基于labview编程自动测试时钟频偏的系统和方法与流程

技术特征：
1.一种基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压时钟频偏的系统，其特征在于：包括计算机、程控温箱、程控直流电压源、频谱仪以及配置被测晶体的设备，所述计算机通过两个串口与程控温箱和程控直流电压源连接，计算机通过网口和频谱仪连接，配置被测晶体的设备置于程控温箱中通过电源线连接程控直流电压源的输出端，程控直流电压源为配置被测晶体的设备提供可变供电电压，频谱仪通过射频电缆连接近场探头，进场探头置于被测晶体附近，所述计算机通过编制好的程序自动设置程控温箱和程控直流电压源的参数并核对参数设置情况，设置好后，计算机通过编制好的程序自动设置频谱仪的参数，设置好后启动测试，将频谱仪读取的测试参数写入表格并自动化生成报告。2.根据权利要求1所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：所述计算机中存储基于labview软件编制的时钟频偏测试程序，该程序启动后，可以自动设置程控温箱、程控直流电压源和频谱仪的参数，并将测量结果写入表格并自动化生成报告。3.一种基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，包括以下步骤：s1、将配置被测晶体的设备放置于程控温箱中，并将配置被测晶体的设备的电源口通过电源线连接到程控直流电压源的输出端，程控温箱和程控直流电压源分别通过串口通讯线连接已经安装labview时钟频偏测试程序的计算机，频谱仪通过网线连接计算机，频谱仪通过射频线缆连接近场探头，近场探头置于程控温箱中被测晶体附近；s2、启动频谱仪进行热机，然后依次启动程控温箱、程控直流电压源和启动计算机；s3、运行labview时钟频偏测试程序，让其自动完成程控温箱的温度设置、程控直流电压源的电压设置以及频谱仪参数设置，待频谱仪、程控温箱和程控直流电压源均稳定工作后，对设置参数进行读取验证；s4、待设置参数和读取参数一致后，由近场探头拾取工作状态下被测晶体辐射的时钟信号，自动完成频偏的测量，并写入表格，自动化生成报告。4.根据权利要求1所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：所述步骤s3中程控温箱和程控直流电压源的参数设置情况包括低温低压、低温标压、低温高压、标温低压、标温标压、标温高压、高温低压、高温标压、高温高压，labview时钟频偏测试程序按程序流程自动进行步骤s3中的参数设置和步骤s4中的测量，并写入表格生成报告，直至程序执行结束。5.根据权利要求4所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：频谱仪参数的设定和验证是在程控温箱和程控直流电压源的参数设置完成一小时且读取的温度和电压稳定之后。6.根据权利要求3
‑
5任一项所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：labview时钟频偏测试程序通过串口自动完成程控直流电压源的供电电压设置，再通过程序读取实际供电电压，如读取的实际供电电压在设置的供电电压的正负0.5v以内，则判定设置的供电电压正确，程序继续执行，否则判定设置的供电电压错误，并提示手动设置供电电压，对供电电压进行手动设置后，程序再次读取实际供电电压并进行判定，直至判定设置的供电电压正确。7.根据权利要求3
‑
5任一项所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：labview时钟频偏测试程序通过串口自动完成程控温箱的温度设
置，稳定两小时后，再通过程序读取温箱内部实际温度，如读取的实际温度在设置的温度的正负2℃以内，则判定设置的温度正确，程序继续执行，否则判定设置的温度错误，并提示手动设置温度，对温度进行手动设置后，程序再次读取实际温度并进行判定，直至判定设置的温度正确。8.根据权利要求3
‑
5任一项所述的基于labview编程实现频谱仪测试高低温和高低压频偏的方法，其特征在于：labview时钟频偏测试程序通过网口自动完成频谱仪的参数设置，具体参数包括中心频点和span，频谱仪分辨率带宽为100hz，读取频率为中心频点的频偏，如果频偏在50ppm之内，则判定数据正确，程序继续执行，否则判定数据错误，并提示手动设置参数，对中心频点和span进行手动设置后，程序再次读取频偏并进行判定，直至判定设置的参数正确。

技术总结
本发明公开了一种基于labview编程自动测试高低温和高低压下时钟频偏的系统和方法，本发明基于安装了labview时钟频偏测试程序的计算机以及由该计算机控制的程控温箱、程控直流电压源以及频谱仪，利用程序自动设置高低温、高低压参数以及频谱仪参数并进行测量，测量数据写入表格并自动化生成报告。本发明能自动控制程控温箱温度，自动控制程控直流电压源供电电压，自动设置频谱仪参数，自动进行测量参数读取，实现自动化测试，极大的提高了测试效率。极大的提高了测试效率。极大的提高了测试效率。


技术研发人员：陈晨 全成根 朱梅
受保护的技术使用者：太仓市同维电子有限公司
技术研发日：2021.09.26
技术公布日：2021/12/17