一种存储芯片测试机的调整机构的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体涉及一种存储芯片测试机的调整机构。

背景技术：

1、存储芯片测试机通常都配备有专门的芯片测试座。这是连接被测芯片和测试机的关键接口部件。

2、目前，芯片测试座一般直接的安装于存储芯片测试机的平台上，而工作人员的身高是不同的，从而造成适应性较差，影响芯片的取放，并且无法调节芯片测试座安装的角度，其测试槽的开口一般都朝上设置，影响芯片的放入。

技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是提供一种存储芯片测试机的调整机构，能调节测试座的高度及安装的角度，并通过旋转的方式能快速的取出芯片，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种存储芯片测试机的调整机构，包括测试座、套管和固定杆，所述测试座水平设置于套管的外部，套管的两端安装有密封轴承，固定杆安装于密封轴承的内圈中，固定杆的一端弯曲并安装有伸缩管，伸缩管的另一端安装有底板，固定杆位于套管内部的一段上呈环形结构设有多块将套管定位在固定杆上的定位板，测试座上设有多个测试槽，测试座的一侧设有与多个测试槽连通的凹槽，凹槽中设有压板。

3、作为优选的技术方案，压板的一侧向上弯曲形成导流部，另一侧向下弯曲形成固定部，固定部的内侧面上安装有多根定位杆，测试座的一侧面正对于定位杆处均设有定位孔，定位杆的另一端均插入至定位孔中，并均安装有第一压缩弹簧，第一压缩弹簧的另一端均安装于定位孔的内壁面上。

4、作为优选的技术方案，套管的内圈面上呈环形结构均匀设有多个定位槽，固定杆的外圈面正对于定位槽处均设有凹槽，定位板的一端均延伸至凹槽中，并均安装有多个第二压缩弹簧，第二压缩弹簧的另一端均安装于凹槽的内壁面上，定位板的另一端均插入至定位槽中。

5、作为优选的技术方案，定位槽和定位板位于定位槽内部的一端均呈弧形结构设置。

6、作为优选的技术方案，测试台的一端安装有握杆，握杆朝向固定杆未弯曲的一端。

7、作为优选的技术方案，套管与底板之间形成供测试座旋转到下方的空隙。

8、作为优选的技术方案，压板的内侧面与测试槽之间的距离形成与待测试芯片的厚度相匹配。

9、本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单，在向外拉开压板后，待测试的芯片能放入到测试槽中，并在压板回位后，能一次性将多块芯片同步的压紧，而测试座能环绕固定杆转动，能调整测试座使用时的角度，而通过伸缩管能调整测试座的高度，增加了适应性，并且在后续需要取出芯片时，测试座能旋转到套管的底部，使测试座的开口朝下设置，并在拉开压板后，芯片能一次性从测试槽中掉出，方便了芯片的取出操作。

1.一种存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：包括测试座(1)、套管(6)和固定杆(8)，所述测试座(1)水平设置于套管(6)的外部，套管(6)与测试座(1)之间安装有多根连杆(15)，套管(6)的两端安装有密封轴承(7)，固定杆(8)安装于密封轴承(7)的内圈中，固定杆(8)的一端弯曲并安装有伸缩管(11)，伸缩管(11)的另一端安装有底板(9)，固定杆(8)位于套管(6)内部的一段上呈环形结构设有多块将套管(6)定位在固定杆(8)上的定位板(14)，测试座(1)上设有多个测试槽(2)，测试座(1)的一侧设有与多个测试槽(2)连通的凹槽(12)，凹槽(12)中设有压板(3)。

2.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：压板(3)的一侧向上弯曲形成导流部(4)，另一侧向下弯曲形成固定部(5)，固定部(5)的内侧面上安装有多根定位杆(13)，测试座(1)的一侧面正对于定位杆(13)处均设有定位孔，定位杆(13)的另一端均插入至定位孔中，并均安装有第一压缩弹簧，第一压缩弹簧的另一端均安装于定位孔的内壁面上。

3.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：套管(6)的内圈面上呈环形结构均匀设有多个定位槽(16)，固定杆(8)的外圈面正对于定位槽(16)处均设有凹槽(12)，定位板(14)的一端均延伸至凹槽(12)中，并均安装有多个第二压缩弹簧，第二压缩弹簧的另一端均安装于凹槽(12)的内壁面上，定位板(14)的另一端均插入至定位槽(16)中。

4.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：定位槽(16)和定位板(14)位于定位槽(16)内部的一端均呈弧形结构设置。

5.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：测试台的一端安装有握杆(10)，握杆(10)朝向固定杆(8)未弯曲的一端。

6.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：套管(6)与底板(9)之间形成供测试座(1)旋转到下方的空隙。

7.根据权利要求1所述的存储芯片测试机的调整机构，其特征在于：压板(3)的内侧面与测试槽(2)之间的距离形成与待测试芯片的厚度相匹配。