1.本实用新型涉及测试治具领域，具体为一种适用于高频测试的夹治具。
背景技术：
2.测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。btb连接器又称板对板连接器，是电子市场上一种常见的连接器产品。在各种类型的连接器产品中，btb连接器的传输功能最强，应用范围也最广泛，在很多领域中都能发挥很好地作用，尤其是通信网络、办公设备、智能家电、医疗设备、电力系统、工业制造等行业。随着电子产品的轻薄短小的高速发展，btb连接器的发展也朝向小pitch、多pin数、低高度、高频率应用的方向发展。电子产品的薄壁化也使得btb连接器的应用更加广泛。
3.而现有的btb连接器高频测试治具大多存在高频信号的反射波，对测试造成一定的影响，实用性不佳。
技术实现要素：
4.本实用新型主要是解决上述现有技术所存在的技术问题，提供一种适用于高频测试的夹治具。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种适用于高频测试的夹治具，包括网分仪、50欧阻抗同轴电缆和测试电路板，所述测试电路板的一侧设置有检测铜座，所述检测铜座的内部设置有弹性探针，所述弹性探针包括接地弹性探针和信号弹性探针，所述信号弹性探针的上下两端固定连接有注塑包胶块，所述检测铜座的底端设置有安装槽，所述安装槽的内部设置有铜镶块，所述检测铜座的顶端设置有检测凸台。
6.优选的，所述网分仪1通过两条50欧阻抗同轴电缆连接在测试电路板3的两侧。
7.优选的，所述弹性探针的数量为多组，所述检测铜座的内部设置有与弹性探针相适配的多个上下贯通的通孔，所述信号弹性探针与检测铜座的通孔之间形成有空气间隙。
8.优选的，所述弹性探针的上端伸出检测凸台底面1-2mm，所述检测凸台底面的四周设置有环形的定位台阶。
9.优选的，所述注塑包胶块包括圆柱体以及凸出于圆柱体表面的凸台，所述注塑包胶块与信号弹性探针配合连接。
10.优选的，所述接地弹性探针环绕信号弹性探针设置。
11.优选的，测试电路板上设置有与50欧阻抗同轴电缆中心芯线连接的导线，沿导线的两侧设置有两排直线阵排列的盲孔。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
13.本实用新型用于对btb连接器进行检测，由于治具中使用了两条50欧阻抗的同轴电缆，为了匹配同轴电缆的阻抗，减少高频信号的反射波，因此设置有一个阻抗匹配弹性探针，在该弹性探针的上下两端固定连接有注塑包胶块，该探针与检测铜座的通孔之间填充
有空气介质，通过设计空气介质的厚度，弹性探针的直针，可以使该探针具有与50欧阻抗的同轴电缆相匹配的阻抗，同时在电路板上与同轴电缆芯线连接的导线两侧设置有两条呈直线阵列排布的盲孔，通过调节盲孔与盲孔之间的间隔，以及通孔与导体之间距离，也可以使该电路板具有与同轴电缆相匹配的阻抗，减少了信号的反射。
附图说明
14.图1为本实用新型整体的结构示意图；
15.图2为本实用新型局部的结构示意图；
16.图3为本实用新型检测铜座剖面的结构示意图。
17.图中：1网分仪、2 50欧阻抗同轴电缆、3测试电路板、4检测铜座、5弹性探针、51接地弹性探针、52信号弹性探针、6注塑包胶块、7空气间隙、8安装槽、9铜镶块、10检测凸台、11定位台阶、31导线、32盲孔。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.请参阅图1-3，一种适用于高频测试的夹治具，包括网分仪1、50欧阻抗同轴电缆2和测试电路板3，网分仪1通过两条50欧阻抗同轴电缆2连接在测试电路板3的两侧,测试电路板3的一侧设置有检测铜座4，检测铜座4的内部设置有弹性探针5，弹性探针5包括接地弹性探针51和信号弹性探针52，接地弹性探针51环绕信号弹性探针52设置，信号弹性探针52的数量为至少有两组，信号弹性探针52的上下两端固定连接有注塑包胶块6，检测铜座4的底端设置有安装槽8，安装槽8的内部设置有铜镶块9，检测铜座4底端的安装槽8的内部设置有定位孔，铜镶块顶部设置有相配的定位凸起，铜镶块9便于安装多组弹性探针，检测铜座4的顶端设置有检测凸台10，测试电路板3的上侧设置有与50欧阻抗同轴电缆2中心芯线连接的导线，沿导线的两侧设置有两排直线阵排列的盲孔，两条直线排布的盲孔形成了与50欧阻抗同轴线缆2的屏蔽层编织网类似的网孔结构，使之具有与50欧阻抗同轴电缆2的阻抗相匹配，减少了信号的反射。
20.请参阅图1-3，在本实施例的一个方面中，弹性探针5的数量为多组，检测铜座4的内部设置有与弹性探针5相适配的多个上下贯通的通孔，信号弹性探针52与检测铜座4的通孔之间形成有空气间隙7，空气间隙7的内部填充有空气介质。
21.请参阅图1-3，在本实施例的一个方面中，弹性探针5的上端伸出检测凸台10底面1-2mm，检测凸台10底面的四周设置有环形的定位台阶11，环形的定位台阶11便于对检测铜座4进行定位。
22.请参阅图3，注塑包胶块6包括圆柱体以及凸出于圆柱体表面的凸台，注塑包胶块6与信号弹性探针52配合连接，注塑包胶块6起到对信号弹性探针52进行加固的作用。
23.测试电路板3上设置有与50欧阻抗同轴线缆中心芯线连接的导线31，沿导线31的两侧设置有两排直线阵排列的盲孔32，两条直线排布的盲孔32形成了与同轴线缆的屏蔽层
编织网类似的网孔结构，使之具有与同轴电缆的阻抗相匹配，减少了高频信号的反射。
24.综上所述，该btb连接器高频测试治具，由于治具中使用了两条50欧阻抗的同轴电缆，为了匹配同轴电缆的阻抗，减少高频信号的反射波，因此设置有一个阻抗匹配弹性探针，在该弹性探针的上下两端固定连接有注塑包胶块，该探针与检测铜座的通孔之间填充有空气介质，通过设计空气介质的厚度，弹性探针的直针，可以使该探针具有与50欧阻抗的同轴电缆相匹配的阻抗，同时在电路板上与同轴电缆芯线连接的导线两侧设置有两条呈直线阵列排布的盲孔，通过调节盲孔与盲孔之间的间隔，以及通孔与导体之间距离，也可以使该电路板具有与同轴电缆相匹配的阻抗，减少了信号的反射。
25.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
技术特征：
1.一种适用于高频测试的夹治具，包括网分仪(1)、50欧阻抗同轴电缆(2)和测试电路板(3)，其特征在于：所述测试电路板(3)的一侧设置有检测铜座(4)，所述检测铜座(4)的内部设置有弹性探针(5)，所述弹性探针(5)包括接地弹性探针(51)和信号弹性探针(52)，所述信号弹性探针(52)的上下两端固定连接有注塑包胶块(6)，所述检测铜座(4)的底端设置有安装槽(8)，所述安装槽(8)的内部设置有铜镶块(9)，所述检测铜座(4)的顶端设置有检测凸台(10)。2.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：所述网分仪(1)通过两条50欧阻抗同轴电缆(2)连接在测试电路板(3)的两侧。3.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：所述弹性探针(5)的数量为多组，所述检测铜座(4)的内部设置有与弹性探针(5)相适配的多个上下贯通的通孔，所述信号弹性探针(52)与检测铜座(4)的通孔之间形成有空气间隙(7)。4.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：所述弹性探针(5)的上端伸出检测凸台(10)底面1-2mm，所述检测凸台(10)底面的四周设置有环形的定位台阶(11)。5.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：所述注塑包胶块(6)包括圆柱体以及凸出于圆柱体表面的凸台，所述注塑包胶块(6)与信号弹性探针(52)配合连接。6.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：所述接地弹性探针(51)环绕信号弹性探针(52)设置。7.根据权利要求1所述的一种适用于高频测试的夹治具，其特征在于：测试电路板(3)上设置有与50欧阻抗同轴电缆(2)中心芯线连接的导线(31)，沿导线(31)的两侧设置有两排直线阵排列的盲孔(32)。
技术总结
本实用新型公开了一种适用于高频测试的夹治具，包括网分仪、50欧阻抗同轴电缆和测试电路板，测试电路板的一侧设置有检测铜座，检测铜座的内部设置有弹性探针，弹性探针包括接地弹性探针和信号弹性探针，信号弹性探针的上下两端固定连接有注塑包胶块，检测铜座的底端设置有安装槽，安装槽的内部设置有铜镶块，检测铜座的顶端设置有检测凸台。本实用新型设置一个阻抗匹配弹性探针，该探针与检测铜座的通孔之间填充有空气介质，可以使该探针具有与同轴电缆相匹配的阻抗，设置两条呈直线阵列排布的盲孔，通过调节盲孔与盲孔之间的间隔，以及通孔与导体之间距离，也可以使该电路板具有与同轴电缆相匹配的阻抗，减少了高频信号的反射。射。射。
技术研发人员：何均
受保护的技术使用者：深圳芯经纬科技有限公司
技术研发日：2021.07.19
技术公布日：2022/1/26
再多了解一些
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