热过载探测装置的制作方法

1.本实用新型涉及检测装置技术领域，尤其提供一种热过载探测装置。


背景技术：

2.在电力等领域中，有效地防止物质因过热而发生事故是非常必要的措施。探测物质热过载可以更提前预判其隐患和热失控的发展趋势。
3.目前，现有的热过载探测装置在使用上受到场地的限制，以及，探测过程耗能较大。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的提供一种热过载探测装置，旨在解决现有的热过载探测装置在使用过程中耗能大的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
6.本技术提供的一种热过载探测装置，包括具有容置空间的探测室、设于所述探测室内的压缩装置以及用于检测水滴数量的检测装置，所述探测室具有入口以及出口，所述检测装置设于所述出口处，所述压缩装置用于改变所述容置空间的容积，待检测的对象置于所述容置空间内。
7.本实用新型的有益效果：本实用新型提供的热过载装置，其工作过程如下：将待检测对象置于探测室内，一旦，探测室内的待检测对象发生过热，其受热释放出的热释离子通过布朗运动或者对流散步在容置空间内，以及，采用热释离子作为形成水滴的凝结核，并且，通过压缩装置改变容置空间的容积，从而控制各热释离子形成水滴的直径，最后，通过检测装置计算出容置空间内水滴的数量来判断待检测对象的受热状态。
8.在一个实施例中，所述检测装置包括供电电源、并联连接于所述供电电源上的多个检测件以及与各所述检测件电性连接的检测电路，各所述检测件并排设置，所述检测件包括电性连接于所述供电电源的第一检测臂以及电性连接于所述供电电源的第二检测臂，所述第一检测臂和所述第二检测臂之间形成供水滴通过的间隙。
9.在一个实施例中，所述第一检测臂包括第一蒸发梁，所述第一蒸发梁朝向所述第一检测臂的一侧设有阳极触头。
10.在一个实施例中，所述第一蒸发梁上开设于若干导液槽。
11.在一个实施例中，所述第二检测臂包括第二蒸发梁，所述第二蒸发梁设有与所述阳极触头相对设置的阴极触头。
12.在一个实施例中，所述第二蒸发梁上开设有若干导液槽。
13.在一个实施例中，所述阳极触头与所述阴极触头之间的间距为5nm～30nm。
14.在一个实施例中，所述热过探测装置包括进气通道，所述进气通道的出气口连通于所述入口，所述进气通道的进气口设有第一控制阀，所述入口处设有止回阀。
15.在一个实施例中，所述热过探测装置包括出气通道，所述出气通道的进气口连通
于所述出口，所述出气通道的出气口设有第二控制阀。
附图说明
16.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为本实用新型实施例提供的热过载探测装置的结构示意图；
18.图2为本实用新型实施例提供的热过载探测装置的检测装置的结构示意图。
19.其中，图中各附图标记：
20.探测室10、压缩装置20、检测装置30、入口10a、出口10b、供电电源31、检测件32、检测电路33、第一检测臂321、第二检测臂322、间隙30a、第一蒸发梁3211、阳极触头3212、导液槽30b、第二蒸发梁3221、阴极触头3222、进气通道41、第一控制阀42、止回阀43、出气通道51、第二控制阀52。
具体实施方式
21.下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
22.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
23.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
24.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
25.请参考图1，本技术提供的热过载探测装置，包括具有容置空间的探测室10、设于探测室10内的压缩装置20以及用于检测水滴数量的检测装置30，探测室10具有入口10a以及出口10b，检测装置30设于出口10b处，压缩装置20用于改变容置空间的容积，待检测的对象置于容置空间内。在进行检测时，入口10a处于封闭状态。压缩装置20能够改变容置空间的容积，例如，相对初始状态，来增大或减小容置空间的容积，以改变容置空间内压强，从而
调整水滴的粒径。
26.本技术的热过载探测装置工作原理是：物质受热超过稳态极限时，其组成该物质的最小单位原子或分子的外层电子逃逸成为离子，该离子为热释离子，热释离子也因热动效应而释放在空间内，以及，这些热释离子作为水滴的凝结核，若物质受热持续，那么，由热释离子形成水滴数量就越多，通过计算单位时间通过检测装置30的水滴数量来判断该空间内的对象是否发生过热现象。
27.本实用新型提供的热过载装置，其工作过程如下：将待检测对象置于探测室10内，一旦，探测室10内的待检测对象发生过热，其受热释放出的热释离子通过布朗运动或者对流散步在容置空间内，以及，采用热释离子作为形成水滴的凝结核，并且，通过压缩装置20改变容置空间的容积，从而控制各热释离子形成水滴的直径，最后，通过检测装置30计算出容置空间内水滴的数量来判断待检测对象的受热状态。例如，热释离子的粒径范围在0.1纳米～6纳米之间。以及，通过压缩装置20可将热释离子形成水滴的粒径控制在一定范围内。
28.请参考图1和图2，在一个实施例中，检测装置30包括供电电源31、并联连接于供电电源31上的多个检测件32以及与各检测件32电性连接的检测电路33，各检测件32并排设置，检测件32包括电性连接于供电电源31的第一检测臂321以及电性连接于供电电源31的第二检测臂322，第一检测臂321和第二检测臂322之间形成供水滴通过的间隙30a。可以理解地，各检测件32的排列方向与探测室10的出口10b方向相同，即形成水滴可通过间隙30a至探测室10的外部。具体地，第一检测臂321、第二检测臂322以及检测电路33形成水滴记数电路，在未检测状态下，水滴记数电路处于开路状态，而当水滴通过间歇时，水滴记数电路处于通路状态，从而进行计数。
29.请参考图2，在一个实施例中，第一检测臂321包括第一蒸发梁3211，第一蒸发梁3211朝向第一检测臂321的一侧设有阳极触头3212。可以理解地，在探测室10内存在大量的处于布朗运动状态下的水滴，直接落在第一蒸发梁3211上水滴则被加热挥发，避免水滴在第一蒸发梁3211上凝结，同时，阳极触头3212用于与水滴相接触。
30.请参考图2，在一个实施例中，第一蒸发梁3211上开设于若干导液槽30b。可以理解地，为了提高第一蒸发梁3211过水效率，在第一蒸发梁3211上开设导液槽30b，一旦凝结的水滴来不及被蒸发，可通过导液槽30b而快速离开第一蒸发梁3211。
31.请参考图2，在一个实施例中，第二检测臂322包括第二蒸发梁3221，第二蒸发梁3221设有与阳极触头3212相对设置的阴极触头3222。可以理解地，在探测室10内存在大量的处于布朗运动状态下的水滴，落在第二蒸发梁3221上水滴则被加热挥发，避免水滴在第二蒸发梁3221上凝结，同时，阴极触头3222用于与水滴相接触。水滴通过阴极触头3222和阳极触头3212时，水滴记数电路处于通路状态。
32.请参考图2，在一个实施例中，第二蒸发梁3221上开设有若干导液槽30b。同理地，为了提高第二蒸发梁3221过水效率，在第二蒸发梁3221上开设导液槽30b，一旦凝结的水滴来不及被蒸发，可通过导液槽30b而快速离开第二蒸发梁3221。
33.在一个实施例中，阳极触头3212与阴极触头3222之间的间距为5nm～30nm。可以理解地，阳极触头3212和阴极触头3222之间的间距为5nm、7nm、10nm、12nm、15nm、17nm、20nm、22nm、25nm、27nm、30n等，当然也可以是其他的非整数值。
34.请参考图1，在一个实施例中，热过探测装置包括进气通道41，进气通道41的出气
口连通于入口10a，进气通道41的进气口设有第一控制阀42，入口10a处设有止回阀43。可以理解地，通过进气通道41向探测室10进行输送空气，并且，第一控制阀42用于控制进气通道41内的进气量，同时，在需要封闭探测室10时，开启止回阀43时，防止探测室10内的空气从入口10a排出至外部。
35.请参考图1，同理地，在一个实施例中，热过探测装置包括出气通道51，出气通道51的进气口连通于出口10b，出气通道51的出气口设有第二控制阀52。可以理解地，通过出气通道51将探测室10内的空气输送至外部，并且，第二控制阀52用于控制出气通道51内的出气量。
36.本技术还提供一种热过载探测方法，使用上述的热过载探测装置，具体步骤如下：
37.将待检测对象置于热过载探测装置的探测室10内，闭合探测室10的入口10a；
38.在探测室10内形成密闭的空间，避免探测过程受到干扰。
39.通过压缩装置20改变探测室10的容置；以及，通过检测装置30检测当前下探测室10内的水滴数量；
40.一旦，待测对象发生过热，则在探测室10内释放热释离子，并且，形成水滴，通过压缩装置20探测室10内的压强来调节水滴的粒径，并且，利用检测装置30计算所形成水滴数量。
41.根据水滴数量来判断检测对象是否处于过热状态。
42.可以通过模拟检测对象处于过热状态下，获得单位时间内通过检测装置30的水滴的数量，以该水滴数量作为标准值。通过比对当前值与标准值来判断检测对象是否处于过热状态。
43.本实用新型提供的热过载探测方法，耗能低，检测效率高。
44.以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。