测试装置及其操作方法与流程

本发明是关于一种测试装置，特别是关于一种测试装置及其操作方法。

背景技术：

1、一般来说，由一自我测试控制单元发送检测要求给系统上的元件，各元件在收到检测要求之后执行检测工作，检测完成之后将检测结果回传给自我测试控制单元，自我测试控制单元将检测结果显示在显示器上，供维修人员或者使用者查看。然而，在这个架构中，元件本身需要具备自我检测功能，并且需要具备与自我测试控制单元有功通的能力，但如果这些元件非芯片，例如电阻、电容、电感等，将难以实现自我检测的功能，并且也难以跟自我测试控制单元沟通。因此，需要一种新的设计，其可以改善前述的问题。

技术实现思路

1、本发明提供一种测试装置及其操作方法，借以提供维修人员维修项目的参考，降低维修人员的门槛，以及维修的时间，以增加使用上的便利性。

2、本发明提供一种测试装置，包括量测模组与测试模组。量测模组在待测装置于全功能操作模式下，量测第一系统信息。测试模组接收第一系统信息与预设系统信息，并将第一系统信息与预设系统信息通过测试模型，确认待测装置是否有元件的异常状态，以产生测试结果。

3、本发明提供一种测试装置的操作方法，包括在待测装置于全功能操作模式下，量测第一系统信息。接收第一系统信息与预设系统信息。将第一系统信息与预设系统信息通过测试模型，以推论待测装置是否有元件的异常状态。

4、本发明所揭露的测试装置及其操作方法，通过量测模组在待测装置于全功能操作模式下，量测第一系统信息，以及测试模组将第一系统信息与预设系统信息通过测试模型，确认待测装置是否有元件的异常状态，以产生测试结果。如此一来，可以提供维修人员维修项目的参考，降低维修人员的门槛，以及维修的时间，以增加使用上的便利性。

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试模组将该第一系统信息与该预设系统信息相减，以产生一差值，并将该差值输入该测试模型，确认该待测装置是否有该元件的异常状态，以产生该测试结果。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第一系统信息包括第一系统电流或一第一输入电压与一第一输入电流的一第一相位差，该预设系统信息包括预设系统电流或一预设输入电压与一预设输入电流的一预设相位差。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该量测模组更量测该待测装置的一第二系统信息与至少一第三系统信息；

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该第二系统信息为一正常系统信息，该至少一第三系统信息为一异常系统信息。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该测试模组更将该第二系统信息与该至少一第三系统信息进行相减，以产生一差值，并将该差值输入至该测试模型，以对该测试模型进行训练。

7.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该第二系统信息包括一第二系统电流或一第二输入电压与一第二输入电流的一第二相位差，该至少一第三系统信息包括一第三系统电流或一第三输入电压与一第三输入电流的一第三相位差。

8.一种测试装置的操作方法，其特征在于，包括：

9.如权利要求8所述的测试装置的操作方法，其特征在于，该第一系统信息包括一第一系统电流或一第一输入电压与一第一输入电流的一第一相位差，该预设系统信息分别包括一预设系统电流或一预设输入电压与一预设输入电流的一预设相位差。

10.如权利要求8所述的测试装置的操作方法，其特征在于，更包括：

11.如权利要求10所述的测试装置的操作方法，其特征在于，该第二系统信息为一正常系统信息，该至少一第三系统信息为一异常系统信息。

12.如权利要求10所述的测试装置的操作方法，其特征在于，该第二系统信息包括一第二系统电流或一第二输入电压与一第二输入电流的一第二相位差，该至少一第三系统信息包括一第三系统电流或一第三输入电压与一第三输入电流的一第三相位差。

13.如权利要求8所述的测试装置的操作方法，其特征在于，更包括：