对CSFP光模块进行快速调测试的系统的制作方法

对csfp光模块进行快速调测试的系统
技术领域
1.实用新型涉及一种光模块领域。更具体地说，本实用新型涉及一种用在光模块生产制造出厂测试情况下使用的对csfp光模块进行快速调测试的系统。


背景技术：

2.csfp光模块和sfp模块的主要区别在于，csfp模块等于2pcssfp光模块功能，生产工艺以及测试工艺、测试时间也是sfp模块双倍流程。现有csfp光模块生产工艺多采用tx\rx\色散分工序进行测试对应性能，具有插拔模块光纤次数及工序繁多等缺点，工序多及人员生产效率低的缺点，且在实际测试中需要分工序测试高温、低温升降温次数较多，1支模块需要升降温4次(光模块需要测试85℃～
‑
40℃)，目前温箱升降温效率只能达到降温3℃\分钟，升温5℃\分钟，一个温度循环至少需要40分钟)，测试时间长，不利于生产、调试效率的提高。


技术实现要素：

3.本实用新型的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。
4.为了实现根据本实用新型的这些目的和其它优点，提供了一种对csfp光模块进行快速调测试的系统，包括：
5.示波器；
6.评估板以及与其连接的两个误码仪；
7.多通道衰减器；
8.与多通道衰减器相连接的两个波分盒子；
9.其中，待测csfp光模块被配置在评估板上，其上设置在与各误码仪相配合的8个连接接口；
10.各误码仪上分别设置有相配合的标准光源模块；
11.各波分盒子的其中一个接口均与待测csfp光模块进行双向通信连接，各波分盒子的输出接口通过相配合的分光器、长纤桶与对应标准光源模块的输入接口连接；
12.各分光器的输出接口通过光开光与示波器的输入信号接口连接，且所述示波器通过与光开光相配合的cdr时钟恢复进行触发；
13.多通道衰减器的输入接口与对应标准光源模块的输出接口连接。
14.优选的是，所述cdr时钟恢复通过电开关进行替换。
15.本实用新型至少包括以下有益效果：本实用新型提供一种针对于csfp光模块进行快速调测试的系统，其能一次性完成对双通道收发一体化csfp光模块的收端、发端、色散调试、测试，一个模块测试只需要插拨一次，人工操作简单，其相对于现有技术能有效简化测试工序7道，提升测试时间2倍，实现对csfp光模块的快速调测试。
16.本实用新型的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过
对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
17.图1为本实用新型中对csfp光模块进行快速调测试系统的框架示意图；
18.图2为本实用新型中对csfp光模块进行快速调测试系统的测试流程图。
具体实施方式
19.下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
20.应当理解，本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或多个其它元件或其组合的存在或添加。
21.需要说明的是，在本实用新型的描述中，术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，并不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
22.在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
23.图1示出了根据本实用新型的一种对csfp光模块进行快速调测试的系统实现形式，其中包括：
24.示波器1；
25.评估板2以及与其连接的两个误码仪3；
26.多通道衰减器4；
27.与多通道衰减器相连接的两个波分盒子5；
28.其中，待测csfp光模块6被配置在评估板上，其上设置在与各误码仪相配合的8个连接接口；
29.各误码仪上分别设置有相配合的标准光源模块7；
30.各波分盒子的其中一个接口均与待测csfp光模块进行双向通信连接，各波分盒子的输出接口通过相配合的分光器8、长纤桶9与对应标准光源模块的输入接口连接，在这种结构中，波分盒子的作用，主要是待测csfp光模块的本身自有性能相配合，实现波分复用，完成对csfp光模块的性能测试，与分光器用于对从多通道衰减器输出的光进行分支，以使光可以分别输出到光开光、以及标准光源模块，而长纤桶用于模拟长纤公里数，用于测试色散参数；
31.各分光器的输出接口通过光开光10与示波器的输入信号接口连接，通过设置光开关，用于切换发端光路，即与待测csfp光模块相配合，对其测试双通道的通断进行切换，且所述示波器通过与光开光相配合的cdr时钟恢复11进行触发，在实际操作中，可以采用电开关进行替代cdr(时钟恢复)发出相应的触发信号，以触发示波器处理工作态；
32.多通道衰减器的输入接口与对应标准光源模块的输出接口连接，在实际操作中误码仪通过标准光源模块产生相应的调制信号，经多通道衰减器对光信号进行适应性衰减后，通过波分盒子进行处理后接入至评估板上的待测csfp光模块，得到对应的检测光信号通过波分盒子、分光器输出给示波器，示波器基于接收到的光信号产生对应的光口眼图，达到测试的目的，同时通过长纤桶与评估板，误码仪的配合，实现对色散的测试，而光开光的作用在于进行发端测试时对待测csfp光模块进行通道切换，对进而使得本方案在一个装置上可以一次性完成对csfp光模块收端、发端、色散的测试，集成性更好，设备的利用率更高，将色散测试系统合并到正常性能测试工序中，减少工艺流程，测试的效率更优。
33.本发明的快速测试csfp光模块双通道tx&rx、色散性能环境，能襩4通道发端、收端、色散、同时多线程合并测试，其主要由如下设备构成：
[0034][0035]
测试原理如下：
[0036]
1：使用2台误码仪双通道并行测试rx误码率，误码仪光口rx端测试色散误码率，可以对csfp的收端、色散进行同时测试；
[0037]
2：发端共用一台示波器，配合光开关的切换，串行测试各通道的发端参数，
[0038]
3：发射、收端、色散,采用三个线程同时并行测试，作业人员只需要插拔模块即可；
[0039]
4：示波器触发使用cdr(时钟恢复)提取光型号后发射到示波器；
[0040]
快速测试csfp光模块双通道tx&rx、色散性能，测试机台在实际生产使用，通过采用1台示波器配合2台收端测试系统进行多线程测试，提升生产效率及设备使用率(1个通道发端测试30s，收端测试60s,最大程度降低设备使用率)；将色散测试系统合并到正常性能测试工序中，减少工艺流程3道；
[0041]
由于csfp模块封装的特性，采用双tx&双rx封装，传统测试只能分离测试，不能同步调测试双通tx％rx参数，本方案测试系统环境下可以解决目前生产csfp的痛点，如旧工艺测试项目繁多、生产周期长、升降温次数多、重复插拔模块、作业人员浪费、仪器仪表限制，等痛点，具体来说，采用本方案与旧的测试系统相比较，其工艺流程工序及工时对比如下：
[0042]
1：新旧测试工序对比：新工艺(常温调试 常温测试 高温测试 低温测试，四个工序)旧工艺(发端调试 收端1调试 收端2调试 发端测试 收端1测试 收端2测试 发端低温测试 发端高温测试 收端低温1 收端低温2 收端高温1 收端高温2，十一个工序)，一共减
少7个工序，并且辅助工序：端面清洁及物料周转同步减少；达到生产作业人员减少，生产成本降低；
[0043]
2：新旧常温调测试总工时对比：新工艺(调试90s 测试70s,总时间160s)旧工艺(tx&rx调试130s tx&rx测试180s，总工时：310s)，生产效率提升2倍，故产能能得到有效提升。
[0044]
以上各方案均只是一种较佳实例的说明，但并不局限于此。在实施本实用新型时，可以根据使用者需求进行适当的替换和/或修改。
[0045]
这里说明的设备数量和处理规模是用来简化本实用新型的说明的。对本实用新型的应用、修改和变化对本领域的技术人员来说是显而易见的。
[0046]
尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用。它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域。对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改。因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。