振荡电路设计辅助方法、振荡电路设计辅助系统以及振荡电路设计辅助程序与流程

技术特征：
1.一种振荡电路设计辅助方法，是辅助安装有振荡用ic芯片以及振子的电路基板中的振荡电路条件的设计的振荡电路设计辅助方法，包括：第一接受工序，接受与振荡用ic芯片有关的ic芯片信息的输入；第一提供工序，提供基于上述ic芯片信息决定的、振子样本数据以及振荡电路条件样本数据；第二接受工序，接受当与上述振子样本数据对应的振子被安装在电路基板的情况下，基于上述振荡电路条件样本数据测定的频率测定信息的输入；以及第二提供工序，提供与至少基于上述频率测定信息决定的振荡电路条件适合数据有关的信息。2.根据权利要求1所述的振荡电路设计辅助方法，其中，在上述第一提供工序中，除了振子样本数据以及振荡电路条件样本数据之外，还指示提供振子样本。3.根据权利要求1或2所述的振荡电路设计辅助方法，其中，上述ic芯片信息是与ic的产品编号有关的信息。4.根据权利要求1～3中任意一项所述的振荡电路设计辅助方法，其中，在上述第二接受工序中，除了上述频率测定信息之外，还接受用于频率的测定的上述振子的振子样本数据以及用于频率的测定的上述振荡电路条件样本数据的输入。5.根据权利要求1～4中任意一项所述的振荡电路设计辅助方法，其中，在上述第二提供工序中，提供上述振荡电路条件适合数据。6.根据权利要求5所述的振荡电路设计辅助方法，其中，还包括获取辅助上述振荡电路条件的设计的过去辅助信息的工序，上述第一提供工序以及上述第二提供工序中的至少一个提供工序基于上述过去辅助信息进行提供。7.根据权利要求1～6中任意一项所述的振荡电路设计辅助方法，其中，上述振荡电路条件样本数据将构成振荡电路条件的一个或者多个参数与每个上述振子样本数据分别独立地建立对应，在上述第二提供工序中，基于包含与在上述第二接受工序中用于上述频率测定信息的测定的上述振子的振子样本数据建立对应的一个或者多个参数的振荡电路条件，提供与上述振荡电路条件适合数据有关的信息。8.一种振荡电路设计辅助系统，是辅助安装有振荡用ic芯片以及振子的电路基板中的振荡电路条件的设计的振荡电路设计辅助装置，具备：第一接受部，接受与振荡用ic芯片有关的ic芯片信息的输入；第一提供部，提供基于上述ic芯片信息决定的、振子样本数据以及振荡电路条件样本数据；第二接受部，接受与频率测定值有关的频率测定信息的输入，该频率测定值是当与上述振子样本数据对应的振子被安装在电路基板的情况下，基于上述振荡电路条件样本数据测定的值；以及第二提供部，提供与至少基于上述频率测定信息决定的振荡电路条件适合数据有关的信息。9.一种振荡电路设计辅助程序，使计算机执行如下处理：
第一接受处理，接受与振荡用ic芯片有关的ic芯片信息的输入；第一提供处理，提供基于上述ic芯片信息决定的、振子样本数据以及振荡电路条件样本数据；第二接受处理，接受与频率测定值有关的频率测定信息的输入，该频率测定值是当与上述振子样本数据对应的振子被安装在电路基板的情况下，基于上述振荡电路条件样本数据测定的值；以及第二提供处理，提供与至少基于上述频率测定信息决定的振荡电路条件适合数据有关的信息。

技术总结
本发明涉及振荡电路设计辅助方法、振荡电路设计辅助系统以及振荡电路设计辅助程序。是辅助安装有振荡用IC芯片以及振子的电路基板中的振荡电路条件的设计的振荡电路设计辅助方法，包括：第一接受工序，接受与振荡用IC芯片有关的IC芯片信息的输入；第一提供工序，提供基于IC芯片信息决定的、振子样本数据以及振荡电路条件样本数据；第二接受工序，接受当与振子样本数据对应的振子被安装在电路基板的情况下，基于振荡电路条件样本数据测定的频率测定信息的输入；以及第二提供工序，提供与至少基于频率测定信息决定的振荡电路条件适合数据有关的信息。据有关的信息。据有关的信息。


技术研发人员：高尾真辅 黑坂昌弘 西尾浩伸 七役强
受保护的技术使用者：株式会社村田制作所
技术研发日：2020.11.18
技术公布日：2022/1/4