集成电路版图的线距检测方法、存储介质及电子设备与流程

技术特征：
1.一种集成电路版图的线距检测方法，其特征在于，包括：在集成电路版图中每一条走线上选取多个点作为检测点；获取所述每一条走线的检测点坐标；根据所述每一条走线的检测点坐标检测依据当前走线上每个检测点确定的预设检测范围内是否存在其他走线的检测点；如果存在其他走线的检测点，则进行错误提示。2.根据权利要求1所述的线距检测方法，其特征在于，所述集成电路版图中的走线由线段构成。3.根据权利要求2所述的线距检测方法，其特征在于，所述在集成电路版图中每一条走线上选取多个点作为检测点的步骤包括：在集成电路版图中每一线段上选取除端点之外的多个散点；将所述每一线段的端点和散点作为检测点。4.根据权利要求3所述的线距检测方法，其特征在于，所述获取所述每一条走线的检测点坐标的步骤包括：获取所述每一线段的端点坐标；根据所述每一线段的端点坐标计算所述每一线段的散点坐标。5.根据权利要求4所述的线距检测方法，其特征在于，所述在集成电路版图中每一线段上选取除端点之外的多个散点的步骤包括：在集成电路版图中每一线段上从一个端点开始按照预设间距等间距选取多个散点直到另一个端点。6.根据权利要求5所述的线距检测方法，其特征在于，所述根据所述每一线段的端点坐标计算所述每一线段的散点坐标的步骤包括：根据所述每一线段的端点坐标计算所述每一线段的长度；计算所述每一线段的长度与所述预设间距的比值；将所述每一线段的长度的水平分量除以所述比值得到所述预设间距的水平分量；将所述每一线段的长度的垂直分量除以所述比值得到所述预设间距的垂直分量；根据所述每一线段的端点坐标、所述预设间距的水平分量和垂直分量计算所述每一线段的散点坐标。7.根据权利要求1至6任一项所述的线距检测方法，其特征在于，所述根据所述每一条走线的检测点坐标检测依据当前走线上每个检测点确定的预设检测范围内是否存在其他走线的检测点的步骤包括：根据所述每一条走线的检测点坐标构建kd树；基于所述kd树检测依据当前走线上每个检测点确定的预设检测范围内是否存在其他走线的检测点。8.根据权利要求7所述的线距检测方法，其特征在于，所述基于所述kd树检测依据当前走线上每个检测点确定的预设检测范围内是否存在其他走线的检测点的步骤包括：在所述kd树中依次以当前走线的每个检测点为中心设置预设检测范围；在各检测点各自对应的预设检测范围内查找是否存在其他检测点；如果存在其他检测点，检测所述其他检测点是否属于其他走线；
如果属于其他走线，则判定存在其他走线的检测点。9.根据权利要求8所述的线距检测方法，其特征在于，所述预设检测范围为半径为预设长度的圆形区域。10.根据权利要求7所述的线距检测方法，其特征在于，所述根据所述每一条走线的检测点坐标构建kd树的步骤之前，还包括：对所述每一条走线的检测点坐标进行去重处理。11.根据权利要求1所述的线距检测方法，其特征在于，所述进行错误提示的步骤包括：对所述当前走线、所述预设检测范围内的检测点、所述其他走线以预设颜色进行显示。12.根据权利要求1或11所述的线距检测方法，其特征在于，所述进行错误提示的步骤还包括：在所述预设检测范围内的检测点上添加预设图形。13.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至12任一项所述的线距检测方法。14.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至12任一项所述的线距检测方法。

技术总结
本发明公开了一种集成电路版图的线距检测方法、存储介质及电子设备。该线距检测方法包括：在集成电路版图中每一条走线上选取多个点作为检测点；获取每一条走线的检测点坐标；根据每一条走线的检测点坐标检测依据当前走线上每个检测点确定的预设检测范围内是否存在其他走线的检测点；如果存在其他走线的检测点，则进行错误提示。通过上述方式，本发明无需设计人员进行编程，只需要设置预设检测范围大小，能够实现快速、便捷的走线线距检测，准确检测出集成电路板图中端点到线距离过近、走线相交、走线重合等问题。走线重合等问题。走线重合等问题。


技术研发人员：熊秋锋 李舒啸 李孜怡 张宇 郑世杰
受保护的技术使用者：本源科仪（成都）科技有限公司
技术研发日：2022.02.11
技术公布日：2023/8/24