半导体芯片测试设备的管理系统及管理方法与流程

本发明涉及一种管理系统及管理方法，特别涉及一种应用于半导体芯片测试设备的管理系统及管理方法。

背景技术：

1、在半导体产业中，自动化测试设备（automated test equipment, ate）被广泛应用于芯片的大量生产测试。在产品进入量产阶段之前，芯片必须先由工程师使用工程用的ate测试设备进行验证。为了完成这项关键任务，多数半导体公司会设置自有实验室，或与具备工程用ate测试设备的第三方实验室合作，提供工程师进行前期验证工作所需的设备资源。

2、在实际运作中，工程师需事先预约测试设备的使用时间，并于预约时段内进行测试。不过，目前多数实验室的测试设备预约、使用控制、使用状况追踪及报告产出等流程，仍是仰赖人工管理，这样的方式存在不少问题与限制。

3、首先，透过人工方式建立的预约记录（如使用excel表格），无法有效控管测试设备的实际使用情况。举例来说，工程师即使未预约，仍可直接启用测试设备；反之，若工程师预约后未前来使用，管理人员也无法即时掌握，导致设备处于闲置状态。

4、其次，实际使用情况与预约记录可能出现落差，进而导致错误的使用报告，使测试设备的利用率计算产生偏差。这样的资料不准确，将不利于实验室资源的有效规划与调度。

5、再者，目前的预约作业需仰赖大量人工处理与人际沟通，不仅耗时费力，也降低了整体作业效率。工程师、管理人员与实验室之间的沟通成本高，容易产生误解或遗漏。

6、最后，这些不精确与低效率的流程，最终会导致测试设备资源的浪费。由于ate测试设备的成本高昂，若未能妥善管理，不仅影响专案进度，也会提高企业的营运成本。

7、因此，导入更自动化、系统化的半导体芯片测试设备预约与使用管理机制，实属当前重要课题之一。

技术实现思路

1、本发明提供一种半导体芯片测试设备的管理系统及管理方法，能够更有效地管理和利用测试设备资源，减少浪费，提高效率，并确保预订的设备能被正确地使用和追踪，最终提升整体测试流程的效率和成本效益。

2、为达上述目的，本发明提供一种半导体芯片测试设备的管理方法，其是由一设备时间管理模块、多个测试设备以及一信息代理模块配合。信息代理模块分别与设备时间管理模块以及多个测试设备通过一物联网信息传输协定而通信耦接，并且各测试设备中安装有一测试设备客户端。管理方法包括以下步骤：首先，向设备时间管理模块预订使用多个测试设备的其中一者的一时间段，并据以产生一设备使用时间信息；接着，由设备时间管理模块通过一主题将设备使用时间信息通过信息代理模块发布；接着，由多个测试设备的其中一者为一目标测试设备，并且接收设备使用时间信息；以及在预订的时间段，由一使用者于目标测试设备上登入，并且使用目标测试设备。

3、在本发明的一个实施例中，上述物联网信息传输协定为信息伫列遥测传输协定。

4、在本发明的一个实施例中，上述管理方法还包括：登入设备时间管理模块；向设备时间管理模块注册安装在欲注册的多个测试设备的其中一者的测试设备客户端；以及由设备时间管理模块提供一凭证以供下载并且安装在欲注册的测试设备上，以与信息代理模块通信耦接。

5、在本发明的一个实施例中，上述在设备时间管理模块通过主题发布设备使用时间信息之前，还包括确认目标测试设备在预订的时间段是否为可预订的状态。

6、在本发明的一个实施例中，上述管理方法还包括在预订的时间段到期后，终止使用者的登入状态，并且将该次的一使用信息做成一登入记录后储存至指定的一储存媒体中。

7、在本发明的一个实施例中，上述管理方法还包括：由测试设备客户端监控测试设备上的登入记录，并据以生成一历史登入记录；由测试设备客户端发布历史登入记录；由设备时间管理模块通过信息代理模块接收历史登入记录；以及由设备时间管理模块根据测试设备的历史登入记录生成一使用报告。

8、此外，为达上述目的，本发明提供一种半导体芯片测试设备的管理系统，其包括一信息代理模块、一设备时间管理模块以及多个测试设备。设备时间管理模块通过一物联网信息传输协定与信息代理模块耦接，并根据预订而产生一设备使用时间信息后通过信息代理模块发布。多个测试设备通过物联网信息传输协定与信息代理模块耦接，多个测试设备的其中一者为一目标测试设备，并根据订阅的主题接收所述设备使用时间信息。其中，一使用者于设备使用时间信息所载的时间段于目标测试设备上登入，并且使用目标测试设备。

9、在本发明的一个实施例中，上述目标测试设备的一测试设备客户端根据所述设备使用时间信息，将该次的一使用信息做成一登入记录后储存至指定的一储存媒体中。

10、在本发明的一个实施例中，上述测试设备客户端监控所述测试设备上的所述登入记录，并据以生成一历史登入记录后发布。

11、在本发明的一个实施例中，上述设备时间管理模块通过所述信息代理模块接收所述历史登入记录，并据以生成一使用报告。

12、承上所述，本发明的半导体芯片测试设备的管理系统及管理方法通过信息代理模块耦接设备时间管理模块与测试设备，使得设备时间管理模块与测试设备之间能够以订阅者及发布者的身分进行信息传输，借以使得测试设备受到设备使用时间信息的规范，确保测试设备仅提供预订的使用者使用，并且各测试设备能够根据使用情况生成登入记录，进而可根据历史登入记录生成对应于各测试设备的使用报告以供查阅及追踪。通过上述的时间预订、实际使用以及追踪报告的自动化闭环流程，能够节省手动工作，并可有效利用测试设备。

13、上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图,详细说明如下。

1.一种半导体芯片测试设备的管理方法，是由一设备时间管理模块、多个测试设备以及一信息代理模块配合，其中所述信息代理模块分别与所述设备时间管理模块以及所述多个测试设备通过一物联网信息传输协定而通信耦接，并且各所述多个测试设备中安装有一测试设备客户端，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的半导体芯片测试设备的管理方法，其特征在于，所述物联网信息传输协定为信息伫列遥测传输协定。

3.如权利要求1所述的半导体芯片测试设备的管理方法，其特征在于，还包括：

4.如权利要求1所述的半导体芯片测试设备的管理方法，其特征在于，在所述设备时间管理模块通过所述主题发布所述设备使用时间信息之前，还包括确认所述目标测试设备在预订的所述时间段是否为可预订的状态。

5.如权利要求1所述的半导体芯片测试设备的管理方法，其特征在于，还包括：

6.如权利要求5所述的半导体芯片测试设备的管理方法，其特征在于，还包括：

7.一种半导体芯片测试设备的管理系统，其特征在于，包括：

8.如权利要求7所述的半导体芯片测试设备的管理系统，其特征在于，所述物联网信息传输协定为信息伫列遥测传输协定。

9.如权利要求7所述的半导体芯片测试设备的管理系统，其特征在于，所述目标测试设备的一测试设备客户端根据所述设备使用时间信息，将该次的一使用信息做成一登入记录后储存至指定的一储存媒体中。

10.如权利要求9所述的半导体芯片测试设备的管理系统，其特征在于，所述测试设备客户端监控所述测试设备上的所述登入记录，并据以生成一历史登入记录后发布。

11.如权利要求10所述的半导体芯片测试设备的管理系统，其特征在于，所述设备时间管理模块通过所述信息代理模块接收所述历史登入记录，并据以生成一使用报告。