一种电流测试电路的制作方法

本技术涉及电子测量，特别涉及一种电流测试电路。

背景技术：

1、在当前的pcb板（printed circuit board，印刷电路板）电路的测试电流中常见方法主要有两种：一种是通过将需要测试的电源回路切开，串联接入电流表，以测量回路的电流。这种方法虽然可以实现对电流的测试，但由于需要切开电源回路，可能会对被测试电路板（pcb）造成一定的损坏或影响，尤其在高密度、高精度的电路中，操作不当容易导致电路板的损坏。另一种常见方法是将电源回路切开后，串联焊接一根导线，再使用电流钳和示波器来测试通过导线的电流。尽管这种方法能够避免直接损坏电路板，但在高频、高速或复杂电路测试中，可能面临难以准确响应电流变化的问题。并且上述两种方法在测试效率和测试响应速度上，存在较大的技术缺陷，导致测试数据不够准确或及时反映电流变化，影响测试的精确性和可靠性。

技术实现思路

1、本技术为解决上述技术问题，提供一种能够在不损坏被测电路的情况下，提供高效、精确以及及时的电流测试电路。

2、具体的，本技术提供一种电流测试电路，包括：

3、第二运放电路，其采样被测电路中目标电路元件两端电压，并相应生成第一电压，所述目标电路元件具有稳定的第一直流阻抗参数。

4、第三运放电路，其采样一标准电路元件两端电压，并相应生成第二电压，所述标准电路元件具有稳定的第二直流阻抗参数。

5、第一运放电路，其根据第一电压和第二电压生成第三电压。

6、导通电路，其控制端连接所述第一运放电路的输出端，以接收所述第三电压；以及

7、输出单元，其检测流过所述标准电路元件的电流并输出。

8、其中，所述标准电路元件和导通电路串联连接在所述电流测试电路的供电端和一共地端之间。

9、在上述技术方案中，通过将第二运放电路接入被测电路中目标电路元件两端，因此无需对被测电路进行破损，提高了被测电路的电流检测的便捷性，通过输出单元对被测电路的电流的监测，实现了对被测电路的电流的实时监测，有效地提高了被测电路的电流测试的效率。

10、作为一种实施方式，所述第二运放电路和第三运放电路为结构相同的差分放大电路，所述第一运放电路为开环放大电路。所述第一直流阻抗参数等于第二直流阻抗参数。

11、通过将第二运放电路和第三运放电路设置为结构相同的差分放大电路，将标准电路元件的第一直流阻抗参数和第二直流阻抗参数采用相同的参数，使得后续待电路达到平衡后，可以直接通过测量标准电路组件的电流获取目标电路组件的电流，避免了由于电路结构不同和阻抗参数不同导致的电流检测结果误差。

12、进一步的，所述导通电路包括至少一个支路，当包括两个或两个以上的支路时，这些支路并联连接；每个支路均包括串联连接的双极型晶体管级联放大器和三极管，所述三极管的基极连接所述第一运放电路的输出端。

13、所述导通电路可以控制通过的电流，可以通过增加或减少导通电路并联的支路，从而对通过的电流进行控制。

14、进一步的，所述标准电路元件可分离地连接在所述电流测试电路中。通过可分离地连接使得可以根据测试的目标电路元件的不同设置不同的标准电路元件。

15、进一步的，所述第二运放电路和第三运放电路均包括第一运算放大器、第二运算放大器、第三运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻以及第四电阻。

16、所述第二电阻的一端接入所述第一运算放大器的输出端，所述第二电阻的另一端接入所述第三运算放大器的同向输入端；所述第一电阻的一端接入所述第二电阻和第三运算放大器的同向输入端接线的任意一点，所述第一电阻的另一端接地；所述第三电阻的一端接入所述第二运算放大器的输出端，所述第三电阻的另一端接入所述第三运算放大器的反向输入端；所述第四电阻的一端接入所述第三电阻和第三运算放大器的反向输入端接线的任意一点，所述第四电阻的另一端接入所述第三运算放大器的输出端和第一运放电路接线的任意一点；其中，所述第一运算放大器的反向输入端接入所述第一运算放大器的输出端和第二电阻接线的任意一点；所述第二运算放大器的反向输入端接入所述第二运算放大器的输出端和第三电阻接线的任意一点。

17、其中，通过第二运放电路的第三运算放大器可以将被测电路中目标电路元件两端压差放大百倍，通过第三运放电路将测试电路中标准电路元件的两端压差放大百倍。再分别将放大后获得的第一电压和第二电压输出至第一运放电路。通过将第一运算放大器和第二运算放大器的反向输入端输出端连接，从而使得第一运算放大器和第二运算放大器接成电压跟随器模式。

18、进一步的，所述第二运放电路还包括正极表笔探针和负极表笔探针，所述正极表笔探针一端连接所述被测电路的目标电路元件的一端，所述正极表笔探针的另一端连接所述第二运放电路的第一运算放大器的同向输入端；所述负极表笔探针的一端连接所述目标电路元件的另一端，所述负极表笔探针的另一端连接所述第二运放电路的第二运算放大器的同向输入端。

19、通过表笔探针接触目标电路元件，从而能够无需对电路进行损坏，能够直接测量目标电路元件的电压，提高了电流测试的便捷性。

20、进一步的，所述电流测试电路还包括第五电阻；所述第五电阻一端接入所述标准电路元件，所述第五电阻的另一端连接所述输出单元；所述第三运放电路的第一运算放大器的同向输入端连接所述第五电阻和所述标准电路元件接线的任意一点；所述第三运放电路的第二运算放大器的同向输入端连接所述标准电路元件和导通电路接线的任意一点。

21、通过在标准电路元件和输出单元之间设置第五电阻可以减少功率损耗，能够有效地降低被测电路的电流测量值出现误差。第五电阻还能够抑制高频噪声，确保显示信号稳定，第三运放电路的第一运算放大器和第二运算放大器以及第三运算放大器能够将标准电路元件两端的压差放大百倍后输出至第一运放电路。

22、进一步的，所述第一运放电路至少包括第四运算放大器；所述第四运算放大器的同向输入端接入所述第二运放电路的第三运算放大器的输出端；所述第四运算放大器的反向输入端接入所述第三运放电路的第三运算放大器的输出端。

23、所述第四运算放大器能够将同向输入端和反向输入端的电压差值放大千倍，再通过放大后的电压差值输送至后续大功率的双极型晶体管级联放大器的驱动输入端，通过第四运算放大器求取压差能够有效地消除电源波动、地线干扰等信号。

24、进一步的，所述导通电路的支路还包括第六电阻和第七电阻，所述第六电阻的一端连接所述第四运算放大器的输出端，所述第六电阻的另一端连接所述三极管的基极；所述双极型晶体管级联放大器的发射极连接所述标准电路元件，所述双极型晶体管级联放大器的基极连接所述三极管的集电极；所述双极型晶体管级联放大器的集电极接地；所述三极管的发射极接地；所述第七电阻的一端接入所述三极管的集电极和所述双极型晶体管级联放大器的基极接线的任意一点，所述第七电阻的另一端接入所述双极型晶体管级联放大器的发射极和标准电路元件的接线的任意一点。

25、其中，在导通电路中通过多支路并联的方式，可以实现对通过标准电路元件的电流进行控制，当需要测试更大的电流时，可以通过增加并联的导通电路支路，可以实现对更大的电流进行测试。通过并联第七电阻的方式可以有效地对双极型晶体管级联放大器进行保护，提高测试电路的安全性和稳定性。

26、与现有技术相比，本技术的有益效果在于：

27、本技术提供的电流测试电路有效地实现在不损坏电路的情况下，提供高效、精确和实时响应的电路的电流测试。通过直接将第二运放电路接入被测电路，因此无需对被测电路进行破损，提高了被测电路的电流检测的便捷性，通过输出单元对被测电路的电流的监测，实现了对被测电路的电流的实时监测，有效地提高了被测电路的电流测试的效率。