存储芯片的测试设备和测试系统的制作方法

本申请涉及芯片测试，尤其涉及一种存储芯片的测试设备和测试系统。

背景技术：

1、存储芯片的测试设备是用于在存储芯片生产后对存储芯片的性能、封装情况进行测试的设备，其主要目的是对存储芯片进行测试的同时，对质量不符的存储芯片进行筛选，方便将不合格的存储芯片选出。

2、目前常用的存储芯片测试设备基本一次只能对一个存储芯片进行测试，因此需要测试不同的存储芯片时需要进行反复的取拿操作，不能实现批量的存储芯片测试操作，测试效率低。

技术实现思路

1、本申请实施例的目的是提供一种存储芯片的测试设备和测试系统，以实现对存储芯片的批量测试。

2、本申请实施例公开了一种存储芯片的测试设备，所述测试设备包括倒盘治具、固定架、承载盘、升降控制组件和测试座，所述倒盘治具上设有多个固定位，所述固定位用于放置存储芯片，且所述存储芯片的植球面背向所述固定位的底部；所述固定架的内部中空，所述承载盘设置在所述固定架的内部，用于承载所述倒盘治具；所述升降控制组件与所述承载盘连接，用于控制所述承载盘上下移动；所述测试座设置在所述固定架的顶部，用于在所述倒盘治具上升后，检测所述倒盘治具上的存储芯片。

3、可选的，所述测试座包括测试底板和多个测试主板，所述测试底板设置在所述固定架的顶部，与所述倒盘治具相对设置；所述测试底板上设有多个pin针组，所述pin针组包括至少一个pin针，且每个所述pin针组分别与一个所述存储芯片对应，用于对一个所述存储芯片进行连接测试；所述测试主板设置在所述测试底板远离所述承载盘的一侧，所述测试主板的一端与至少两个所述pin针组连接。

4、可选的，所述多个固定位在所述倒盘治具上呈多行和多列的阵列排布，所述多个pin针组在所述测试底板上呈多行和多列的阵列排布，每个所述测试主板至少与同一列的所述pin针组连接。

5、可选的，所述测试底板上还设有多个第一固定部，所述倒盘治具上设有多个第二固定部，所述第一固定部和所述第二固定部一一对应插接。

6、可选的，所述第一固定部包括插销，所述多个第一固定部至少位于两条直线上；所述第二固定部包括插孔，所述插孔和所述插销一一对应插接。

7、可选的，所述测试设备还包括风扇组件，所述风扇组件位于所述固定架的顶部，与所述测试主板相对设置，用于对所述测试主板散热。

8、可选的，所述升降控制组件包括气缸、两个上升控制键和一个下降控制键，所述气缸与所述承载盘连接，用于控制所述承载盘升降；所述气缸同时与所述上升控制键和所述下降控制键电连接，当两个所述上升控制键同时启动时，所述气缸控制所述承载盘上升；当所述下降控制键启动时，所述气缸控制所述承载盘下降。

9、可选的，所述承载盘的顶部设有第一限位部、第二限位部和第三限位部，所述第一限位部与所述倒盘治具的前端抵接，所述第二限位部和第三限位部分别与所述倒盘治具的两侧抵接。

10、可选的，所述倒盘治具的后端设有把手。

11、本申请实施例还公开了一种存储芯片的测试系统，所述测试系统包括主机、显示端和如上所述的存储芯片的测试设备，所述主机同时与所述显示端和所述测试设备中的测试座连接，所述主机用于控制所述测试座对所述倒盘治具上存储芯片的测试结果在所述显示端上进行显示。

12、本申请实施例的有益效果为：通过本申请实施例提供的测试设备，倒盘治具可同时批量放置多个存储芯片，并使得存储芯片的植球面朝上；将放置完存储芯片的倒盘治具放在承载盘上之后，通过升降控制组件控制承载盘和倒盘治具向上移动，使得测试座接触存储芯片的植球面上的测试点位，通过测试座同时对所有的存储芯片进行测试，以检测出这一批次存储芯片中不合格的存储芯片。在对所有存储芯片测试完之后，通过升降控制组件控制承载盘和倒盘治具向下移动，之后取下倒盘治具，取出倒盘治具中的存储芯片，并放入下一批次的存储芯片。因此，采用本申请实施例提供的测试设备能够同时对存储芯片进行批量检测，提高检测效率。

1.一种存储芯片的测试设备，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述测试座包括测试底板和多个测试主板，所述测试底板设置在所述固定架的顶部，与所述倒盘治具相对设置；所述测试底板上设有多个pin针组，所述pin针组包括至少一个pin针，且每个所述pin针组分别与一个所述存储芯片对应，用于对一个所述存储芯片进行连接测试；

3.如权利要求2所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述多个固定位在所述倒盘治具上呈多行和多列的阵列排布，所述多个pin针组在所述测试底板上呈多行和多列的阵列排布，每个所述测试主板至少与同一列的所述pin针组连接。

4.如权利要求2所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述测试底板上还设有多个第一固定部，所述倒盘治具上设有多个第二固定部，所述第一固定部和所述第二固定部一一对应插接。

5.如权利要求4所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述第一固定部包括插销，所述多个第一固定部至少位于两条直线上；

6.如权利要求2所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括风扇组件，所述风扇组件位于所述固定架的顶部，与所述测试主板相对设置，用于对所述测试主板散热。

7.如权利要求1所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述升降控制组件包括气缸、两个上升控制键和一个下降控制键，所述气缸与所述承载盘连接，用于控制所述承载盘升降；

8.如权利要求1所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述承载盘的顶部设有第一限位部、第二限位部和第三限位部，所述第一限位部与所述倒盘治具的前端抵接，所述第二限位部和第三限位部分别与所述倒盘治具的两侧抵接。

9.如权利要求1所述的存储芯片的测试设备，其特征在于，所述倒盘治具的后端设有把手。

10.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括主机、显示端和如权利要求1-9任意一项所述的存储芯片的测试设备，所述主机同时与所述显示端和所述测试设备中的测试座连接，所述主机用于控制所述测试座对所述倒盘治具上存储芯片的测试结果在所述显示端上进行显示。