用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置的制作方法

技术特征：
1.一种用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，包括采样滤膜，其特征在于：所述光学装置还包括光源、第一光路系统、安装台面、第二光路系统、光谱仪，所述安装台面上方设有光纤接口上安装框，安装台面下方设有光纤接口下安装框，所述光纤接口上安装框上设有第一安装孔和第二安装孔，光纤接口下安装框上设有第三安装孔和第四安装孔，第一安装孔和第二安装孔分别通过安装台面上的透光孔与光纤接口下安装框的第三安装孔和第四安装孔的位置对准；所述采样滤膜设置在安装台面上方，并位于光纤接口上安装框下方；所述光源顺次通过第一光路系统、第一安装孔和第二安装孔、第三安装孔和第四安装孔、第二光路系统与光谱仪相连。2.根据权利要求1所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：所述第一光路系统包括第一光纤接口、第一光纤、第二光纤接口、第一光路切换器、第三光纤接口、第四光纤接口、第二光纤、第三光纤、第五光纤接口和第六光纤接口，所述第二光纤接口设置在第一光路切换器一侧，第一光路切换器另一侧设有第三光纤接口、第四光纤接口；所述光源通过第一光纤接口与第一光纤的一端连接，第一光纤的另一端连接第二光纤接口，第三光纤接口通过第二光纤与第五光纤接口连接，第四光纤接口通过第三光纤与第六光纤接口连接，所述第五光纤接口、第六光纤接口分别固定于光纤接口上安装框的第一安装孔和第二安装孔。3.根据权利要求2所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：所述第二光路系统包括第七光纤接口、第八光纤接口、第四光纤、第五光纤、第九光纤接口、第十光纤接口、第二光路切换器、第十一光纤接口、第六光纤和第十二光纤接口，所述第七光纤接口和第八光纤接口分别固定于第三安装孔和第四安装孔，第四光纤和第五光纤的一端分别连接第七光纤接口和第八光纤接口，另一端分别连接设置在第二光路切换器上的第九光纤接口和第十光纤接口，第十一光纤接口设置在第二光路切换器的另一侧，第十一光纤接口连接第六光纤的一端，第六光纤的另一端的通过第十二光纤接口连接光谱仪。4.根据权利要求1所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：第一安装孔、第二安装孔、第三安装孔和第四安装孔的位置均在采样滤膜传送覆盖范围内。5.根据权利要求1所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：所述光学装置还包括进风段、滤膜压框和出风段，所述进风段包括进风管道、采样上风罩，进风管道下端连接采样上风罩，滤膜压框安装于采样上风罩下端并隔着采样滤膜设置在安装台面的上方；所述出风段包括采样下风罩、出风管道，所述采样下风罩的上端设置在安装台面的下方，采样下风罩的下端连接出风管道；所述安装台面设有通风孔，采样上风罩、滤膜压框和采样下风罩的安装位置与安装台面的通风孔对准。6.根据权利要求1所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：所述光纤接口上安装框、光纤接口下安装框分别与安装台面固定。7.根据权利要求1所述用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，其特征在于：所述采样滤膜为连续带状结构，采样滤膜一端设有放膜导辊，采样滤膜另一端设有收膜导辊。

技术总结
本实用新型涉及一种用于气体颗粒物采样滤膜自动传送张力检测的光学装置，包括光源、第一光路系统、安装台面、第二光路系统、光谱仪，安装台面上方、下方分别设有光纤接口上安装框、光纤接口下安装框，光纤接口上安装框上设有第一安装孔和第二安装孔，光纤接口下安装框上设有第三安装孔和第四安装孔，第一安装孔和第二安装孔分别通过安装台面上的透光孔与光纤接口下安装框的第三安装孔和第四安装孔的位置对准；光源顺次通过第一光路系统、第二光路系统与光谱仪相连。本实用新型可以对采样滤膜实施非接触式检测，检测过程中只需通过光照射采样滤膜，不对滤膜实施额外的牵拉，降低了采样滤膜的额外污染风险，光学检测的实时性好，可长期运行。可长期运行。可长期运行。


技术研发人员：武晓莉 项新建 柳世波 黄炳强 郑慧
受保护的技术使用者：浙江科技学院
技术研发日：2021.08.18
技术公布日：2022/2/7