一种存储芯片测试固定装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，具体涉及一种存储芯片测试固定装置。

背景技术：

1、存储芯片测试座是一种高精度的机械和电气接口，它在存储芯片 与自动测试设备之间扮演“桥梁”角色。它负责在测试过程中固定、对准并建立电气连接，确保测试信号能够无失真、可靠地在芯片和测试机之间传输。

2、目前，存储芯片测试座的结构简单，由于芯片测试座上的测试槽空间较小，只能供一个芯片进入，手指容易受阻或者卡住，造成芯片的放入和取出不便，且在测试之前还需要盖上壳盖，盖上后还需要锁紧操作，从而影响测试的效率。

技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是提供一种存储芯片测试固定装置，待测试芯片能快速的放入到定位腔中，并能自动的下降并压紧，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种存储芯片测试固定装置，包括芯片测试座和待测试芯片，所述芯片测试座的测试槽位于测试触点的外侧凹槽形成框型槽，框型槽的外部设有多个定位座，定位座分别正对于框型槽的角部，定位座上均设有定位槽，多个定位槽组合形成与待测试芯片长宽相匹配的定位腔，待测试芯片设置于定位腔中，宽度方向的定位座之间均安装有固定杆，固定杆的外部均套设有套管，套管上均安装有压板，芯片测试座远离待测试芯片的一端安装有带动定位座同步移动的驱动机构。

3、作为优选的技术方案，驱动机构包括电动推杆、推板和多根定位杆，框型槽的内壁面正对于定位座处均设有定位口，定位杆均设置于定位口中，定位杆的一端均安装于定位座上，另一端均延伸至外界与推板固定连接，电动推杆安装于推板与芯片测试座之间。

4、作为优选的技术方案，压板呈八字型结构分布，压板的一端均延伸至待测试芯片的外部，另一端均延伸至芯片测试座的端面外部。

5、作为优选的技术方案，固定杆的中间处均设有环形槽，环形槽中均套设有发条，发条的内圈均安装于环形槽的内壁面上，发条的外圈均与套管的内壁面固定连接。

6、作为优选的技术方案，长度方向的定位座之间均形成供手指通过的空隙。

7、作为优选的技术方案，芯片测试座的外部安装有支撑座。

8、作为优选的技术方案，定位槽的底面到定位座底面之间的高度与框型槽的深度相匹配。

9、作为优选的技术方案，定位口和定位杆的截面均呈矩形结构设置。

10、本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单，定位座设置于芯片测试座的上方，且两侧设有空隙，在工作人员通过手指向内靠拢夹住待测试芯片的两侧后，通过空隙能顺利的通过定位座，并下降将待测试芯片放入到定位腔中，而在启动电动推杆后，能带动定位座、待测试芯片和压板的下降，随着压板的一端与芯片测试座的端面接触，使压板以固定杆为中心的向内倾斜，在待测试芯片与芯片测试座上的测试触点接触后，压板正好水平并将待测试芯片压住定位，而在电动推杆回缩后，通过发条的扭转能使压板再次的打开，增加了测试效率及方便了芯片的取放。

1.一种存储芯片测试固定装置，其特征在于：包括芯片测试座(1)和待测试芯片(2)，所述芯片测试座(1)的测试槽位于测试触点的外侧凹槽形成框型槽(3)，框型槽(3)的外部设有多个定位座(5)，定位座(5)分别正对于框型槽(3)的角部，定位座(5)上均设有定位槽(10)，多个定位槽(10)组合形成与待测试芯片(2)长宽相匹配的定位腔，待测试芯片(2)设置于定位腔中，宽度方向的定位座(5)之间均安装有固定杆(8)，固定杆(8)的外部均套设有套管(9)，套管(9)上均安装有压板(7)，芯片测试座(1)远离待测试芯片(2)的一端安装有带动定位座(5)同步移动的驱动机构。

2.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：驱动机构包括电动推杆(12)、推板(13)和多根定位杆(4)，框型槽(3)的内壁面正对于定位座(5)处均设有定位口，定位杆(4)均设置于定位口中，定位杆(4)的一端均安装于定位座(5)上，另一端均延伸至外界与推板(13)固定连接，电动推杆(12)安装于推板(13)与芯片测试座(1)之间。

3.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：压板(7)呈八字型结构分布，压板(7)的一端均延伸至待测试芯片(2)的外部，另一端均延伸至芯片测试座(1)的端面外部。

4.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：固定杆(8)的中间处均设有环形槽，环形槽中均套设有发条(11)，发条(11)的内圈均安装于环形槽的内壁面上，发条(11)的外圈均与套管(9)的内壁面固定连接。

5.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：长度方向的定位座(5)之间均形成供手指通过的空隙。

6.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：芯片测试座(1)的外部安装有支撑座(6)。

7.根据权利要求1所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：定位槽(10)的底面到定位座(5)底面之间的高度与框型槽(3)的深度相匹配。

8.根据权利要求2所述的存储芯片测试固定装置，其特征在于：定位口和定位杆(4)的截面均呈矩形结构设置。