一种具有轴向限位结构的测试探针的制作方法

本技术涉及测试探针，特别是涉及一种具有轴向限位结构的测试探针。

背景技术：

1、测试探针在设计时，不仅要满足射频传输电气性能，还需要兼顾机械结构可靠性、批量装配一致性等生产使用需求。目前射频测试探针逐步向小型化发展，在狭小结构尺寸限制下，现有小型射频测试探针的外壳与外导体之间，通常采用铆接或螺纹连接方式装配，为了实现稳定的50ω同轴特性阻抗，与外导体连接的外壳内径直径与外导体的外径尺寸需接近甚至基本等同，二者配合间隙极小，装配过程没有限位结构，装配时易出现装配不到位、压装过量挤压到内部绝缘体等问题，最终造成成品整体尺寸不合格、量产良率偏低、弹力及电气性能不稳定。

2、此外，探针工作时，套筒或法兰会反复下压并回弹复位，复位产生的回弹作用力会直接集中作用在外壳与外导体的连接配合处。在长期工作状态下，铆接或螺纹连接的固定位置极易发生松脱分离，破坏探针整体同轴结构，进一步影响射频传输性能，缩短探针使用寿命。

3、因此，亟需一种可适配50ω同轴特性阻抗、实现装配限位、分摊往复复位应力、避免外壳与外导体之间松脱的具有轴向限位结构的测试探针。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于设计一种具有轴向限位结构的测试探针，来解决现有技术的问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：

3、提供一种具有轴向限位结构的测试探针，包括：

4、中空的壳体组件，所述壳体组件包括沿轴向依次设置的外壳和套筒；

5、中心导体，通过绝缘体同轴固定安装在所述壳体组件内；

6、外导体，设于所述壳体组件与所述中心导体之间；

7、弹簧体，设于所述壳体组件与所述外导体之间，用于提供轴向弹性力；以及

8、限位环；

9、所述外导体的外表面沿周向设有容纳槽，所述壳体组件的内壁对应所述容纳槽的位置设有限位槽，所述限位环嵌置于所述容纳槽与所述限位槽之间，且所述限位环的内表面抵靠在所述容纳槽的内壁、外表面抵靠在所述限位槽的内壁，以限制所述壳体组件与所述外导体之间的轴向相对位移。

10、进一步地，所述限位环包括第一限位环，所述外导体上设有用于容纳所述第一限位环的第一容纳槽，所述外壳的内壁对应设有用于适配所述第一限位环的第一限位槽，所述套筒的端部至少部分抵靠在所述第一限位环上，所述第一限位环沿轴向对所述外壳限位。

11、进一步地，所述限位环还包括第二限位环，所述外导体外表面还设有用于容纳第二限位环的第二容纳槽，所述第二容纳槽和所述第一容纳槽沿轴向间隔设置，所述套筒的内壁对应设有用于适配所述第二限位环的第二限位槽，所述第二限位环沿轴向对所述套筒限位。

12、进一步地，所述外壳与所述外导体之间通过铆接固定。

13、进一步地，所述外壳的内壁设有内螺纹，所述外导体的外表面设有与所述内螺纹适配的外螺纹，所述外壳与所述外导体通过螺纹连接固定。

14、进一步地，所述套筒内壁设有第一环形限位台，置于所述套筒内的所述外导体向外延伸设有第二环形限位台，所述弹簧体的一端抵接在所述第一环形限位台上，所述弹簧体的另一端抵接在所述第二环形限位台上。

15、进一步地，所述外导体包括第一外导体和第二外导体，所述第二外导体的一端嵌设于所述第一外导体内部，所述第二外导体的另一端的内部设有插接腔，所述插接腔的开口端内壁向外扩张形成导向斜面，用于引导待测产品插入。

16、进一步地，所述第二外导体的内部环绕中心导体还设有连接待测产品的环形弹簧，所述插接腔的周壁开设有安装槽，所述环形弹簧安装于所述安装槽内。

17、进一步地，所述绝缘体包括设于所述外壳与所述中心导体之间的第一绝缘体、设于所述第一外导体与所述中心导体之间的第二绝缘体、以及设于所述第二外导体与所述中心导体之间的第三绝缘体。

18、进一步地，所述环形弹簧为螺旋弹簧或波形弹簧。

19、本实用新型的有益效果：本实用新型提供一种具有轴向限位结构的测试探针，为满足50ω同轴特性阻抗，外导体外径尺寸大小与外壳内径尺寸大小较为接近，通过在壳体组件与外导体之间增设限位环形成轴向限位，避免探针组装不到位或过压挤压绝缘体的问题，稳定产品尺寸、弹力与电性，使产品组装一致性，提高产品批量生产的良率；同时，套筒往复回弹产生的作用力由限位环承接，避免集中作用在外壳与外导体的连接固定处，有效避免外壳与外导体松脱，保证探针同轴结构的稳定性，射频性能不易衰减，大幅提升了探针结构的可靠性和使用寿命。

1.一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述限位环包括第一限位环，所述外导体上设有用于容纳所述第一限位环的第一容纳槽，所述外壳的内壁对应设有用于适配所述第一限位环的第一限位槽，所述套筒的端部至少部分抵靠在所述第一限位环上，所述第一限位环沿轴向对所述外壳限位。

3.根据权利要求2所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述限位环还包括第二限位环，所述外导体外表面还设有用于容纳第二限位环的第二容纳槽，所述第二容纳槽和所述第一容纳槽沿轴向间隔设置，所述套筒的内壁对应设有用于适配所述第二限位环的第二限位槽，所述第二限位环沿轴向对所述套筒限位。

4.根据权利要求1所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述外壳与所述外导体之间通过铆接固定。

5.根据权利要求1所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述外壳的内壁设有内螺纹，所述外导体的外表面设有与所述内螺纹适配的外螺纹，所述外壳与所述外导体通过螺纹连接固定。

6.根据权利要求1所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述套筒内壁设有第一环形限位台，置于所述套筒内的所述外导体向外延伸设有第二环形限位台，所述弹簧体的一端抵接在所述第一环形限位台上，所述弹簧体的另一端抵接在所述第二环形限位台上。

7.根据权利要求1所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述外导体包括第一外导体和第二外导体，所述第二外导体的一端嵌设于所述第一外导体内部，所述第二外导体的另一端的内部设有插接腔，所述插接腔的开口端内壁向外扩张形成导向斜面，用于引导待测产品插入。

8.根据权利要求7所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述第二外导体的内部环绕中心导体还设有连接待测产品的环形弹簧，所述插接腔的周壁开设有安装槽，所述环形弹簧安装于所述安装槽内。

9.根据权利要求7所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述绝缘体包括设于所述外壳与所述中心导体之间的第一绝缘体、设于所述第一外导体与所述中心导体之间的第二绝缘体、以及设于所述第二外导体与所述中心导体之间的第三绝缘体。

10.根据权利要求8所述的一种具有轴向限位结构的测试探针，其特征在于，所述环形弹簧为螺旋弹簧或波形弹簧。