一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置及方法
技术领域：
：1.本发明属于嵌入式软件升级领域，具体涉及一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置及方法。
背景技术：
：：2.现有技术中针对tidsp程序的烧写，往往通过ti提供的集成开发环境(ide)和dsp仿真器进行。这种方式，首先需要针对具体的tidsp芯片在通用集成开发环境中进行程序开发，配置dsp芯片与外部flash连接的接口，编写该接口下针对dsp芯片外部flash芯片的烧写程序。将用户的应用程序通过ti公司提供hex6x工具转换为bin文件。最终通过仿真器将烧写程序加载至dsp上运行，借助集成开发环境读取bin文件，将bin文件烧写至flash。3.这种技术方案有诸多缺陷，首先这种方案不具有通用性，针对不同的dsp处理器需要开发不同的烧写程序。第二在将用户应用程序转换为烧写bin文件时，由于采用的hex6x为window的命令行程序，这种程序在window系统下常常被杀毒软件误认为病毒，导致生成bin文件异常。第三，通过hex6x生成最终烧写的bin文件需要编写脚本，通过脚本配置相关参数并调用hex6x生成最终的bin文件。这个过程对于新手不够友好，专业化要求较高。技术实现要素：4.本发明的目的在于克服上述不足，提供一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置及方法，通过上位机软件直接解析用户应用程序，读取文件中程序运行时所需数据和代码，将其转换为烧写所用的bin文件。上位机软件读取最终的bin文件，通过本发明中usb转jtag装置，将bin文件中的数据直接通过dsp芯片上jtag接口烧写至其外部emif接口所连接的flash上。5.为了达到上述目的，一种基于jtag总线的dsp程序在线升级方法，包括以下步骤：6.s1，解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；7.s2，对dsp处理器上jtag接口进行复位；8.s3，根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；9.s4，获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；10.s5，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出复位时序，对flash芯片进行复位；11.s6，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出片擦除时序，对flash进行片擦除；12.s7，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出编程时序,对flash进行编程；13.s8，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。14.s1的具体方法如下：15.解析.out文件各个section的信息，将section的alloc属性为y的section根据该section在elf文件中偏移，读出该section的有效数据和长度，将其写入bin文件中，完成烧写所用bin文件。16.s2中，对dsp处理器上jtag接口进行复位是操作驱动保持tms管脚输出高电平至少5个tck时钟周期。17.s3的具体方法如下：18.建立无符号char型数组，由于bsdl文件中所有跟emif接口相关的管脚在边界扫描链上全部标示为双向，因此通过边界扫描寄存器配置管脚对应的边界扫描单元方向。19.s4的具体方法如下：20.通过上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为run‑test/idle状态、dr‑scan状态、ir‑scan状态、capture‑ir状态和shift‑ir状态；21.在shift‑ir状态时，输入bsdl文件中sample指令的序列，各个管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中，切换到exit1‑ir状态；22.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑ir状态、run‑test/idle状态、dr‑scan状态、capture‑dr状态和shift‑dr状态；23.采集tdo引脚的当前值，存入bscan数组，在n 1周期时，n为边界扫描链长度，切换到exit1‑dr状态；24.上位机软件控制jtag接口控制器状态机切换为run‑test/idle状态。25.s5的具体方法如下：26.flash中任意地址写入0xf0；27.即通过上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为run‑test/idle状态、dr‑scan状态、ir‑scan状态、capture‑ir状态和shift‑ir状态；28.在shift‑ir状态时，输入bsdl文件中extest指令的序列，切换到exit1‑ir状态；29.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑ir状态、run‑test/idle状态、dr‑scan状态、capture‑dr状态和shift‑dr状态；30.配置bscan数组，使得dsp芯片emif接口的数据线能够输出0xf0对应的时序。输出bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期，在n 1周期时，n为边界扫描链长度，切换到exit1‑dr状态；31.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑dr状态和run‑test/idle状态。32.s6的具体方法如下：33.通过usb转jtag装置控制dsp的emif接口依次输出以下时序；34.向flash芯片0x555地址写入0xaa；35.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；36.向flash芯片0x555地址写入0x80；37.向flash芯片0x555地址写入0xaa；38.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；39.向flash芯片0x555地址写入0x10；40.读flash地址0，如果读取的数据bit7为1，则表示flash擦除成功，如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，则表示flash擦除失败。41.s7的具体方法如下：42.通过usb转jtag装置控制dsp的emif接口依次输出以下时序；43.向flash芯片0x555地址写入0xaa；44.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；45.向flash芯片0x555地址写入0xa0；46.向flash芯片地址写入数据；47.读取上一步写入数据flash的地址，如果读取的数据bit7与写入数据的bit7一致，则表示flash编程成功，如果读取的数据bit5为1，且数据bit7不为1，则表示flash擦除失败。48.一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置，包括控制芯片，控制芯片连接usb接口；49.上位机软件解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；对dsp处理器上jtag接口进行复位；根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；对flash芯片进行复位；对flash进行片擦除；对flash进行编程，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。50.控制芯片采用ftdi公司的ft2232h芯片。51.与现有技术相比，本发明能够将dsp应用程序对应的.out文件直接转为bin文件，通过usb转jtag装置烧写，针对不同的dsp只需开发一种软件，即可完成不同dsp程序的烧写。即便对于采用不同bsdl文件的dsp芯片，或不同操作码的flash，均能够满足不同dsp芯片外接不同flash芯片的程序烧写要求。相比传统烧写方法，本发明不用维护针对dsp处理器及flash芯片选型不同的产品维护多份烧写代码，去除了传统方法中配置脚本生成bin文件，加载烧写程序烧写bin文件的复杂流程，简化了烧写过程，降低了烧写过程中出错的可能性。附图说明52.图1为本发明电路图；53.图2为elf文件格式示意图；54.图3为elf文件格式中elfheader数据结构及字段含义示意图；55.图4为elf文件中常见section信息示例图；56.图5为elf文件转bin文件流程图；57.图6为dsp与外部flash电路连接示意图；58.图7为tms320c6671芯片bsdl文件关键信息示意图；59.图8为jtag总线状态转换流程图；60.图9为jtag烧写bin文件流程图。具体实施方式61.下面结合附图对本发明做进一步说明。62.参见图1，该电路中主要采用ftdi公司的ft2232h芯片，该芯片是ftdi公司的第五代usb设备，该芯片能够完成usb接口协议到jtag协议的自动转换。pc机端上位机软件解析应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；操作本发明中的jtag装置对dsp处理器上jtag接口进行复位；根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；对flash芯片进行复位；对flash进行片擦除；对flash进行编程，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。63.本发明的另一个方面，dsp程序在线烧写方法，包括如下步骤：64.解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件。out文件为elf格式，全称为theexecutableandlinkingformat。从使用上，elf文件的种类主要有三类：可执行文件，可重定位文件，共享目标文件。针对于本发明，我们只关注可执行文件，并且对于嵌入环境下的可执行文件，通常不具有可重定位性。文件中所带的代码与数据执行地址，即最终程序在嵌入式环境中运行时的程序代码和数据地址。65.elf文件的格式如图2所示：66.文件首部为elfheader的结构体，其具体结构如图3所示：67.该数据结构中主要描述了程序的入口地址，sectionheadertable的偏移以及文件中section的个数。这三个信息对于将可执行文件转换为烧写文件极为重要。本文我们主要关注这三个信息，这三个信息分别由elfheader结构体的e_entry，e_shoff，e_shnum三个字段指出。通过对elf文件首部的elfheader结构体进行解析，可以获得以上三个字段的信息。68.对于elf文件其主要由section组成。通常一个可执行程序必须包含执行所需的代码，执行所需的数据。更进一步，程序中的代码和数据根据其用途和属性：如只读，可读写，可写不可读等划分成不同的部分。这些部分即为elf文件中的section。elf文件中的sectionheadertable包含了elf文件内不同section的相关信息。69.一个典型的ti可执行程序的包含的seciton如图4所示，图中名为.text的section包含可执行文件运行所需的代码，名为.stack的section为用户程序运行所需的堆栈。实际使用中只需要将上图中alloc信息为y(表示该section需要分配空间)的段写入最终需要烧写至flash中的bin文件即可。这一过程可以概括为根据elf文件的sectionheadertable中解析各个section的信息，将section的alloc属性为y的section根据该section在elf文件中偏移，读出该section的有效数据和长度，将其写入bin文件中。70.dsp与外部flash通过emif的典型连接如图6所示，从图中可以看出通过dsp端的emif总线操作flash需要如下信号：dsp处理器emif地址线(dsp_emifa(23:0))，数据线(dsp_emifd(15:0))，dsp_emifce0(片选0，连接flash芯片的ce)，dsp_emifwe(写信号，连接flash芯片we),dsp_emifoe(写信号，连接flash芯片oe)。71.为了在flash芯片上进行程序的固化升级，本发明通过jtag接口控制dsp处理器，在上述emif接口相关引脚上分别输出flash的复位，擦除，编程，读时序。以达到设计目的。具体步骤如下：72.启动软件，调用usb转jtag装置的驱动，对dsp处理器上jtag接口进行复位。即操作驱动保持tms管脚输出高电平至少5个tck时钟周期。73.根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存。为了表述方便，以下以tms320c6671芯片为例进行说明。但本发明不局限于tms320c6671芯片，通常一个系类的dsp芯片其bsdl文件往往一致，例如tms320c6671芯片的bsdl文件与tms320c6672，tms320c6674，tms320c6678等芯片bsdl文件一致。因此本发明适用于ti常见的所有dsp处理器外部flash上程序的升级。tms320c6671芯片的bsdl文件中跟本发明相关的信息如图7所示：74.图7为缩略图。只列出了本发明中所需的相关信息，个别如emif接口地址线和数据线相关信息并不完整，但其可以参照图7中列出的emif接口地址线和数据线有关信息。从图7可知：tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625。因此在程序中建立长度为625，即625字节大小的无符号char型数组，命名为bscan[625].数组中每个字节表示边界扫描链上的一个边界扫描寄存器。图7中所有跟emif接口相关的管脚在边界扫描链上全部标示为bidir,即双向。其通过一个类型为bc_2的边界扫描寄存器配置管脚对应的边界扫描单元方向。根据图7中信息，以emifce0z信号为例：该信号为emif总线片选0信号，其在边界扫描链上的编号为395。通过图7中对应的边界扫描链上的394号边界扫描寄存器控制方向。当394号边界扫描寄存器配置为1时，对应emifce0z信号的395号边界扫描寄存器为输入寄存器，表示该寄存器的值由emifce0z引脚输入寄存器。当394号边界扫描寄存器配置为0时，表示emifce0z引脚的电平由395号边界扫描寄存器中的值决定。显然，对于dsp_emifa(23:0)，dsp_emifce0，dsp_emifwe,dsp_emifoe这些引脚，需要将其边界扫描寄存器的方向设置为输出。dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向需要根据对flash芯片的操作来决定。具体来说，就是向flash进行写操作时，需要将dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向设置为输出。当对flash进行读操作时，需要将dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向设置为输入。[0075]获取dsp各个管脚的当前状态，在操作jtag之前对边界扫描寄存器进行初始数据加载。[0076]具体流程如下：[0077]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。jtag接口控制器状态机切换如图8所示。[0078]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0079]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到ir‑scan状态。[0080]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑ir状态。[0081]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑ir状态。[0082]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入其bsdl文件中sample指令的序列，011011b，该指令长度为6，需要6个tck引脚输出时钟的时钟周期。当jtag总线状态机在后续操作切换到capture‑dr状态时，该指令将各个管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中。在第6个tck引脚输出时钟的时钟周期，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑ir状态。[0083]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑ir状态。[0084]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0085]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0086]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑dr状态。[0087]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑dr状态。[0088]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上依次输入低电平，每个电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。同时采集tdo引脚的当前值，存入bscan数组。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此为了边界扫描寄存器中的值读出，需要625个时钟周期。同在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。[0089]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑dr状态。[0090]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0091]为了对flash进行编程，首先需要复位flash芯片。根据芯片手册，在flash中任意地址写入0xf0，即可完成对flash的复位。[0092]因此将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0.将bscan[387]，bscan[319]，bscan[317]，bscan[315]，bscan[313]全部设置为1。bscan[387]对应于边界扫描链上的emifoez，bscan[319]，bscan[317]，bscan[315]，bscan[313]对应于边界扫描链上emifd(7:4).[0093]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。jtag接口控制器状态机切换如图8所示。[0094]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0095]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到ir‑scan状态。[0096]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑ir状态。[0097]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑ir状态。[0098]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入其bsdl文件中extest指令的序列，011000b，该指令长度为6，需要6个tck引脚输出时钟的时钟周期。该指令在shift‑dr状态时将边界扫描单元配置的值输出到芯片引脚上。在capture‑dr状态时，该指令将输入管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中。在第6个tck引脚输出时钟的时钟周期，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑ir状态。[0099]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑ir状态。[0100]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0101]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0102]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑dr状态。[0103]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑dr状态。[0104]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此为了将bscan数组中的值输出到tms320c6671芯片内部的边界扫描链上，需要625个时钟周期。同在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。[0105]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑dr状态。[0106]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0107]至此，完成了对flash芯片的复位。接下来对flash进行片擦除。为了擦除flash芯片，需要在按如下流程向flash芯片发送读写操作序列。[0108](1)向flash芯片0x555地址写入0xaa。[0109](2)向flash芯片0x2aa地址写入0x55.[0110](3)向flash芯片0x555地址写入0x80[0111](4)向flash芯片0x555地址写入0xaa[0112](5)向flash芯片0x2aa地址写入0x55.[0113](6)向flash芯片0x555地址写入0x10[0114](7)读flash地址0，如果读到的数据bit7为1，表示flash擦除成功，否则如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，表示flash擦除失败。[0115]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，再将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态。在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0116]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0117]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0x80操作。[0118]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0119]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0120]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[319]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0x10操作。[0121]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[385],bscan[327],bscan[326],bscan[325],bscan[324],bscan[323],bscan[322],bscan[321],bscan[320],bscan[319],bscan[318],bscan[317],bscan[316],bscan[315],bscan[314],bscan[313],bscan[312],bscan[311],bscan[310],bscan[309],bscan[308],bscan[307],bscan[306],bscan[305],bscan[304],bscan[303],bscan[302],bscan[301],bscan[300],bscan[299],bscan[298],bscan[297]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。从而通过jtag向flash芯片输入读操作时序。由于读操作返回数据滞后于读操作的地址输出。因此再次将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[395],bscan[387],bscan[385]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在tdo引脚读入对应的高低电平值存入din0[625]数组。在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。数组中[0122]din0[327],din0[325],din0[323],din0[321],din0[319],din0[317],din0[315],din0[313],din0[311],din0[309],din0[307],din0[305],din0[303],din0[301],din0[299],din0[297]对应emifd(0:15).判断din0[313]是否为1，如果不是再次重复本步奏中的流程，读出数据记入din1.判断din1[317]是否为1，如果不为1，进一步判断din1[315]的值是为1，如果不为1。再次重复上述流程,直至din0[313]为1，或者din0[315]不为1。前者表示擦除成功，后者表示擦除失败。[0123]至此，完成了对flash芯片的擦写。接下来对flash进行编程。为了编程flash芯片，需要在按如下流程向flash芯片发送读写操作序列。[0124](1)向flash芯片0x555地址写入0xaa。[0125](2)向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0126](3)向flash芯片0x555地址写入0xa0。[0127](4)向flash芯片地址写入数据。[0128](5)读取上一步写入数据flash的地址，如果读到的数据bit7与写入数据的bit7一致，表示flash编程成功，否则如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，表示flash擦除失败。[0129]依据上述流程第一步首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0130]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0131]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x555地址写入0xa0操作。[0132]读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，每两个字节组成一个16bit的数据。根据16bit的数据，设置emifd(0:15)对应的边界扫描单元数据于bscan数组中。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成向flash芯片地址写入数据。[0133]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[385],bscan[327],bscan[326],bscan[325],bscan[324],bscan[323],bscan[322],bscan[321],bscan[320],bscan[319],bscan[318],bscan[317],bscan[316],bscan[315],bscan[314],bscan[313],bscan[312],bscan[311],bscan[310],bscan[309],bscan[308],bscan[307],bscan[306],bscan[305],bscan[304],bscan[303],bscan[302],bscan[301],bscan[300],bscan[299],bscan[298],bscan[297]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。从而通过jtag向flash芯片输入读操作时序。由于读操作返回数据滞后于读操作的地址输出。因此再次将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[395],bscan[387],bscan[385]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在tdo引脚读入对应的高低电平值存入din0[625]数组。在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。数组中[0134]din0[327],din0[325],din0[323],din0[321],din0[319],din0[317],din0[315],din0[313],din0[311],din0[309],din0[307],din0[305],din0[303],din0[301],din0[299],din0[297]对应emifd(0:15).判断din0[313]是否为1，如果不是再次重复本步奏中的流程，读出数据记入din1.判断din1[317]是否为1，如果不为1，进一步判断din1[315]的值是否与第四步中写入数据的bit7一致，如果不一致。再次重复上述流程,直至din1[315]的值与第四步中写入数据的bit7一致。[0135]再次读取读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复flash的编程操作序列，将bin文件中所有数据编程进flash。完成用户程序通过jtag装置的在线升级。当前第1页12当前第1页12
技术领域：
：1.本发明属于嵌入式软件升级领域，具体涉及一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置及方法。
背景技术：
：：2.现有技术中针对tidsp程序的烧写，往往通过ti提供的集成开发环境(ide)和dsp仿真器进行。这种方式，首先需要针对具体的tidsp芯片在通用集成开发环境中进行程序开发，配置dsp芯片与外部flash连接的接口，编写该接口下针对dsp芯片外部flash芯片的烧写程序。将用户的应用程序通过ti公司提供hex6x工具转换为bin文件。最终通过仿真器将烧写程序加载至dsp上运行，借助集成开发环境读取bin文件，将bin文件烧写至flash。3.这种技术方案有诸多缺陷，首先这种方案不具有通用性，针对不同的dsp处理器需要开发不同的烧写程序。第二在将用户应用程序转换为烧写bin文件时，由于采用的hex6x为window的命令行程序，这种程序在window系统下常常被杀毒软件误认为病毒，导致生成bin文件异常。第三，通过hex6x生成最终烧写的bin文件需要编写脚本，通过脚本配置相关参数并调用hex6x生成最终的bin文件。这个过程对于新手不够友好，专业化要求较高。技术实现要素：4.本发明的目的在于克服上述不足，提供一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置及方法，通过上位机软件直接解析用户应用程序，读取文件中程序运行时所需数据和代码，将其转换为烧写所用的bin文件。上位机软件读取最终的bin文件，通过本发明中usb转jtag装置，将bin文件中的数据直接通过dsp芯片上jtag接口烧写至其外部emif接口所连接的flash上。5.为了达到上述目的，一种基于jtag总线的dsp程序在线升级方法，包括以下步骤：6.s1，解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；7.s2，对dsp处理器上jtag接口进行复位；8.s3，根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；9.s4，获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；10.s5，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出复位时序，对flash芯片进行复位；11.s6，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出片擦除时序，对flash进行片擦除；12.s7，通过jtag接口控制dsp芯片的emif接口输出编程时序,对flash进行编程；13.s8，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。14.s1的具体方法如下：15.解析.out文件各个section的信息，将section的alloc属性为y的section根据该section在elf文件中偏移，读出该section的有效数据和长度，将其写入bin文件中，完成烧写所用bin文件。16.s2中，对dsp处理器上jtag接口进行复位是操作驱动保持tms管脚输出高电平至少5个tck时钟周期。17.s3的具体方法如下：18.建立无符号char型数组，由于bsdl文件中所有跟emif接口相关的管脚在边界扫描链上全部标示为双向，因此通过边界扫描寄存器配置管脚对应的边界扫描单元方向。19.s4的具体方法如下：20.通过上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为run‑test/idle状态、dr‑scan状态、ir‑scan状态、capture‑ir状态和shift‑ir状态；21.在shift‑ir状态时，输入bsdl文件中sample指令的序列，各个管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中，切换到exit1‑ir状态；22.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑ir状态、run‑test/idle状态、dr‑scan状态、capture‑dr状态和shift‑dr状态；23.采集tdo引脚的当前值，存入bscan数组，在n 1周期时，n为边界扫描链长度，切换到exit1‑dr状态；24.上位机软件控制jtag接口控制器状态机切换为run‑test/idle状态。25.s5的具体方法如下：26.flash中任意地址写入0xf0；27.即通过上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为run‑test/idle状态、dr‑scan状态、ir‑scan状态、capture‑ir状态和shift‑ir状态；28.在shift‑ir状态时，输入bsdl文件中extest指令的序列，切换到exit1‑ir状态；29.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑ir状态、run‑test/idle状态、dr‑scan状态、capture‑dr状态和shift‑dr状态；30.配置bscan数组，使得dsp芯片emif接口的数据线能够输出0xf0对应的时序。输出bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期，在n 1周期时，n为边界扫描链长度，切换到exit1‑dr状态；31.上位机软件控制jtag接口控制器状态机依次切换为update‑dr状态和run‑test/idle状态。32.s6的具体方法如下：33.通过usb转jtag装置控制dsp的emif接口依次输出以下时序；34.向flash芯片0x555地址写入0xaa；35.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；36.向flash芯片0x555地址写入0x80；37.向flash芯片0x555地址写入0xaa；38.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；39.向flash芯片0x555地址写入0x10；40.读flash地址0，如果读取的数据bit7为1，则表示flash擦除成功，如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，则表示flash擦除失败。41.s7的具体方法如下：42.通过usb转jtag装置控制dsp的emif接口依次输出以下时序；43.向flash芯片0x555地址写入0xaa；44.向flash芯片0x2aa地址写入0x55；45.向flash芯片0x555地址写入0xa0；46.向flash芯片地址写入数据；47.读取上一步写入数据flash的地址，如果读取的数据bit7与写入数据的bit7一致，则表示flash编程成功，如果读取的数据bit5为1，且数据bit7不为1，则表示flash擦除失败。48.一种基于jtag总线的dsp程序在线升级装置，包括控制芯片，控制芯片连接usb接口；49.上位机软件解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；对dsp处理器上jtag接口进行复位；根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；对flash芯片进行复位；对flash进行片擦除；对flash进行编程，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。50.控制芯片采用ftdi公司的ft2232h芯片。51.与现有技术相比，本发明能够将dsp应用程序对应的.out文件直接转为bin文件，通过usb转jtag装置烧写，针对不同的dsp只需开发一种软件，即可完成不同dsp程序的烧写。即便对于采用不同bsdl文件的dsp芯片，或不同操作码的flash，均能够满足不同dsp芯片外接不同flash芯片的程序烧写要求。相比传统烧写方法，本发明不用维护针对dsp处理器及flash芯片选型不同的产品维护多份烧写代码，去除了传统方法中配置脚本生成bin文件，加载烧写程序烧写bin文件的复杂流程，简化了烧写过程，降低了烧写过程中出错的可能性。附图说明52.图1为本发明电路图；53.图2为elf文件格式示意图；54.图3为elf文件格式中elfheader数据结构及字段含义示意图；55.图4为elf文件中常见section信息示例图；56.图5为elf文件转bin文件流程图；57.图6为dsp与外部flash电路连接示意图；58.图7为tms320c6671芯片bsdl文件关键信息示意图；59.图8为jtag总线状态转换流程图；60.图9为jtag烧写bin文件流程图。具体实施方式61.下面结合附图对本发明做进一步说明。62.参见图1，该电路中主要采用ftdi公司的ft2232h芯片，该芯片是ftdi公司的第五代usb设备，该芯片能够完成usb接口协议到jtag协议的自动转换。pc机端上位机软件解析应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件；操作本发明中的jtag装置对dsp处理器上jtag接口进行复位；根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存；获取dsp各个管脚的当前状态，对边界扫描寄存器进行初始数据加载；对flash芯片进行复位；对flash进行片擦除；对flash进行编程，读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复s7通过usb转jtag装置将bin文件中所有数据编程进flash，完成用户程序通过jtag装置的在线升级。63.本发明的另一个方面，dsp程序在线烧写方法，包括如下步骤：64.解析用户应用程序对应的.out文件，生成烧写所用bin文件。out文件为elf格式，全称为theexecutableandlinkingformat。从使用上，elf文件的种类主要有三类：可执行文件，可重定位文件，共享目标文件。针对于本发明，我们只关注可执行文件，并且对于嵌入环境下的可执行文件，通常不具有可重定位性。文件中所带的代码与数据执行地址，即最终程序在嵌入式环境中运行时的程序代码和数据地址。65.elf文件的格式如图2所示：66.文件首部为elfheader的结构体，其具体结构如图3所示：67.该数据结构中主要描述了程序的入口地址，sectionheadertable的偏移以及文件中section的个数。这三个信息对于将可执行文件转换为烧写文件极为重要。本文我们主要关注这三个信息，这三个信息分别由elfheader结构体的e_entry，e_shoff，e_shnum三个字段指出。通过对elf文件首部的elfheader结构体进行解析，可以获得以上三个字段的信息。68.对于elf文件其主要由section组成。通常一个可执行程序必须包含执行所需的代码，执行所需的数据。更进一步，程序中的代码和数据根据其用途和属性：如只读，可读写，可写不可读等划分成不同的部分。这些部分即为elf文件中的section。elf文件中的sectionheadertable包含了elf文件内不同section的相关信息。69.一个典型的ti可执行程序的包含的seciton如图4所示，图中名为.text的section包含可执行文件运行所需的代码，名为.stack的section为用户程序运行所需的堆栈。实际使用中只需要将上图中alloc信息为y(表示该section需要分配空间)的段写入最终需要烧写至flash中的bin文件即可。这一过程可以概括为根据elf文件的sectionheadertable中解析各个section的信息，将section的alloc属性为y的section根据该section在elf文件中偏移，读出该section的有效数据和长度，将其写入bin文件中。70.dsp与外部flash通过emif的典型连接如图6所示，从图中可以看出通过dsp端的emif总线操作flash需要如下信号：dsp处理器emif地址线(dsp_emifa(23:0))，数据线(dsp_emifd(15:0))，dsp_emifce0(片选0，连接flash芯片的ce)，dsp_emifwe(写信号，连接flash芯片we),dsp_emifoe(写信号，连接flash芯片oe)。71.为了在flash芯片上进行程序的固化升级，本发明通过jtag接口控制dsp处理器，在上述emif接口相关引脚上分别输出flash的复位，擦除，编程，读时序。以达到设计目的。具体步骤如下：72.启动软件，调用usb转jtag装置的驱动，对dsp处理器上jtag接口进行复位。即操作驱动保持tms管脚输出高电平至少5个tck时钟周期。73.根据dsp芯片对应的bsdl文件建立与边界扫描单元对应的缓存。为了表述方便，以下以tms320c6671芯片为例进行说明。但本发明不局限于tms320c6671芯片，通常一个系类的dsp芯片其bsdl文件往往一致，例如tms320c6671芯片的bsdl文件与tms320c6672，tms320c6674，tms320c6678等芯片bsdl文件一致。因此本发明适用于ti常见的所有dsp处理器外部flash上程序的升级。tms320c6671芯片的bsdl文件中跟本发明相关的信息如图7所示：74.图7为缩略图。只列出了本发明中所需的相关信息，个别如emif接口地址线和数据线相关信息并不完整，但其可以参照图7中列出的emif接口地址线和数据线有关信息。从图7可知：tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625。因此在程序中建立长度为625，即625字节大小的无符号char型数组，命名为bscan[625].数组中每个字节表示边界扫描链上的一个边界扫描寄存器。图7中所有跟emif接口相关的管脚在边界扫描链上全部标示为bidir,即双向。其通过一个类型为bc_2的边界扫描寄存器配置管脚对应的边界扫描单元方向。根据图7中信息，以emifce0z信号为例：该信号为emif总线片选0信号，其在边界扫描链上的编号为395。通过图7中对应的边界扫描链上的394号边界扫描寄存器控制方向。当394号边界扫描寄存器配置为1时，对应emifce0z信号的395号边界扫描寄存器为输入寄存器，表示该寄存器的值由emifce0z引脚输入寄存器。当394号边界扫描寄存器配置为0时，表示emifce0z引脚的电平由395号边界扫描寄存器中的值决定。显然，对于dsp_emifa(23:0)，dsp_emifce0，dsp_emifwe,dsp_emifoe这些引脚，需要将其边界扫描寄存器的方向设置为输出。dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向需要根据对flash芯片的操作来决定。具体来说，就是向flash进行写操作时，需要将dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向设置为输出。当对flash进行读操作时，需要将dsp_emifd(15:0)引脚对应的边界扫描寄存器方向设置为输入。[0075]获取dsp各个管脚的当前状态，在操作jtag之前对边界扫描寄存器进行初始数据加载。[0076]具体流程如下：[0077]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。jtag接口控制器状态机切换如图8所示。[0078]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0079]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到ir‑scan状态。[0080]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑ir状态。[0081]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑ir状态。[0082]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入其bsdl文件中sample指令的序列，011011b，该指令长度为6，需要6个tck引脚输出时钟的时钟周期。当jtag总线状态机在后续操作切换到capture‑dr状态时，该指令将各个管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中。在第6个tck引脚输出时钟的时钟周期，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑ir状态。[0083]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑ir状态。[0084]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0085]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0086]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑dr状态。[0087]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑dr状态。[0088]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上依次输入低电平，每个电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。同时采集tdo引脚的当前值，存入bscan数组。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此为了边界扫描寄存器中的值读出，需要625个时钟周期。同在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。[0089]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑dr状态。[0090]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0091]为了对flash进行编程，首先需要复位flash芯片。根据芯片手册，在flash中任意地址写入0xf0，即可完成对flash的复位。[0092]因此将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0.将bscan[387]，bscan[319]，bscan[317]，bscan[315]，bscan[313]全部设置为1。bscan[387]对应于边界扫描链上的emifoez，bscan[319]，bscan[317]，bscan[315]，bscan[313]对应于边界扫描链上emifd(7:4).[0093]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。jtag接口控制器状态机切换如图8所示。[0094]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0095]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到ir‑scan状态。[0096]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑ir状态。[0097]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑ir状态。[0098]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入其bsdl文件中extest指令的序列，011000b，该指令长度为6，需要6个tck引脚输出时钟的时钟周期。该指令在shift‑dr状态时将边界扫描单元配置的值输出到芯片引脚上。在capture‑dr状态时，该指令将输入管脚的状态在tck的上升沿装入边界扫描单元的寄存器中。在第6个tck引脚输出时钟的时钟周期，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑ir状态。[0099]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑ir状态。[0100]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0101]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到dr‑scan状态。[0102]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到capture‑dr状态。[0103]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到shift‑dr状态。[0104]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此为了将bscan数组中的值输出到tms320c6671芯片内部的边界扫描链上，需要625个时钟周期。同在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。[0105]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到update‑dr状态。[0106]操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入低电平，持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到run‑test/idle状态。[0107]至此，完成了对flash芯片的复位。接下来对flash进行片擦除。为了擦除flash芯片，需要在按如下流程向flash芯片发送读写操作序列。[0108](1)向flash芯片0x555地址写入0xaa。[0109](2)向flash芯片0x2aa地址写入0x55.[0110](3)向flash芯片0x555地址写入0x80[0111](4)向flash芯片0x555地址写入0xaa[0112](5)向flash芯片0x2aa地址写入0x55.[0113](6)向flash芯片0x555地址写入0x10[0114](7)读flash地址0，如果读到的数据bit7为1，表示flash擦除成功，否则如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，表示flash擦除失败。[0115]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，再将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态。在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0116]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0117]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0x80操作。[0118]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0119]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0120]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[319]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片擦除序列中的向flash芯片0x555地址写入0x10操作。[0121]依据上述流程，首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[385],bscan[327],bscan[326],bscan[325],bscan[324],bscan[323],bscan[322],bscan[321],bscan[320],bscan[319],bscan[318],bscan[317],bscan[316],bscan[315],bscan[314],bscan[313],bscan[312],bscan[311],bscan[310],bscan[309],bscan[308],bscan[307],bscan[306],bscan[305],bscan[304],bscan[303],bscan[302],bscan[301],bscan[300],bscan[299],bscan[298],bscan[297]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。从而通过jtag向flash芯片输入读操作时序。由于读操作返回数据滞后于读操作的地址输出。因此再次将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[395],bscan[387],bscan[385]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在tdo引脚读入对应的高低电平值存入din0[625]数组。在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。数组中[0122]din0[327],din0[325],din0[323],din0[321],din0[319],din0[317],din0[315],din0[313],din0[311],din0[309],din0[307],din0[305],din0[303],din0[301],din0[299],din0[297]对应emifd(0:15).判断din0[313]是否为1，如果不是再次重复本步奏中的流程，读出数据记入din1.判断din1[317]是否为1，如果不为1，进一步判断din1[315]的值是为1，如果不为1。再次重复上述流程,直至din0[313]为1，或者din0[315]不为1。前者表示擦除成功，后者表示擦除失败。[0123]至此，完成了对flash芯片的擦写。接下来对flash进行编程。为了编程flash芯片，需要在按如下流程向flash芯片发送读写操作序列。[0124](1)向flash芯片0x555地址写入0xaa。[0125](2)向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0126](3)向flash芯片0x555地址写入0xa0。[0127](4)向flash芯片地址写入数据。[0128](5)读取上一步写入数据flash的地址，如果读到的数据bit7与写入数据的bit7一致，表示flash编程成功，否则如果数据bit5为1，且数据bit7不为1，表示flash擦除失败。[0129]依据上述流程第一步首先将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357]，bscan[325],bscan[321],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x555地址写入0xaa操作。[0130]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387]，bscan[375],bscan[371]，bscan[367]，bscan[363]，bscan[359]，bscan[327]，bscan[323]，bscan[319],bscan[315]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x2aa地址写入0x55。[0131]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[387],bscan[329]，bscan[373]，bscan[369]，bscan[365]，bscan[361]，bscan[357],bscan[317],bscan[313]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成flash芯片编程序列中的向flash芯片0x555地址写入0xa0操作。[0132]读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，每两个字节组成一个16bit的数据。根据16bit的数据，设置emifd(0:15)对应的边界扫描单元数据于bscan数组中。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。至此完成向flash芯片地址写入数据。[0133]依据上述流程，将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[385],bscan[327],bscan[326],bscan[325],bscan[324],bscan[323],bscan[322],bscan[321],bscan[320],bscan[319],bscan[318],bscan[317],bscan[316],bscan[315],bscan[314],bscan[313],bscan[312],bscan[311],bscan[310],bscan[309],bscan[308],bscan[307],bscan[306],bscan[305],bscan[304],bscan[303],bscan[302],bscan[301],bscan[300],bscan[299],bscan[298],bscan[297]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。再次在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到update‑dr，run‑test/idle状态。从而通过jtag向flash芯片输入读操作时序。由于读操作返回数据滞后于读操作的地址输出。因此再次将bscan数组中跟emif接口边界扫描寄存器对应的值设置为0，将bscan[395],bscan[387],bscan[385]设置为1。操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高，低，低电平序列，序列中每个电平状态持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切依次换到dr‑scan，capture‑dr，shift‑dr状态，在shift‑dr状态下，操作usb转jtag装置，在tms320c6671芯片jtag接口的tdi引脚上输入bscan数组对应的电平，每个数组值对应的输出电平持续一个jtag接口tck引脚输出时钟的时钟周期。tms320c6671芯片的边界扫描链长度为625，因此需要625个时钟周期将bscan数组对应的高低电平输出到tdi管脚。同时在tdo引脚读入对应的高低电平值存入din0[625]数组。在第626个周期时，在tms320c6671芯片jtag接口的tms引脚上输入高电平。使tms320c6671端jtag接口内部控制器状态机切换到exit1‑dr状态。数组中[0134]din0[327],din0[325],din0[323],din0[321],din0[319],din0[317],din0[315],din0[313],din0[311],din0[309],din0[307],din0[305],din0[303],din0[301],din0[299],din0[297]对应emifd(0:15).判断din0[313]是否为1，如果不是再次重复本步奏中的流程，读出数据记入din1.判断din1[317]是否为1，如果不为1，进一步判断din1[315]的值是否与第四步中写入数据的bit7一致，如果不一致。再次重复上述流程,直至din1[315]的值与第四步中写入数据的bit7一致。[0135]再次读取读取用户应用程序.out文件转换后的bin文件，重复flash的编程操作序列，将bin文件中所有数据编程进flash。完成用户程序通过jtag装置的在线升级。当前第1页12当前第1页12
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