一种插拔力检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及通信技术领域，具体涉及一种插拔力检测装置。


背景技术：

2.通信领域中经常要使用到适配器，适配器上有陶瓷环，该陶瓷环很多时候需要和陶瓷插芯配合使用。
3.当陶瓷环和陶瓷插芯生产完成后，生产人员需要将陶瓷插芯插接在陶瓷环内，从而对两者进行插拔试验，两者的抗插拔力有一个数值范围，在此数值范围内的陶瓷环和陶瓷插芯才会被评定为合格。
4.授权公告号为cn205607573u、名称为“一种光纤连接器套管插拔力测试工装”的实用新型专利文献公开了一种能够测试陶瓷插芯和陶瓷环之间插拔力的工装，该工装主要采用拉力计进行检测，大致步骤是将陶瓷环先连接在拉力计上，之后将陶瓷插芯插接在陶瓷环内，然后试验人员一手握持拉力计，另一只手握持陶瓷插芯，两只手进行张拉，当陶瓷插芯从陶瓷环中被拔出时，此时观察拉力计上的读数，若该读数在鉴定拉拔合格的数值范围内时，即可鉴定为合格。
5.但上述方式存在一个客观的缺陷，试验人员每次试验都需要仔细去捕捉拉力计上的读数数值，首先存在读数不准的可能，再者就是试验人员频繁地观察拉力计的读数，对试验人员造成视觉疲劳。


技术实现要素：

6.本实用新型目的是针对现有技术的不足，提出一种插拔力检测装置，用于解决背景技术中提到的现有技术通过拉力计检测陶瓷插芯和陶瓷环之间的抗插拔力，该种方式容易造成试验误差大，并且造成试验人员视觉疲劳的技术问题。
7.一种插拔力检测装置，包括：
8.上配重组件，该上配重组件顶部设有用于插接陶瓷插芯的插接孔；
9.下配重组件，该下配重组件位于上配重组件的正下方；
10.连接绳，所述下配重组件顶部居中开有收纳孔，所述连接绳收纳在收纳孔内，该连接绳一端与收纳孔底部的中心点连接，该连接绳另一端与上配重组件底部的中心点连接。
11.工作原理：
12.称出所述上配重组件加上陶瓷插芯的总重量值，使该总重量值与评定合格的抗插拔力数值范围的下限数值相等，承出上配重组件、下配重组件和陶瓷插芯的总重量值，使该总重量值与评定合格的抗插拔力数值范围的上限数值相等。
13.之后试验人员将陶瓷插芯插接在插接孔内，并且使陶瓷插芯竖直向上，然后试验人员将陶瓷插芯插接在适配器的陶瓷环上，之后试验人员在竖直方向上提升适配器，适配器带动陶瓷环和陶瓷插芯上升，并且此时也将同时带动上配重组件上升，当能够将上配重组件向上提起，并且陶瓷插芯不会出陶瓷环中脱离时，此时满足评定合格抗插拔力的下限
数值；
14.然后试验人员持续提升适配器，适配器带动陶瓷环、陶瓷插芯、上配重组件和下配重组件上升，当下配重组件在上升的过程中，所述陶瓷插芯从陶瓷环中脱出时，此时满足抗插拔力小于评定合格数值范围的上限数值，此时可以直接评定为抗插拔力检测合格。当下配重组件在上升的过程中，所述陶瓷插芯不会从陶瓷环中脱出时，此时抗插拔力大于评定合格数值范围的上限数值，可以认定不合格。同理，当仅仅在提升上配重组件的过程中，所述陶瓷插芯从陶瓷环中脱出，此时抗插拔力小于评定合格范围数值的下限数值，可以直接判定抗插拔力不合格。
15.本实用新型的有益效果为：
16.本实用新型中，试验人员只需要将陶瓷插芯插接在陶瓷环内，之后向上提升适配器，从而适配器带动陶瓷环、陶瓷插芯和上配重块同步向上移动，该过程中，若陶瓷插芯不会从陶瓷环中脱出，从而能够证明陶瓷插芯和陶瓷环之间的抗插拔力大于或等于评定合格的抗插拔力数值范围的下限值，之后试验人员持续向上提升适配器，从而将最终带动所述下配重组件向上移动，当下配重组件在向上移动的过程中，若陶瓷插芯从陶瓷环中脱出，此时说明陶瓷插芯和陶瓷环之间的抗插拔力小于评定合格的抗插拔力数值范围的上限值，此时试验人员就能够直接评定试验的陶瓷插芯和陶瓷环之间的抗插拔力试验合格。
17.本实用新型的该种设置方式，试验人员能够直观地评判陶瓷环和陶瓷插芯之间的抗插拔力是否合格，从而不仅判断的准确性更高，并且能够快速得出试验结论，从而提高试验效率。
附图说明
18.图1为本实用新型实施例的结构示意图；
19.图2为连接盘放大的结构示意图。
20.附图标记说明：插接孔1、连接绳2、收纳孔3、限位套4、连接盘5、第一配重柱6、第一承接盘7、第二配重柱8、第三配重柱9、第四配重柱10、第二承接盘11、连接块12、陶瓷插芯13。
具体实施方式
21.下面结合附图及实施例对本实用新型中的技术方案进一步说明。
22.如图1所示，一种插拔力检测装置，包括：
23.上配重组件，该上配重组件顶部设有用于插接陶瓷插芯13的插接孔1，如图2所示，所述插接孔1为十字形孔结构，如图1所示，所述陶瓷插芯13上固定有四块连接块12，四块该连接块12成十字形结构，这里将插接孔1也设置为十字形孔，从而在插接陶瓷插芯13时，试验人员直接将四块所述连接块12插接在该插接孔1内，从而使四块连接块12均与插接孔1的内壁抵接，该种方式能够使陶瓷插芯13更加牢固地插接在插接孔1内，防止陶瓷插芯13从插接孔1中脱出。
24.下配重组件，该下配重组件位于上配重组件的正下方。
25.连接绳2，所述下配重组件顶部居中开有收纳孔3，所述连接绳2收纳在收纳孔3内，该连接绳2一端与收纳孔3底部的中心点连接，该连接绳2另一端与上配重组件底部的中心
点连接。
26.如图1所示，所述上配重组件包括限位套4、具有弹性的连接盘5和第一配重柱6，限位套4竖向放置，连接盘5插接在限位套4内，所述第一配重柱6顶部与限位套4底部固定连接且两者同轴，所述插接孔1开设在连接盘5上，所述连接绳2端部连接在第一配重柱6底部的中心点处，该种结构形式简单，实用性强。所述第一配重柱6底部固定一块水平的第一承接盘7，所述连接绳2端部连接在第一承接盘7的中心点处，该第一承接盘7为圆盘结构，第一承接盘7与第一配重柱6同轴，且第一承接盘7的直径大于第一配重柱6的直径，当对不同规格的陶瓷环和陶瓷插芯13之间进行试验时，因此其判定合格的试验数据范围也不一样，有的陶瓷插芯13和陶瓷环之间抗插拔力的合格数据的数值下限可能就比较大，为了适应该种情况，试验人员可以将砝码穿过第一配重柱6并放置到所述第一承接盘7上，该种方式能够增加上配重组件的总重量，从而该种方式能够进一步提高本实用新型可测试的数值范围。
27.如图1所示，所述下配重组件包括第二配重柱8和第三配重柱9，该第二配重柱8和第三配重柱9均竖向放置，第三配重柱9顶部与第二配重柱8的底部固定连接且两者同轴，所述收纳孔3开设在第二配重柱8上部，第二配重柱8和第三配重柱9与第一配重柱6同轴，该种方式结构简单，同样能够降低制作成本，提高实用性。还包括第四配重柱10，该第四配重柱10顶部与第三配重柱9的底部固定连接，且两者同轴，设置所述第四配重柱10能够增大下配重组件的总重量，从而达到间接增大上配重组件和下配重组件总重量的目的，进而能够进一步适应对抗插拔力合格有较大上线值的试验数据范围的陶瓷环和陶瓷插芯13进行检测。
28.如图1所示，还包括水平的第二承接盘11，该第二承接盘11与第四配重柱10的底部固定连接，且两者同轴，该第二承接盘11为圆盘结构，且第二承接盘11的直径分别大于第一承接盘7、第二配重柱8、第三配重柱9和第四配重柱10的直径，试验人员可以向所述第二承接盘11上放置砝码，从而进一步增加上配重组件和下配重组件的总重量，从而进一步扩大本实用新型可检测的抗插拔力的数据试验范围。
29.工作原理：
30.称出所述上配重组件加上陶瓷插芯13的总重量值，使该总重量值与评定合格的抗插拔力数值范围的下限数值相等，承出上配重组件、下配重组件和陶瓷插芯13的总重量值，使该总重量值与评定合格的抗插拔力数值范围的上限数值相等。
31.之后试验人员将陶瓷插芯13插接在插接孔1内，并且使陶瓷插芯13竖直向上，然后试验人员将陶瓷插芯13插接在适配器的陶瓷环上，之后试验人员在竖直方向上提升适配器，适配器带动陶瓷环和陶瓷插芯13上升，并且此时也将同时带动上配重组件上升，当能够将上配重组件向上提起，并且陶瓷插芯13不会出陶瓷环中脱离时，此时满足评定合格抗插拔力的下限数值；
32.然后试验人员持续提升适配器，适配器带动陶瓷环、陶瓷插芯13、上配重组件上升，并通过连接绳2带动下配重组件上升，当下配重组件在上升的过程中，所述陶瓷插芯13从陶瓷环中脱出时，此时满足抗插拔力小于评定合格数值范围的上限数值，此时可以直接评定为抗插拔力检测合格。当下配重组件在上升的过程中，所述陶瓷插芯13不会从陶瓷环中脱出时，此时抗插拔力大于评定合格数值范围的上限数值，可以认定不合格。同理，当仅仅在提升上配重组件的过程中，所述陶瓷插芯13从陶瓷环中脱出，此时抗插拔力小于评定合格范围数值的下限数值，可以直接判定抗插拔力不合格。
33.最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。