测量信号路径的泄漏特性的制作方法

技术特征：
1.一种测量信号路径的泄漏特性的方法，所述方法包括：将电流施加到所述信号路径上；基于由所述电流导致的所述信号路径上的电压的变化速率确定所述信号路径的寄生电容；在一时间段内将电压施加到所述信号路径上；以及在所述时间段之后，基于所述寄生电容和由所述施加电压导致的所述信号路径上的电压变化速率确定所述泄漏特性。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述泄漏特性包括泄漏电阻。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述泄漏特性包括泄漏电流。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述电压的每个变化率由测试仪器确定，所述测试仪器测量在所述信号路径上的不同电压处的时间。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述电压的每个变化速率由测试仪器确定，所述测试仪器在不同时间测量所述信号路径上的所述电压。6.根据权利要求1所述的方法，其中在所述时间段之后所述信号路径上的所述电压浮动。7.根据权利要求6所述的方法，所述方法还包括：确定所述信号路径上的所述电压的每个变化速率。8.根据权利要求1所述的方法，其中所述信号路径包括测试设备内的导管。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述信号路径包括测试设备与由所述测试设备测试的被测设备之间的接口。10.根据权利要求1所述的方法，其中所述信号路径包括被测设备。11.一种系统，所述系统包括：电压源，所述电压源连接到信号路径；电流源，所述电流源连接到所述信号路径；电路，所述电路用于按时间间隔测量所述信号路径上的电压；和控制系统，所述控制系统被配置为(i)控制所述电流源以将电流施加到所述信号路径上，(ii)基于由所述电流导致的并由所述电路测量的所述信号路径上的电压的变化速率确定所述信号路径的寄生电容，(iii)控制所述电压源以在一时间段内将电压施加到所述信号路径上，以及(iv)在所述时间段之后，基于由所述施加电压导致的所述信号路径上的电压变化速率确定所述泄漏特性。12.根据权利要求11所述的系统，其中所述泄漏特性包括泄漏电阻。13.根据权利要求11所述的系统，其中所述泄漏特性包括泄漏电流。14.根据权利要求11所述的系统，其中所述电路被配置为通过测量时间间隔内的电压差来测量所述信号路径上的所述电压的每个变化速率。15.根据权利要求11所述的系统，其中所述电路被配置为测量在不同电压阈值之间的不同时间处的所述信号路径上的所述电压的每个变化速率。16.根据权利要求11所述的系统，其中所述信号路径上的所述电压在所述时间段之后浮动。17.根据权利要求16所述的系统，其中所述泄漏特性包括泄漏电阻和泄漏电流两者。
18.根据权利要求11所述的系统，其中所述信号路径包括测试设备内的导管。19.根据权利要求11所述的系统，其中所述信号路径包括测试设备与由所述测试设备测试的被测设备之间的接口。20.根据权利要求11所述的系统，其中所述信号路径包括被测设备。

技术总结
本发明提供了一种示例性方法，该示例性方法测量信号路径的泄漏特性。该示例性方法包括将电流施加到该信号路径上；基于由电流导致的信号路径上的电压的变化速率确定信号路径的寄生电容；在一时间段内将电压施加到信号路径上；以及在该时间段之后，基于寄生电容和由施加电压导致的信号路径上的电压变化速率确定泄漏特性。泄漏特性。泄漏特性。


技术研发人员：马可
受保护的技术使用者：泰瑞达公司
技术研发日：2020.05.13
技术公布日：2022/1/18