一种用于存储芯片FT测试机台的母板连接状态检测方法与流程

本发明涉及芯片测试，具体涉及一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法。

背景技术：

1、在存储芯片ft（final test，最终测试）测试领域，母板作为连接测试机台与待测芯片的核心枢纽，承担着信号传输、电源分配及数据交互的关键作用。其连接状态的稳定性与可靠性，直接决定了测试信号的完整性、测试流程的连续性以及测试结果的准确性，是保障存储芯片大规模量产测试效率与良率的关键环节。

2、母板作为板卡与待测芯片的转接核心，其连接状态（如连接器松动、线束接触不良、信号路径开路/短路等）是通道时间差异的重要诱因之一。但现有技术中，检测方案普遍针对于socket端的开短路检测，由于从机台的测试资源板卡到socket端会经过母板、线缆以及dsa等硬件结构，仅在socket端检测开短路的情况下，当遇到连接性问题时不方便定位发生开短路的位置，缺乏对母板连接状态的系统性检测手段，难以快速定位因连接问题导致的信号偏差，往往需在测试结果出现异常后，通过人工排查反向追溯母板连接故障，不仅延长了故障排查周期，还无法从源头规避因连接状态异常导致的测试误差，严重制约了测试精度与效率，尤其对于已经量产的机台，直接影响到设备的oee，带了测试成本的增加。

3、基于此，本发明提供一种能够在dsa端检测到连接性故障时快速检查出是否为测试资源板卡与母板之间连接故障的用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法。

技术实现思路

1、本发明的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，以解决在dsa端检测到连接性故障时无法快速定位发生开短路的位置的技术问题。

2、本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

3、一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，包括以下步骤：

4、步骤s1：对测试资源板卡进行校准，并选取校准通过的测试资源板卡；

5、步骤s2：将测试资源板卡与母板连接，同时通过线缆将母板与待测芯片的dsa端连接，以进行检测；

6、步骤s3：在dsa端检测到连接性故障时，拆卸线缆并将母板与存储测试机的dsa端分离；

7、步骤s4：将测试资源板卡与上位机连接，将母板与母板测试板连接，形成测试资源板卡→母板→母板测试板这一回路；

8、步骤s5：通过上位机运行测试程序；

9、步骤s6：采集上位机输出的测试结果，并基于此测试结果判定母板上每个通道的连接状态。

10、作为本发明进一步的方案：所述步骤s1中对测试资源板卡进行校准具体包括以下步骤：

11、步骤s11：将测试资源板卡与上位机连接；

12、步骤s12：通过上位机运行校准程序；

13、步骤s13：若上位机显示pass，则判定测试资源板卡校准通过，其功能正常；否则判定测试资源板卡校准不通过，其功能不正常。

14、作为本发明进一步的方案：所述步骤s4中，母板测试板上设置有连接器，将母板测试板上的连接器与母板上的连接器连接。

15、作为本发明进一步的方案：所述步骤s5具体包括以下步骤：

16、步骤s51：通过上位机给测试资源板卡施加电压，且母板测试板上有配置电阻；

17、步骤s52：通过上位机测量测试资源板卡的电流数值。

18、作为本发明进一步的方案：所述母板测试板上的每个通道均配置一个电阻，当母板测试板覆盖在母板上时，形成测试资源板卡→母板→母板测试板的完整电路。

19、作为本发明进一步的方案：当测得的电流数值高于阈值范围的最大值时，判定母板存在开路故障；当测得的电流数值低于阈值范围的最小值时，判定母板存在短路故障；当测得的电流数值处于阈值范围内时，判定母板的连接状态正常。

20、作为本发明进一步的方案：所述母板测试板上的每个数字通道均配置1.6kohm电阻，且母板测试板上的每个电源通道均配置10ohm电阻。

21、作为本发明进一步的方案：上位机运行校准程序时，通过测试资源板卡施加测试激励电压，对数字通道施加1.6v电压，并对电源通道施加1v电压，对数字通道设置测量电流数值的阈值范围为0.95ma至1.05ma，对电源通道设置测量电流数值的阈值范围为95ma至105ma。

22、作为本发明进一步的方案：所述方法应用于一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测系统，所述系统包括：

23、测试资源板卡，其用于向待测资源提供激励信号，并在测试过程中根据不同的测试需求提供特定的激励信号；

24、母板，其上设置有连接器，用于把来自测试资源板卡的通道进行重新排线，便于将指定的测试通道引到对应的测试点位上以及对特定信号配置trace线等长；

25、母板测试板，其上设置有连接器，且其连接器与母板的连接器连接，母板测试板的每个引脚上均配有电阻，用于检测母板上每个通道的连接状态；

26、线缆，用于在初次检测时连接母板与待测芯片的dsa端；

27、上位机，其与测试资源板卡连接，并通过测试资源板卡施加测试激励电压。

28、本发明的有益效果：

29、（1）本发明中，考虑到在dsa端检测到连接性故障时，该故障可能发生在测试资源板卡→母板→线缆→dsa端之间的任何位置上，通过母板测试板检测测试资源板卡→母板的连接性，可检查出是否是母板本身问题或者测试资源板卡与母板之间的连接问题，避免母板因硬件故障或母板带有污渍影响连接性而难以检查出来，属于对在dsa端连接性检查的补充。对于每一块母板，通过测试数据与测试结果，能够快速分析出母板是否存在连接性问题，如连接性测试失效，也能够快速确认失效类型与失效通道，这对于提高母板的质量与稳定性尤为重要。尤其在量产环节，当对被关闭的点位进行修复时，可以使用该方案快速确认被关闭的点位是否是母板的连接性故障所导致；

30、（2）本发明中，测试资源板卡是经过提前检查的，因此，选取校准通过的测试资源板卡之后，在随后的检测过程中，检查出来的连接性故障是母板本身问题或者测试资源板卡与母板之间的连接问题，能够更直观且更快速的检测出该连接性问题是否发生在母板与测试资源板卡之间；

31、（3）本发明中，量产过程中某些测试点位会因为连接状态差导致良率低而被关闭，通过本实施例的再次检测过程，可以快速确认这个被关闭的点位连接状态不好是否是测试资源板卡→母板之间的连接故障导致的。

1.一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述步骤s1中对测试资源板卡进行校准具体包括以下步骤：

3.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述步骤s4中，母板测试板上设置有连接器，将母板测试板上的连接器与母板上的连接器连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述步骤s5具体包括以下步骤：

5.根据权利要求4所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述母板测试板上的每个通道均配置一个电阻，当母板测试板覆盖在母板上时，形成测试资源板卡→母板→母板测试板的完整电路。

6.根据权利要求5所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，当测得的电流数值高于阈值范围的最大值时，判定母板存在开路故障；当测得的电流数值低于阈值范围的最小值时，判定母板存在短路故障；当测得的电流数值处于阈值范围内时，判定母板的连接状态正常。

7.根据权利要求6所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述母板测试板上的每个数字通道均配置1.6kohm电阻，且母板测试板上的每个电源通道均配置10ohm电阻。

8.根据权利要求7所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，上位机运行校准程序时，通过测试资源板卡施加测试激励电压，对数字通道施加1.6v电压，并对电源通道施加1v电压，对数字通道设置测量电流数值的阈值范围为0.95ma至1.05ma，对电源通道设置测量电流数值的阈值范围为95ma至105ma。

9.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测方法，其特征在于，所述方法应用于一种用于存储芯片ft测试机台的母板连接状态检测系统，所述系统包括：