一种精密测试盖的调节结构的制作方法

摘要: 本技术具体涉及芯片加工,具体是一种精密测试盖的调节结构。背景技术:1、现有技术中,常规测试盖往往是简单扣合或普通旋压结构,缺少调节方式与结构,或调节方式与结构单...
一种精密测试盖的调节结构的制作方法

本技术具体涉及芯片加工,具体是一种精密测试盖的调节结构。

背景技术:

1、现有技术中,常规测试盖往往是简单扣合或普通旋压结构,缺少调节方式与结构,或调节方式与结构单一,零件组装之间留有不可或缺的装配间隙,对产品压合高度存在较大的误差范围,容易出现被测产品受力不均,无法满足与保证高精度测试场合。

2、随着各式各样的产品在电子、工业、物联网、智能设备等领域广泛应用,产品测试一直是开发人员关注的焦点,随着时间的推移,产品的目标功能将变得更加丰富,测试随之变得多样,精密度要求也逐步提高。过去,产品更多的应用在电子、工业领域。但随着产品逐步进入新的应用领域,对每个终端市场都有独特的需求,产品的使用方法和条件也不同,影响产品功能与质量的因素比以前更多。为保证产品功能有效可靠,质量稳定,所有产品在开发与应用前,均要对各项功能做全方位的测试,为此,我们提出一种精密测试盖的调节结构,来解决上述问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种精密测试盖的调节结构,测试操作时,芯片检测槽底部与测试头稳定接触,通过旋转旋钮,此时螺纹轴在旋转旋钮的作用下向下移动,推动其底部的推块沿导向柱的中心位置向下移动,使得推块底部为倒梯形的凸块结构缓慢对芯片检测槽内部的芯片施加压力,同时观察旋钮标线与进深刻度,使推块压合产品到指定高度,进行测试过程。以解决上述背景技术中所提出的技术问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

3、一种精密测试盖的调节结构,包括壳盖,所述壳盖的内部安装有一螺纹轴,且螺纹轴的顶端固定安装有旋钮,所述旋钮的内部贯穿开设有多个螺孔,螺孔的内部固定安装有螺钉,所述旋钮通过螺钉与螺纹轴固定连接;

4、所述壳盖的下方安装有基板,且壳盖与基板之间设置有推块,所述壳盖的两侧对称位置处设置有弹簧搭扣,且壳盖通过弹簧搭扣与基板固定相连。

5、作为本实用新型的进一步技术方案,所述壳盖的内部中心处贯穿开设有一螺纹孔,且螺纹孔的内壁与螺纹轴匹配连接,所述壳盖位于螺纹孔外围边缘处设置有旋钮标线与进深刻度。

6、作为本实用新型的进一步技术方案,所述壳盖的四角位置处均贯穿开设有导向孔,导向孔的内部安装有滚珠衬套,所述滚珠衬套的内部活动安装有导向柱。

7、作为本实用新型的进一步技术方案,所述基板对应导向柱的位置设置有定位孔,定位孔的内部与导向柱的底部匹配安装。

8、作为本实用新型的进一步技术方案,所述基板的内部中心位置处开设有一芯片检测槽,芯片检测槽呈倒梯形凸台结构。

9、作为本实用新型的进一步技术方案,所述推块的顶部为板状结构,底部为倒梯形的凸块结构,所述推块底部的倒梯形的凸块结构与芯片检测槽相匹配。

10、作为本实用新型的进一步技术方案,所述基板对应弹簧搭扣的位置处一体式成型有弹簧搭扣挂钩,且弹簧搭扣与弹簧搭扣挂钩匹配连接。

11、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

12、本实用新型,测试操作时,芯片检测槽底部与测试头稳定接触,通过旋转旋钮,此时螺纹轴在旋转旋钮的作用下向下移动,推动其底部的推块沿导向柱的中心位置向下移动,使得推块底部为倒梯形的凸块结构缓慢对芯片检测槽内部的芯片施加压力,同时观察旋钮标线与进深刻度,使推块压合产品到指定高度,进行测试过程;

13、本实用新型,结构简单,操作方便,能够精准的调节芯片的压合高度,同时,整体结构通过零件组成,产品简单易得,使用成本较低。

1.一种精密测试盖的调节结构,其特征在于:包括壳盖(2),所述壳盖(2)的内部安装有一螺纹轴(5),且螺纹轴(5)的顶端固定安装有旋钮(7),所述旋钮(7)的内部贯穿开设有多个螺孔,螺孔的内部固定安装有螺钉(9),所述旋钮(7)通过螺钉(9)与螺纹轴(5)固定连接;

2.根据权利要求1所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述壳盖(2)的内部中心处贯穿开设有一螺纹孔,且螺纹孔的内壁与螺纹轴(5)匹配连接,所述壳盖(2)位于螺纹孔外围边缘处设置有旋钮标线与进深刻度。

3.根据权利要求2所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述壳盖(2)的四角位置处均贯穿开设有导向孔,导向孔的内部安装有滚珠衬套(4),所述滚珠衬套(4)的内部活动安装有导向柱(3)。

4.根据权利要求3所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述基板(1)对应导向柱(3)的位置设置有定位孔,定位孔的内部与导向柱(3)的底部匹配安装。

5.根据权利要求1所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述基板(1)的内部中心位置处开设有一芯片检测槽,芯片检测槽呈倒梯形凸台结构。

6.根据权利要求1所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述推块(8)的顶部为板状结构,底部为倒梯形的凸块结构,所述推块(8)底部的倒梯形的凸块结构与芯片检测槽相匹配。

7.根据权利要求1所述的精密测试盖的调节结构,其特征在于:所述基板(1)对应弹簧搭扣(6)的位置处一体式成型有弹簧搭扣挂钩,且弹簧搭扣(6)与弹簧搭扣挂钩匹配连接。