一种精密测试探针的制作方法

摘要: 本技术涉及测试,具体涉及一种精密测试探针。背景技术:1、精密测试探针就把宏观测试系统缩小到微米甚至纳米尺度,却仍保持原系统精度与可靠性的微型桥梁,广泛应用于半导...
一种精密测试探针的制作方法

本技术涉及测试,具体涉及一种精密测试探针。

背景技术:

1、精密测试探针就把宏观测试系统缩小到微米甚至纳米尺度,却仍保持原系统精度与可靠性的微型桥梁,广泛应用于半导体、新能源、生物医学、材料科学等高端制造与科研场景。然而,由于精密测试探针体积小,给生产制备探针增加了难度,如何简化精密测试探针的结构,降低生产制造探针的难度,仍是目前要解决的技术问题。

技术实现思路

1、为克服上述缺点,本实用新型的目的在于提供一种精密测试探针,结构简单,能降低生产制造探针的难度。

2、为了达到以上目的,本实用新型采用的技术方案是一种精密测试探针,包括套管,所述套管为柱状结构,所述套管的上端和下端直径相等,在所述套管的轴向方向设置有容纳腔,所述容纳腔内依次设置针头、弹簧和连接线;

3、在所述套管上设置有凹凸部,所述凹凸部包括凹陷部和凸起部,在所述套管的外表面上形成向套管中心线方向凹陷的凹陷部,同时,在所述容纳腔内,所述套管的内壁上形成了向套管中心线的方向凸起的凸起部;

4、所述凹凸部包括第一凹凸部,第一凹凸部设置于套管靠近下端的位置,并和所述弹簧的端部位置相适配。

5、通过设置第一凹凸部对弹簧进行限位限位作用,套管的下端不用收口设置,针管的首端和下端直径相等,更容易加工制造,减少了制备精密测试探针的难度;由于在容纳腔内,凸起部向中心轴方向凸起设置,连接线和凸起部在通过焊接连接的过程中,焊接更加容易,降低焊接的难度;凹陷部由于在套管外表面向内凹陷,套管外表面整体还是平滑的结构,在将精密测试探针安装在固定治具上时,探针更容易安装。因此,只需要在套管上设置凹凸部对弹簧进行限位,结构简单,生产制造更加容易。

6、进一步地,所述第一凹凸部设置两个,以套管中心轴为对称轴,分布在套管的两侧,所述第一凹凸部在所述套管周向方向的宽度小于套管周向长度的1/4。

7、进一步地,所述套管的外径为0.20mm~0.30mm,内径为0.15~0.25mm。

8、进一步地,所述针头包括连接件,所述连接件位于所述套管的上端,用于和外部探针连接,在所述连接件的端部,设置沿套管轴向方向凹陷的定位槽,所述针头和外部探针连接时,外部探针能容纳于所述定位槽内。

9、进一步地,所述针头包括第一传导件,所述第一传导件位于针头的另一端,和位于容纳腔内的弹簧连接;在所述第一传导件和所述连接件之间,设置第二传导件,所述第二传导件为柱状结构,直径小于所述第一传导件的直径,在所述第一传导件和所述第二传导件连接处形成台阶。

10、进一步地,所述凹凸部包括第二凹凸部,所述第二凹凸部靠近套管的上端设置,并且和所述台阶的位置相适配。

11、进一步地,所述第二传导件的长度和所述针头长度的比值为1/3~2/3,所述弹簧的长度和所述套管的长度的比值为1/3~2/3。

12、进一步地,在所述第一传导件靠近所述弹簧的一端,设置导向件,所述弹簧的端部套设在所述导向件上。

13、进一步地,所述导向件为圆锥体,圆锥体的底部和所述第一传导件一体连接。

14、进一步地,所述导向件为柱状结构,所述连接件、所述第二传导件、所述第一传导件、所述导向件一体连接。

1.一种精密测试探针,其特征在于,包括套管(1),所述套管(1)为柱状结构,所述套管(1)的上端(11)和下端(12)直径相等,在所述套管(1)的轴向方向设置有容纳腔(13),所述容纳腔(13)内依次设置针头(2)、弹簧(3)和连接线(4);

2.根据权利要求1所述的精密测试探针,其特征在于,所述第一凹凸部(51)设置两个,以套管(1)中心轴为对称轴,分布在套管(1)的两侧,所述第一凹凸部(51)在所述套管(1)周向方向的宽度小于套管(1)周向长度的1/4。

3.根据权利要求1所述的精密测试探针,其特征在于,所述套管(1)的外径为0.20mm~0.30mm,内径为0.15~0.25mm。

4.根据权利要求1所述的精密测试探针,其特征在于,所述针头(2)包括连接件(21),所述连接件(21)位于所述套管(1)的上端(11),用于和外部探针连接,在所述连接件(21)的端部,设置沿套管轴向方向凹陷的定位槽(211),所述针头(2)和外部探针连接时,外部探针能容纳于所述定位槽(211)内。

5.根据权利要求4所述的精密测试探针,其特征在于,所述针头(2)包括第一传导件(22),所述第一传导件(22)位于针头(2)的另一端,和位于容纳腔(13)内的弹簧(3)连接;在所述第一传导件(22)和所述连接件(21)之间,设置第二传导件(23),所述第二传导件(23)为柱状结构,直径小于所述第一传导件(22)的直径,在所述第一传导件(22)和所述第二传导件(23)连接处形成台阶。

6.根据权利要求5所述的精密测试探针,其特征在于,所述凹凸部(5)包括第二凹凸部(52),所述第二凹凸部(52)靠近套管(1)的上端(11)设置,并且和所述台阶的位置相适配。

7.根据权利要求5所述的精密测试探针,其特征在于,所述第二传导件(23)的长度和所述针头(2)长度的比值为1/3~2/3,所述弹簧(3)的长度和所述套管(1)的长度的比值为1/3~2/3。

8.根据权利要求5所述的精密测试探针,其特征在于,在所述第一传导件(22)靠近所述弹簧(3)的一端,设置导向件(24),所述弹簧(3)的端部套设在所述导向件(24)上。

9.根据权利要求8所述的精密测试探针,其特征在于,所述导向件(24)为圆锥体,圆锥体的底部和所述第一传导件(22)一体连接。

10.根据权利要求8所述的精密测试探针,其特征在于,所述导向件(24)为柱状结构,所述连接件(21)、所述第二传导件(23)、所述第一传导件(22)、所述导向件(24)一体连接。