测编一体机的制作方法

1.本发明涉及集成电路生产设备技术领域，特别是涉及一种测编一体机。


背景技术：

2.现今科技不断发展和创新，集成电路(integrated circuit，简称ic)的应用和需求也越来越多，由于ic在生产过程中需要经过多道精密的制作过程，因此在ic出厂销售之前，必须经过一系列的检测，来确保ic的产品质量。其中检测的内容包含电性能测试，视觉检测等，所有测试完成后，通过测试的ic产品需要进行编带才能进入销售市场。现有分选测试机在对ic进行检测和分选之后，通过检测和分选的ic又被混在了一起。在后续的ic应用工序中，还需要再次对ic进行定位才可以进行编带处理，造成生产效率较低。


技术实现要素：

3.有鉴于此，有必要提供一种测编一体机，以解决现有技术中分选机在对ic进行检测和分选之后又会将ic混在一起，生产效率较低的技术问题。
4.本发明提供的一种测编一体机，其包括：上料组件，用于对ic进行上料定位；检测组件，设置在上料组件的下游，用于对上料定位后的ic进行检测；编带组件，设置在检测组件的下游，用于对检测后的ic进行编带处理。
5.如此设置，先使用上料组件用于对ic进行上料定位，然后通过检测组件对上料定位后的ic进行检测，最后直接让编带组件对检测后的ic进行编带处理。这样，在编带组件对ic进行编带处理时，可以直接利用上料组件和检测组件对ic的上料定位和检测，不需要额外设置对ic进行上料定位以及检测的相关部件，极大的简化了ic的一系列加工工序，提高了ic的生产安装效率。
6.在另一实施方式中，编带组件包括：编带轨道，编带轨道与检测组件的输出轨道相连；编带机械手，用于将检测后的ic安装在编带上。
7.如此设置，可以提升编带效率和自动化程度。
8.在另一实施方式中，编带组件还包括顶面检测器，顶面检测器用于检测ic的顶面，顶面检测器位于编带机械手的上游，如果顶面检测器检测到ic的顶面不符合顶面检测标准，编带机械手则将不合格的ic放到编带区落料盒中；如果顶面检测器检测到ic的顶面符合顶面检测标准，编带机械手则将合格的ic安装在编带上。
9.如此设置，可以提升检测自动性。
10.在另一实施方式中，检测组件包括：温压检测组件，温压检测组件安装在上料组件的下游，温压检测组件用于对ic进行温度控制和压测；3d检测组件，3d检测组件安装在温压检测组件的下游，3d检测组件用于对ic的外形检测，编带组件安装在3d检测组件的下游。
11.如此设置，可以提升检测自动性，实现温度和压力测试。
12.在另一实施方式中，温压检测组件包括：预温盘，安装在上料组件的下游；预温上料机械手，安装在预温盘处，用于将上料组件上料定位的ic放在预温盘中；测压区入料梭，
安装在预温盘的下游；测压上料机械手，安装在测压区入料梭处，用于将预温后的ic放入测压区入料梭内；测压器，安装在测压区入料梭的下游，用于对ic进行测压，并对ic进行测压结果标记；测压区出料梭，安装在测压器的下游；温压筛选机械手，安装在测压区出料梭处，根据测压结果将合格的ic放置到3d检测组件处，将不合格的ic放置到温压区落料盒中。
13.如此设置，可以进行预热，并实现自动上料和下料，进行预温和测压。
14.在另一实施方式中，3d检测组件包括：pnp料梭，安装在温压筛选机械手的下游，pnp料梭用于承接合格的ic；3d检测器，设置在pnp料梭的下游；3d检测机械手，安装在3d检测器和pnp料梭之间，3d检测机械手用于将pnp料梭上的ic抓起在3d检测器处进行3d检测，再将3d检测后标记3d检测结果的ic放入pnp料梭；3d筛选机械手，安装在pnp料梭和编带组件之间，3d筛选机械手根据3d检测结果将合格的ic放置到编带组件处，将不合格的ic放置到3d检测落料盒中。
15.如此设置，可以自动进行3d检测并进行检测的自动落料。
16.在另一实施方式中，上料组件包括：振动盘，用于承接未分选检测的ic；导轨，安装在振动盘的下游，用于传送分选的ic；ic定位器，安装在导轨的下游，用于对ic进行定位；表面检测机构，安装在ic定位器的下游，用于对ic的表面的信息进行检测，如果ic通过了表面检测，则将ic放入至检测组件处，如果ic没有通过表面检测，则将ic放入到上料区落料盒。
17.如此设置，可以实现自动上料和整料，以方便分选和定位。
18.在另一实施方式中，表面检测机构包括：引脚载物台，引脚载物台用于配合ic定位器对ic进行固定；引脚检测器，用于对引脚载物台上的ic进行引脚检测。
19.如此设置，可以进行引脚配合和检测，提升了自动性能。
20.在另一实施方式中，上料组件包括：ic旋转器，安装在ic定位器的下游，ic旋转器用于将ic旋转到预定方向；放料机械手，用于将ic旋转器旋转到预定方向的ic放置到检测组件处。
21.如此设置，可以进行ic定位和旋转，以方便检测和定位。
22.在另一实施方式中，上料组件还包括上料区料梭，上料区料梭安装在放料机械手的下游，放料机械手将转到预定方向的ic放置到上料区料梭上。
23.如此设置，可以进行自动上料，提升自动化程度和生产效率。
附图说明
24.图1为根据本发明的测编一体机的实施例的俯视结构示意图。
具体实施方式
25.下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
26.需要说明的是，当组件被称为“装设于”另一个组件，它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个
组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。
27.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
28.为了便于理解和对该方法进行清楚说明，在对方法进行说明之前，对贴附装置的结构进行简略说明。
29.如图1所示，图1示出了本发明的测编一体机的实施方式，该测编一体机包括上料组件10、检测组件20和编带组件30。其中，检测组件20设置在上料组件10的下游，编带组件30设置在检测组件20的下游。
30.应用本发明的技术方案，先使用上料组件10用于对ic进行上料定位，然后通过检测组件20对上料定位后的ic进行检测，最后直接让编带组件30对检测后的ic进行编带处理。这样，在编带组件30对ic进行编带处理时，可以直接利用上料组件10和检测组件20对ic的上料定位和检测，不需要额外设置对ic进行上料定位以及检测的相关部件，极大的简化了ic的一系列加工工序，提高了ic的检测包装效率，节约了时间和人工成本。
31.作为一种可选的实施方式，编带组件30包括编带轨道31和编带机械手。其中，编带轨道31与检测组件20的输出轨道相连。在使用的过程中，编带机械手将检测后的ic安装在编带上。
32.更为优选的，在本实施例的技术方案中，编带组件30还包括顶面检测器32，顶面检测器32用于检测ic的顶面，顶面检测器32位于编带机械手的上游。在使用时，如果顶面检测器32检测到ic的顶面不符合顶面检测标准，编带机械手则将不合格的ic放到编带区落料盒中；如果顶面检测器32检测到ic的顶面符合顶面检测标准，编带机械手则将合格的ic安装在编带上。这样就可以对ic的顶面的标签是否准确清晰，还可以判断出ic的实际方向。
33.如图1所示，在本实施例的技术方案中，检测组件20包括温压检测组件和3d检测组件。其中，温压检测组件安装在上料组件10的下游，3d检测组件安装在温压检测组件的下游，编带组件30安装在3d检测组件的下游。在使用时，温压检测组件对ic进行温度控制和压测，之后3d检测组件对ic的外形检测。需要说明的是，3d检测组件主要通过视觉检测来确定ic的外形是否和标准的外形是一致的，从而判断ic是否发生了变形或者损坏。
34.可选的，在本实施例的技术方案中，温压检测组件包括预温盘21、预温上料机械手22、测压上料机械手、测压区入料梭23、测压器24、测压区出料梭25和温压筛选机械手。其中，预温盘21安装在上料组件10的下游，预温上料机械手22安装在预温盘21处，测压区入料梭23安装在预温盘21的下游，测压上料机械手安装在测压区入料梭23处，测压器24安装在测压区入料梭23的下游，测压区出料梭25安装在测压器24的下游，温压筛选机械手安装在测压区出料梭25处。在使用时，预温上料机械手22将上料组件10上料定位的ic放在预温盘21中，从而实现对ic预温。测压上料机械手将预温后的ic放入测压区入料梭23内，测压器24用于对ic进行测压并对ic进行测压结果标记，测压器24主要起到在特定环境下对ic进行电性能测试的作用，温压筛选机械手根据测压结果将合格的ic放置到3d检测组件处，将不合格的ic放置到温压区落料盒26中。可选的，上述的预温盘21可以通过冷媒机提供冷媒、加热棒加热实现温控功能，整机作为一个整体腔室密封，利用干燥器往内部腔室吹气，保证入料
区和测试区为干燥环境，从而使得在低温环境下ic及其周围环境达到防霜结露的需求。当需要对预温盘21进行加热时，也可以采用电加热结构进行加热，以提高加热效率。可选的，在本实施例的技术方案中，预温上料机械手22和测压上料机械手为同一个机械手，预温上料机械手22的范围覆盖预温盘21和测压区入料梭23。作为其他的可选的实施方式，预温上料机械手22和测压上料机械手也可以为两个不同的机械手。
35.在本实施例的技术方案中，更为优选的，3d检测组件包括pnp料梭27、3d检测器28、3d检测机械手和3d筛选机械手29，其中，pnp料梭27安装在温压筛选机械手的下游，3d检测器28设置在pnp料梭27的下游，3d检测机械手安装在3d检测器28和pnp料梭27之间，3d筛选机械手29安装在pnp料梭27和编带组件30之间。在使用的过程中，pnp料梭27用于承接合格的ic，3d检测机械手将pnp料梭27上的ic抓起在3d检测器28处进行3d检测，再将3d检测后标记3d检测结果的ic放入pnp料梭27，最后3d筛选机械手29根据3d检测结果将合格的ic放置到编带组件30处，将不合格的ic放置到3d检测落料盒中。
36.如图1所示，在本实施例的技术方案中，上料组件10包括振动盘11、导轨、ic定位器12和表面检测机构13。其中，导轨安装在振动盘11的下游，ic定位器12安装在导轨的下游，表面检测机构13安装在ic定位器12的下游。在使用时，通过振动盘11承接待分选检测的ic，让导轨传送待分选的ic，让ic定位器12用于对ic进行定位，最后通过表面检测机构13对ic的表面的信息进行检测。如果ic通过了表面检测，则将ic运送至检测组件20处，如果ic没有通过表面检测，则将ic放入到上料区落料盒15。需要说明的是，表面信息可以包括二维码信息或者条形码信息。
37.作为一种可选的实施方式，在本实施方式的技术方案中，表面检测机构13包括引脚载物台和引脚检测器。其中，引脚载物台配合ic定位器12对ic进行固定，引脚检测器对引脚载物台上的ic进行引脚检测。
38.如图1所示，在本实施例的技术方案中，上料组件10包括ic旋转器14和放料机械手。其中，ic旋转器14，安装在ic定位器12的下游。在使用的过程中，ic旋转器14将ic旋转到预定方向，放料机械手将ic旋转器14旋转到预定方向的ic放置到检测组件20处，这样可以方便ic的后续检测以及生产安装的加工工序。
39.可选的，在本实施方式的技术方案中，上料组件10还包括上料区料梭16，上料区料梭16安装在放料机械手的下游，放料机械手将转到预定方向的ic放置到上料区料梭16上。
40.具体的，本发明的测编一体机的使用流程如下：将散料ic放入振动盘11中，通过弯轨进入直振轨道，并在弯轨与直轨衔接处增设吹气功能，共同作用ic使其到达轨道末端取料位。随后进入转盘检测区域，首先通过ic定位器12进行ic定位，定位后让表面检测机构13进行引脚检测检测，检测不通过进入上料区落料盒15，通过则进入ic旋转器14，将ic旋转至测压对应的角度后，进入上料区料梭16。随后ic由预温上料机械手22取料进入预温盘21进行预温，等ic的温度达到预设温度时，将ic送入测压器24，电性能测试完成后，ic进入测压区出料梭25，由温压筛选机械手对ic筛选，将合格的ic放置到pnp料梭27处，将不合格的ic放置到温压区落料盒26中。pnp料梭27将ic带入到3d检测器28，让3d检测器28进行视觉检测。视觉检测完成后，ic进入pnp料梭27，未通过检测的依据未通过项分别进3d检测落料盒中。优选的，还可以将3d检测落料盒进行分类，将尺寸不合格的放入尺寸落料盒，将标识不合格的放入标识落料盒。最终通过检测的ic进入到编带组件30所在区域，通过编带轨道31
和编带机械手将检测后的ic安装在编带上，安装在编带上的ic可以输出出料。
41.上述的各种料梭装置，主要作为ic的运送载体，方便ic在保持当前未知的状态下进行运送。可选的，上述的定位器或者机械手，可以为加持式，也可以为吸盘式，更有甚者也可以为软体仿生手指。
42.在此过程之中，散料ic必须经过电性能测试和视觉测试后，才能保证产品的一致性和稳定性，通过测试的ic才可以称为合格产品，并且销售之前，对于ic产品需要进行编带处理，例如2500片/盘，4000片/盘等，利于产品的计数和保存。
43.由上述内容可知，本发明的技术方案将分选机和编带机结合到一起，发明了一款测试编带一体机，节省了大量的重复步骤，在不缺失功能的前提下，最大化的使得ic的测试分选编带整体效率大大提高，节约了人工成本和生产成本，最后由于本机的尺寸比两台机器相加要小的多，同样的厂房规划可以容纳更多的机器，提高了生产的规模。
44.以上所述实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
45.本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围内。
46.为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在
……
之上”、“在
……
上方”、“在
……
上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在
……
上方”可以包括“在
……
上方”和“在
……
下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
47.在本发明的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
48.以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。