67GHz双同轴线缆高频性能测试治具的制作方法

本技术涉及一种治具，用于对双同轴结构的裸线线缆的频率响应特性的量测，频率范围从直流到极高频67ghz。

背景技术：

1、现有双同轴结构的裸线线缆高频特性的量测治具通常使用高频印刷线路板（pcb）作为高频信号传输的介质，待测裸线线缆的内部中心导线搭接接触印刷线路板上裸露的金手指完成信号的传输，从而进行高频特性的测量。或者使用两个并行排列的同轴细金属管作为高频信号传输的介质，待测裸线线缆的两个中心导体分别与两个同轴金属管的中心导体接触而完成信号的传输。这些方法的固有缺陷是pcb使用的cpw 共面波导技术。由于高频双同轴线缆尺寸极小其中心导体间距小于0.5毫米，使用pcb金手指的表面接触方法将使得金手指与线缆导体接触部分的特性阻抗极难控制，该接触位置电磁场发散造成高频信号反射严重，高频衰减特性抖动严重，因此pcb解决方案只能测试到60ghz。 使用两根高频同轴金属管并行排列方法的缺陷是两根分隔较远的同轴直金属管要在末端并排合在一起与待测双同轴线缆进行接触，因此同轴金属管末端加工部分有弯曲，长度一致性较难保证,会造成信号的相位差影响高频特性的测试。待测双同轴线缆的中心导体很细，没有精准的导向辅助机构很难保证待测线缆的两根中心导体能同时与双同轴金属管的细小中心导体进行触碰式接触。在完成触碰式接触后，需盖上测试治具的盖子以保证待测裸线线缆的外层金属屏蔽层与金属治具有良好接触，从而将高频电磁场束缚在待测线缆四周以减少高频电磁场的发散与干扰。这时很有可能会导致原先触碰好的导体因移位而造成接触失败或高频性能下降，其结果是工作效率难以提高。为了提高工作效率，只能将待测线缆的中心导体裸露出线缆外层屏蔽层的长度加长以增加接触成功的概率。这种做法的结果是线缆中心导体与同轴金属管中心导体接触位置的特性阻抗急剧升高，信号反射加大，信号高频衰减显著增加。

技术实现思路

1、为了克服现有pcb解决方案测试频率达不到67ghz、双并列同轴金属管解决方案工作效率低、高频性能不稳定及接触位置阻抗高的缺陷，本实用新型提供一种采用单同轴金属管制作的测试治具。将待测双同轴线缆的头部导入同轴金属管的金属腔体，待测线缆的头部进入腔体后位移极小，保证待测线缆的两个中心导体与同轴金属管内部的两中心导体准确地接触。由于保留了同轴金属管的金属屏蔽腔体的完整，以及上下夹紧治具形成的屏蔽腔体辅助，使得高频电磁场得以束缚在同轴金属管内腔与待测线材的屏蔽层之间，以及上下夹紧治具形成的屏蔽腔体之内，减少高频信号的发散与外部信号的干扰，从而保证高频测量的性能扩展至67ghz且工作效率极大提高。待测线材的中心导体裸露出其屏蔽层的长度短至0.1毫米时高频性能更加优异，待测线材的中心导体与同轴金属管内部两中心导体接触位置的特性阻抗与高频同轴金属管的特性阻抗一致。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种 67ghz双同轴线缆高频性能测试治具。包括一根高频同轴金属管、下部夹紧治具及上部夹紧治具。同轴金属管下部金属材质的治具起到支撑固定同轴金属管的作用，下部夹紧治具加工半圆柱凹槽以与高频同轴金属管进行紧密金属接触。上部金属材质的夹紧治具也加工半圆柱凹槽与高频同轴金属管进行紧密金属接触。上下夹紧治具将高频同轴金属管包围，在高频同轴金属管的正中央位置按照待测双同轴线缆径向横截面的尺寸，将上下夹紧治具及同轴金属管进行挖空加工，挖空深度直至同轴金属管的中心导体位置。在已加工的空腔中心位置加工长方形的槽将高频金属管的内部导体分割开，形成两个分隔开互不接触的金属导体。控制好槽的宽度与深度，以使同轴金属管内中心导体与被测双同轴裸线线缆的两中心导体相接触位置的特性阻抗与同轴金属管的特性阻抗一致。

3、上述的上夹紧治具夹紧高频同轴金属管后固定在下夹紧治具上。上夹紧治具尺寸相对较小，只有小部分治具在下夹紧治具上部，上下夹紧治具形成的腔体方便将待测双同轴线缆的头部导入高频同轴金属管加工出来的腔体。将待测双同轴线缆的头部导入治具的腔体后，在待测双同轴线缆上方盖上已开槽的金属材质的线缆夹紧治具，压紧线缆夹紧治具后可对待测线缆施加压力，保证待测线缆的金属屏蔽层与下夹紧治具及线缆夹紧治具有良好电接触，束缚高频电磁波在屏蔽腔体内部，控制高频同轴线内部中心导体与被测双同轴线缆中心导体相接触位置的特性阻抗以保证高频性能。

4、本实用新型的有益效果是，本实用新型采用一个高频同轴金属管，加工后保留其大部分的金属屏蔽腔体。将整个待测双同轴线缆的头部导入加工好的金属腔体中，待测线缆头部进入腔体后位移极小。待测电缆两中心导体更好对准测高频同轴金属管内的两个中心导体，电接触可靠，操作效率高。由于将高频电磁场束缚在同轴金属管加工出来的腔体与待测双轴线的金属屏蔽层间，以及上下夹紧治具形成的金属腔体之内，减少了高频电磁场的发散，所以高频同轴线内部中心导体与被测双同轴线缆中心导体相接触位置的特性阻抗得到良好控制，测试频率可达到 67ghz而衰减特性无显著抖动。

1.一种67ghz双同轴线缆高频性能测试治具，包括高频同轴金属管（1），高频同轴金属管内部左侧设置有左侧中心导体（5），高频同轴金属管内部右侧设置有右侧中心导体（6），高频同轴金属管上部安装有上部金属管夹紧治具（2），高频同轴金属管下部安装有下部金属管夹紧治具（3），下部金属管夹紧治具（3）上安装有线缆夹紧治具（4），其特征在于：高频同轴金属管（1）径向加工形成可容纳待测双同轴线缆的腔体，上部金属管夹紧治具（2）与下部金属管夹紧治具（3）之间形成屏蔽腔体，所述屏蔽腔体包围高频同轴金属管（1）的外层屏蔽结构，所述屏蔽腔体用于引导待测双同轴线缆进入高频同轴金属管（1）的空腔内部，并包围待测双同轴线缆的外层金属屏蔽层，所述线缆夹紧治具（4）夹持待测双同轴线缆的外层金属屏蔽层，高频同轴金属管（1）、左侧中心导体（5）、右侧中心导体（6）、上部金属管夹紧治具（2）、下部金属管夹紧治具（3）和线缆夹紧治具（4）共同构成67ghz双同轴线缆高频性能测试治具。

2.根据权利要求1所述的67ghz双同轴线缆高频性能测试治具，其特征在于：所述上部金属管夹紧治具（2）与所述下部金属管夹紧治具（3）形成的屏蔽腔体与所述高频同轴金属管（1）的外层金属屏蔽结构相连，构成连续的高频信号屏蔽结构，所述线缆夹紧治具（4）与所述上部金属管夹紧治具（2）及所述下部金属管夹紧治具（3）共同形成完整的高频信号屏蔽结构，且所述高频同轴金属管（1）的腔体尺寸与待测双同轴线缆的径向截面尺寸相适配。