑块的侧壁设有转杆，转杆远离支撑块的一端固装有主夹块，主夹块的表面设有副夹块，机体的表面设有清理装置，清理装置包括两个移动块，两个移动块分别位于机体的两侧，移动块的内壁滑动连接有滑动块。本实用新型，解决了传统的单晶片在进行检测时，需要人手持转动检测，在需要定位检测时人手会出抖动导致检测不方便的问题。测不方便的问题。测不方便的问题。


技术研发人员：陈元瑞 程波 程鹏
受保护的技术使用者：无锡晶名光电科技有限公司
技术研发日：2021.09.30
技术公布日：2022/2/8