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一种新型电容屏测试治具的制作方法

2022-02-21 21:22:36 来源:中国专利 TAG:

1.本实用新型涉及背光测试技术领域,具体为一种新型电容屏测试治具。


背景技术:

2.目前电容屏在制造出厂过程中都需要经过通电测试才能出厂,在对电容屏进行测试时,一般是通过转接器连接siu测试模块进行通电显示测试,但目前在用siu测试模块进行测试时siu测试模块一般是直接裸露的,在测试过程中很容易被静电影响,从而影响电容屏测试结果的准确性,且siu测试模块没有有效的保护措施,在使用过程中也非常容易损坏。


技术实现要素:

3.本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种新型电容屏测试治具,解决了现有技术中采用siu测试模块对电容屏进行通电测试时,siu测试模块一般是直接裸露的,在测试过程中很容易被静电影响,从而影响电容屏测试结果的准确性,且siu测试模块没有有效的保护措施,在使用过程中也非常容易损坏的问题。
4.为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:
5.一种新型电容屏测试治具,包括siu测试模块、电木箱体及电木箱盖,所述电木箱体为上端开口的中空方形腔体类结构,所述电木箱盖可拆卸地覆盖于所述电木箱体的上端开口上,所述siu测试模块固定安装于所述电木箱体内,所述电木箱体的一侧开设有一个与所述siu测试模块对齐的避空槽,所述siu测试模块对齐所述避空槽的一侧开设有一个电源接口,所述电木箱体内还固定安装有一个usb接口,所述usb接口与所述siu测试模块电性连接,所述电木箱体的一侧开设有一个与所述usb接口对齐的usb避空槽,所述siu测试模块的顶部设置一排按键及一个测试接口,所述电木箱盖上开设有一个按键避空槽及一个测试接口避空槽,所述按键避空槽与测试接口避空槽分别与所述按键及测试接口对齐,所述siu测试模块靠近所述避空槽的一侧设置有一个电源开关,所述电木箱盖上开设有一个与所述电源开关对齐的开关避空槽。
6.进一步地,所述电木箱体沿其周向均匀开设有数个安装孔,所述电木箱盖沿其周向开设有数个与所述安装孔相适配的安装过孔,当所述电木箱盖覆盖于所述电木箱体上时,所述安装孔与所述安装过孔对齐,可通过所述安装过孔向所述安装孔内打入固定螺钉,从而将电木箱盖固定于所述电木箱体上。
7.进一步地,所述避空槽的顶部开设有一个“u”字形缺口,所述“u”字形缺口与所述开关避空槽对齐连通。
8.进一步地,所述usb避空槽的一侧开设有一个预留槽。
9.本使用新型结构简单,设计合理,可通过将siu测试模块固定设置于电木箱体内,然后再通过电木箱盖将电木箱体的上端开口密封,由于电木箱体及电木箱盖均采用防静电的电木材料制得,因此在测试过程中可有效防止siu测试模块受到静电的影响,保证了电容
屏在通电测试过程中的测试结果的准确性,且电木箱体及电木箱盖还可对设置于电木箱体内的siu测试模块起到保护作用,防止其在使用过程中被损坏。当采用该装置对电容屏进行通电测试时,可先通过电木箱盖上的测试接口避空槽使得测试接口外接转接器,然后再通过转接器与电容屏连接,然后再通过usb避空槽使得usb接口连接计算机,然后再通过电源接口外接电源,最后打开siu测试模块上的电源开关,接通电源进行测试即可。本实用新型可在测试过程中通过电木箱体及电木箱盖对siu测试模块进行隔绝,防止由于静电影响测试结果的准确性,电木箱体及电木箱盖还可对siu测试模块起到保护作用,防止其在使用过程中被损坏。
附图说明
10.图1为本实用新型装置的结构示意图;
11.图2为siu测试模块在电木箱体内的安装结构示意图;
12.图中:1、siu测试模块,2、电木箱体,3、电木箱盖,4、避空槽,5、电源接口,6、usb接口,7、usb避空槽,8、按键,9、测试接口,10、按键避空槽,11、测试接口避空槽,12、电源开关,13、开关避空槽,14、安装孔,15、安装过孔,16、“u”字形缺口,17、预留槽。
具体实施方式
13.下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
14.如图1-2所示的一种新型电容屏测试治具,包括siu测试模块1、电木箱体2及电木箱盖3,所述电木箱体2为上端开口的中空方形腔体类结构,所述电木箱盖3可拆卸地覆盖于所述电木箱体2的上端开口上,所述siu测试模块1固定安装于所述电木箱体2内,所述电木箱体2的一侧开设有一个与所述siu测试模块1对齐的避空槽4,所述siu测试模块1对齐所述避空槽4的一侧开设有一个电源接口5,所述电木箱体内2还固定安装有一个usb接口6,所述usb接口6与所述siu测试模块1电性连接,所述电木箱体2的一侧开设有一个与所述usb接口6对齐的usb避空槽7,所述siu测试模块1的顶部设置一排按键8及一个测试接口9,所述电木箱盖3上开设有一个按键避空槽10及一个测试接口避空槽11,所述按键避空槽10与测试接口避空槽11分别与所述按键8及测试接口9对齐,所述siu测试模块1靠近所述避空槽4的一侧设置有一个电源开关12,所述电木箱盖3上开设有一个与所述电源开关12对齐的开关避空槽13;所述电木箱体2沿其周向均匀开设有数个安装孔14,所述电木箱盖3沿其周向开设有数个与所述安装孔14相适配的安装过孔15,当所述电木箱盖3覆盖于所述电木箱体2上时,所述安装孔14与所述安装过孔15对齐,可通过所述安装过孔15向所述安装孔14内打入固定螺钉,从而将电木箱盖3固定于所述电木箱体2上;所述避空槽4的顶部开设有一个“u”字形缺口16,所述“u”字形缺口16与所述开关避空槽13对齐连通;所述usb避空槽7的一侧开设有一个预留槽17,所述预留槽17可用于其他测试接口的避空。
15.本使用新型结构简单,设计合理,可通过将siu测试模块1固定设置于电木箱体2内,然后再通过电木箱盖3将电木箱体2的上端开口密封,由于电木箱体2及电木箱盖3均采用防静电的电木材料制得,因此在测试过程中可有效防止siu测试模块1受到静电的影响,保证了电容屏在通电测试过程中的测试结果的准确性,且电木箱体2及电木箱盖3还可对设置于电木箱体2内的siu测试模块1起到保护作用,防止其在使用过程中被损坏。当采用该装
置对电容屏进行通电测试时,可先通过电木箱盖3上的测试接口避空槽11使得测试接口9外接转接器,然后再通过转接器与电容屏连接,然后再通过usb避空槽7使得usb接口6连接计算机,然后再通过电源接口5外接电源,最后打开siu测试模块1上的电源开关12,接通电源进行测试即可。本实用新型可在测试过程中通过电木箱体2及电木箱盖3对siu测试模块1进行隔绝,防止由于静电影响测试结果的准确性,电木箱体2及电木箱盖3还可对siu测试模块1起到保护作用,防止其在使用过程中被损坏。
16.上述实施方式是对本实用新型的说明,不是对本实用新型的限定,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的保护范围由所附权利要求及其等同物限定。


技术特征:
1.一种新型电容屏测试治具,包括siu测试模块(1)、电木箱体(2)及电木箱盖(3),其特征在于,所述电木箱体(2)为上端开口的中空方形腔体类结构,所述电木箱盖(3)可拆卸地覆盖于所述电木箱体(2)的上端开口上,所述siu测试模块(1)固定安装于所述电木箱体(2)内,所述电木箱体(2)的一侧开设有一个与所述siu测试模块(1)对齐的避空槽(4),所述siu测试模块(1)对齐所述避空槽(4)的一侧开设有一个电源接口(5),所述电木箱体内(2)还固定安装有一个usb接口(6),所述usb接口(6)与所述siu测试模块(1)电性连接,所述电木箱体(2)的一侧开设有一个与所述usb接口(6)对齐的usb避空槽(7),所述siu测试模块(1)的顶部设置一排按键(8)及一个测试接口(9),所述电木箱盖(3)上开设有一个按键避空槽(10)及一个测试接口避空槽(11),所述按键避空槽(10)与测试接口避空槽(11)分别与所述按键(8)及测试接口(9)对齐,所述siu测试模块(1)靠近所述避空槽(4)的一侧设置有一个电源开关(12),所述电木箱盖(3)上开设有一个与所述电源开关(12)对齐的开关避空槽(13)。2.根据权利要求1所述的一种新型电容屏测试治具,其特征在于,所述电木箱体(2)沿其周向均匀开设有数个安装孔(14),所述电木箱盖(3)沿其周向开设有数个与所述安装孔(14)相适配的安装过孔(15),当所述电木箱盖(3)覆盖于所述电木箱体(2)上时,所述安装孔(14)与所述安装过孔(15)对齐,可通过所述安装过孔(15)向所述安装孔(14)内打入固定螺钉,从而将电木箱盖(3)固定于所述电木箱体(2)上。3.根据权利要求1所述的一种新型电容屏测试治具,其特征在于,所述避空槽(4)的顶部开设有一个“u”字形缺口(16),所述“u”字形缺口(16)与所述开关避空槽(13)对齐连通。4.根据权利要求1所述的一种新型电容屏测试治具,其特征在于,所述usb避空槽(7)的一侧开设有一个预留槽(17)。

技术总结
一种新型电容屏测试治具,包括SIU测试模块、电木箱体及电木箱盖,所述电木箱体为上端开口的中空方形腔体类结构,所述电木箱盖可拆卸地覆盖于所述电木箱体的上端开口上,所述SIU测试模块固定安装于所述电木箱体内,所述电木箱体的一侧开设有一个与所述SIU测试模块对齐的避空槽,SIU测试模块对齐所述避空槽的一侧开设有一个电源接口,电木箱体内还固定安装有一个USB接口,USB接口与所述SIU测试模块电性连接,电木箱体的一侧开设有一个与所述USB接口对齐的USB避空槽,所述SIU测试模块的顶部设置按键、测试接口及电源开关,所述电木箱盖分别开设有与其对齐的避空槽。本实用新型可对SIU测试模块进行有效的保护,防止其在测试时,由于静电或者其他原因的损伤。由于静电或者其他原因的损伤。由于静电或者其他原因的损伤。


技术研发人员:彭建新
受保护的技术使用者:江西合力泰科技有限公司
技术研发日:2021.08.16
技术公布日:2022/1/25
再多了解一些

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