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用于光电容积描记的测量装置及电子设备的制作方法

2022-02-20 01:15:37 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及光学器件技术领域,特别是涉及一种用于光电容积描记的测量装置。本发明还提供一种电子设备。


背景技术:

2.光电容积描记(photoplethysmograph,ppg)技术,是利用光电传感器检测经过人体血液和组织吸收后的反射光强度的不同,描记出血管容积在心动周期内的变化,从得到的脉搏波形中计算出心率。
3.现有技术中,使用能发出预设波长光的光源照射人体皮肤,通过光电传感器检测脉搏(脉搏对应血管内血流变化)引起的反射光强度的变化,从而实现测量。但是在实际应用中存在漏光情况,即光电传感器会接收到光源发出的、没有经过人体皮肤而射向光电传感器的光,造成了干扰。


技术实现要素:

4.本发明的目的是提供一种用于光电容积描记的测量装置,能够降低干扰,有助于提高测量准确性。本发明还提供一种电子设备。
5.为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
6.一种用于光电容积描记的测量装置,包括光源装置、第一偏振元件、光电传感装置、第二偏振元件和预设光学元件,所述光源装置和所述光电传感装置设置在所述预设光学元件的同一侧;所述第一偏振元件设置在所述光源装置和所述预设光学元件之间,用于将所述光源装置发出的光转换为第一偏振态光;所述预设光学元件用于使第一偏振态光透过而入射到被测对象,并使由被测对象反射回的光再次透过所述预设光学元件后转换为第二偏振态光;所述第二偏振元件设置在所述光电传感装置和所述预设光学元件之间,用于使所述第二偏振态光透过而入射到所述光电传感装置,所述第一偏振态光和所述第二偏振态光相互正交。
7.优选的,所述第一偏振元件集成在所述光源装置的出光面上。
8.优选的,所述第二偏振元件集成在所述光电传感装置的感光面。
9.优选的,所述预设光学元件的快轴方向与所述第一偏振态光的振动方向之间的夹角角度为45度。
10.优选的,所述预设光学元件的快轴方向与所述第一偏振元件的偏振方向之间的夹角角度为45度,所述预设光学元件的快轴方向与所述第二偏振元件的偏振方向之间的夹角角度为45度。
11.优选的,所述预设光学元件为四分之一波片。
12.优选的,所述预设光学元件贴合在基板上,所述光源装置和所述光电传感装置位于所述基板的同一侧。
13.优选的,所述预设光学元件贴合在所述基板的靠近所述光源装置、所述光电传感
装置的一侧。
14.优选的,所述第一偏振态光为线偏振光。
15.优选的,所述光源装置用于发出具有预设波长范围的光。
16.一种电子设备,包括以上所述的用于光电容积描记的测量装置。
17.由上述技术方案可知,本发明所提供的一种用于光电容积描记的测量装置,光源装置和光电传感装置设置在预设光学元件同一侧,第一偏振元件设置在光源装置和预设光学元件之间,将光源装置发出的光转换为第一偏振态光,预设光学元件使第一偏振态光透过而入射到被测对象,使由被测对象反射回的光再次透过预设光学元件后转换为第二偏振态光,第二偏振元件设置在光电传感装置和预设光学元件之间,用于使第二偏振态光透过而入射到光电传感装置,从而实现对被测对象进行测量。
18.通过第一偏振元件将光源装置发出的光转换成第一偏振态光,第一偏振态光通过预设光学元件、被测对象、预设光学元件的路径到达第二偏振元件时,转换成了第二偏振态光而能够透过第二偏振元件,被光电传感装置感应;而第一偏振态光通过其它路径到达第二偏振元件则不能透过第二偏振元件,不会入射到光电传感装置。从而本发明的基于光电容积描记的测量装置能够降低干扰,有助于提高测量准确性。
19.本发明提供的一种电子设备,能够达到上述有益效果。
附图说明
20.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1为本发明实施例提供的一种用于光电容积描记的测量装置的示意图;
22.图2为本发明又一实施例提供的一种用于光电容积描记的测量装置的示意图。
具体实施方式
23.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
24.请参考图1,图1为本实施例提供的一种用于光电容积描记的测量装置,如图所示,所述测量装置包括光源装置101、光电传感装置102、预设光学元件103、第一偏振元件104和第二偏振元件105,所述光源装置101和所述光电传感装置102设置在所述预设光学元件103的同一侧,所述第一偏振元件104设置在所述光源装置101和所述预设光学元件103之间,用于将所述光源装置101发出的光转换为第一偏振态光,所述预设光学元件103用于使第一偏振态光透过而入射到被测对象100,并使由被测对象100反射回的光再次透过所述预设光学元件103后转换为第二偏振态光,所述第二偏振元件105设置在所述光电传感装置102和所述预设光学元件103之间,用于使第二偏振态光透过而入射到所述光电传感装置102,第一
偏振态光和第二偏振态光相互正交。
25.第一偏振态光和第二偏振态光是指振动方向不同的两种偏振光。第一偏振态光与第二偏振态光相互正交是指第一偏振态光的振动方向与第二偏振态光的振动方向相互正交。
26.通过第一偏振元件102将光源装置101发出的光转换成第一偏振态光,第一偏振态光透过预设光学元件103后入射到被测对象100,由被测对象100反射后再次透过预设光学元件103后转换为第二偏振态光。第二偏振态光能够透过第二偏振元件105,从而入射到光电传感装置102,实现了对被测对象100的测量。
27.那么,发出的第一偏振态光通过预设光学元件103、被测对象100、预设光学元件103的路径到达第二偏振元件105时,转换成了第二偏振态光而能够透过第二偏振元件105,被光电传感装置102感应;而第一偏振态光通过其它路径到达第二偏振元件105则不能透过第二偏振元件105,不会入射到光电传感装置102。从而本实施例的基于光电容积描记的测量装置能够降低干扰,有助于提高测量准确性。
28.第一偏振元件104设置在光源装置101和预设光学元件103之间,光源装置101发出的光通过第一偏振元件104后转换为第一偏振态光,第一偏振态光入射到预设光学元件103。
29.优选的,可参考图2所示,图2为又一实施例提供的一种基于光电容积描记的测量装置,第一偏振元件104可以集成在光源装置101的出光面上,保证将光源装置101发出的光转换为第一偏振态光。这样对光偏振方向的精度控制较高,有助于降低干扰,提高测量准确性。
30.第二偏振元件105的偏振方向与第二偏振态光的振动方向一致,第二偏振元件105能够使第二偏振态光100%透过。优选的可参考图2所示,可以将第二偏振元件105集成在所述光电传感装置102的感光面,这样使得光电传感装置102对偏振光感应的精度较高,能够有效地降低干扰,提高测量准确性。
31.预设光学元件103用于使通过光的振动方向发生偏转,能够使第一偏振态光两次通过预设光学元件103后振动方向偏转90度。可选的,预设光学元件103的快轴方向与所述第一偏振元件104的偏振方向之间的夹角角度为45度,所述预设光学元件103的快轴方向与所述第二偏振元件105的偏振方向之间的夹角角度为45度。那么,第一偏振态光通过预设光学元件103后,振动方向偏转45度。由被测对象100反射回的光透过预设光学元件103后振动方向偏转45度。可选的,预设光学元件103可采用四分之一波片。
32.具体的,第一偏振态光为线偏振光,那么通过第一偏振元件104发出的第一偏振态光透过预设光学元件103后转换为圆偏振光。由被测对象100反射回的圆偏振光,透过预设光学元件103后转换为线偏振光。
33.可选的,可以将预设光学元件103贴合在基板上,光源装置和光电传感装置位于所述基板的同一侧。可参考图2所示,预设光学元件103贴合在基板106上,光源装置101和光电传感装置102位于基板106的同一侧,基板106对测量装置的光源装置101、光电传感装置102起到防护作用。
34.优选的,预设光学元件103位于基板106靠近光源装置101、光电传感装置102的一侧,这样基板106对预设光学元件103也能够起到防护作用。基板106可采用但不限于玻璃。
35.可选的,光源装置101用于发出具有预设波长范围的光,比如被测对象100对光源装置101发出的该波长范围的光具有一定的吸收特性,从而根据由被测对象100反射回的光,能够实现对被测对象100的测量。光源装置101可采用但不限于led。
36.相应的,本实施例还提供一种电子设备,包括以上所述的用于光电容积描记的测量装置。
37.本实施例的电子设备采用的用于光电容积描记的测量装置,通过第一偏振元件将光源装置发出的光转换成第一偏振态光,第一偏振态光通过预设光学元件、被测对象、预设光学元件的路径到达第二偏振元件时,转换成了第二偏振态光而能够透过第二偏振元件,被光电传感装置感应;而第一偏振态光通过其它路径到达第二偏振元件则不能透过第二偏振元件,不会入射到光电传感装置,从而能够降低干扰,有助于提高测量准确性。
38.以上对本发明所提供的用于光电容积描记的测量装置及电子设备进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
再多了解一些

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