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一种冻干食品加工检验用取样装置的制作方法

2023-08-15 09:11:58 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及食品加工检验技术领域,具体是一种冻干食品加工检验用取样装置。


背景技术:

2.食品安全检测是按照国家指标来检测食品中的有害物质,主要是一些有害有毒的指标的检测,比如重金属、黄曲霉毒素等,随着人们生活水平和保健意识的提高,如何提高食品质量,减少食物中有害物质残留,保障食品的质量与安全是当前食品生产及加工行业的重要任务。
3.在对食品抽样检测的过程中,目前都是人工利用无菌刀具和镊子从大块冻干食品上进行割取,割取时无法同时兼顾表面和深部的取样,操作较为复杂,并且取样效率低,有待于进一步的改进。


技术实现要素:

4.本发明提供一种冻干食品加工检验用取样装置,解决了上述背景技术中所提出的问题。
5.为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种冻干食品加工检验用取样装置,包括输送带,输送带的两侧均设有输送座,输送带的内侧两端均设有输送辊,输送辊的两端分别与两个输送座转动连接,输送带的外部设有多个放置组件,输送带的上方设有取样机构;所述放置组件包括固定设置于输送带外侧的安装杆,安装杆远离输送带的一端固定连接有放置套;所述取样机构包括转动连接于其中一个输送座顶端的转动杆,转动杆的顶端固定连接有顶杆,顶杆的一端设有取样组件,取样组件的下方设有承载座,承载座与转动杆之间固定连接有转动架;所述取样组件包括设置于顶杆上方的传动顶罩,传动顶罩与顶杆之间固定连接有伸缩杆,传动顶罩的底端转动连接有取样管,取样管贯穿顶杆。
6.作为本发明的一种优选技术方案,所述传动顶罩的顶端固定设有第二驱动电机,第二驱动电机的输出轴与取样管均延伸至传动顶罩内并传动连接。
7.作为本发明的一种优选技术方案,所述顶杆的一端固定连接有顶出杆,顶出杆延伸至取样管内。
8.作为本发明的一种优选技术方案,所述放置套的内壁固定设有多个卡杆,多个卡杆的长度自上而下依次增加。
9.作为本发明的一种优选技术方案,所述输送座的外侧固定设有取样接收槽体。
10.作为本发明的一种优选技术方案,所述输送座的侧边固定设有用于驱动转动杆转动的第一驱动电机。
11.作为本发明的一种优选技术方案,所述输送座的底部两端均固定连接支撑腿,多
个所述支撑腿共同固定连接有集料底罩,集料底罩位于输送带的下方,集料底罩的底端固定连接有收集罩。
12.作为本发明的一种优选技术方案,所述集料底罩内的底端固定设有多个高压喷头,集料底罩外部的底端固定设有高压罩,高压罩与多个高压喷头均连通,高压罩的底端固定设有气泵。
13.作为本发明的一种优选技术方案,每个取样组件一侧的输送带内均嵌设有供电杆,取样管正下方一侧的输送座顶端固定设有导电杆,导电杆与输送带的侧边滑动连接,导电杆连接控制器。
14.作为本发明的一种优选技术方案,所述取样管的内壁自上而下设有多个弧面凸起。
15.本发明具有以下有益之处:本发明通过设置输送带以及多个放置组件能够对多个冻干食品进行依次上料并输送,通过设置取样机构能够对冻干食品进行洞穿取样,能够对冻干食品的内部进行采样,且自动化程度高,取样效果好。
附图说明
16.图1为冻干食品加工检验用取样装置的左侧立体结构示意图。
17.图2为冻干食品加工检验用取样装置的右侧立体结构示意图。
18.图3为冻干食品加工检验用取样装置中集料底罩的结构示意图。
19.图4为冻干食品加工检验用取样装置中取样机构的结构示意图。
20.图5为冻干食品加工检验用取样装置中放置组件的结构示意图。
21.图6为冻干食品加工检验用取样装置中高压喷头的结构示意图。
22.图中:1、输送带;2、输送座;3、输送电机;4、支撑腿;5、放置组件;6、转动杆;7、顶杆;8、取样组件;9、转动架;10、承载座;11、取样接收槽体;12、集料底罩;13、收集罩;14、第一驱动电机;15、高压喷头;16、伸缩杆;17、传动顶罩;18、取样管;19、第二驱动电机;20、顶出杆;21、放置套;22、安装杆;23、卡杆;24、高压罩;25、气泵;26、供电杆;27、导电杆。
具体实施方式
23.以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
24.需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
实施例1
25.请参阅图1-6,一种冻干食品加工检验用取样装置,包括输送带1,输送带1的两侧均设有输送座2,输送带1的内侧两端均设有输送辊,输送辊的两端分别与两个输送座2转动连接,输送带1的外部设有多个放置组件5,输送带1的上方设有取样机构;所述放置组件5包括固定设置于输送带1外侧的安装杆22,安装杆22远离输送带1
的一端固定连接有放置套21;所述取样机构包括转动连接于其中一个输送座2顶端的转动杆6,转动杆6的顶端固定连接有顶杆7,顶杆7的一端设有取样组件8,取样组件8的下方设有承载座10,承载座10与转动杆6之间固定连接有转动架9;所述取样组件8包括设置于顶杆7上方的传动顶罩17,传动顶罩17与顶杆7之间固定连接有伸缩杆16,传动顶罩17的底端转动连接有取样管18,取样管18贯穿顶杆7。
26.所述传动顶罩17的顶端固定设有第二驱动电机19,第二驱动电机19的输出轴与取样管18均延伸至传动顶罩17内并传动连接。
27.所述顶杆7的一端固定连接有顶出杆20,顶出杆20延伸至取样管18内。
28.所述放置套21的内壁固定设有多个卡杆23,多个卡杆23的长度自上而下依次增加。
29.所述输送座2的外侧固定设有取样接收槽体11。
30.所述输送座2的侧边固定设有用于驱动转动杆6转动的第一驱动电机14。
31.所述输送座2的底部两端均固定连接支撑腿4,多个所述支撑腿4共同固定连接有集料底罩12,集料底罩12位于输送带1的下方,集料底罩12的底端固定连接有收集罩13。
32.所述集料底罩12内的底端固定设有多个高压喷头15,集料底罩12外部的底端固定设有高压罩24,高压罩24与多个高压喷头15均连通,高压罩24的底端固定设有气泵25。
33.所述取样管18的内壁自上而下设有多个弧面凸起。
实施例2
34.请参阅图1-6,一种冻干食品加工检验用取样装置,包括输送带1,输送带1的两侧均设有输送座2,输送带1的内侧两端均设有输送辊,输送辊的两端分别与两个输送座2转动连接,输送带1的外部设有多个放置组件5,输送带1的上方设有取样机构;所述放置组件5包括固定设置于输送带1外侧的安装杆22,安装杆22远离输送带1的一端固定连接有放置套21;所述取样机构包括转动连接于其中一个输送座2顶端的转动杆6,转动杆6的顶端固定连接有顶杆7,顶杆7的一端设有取样组件8,取样组件8的下方设有承载座10,承载座10与转动杆6之间固定连接有转动架9;所述取样组件8包括设置于顶杆7上方的传动顶罩17,传动顶罩17与顶杆7之间固定连接有伸缩杆16,传动顶罩17的底端转动连接有取样管18,取样管18贯穿顶杆7。
35.进一步的,在取样管18的底端设置切割齿,方便对冻干食品进行切割贯穿。
36.所述传动顶罩17的顶端固定设有第二驱动电机19,第二驱动电机19的输出轴与取样管18均延伸至传动顶罩17内并传动连接。
37.所述顶杆7的一端固定连接有顶出杆20,顶出杆20延伸至取样管18内。
38.所述放置套21的内壁固定设有多个卡杆23,多个卡杆23的长度自上而下依次增加。
39.所述输送座2的外侧固定设有取样接收槽体11。
40.所述输送座2的侧边固定设有用于驱动转动杆6转动的第一驱动电机14。
41.所述输送座2的底部两端均固定连接支撑腿4,多个所述支撑腿4共同固定连接有
集料底罩12,集料底罩12位于输送带1的下方,集料底罩12的底端固定连接有收集罩13。
42.所述集料底罩12内的底端固定设有多个高压喷头15,集料底罩12外部的底端固定设有高压罩24,高压罩24与多个高压喷头15均连通,高压罩24的底端固定设有气泵25。
43.每个取样组件8一侧的输送带1内均嵌设有供电杆26,取样管18正下方一侧的输送座2顶端固定设有导电杆27,导电杆27与输送带1的侧边滑动连接,导电杆27连接控制器。
44.所述取样管18的内壁自上而下设有多个弧面凸起。
45.本发明在实施过程中,首先将冻干食品依次放入各个放置组件5内,然后控制输送电机3启动,输送电机3驱动输送带1运转进而使放置套21移动,供电杆26跟随输送带1移动至与导电杆27接触时,此时控制器接受带电信号,控制输送电机3停止运转,并控制第一驱动电机14和第二驱动电机19运转,第一驱动电机14带动转动杆6转动,使取样管18位于放置套21的上方,第二驱动电机19带动取样管18旋转,然后控制伸缩杆16进行收缩,带动取样管18下移,取样管18在下移过程中同时发生转动,直至插入至冻干食品内并将冻干食品贯穿,冻干食品被贯穿的部分位于取样管18内,然后控制伸缩杆16伸长带动取样管18上移,并控制第二驱动电机19启动带动转动杆6转动复位,在此过程中,顶出杆20将取样得到的冻干食品样品顶出使之落入取样接收槽体11内;取样产生的碎片以及残余的冻干食品随着输送带1的运转落入下方的集料底罩12内并最终被收集罩13收集。
46.最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
再多了解一些

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