一种测量颗粒直径的装置的制作方法

摘要: 本技术涉及颗粒测量装置领域,尤其涉及一种测量颗粒直径的装置。背景技术:1、在分层溶解分析颗粒硅外层、内层和籽晶金属杂质和b、p杂质过程中,现有技术依赖于数据分析...
一种测量颗粒直径的装置的制作方法

本技术涉及颗粒测量装置领域,尤其涉及一种测量颗粒直径的装置。

背景技术:

1、在分层溶解分析颗粒硅外层、内层和籽晶金属杂质和b、p杂质过程中,现有技术依赖于数据分析归纳出在特定混酸浓度下的溶解时间,采用特定浓度混酸溶解特定时间后进行分析。采用该方法可能受其他因素的影响,导致颗粒硅过度溶解或遗漏溶解,影响后续操作。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种测量颗粒直径的装置,通过采集容器内颗粒的状态图像再进行处理,得到颗粒的直径,更加准确地获得颗粒的溶解状态。

2、为解决上述技术问题,采用下述技术方案实现:

3、本实用新型提供一种测量颗粒直径的装置,包括容器和摄像装置,所述容器用于放置待溶解的颗粒和用于溶解颗粒的溶解剂;所述容器为透明材质,所述摄像装置设置在所述容器的下方,用于采集所述容器内的颗粒的状态图像;

4、还包括信息处理系统,所述信息处理系统与所述摄像装置电性连接,所述信息处理系统用于处理所述状态图像,通过状态图像获得颗粒的直径。

5、可选地,还包括酸解室,所述酸解室内设置有底板,所述底板将所述酸解室的内部空间分为上下布置的摄像室和容器室,所述摄像装置设置在所述摄像室内,所述容器设置在所述容器室内。

6、可选地,所述底板为透明材质。

7、可选地,所述摄像装置上的镜头紧贴所述底板,所述镜头的拍摄范围不小于所述容器的底部。

8、可选地,所述容器放置在所述底板上,所述容器的正下方为所述摄像装置的镜头。

9、可选地,所述信息处理系统包括图像处理系统和数据处理系统,所述图像处理系统接收所述摄像装置内采集的状态图像,并将所述状态图像处理为信息集,所述数据处理系统根据所述信息集计算所述状态图像中颗粒的直径。

10、可选地,所述摄像装置为ccd摄像机或数字摄像模块。

11、可选地,所述摄像装置每三十秒拍摄一次所述容器内的颗粒的状态图像。

12、与现有技术相比,本实用新型所达到的有益效果:

13、本实用新型提供的测量颗粒直径的装置,通过在容器下方设置摄像装置,通过摄像装置采集容器内颗粒的状态图像,将状态图像输入信息处理系统中处理得出容器内颗粒的直径,从而观测颗粒被溶解的直径,通过状态图像处理后得到颗粒的直径,测量的直径数据更准确,从而避免颗粒的过度溶解或遗漏溶解。本实用新型提供的装置结构简单,方便使用。

1.一种测量颗粒直径的装置,其特征在于,包括容器和摄像装置,所述容器用于放置待溶解的颗粒和用于溶解颗粒的溶解剂;所述容器为透明材质,所述摄像装置设置在所述容器的下方,用于采集所述容器内的颗粒的状态图像;

2.根据权利要求1所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,还包括酸解室,所述酸解室内设置有底板,所述底板将所述酸解室的内部空间分为上下布置的摄像室和容器室,所述摄像装置设置在所述摄像室内,所述容器设置在所述容器室内。

3.根据权利要求2所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述底板为透明材质。

4.根据权利要求2或3所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述摄像装置上的镜头紧贴所述底板,所述镜头的拍摄范围不小于所述容器的底部。

5.根据权利要求2所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述容器放置在所述底板上,所述容器的正下方为所述摄像装置的镜头。

6.根据权利要求1所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述信息处理系统包括图像处理系统和数据处理系统,所述图像处理系统接收所述摄像装置内采集的状态图像,并将所述状态图像处理为信息集,所述数据处理系统根据所述信息集计算所述状态图像中颗粒的直径。

7.根据权利要求1所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述摄像装置为ccd摄像机或数字摄像模块。

8.根据权利要求1所述的测量颗粒直径的装置,其特征在于,所述摄像装置每三十秒拍摄一次所述容器内的颗粒的状态图像。